專利名稱：電路板測試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種電路板測試治具，尤其涉及一種可以測試不同尺寸的電路板的測試 治具。
背景技術(shù)：
電路板的生產(chǎn)過程中，均需通過可以固定待測試電路板的測試治具對電路板進(jìn)行測試， 電路板具有通信端口 ，測試治具包括測試電路板用的背板，將待測電路板的通信端口插入測 試治具的背板的連接器內(nèi)，實現(xiàn)電路板與背板的通信連接，然后對所述待測電路板的電氣功 能進(jìn)行測試。不同的類型的電子產(chǎn)品，其使用的電路板的形狀尺寸亦不相同，電路板的通信 端口的位置也不同。習(xí)知的電路板測試治具的背板固定于測試治具上，而且其固定于測試治 具上的位置不可以調(diào)節(jié)，因此， 一種電路板測試治具只能適用單一規(guī)格的電路板，而對于不 同尺寸的電路板，還需要重新設(shè)計新的測試治具，浪費設(shè)計時間及成本，降低生產(chǎn)效率。

實用新型內(nèi)容
有鑒于此，本實用新型提供一種電路板測試治具，實現(xiàn)對不同尺寸的電路板進(jìn)行測試，
提高生產(chǎn)效率。
一種電路板測試治具，用于固定具有通信端口的待測試電路板，所述電路板測試治具包 括承載框體、調(diào)整塊及測試板。所述承載框體包括下承載板、上承載板以及一對固定板，所 述下承載板及上承載板分別相對設(shè)置有多個滑槽，用于收容電路板于其中，所述固定板固定 于所述下承載板的兩側(cè)，其上分別相對設(shè)置有多個第一導(dǎo)向槽及第二導(dǎo)向槽，所述上承載板 可沿所述第一導(dǎo)向槽相對所述下承載板移動以定位于不同的位置。所述調(diào)整塊可沿第二導(dǎo)向 槽相對所述上、下承載板移動，其包括導(dǎo)軌，所述導(dǎo)軌的延伸方向與所述第二導(dǎo)向槽相異。 所述測試板包括用于測試所述電路板的背板，所述測試板可沿所述導(dǎo)軌移動并固定于其上， 所述背板上設(shè)有與所述滑槽一一對應(yīng)的連接器。由于所述上承載板相對所述下承載板的位置 可調(diào)，所述測試板通過所述調(diào)整塊可調(diào)整其相對于所述下承載板的位置，從而所述電路板測 試治具可適用于測試不同尺寸的電路板。


圖1為本實用新型一實施方式中電路板測試治具的立體圖。 圖2為本實用新型一實施方式中固定有電路板的電路板測試治具的立體圖。圖3為本實用新型一實施方式中電路板測試治具中調(diào)整塊的立體圖。 圖4為本實用新型一實施方式中電路板測試治具中測試板的前視圖。 圖5為本實用新型一實施方式中電路板測試治具中測試板安裝于調(diào)整塊的結(jié)構(gòu)圖。
具體實施方式

請參閱圖1及圖2，本實用新型的電路板測試治具用于測試具有通信端口的待測試的電路 板30，包括承載框體10及測試板20，所述承載框體10用于承載所述待測試的電路板30，所述 測試板20上固定多個用于測試所述電路板的背板22，待測試電路板30的通信端口插入所述背 板22的連接器222，以使待測試電路板30與測試板20通信連接，所述測試板20連接于所述承 載框體IO，而且所述測試板20固定于所述承載框體10的位置可調(diào)節(jié)，以使所述電路板測試治 具適用于不同尺寸的待測試電路板30 。
所述承載框體10包括下承載板12、上承載板16、側(cè)承載板18及一對固定板14，所述固定 板14相對設(shè)置于所述下承載板12的兩側(cè)，本實施方式中，所述固定板14垂直于所述下承載板 12，其上設(shè)有多個第一導(dǎo)向槽143及第二導(dǎo)向槽141。所述上承載板16可沿所述第一導(dǎo)向槽 143相對所述下承載板12移動以定位于不同的位置，所述第一導(dǎo)向槽143的延伸方向垂直于所 述下承載板12，因此，所述上承載板16與所述下承載板12之間的距離可調(diào)。所述第二導(dǎo)向槽 141的延伸方向平行于所述下承載板12。
所述側(cè)承載板18設(shè)于所述下承載板12與所述上承載板16之間，所述側(cè)承載板18兩側(cè)分別 連接于所述固定板14上，且其固定于所述固定板14上的位置可調(diào)。所述上、下、側(cè)承載板 16、 12、 18上均設(shè)多個一一對應(yīng)的滑槽，分別為第一滑槽122，第二滑槽162及第三滑槽182 。所述第一、第二、第三滑槽122、 162、 182均與所述背板22上的連接器222—一對應(yīng)設(shè)置。 相對應(yīng)的一個第一滑槽122，第二滑槽162及第三滑槽182共同固定一個待測試電路板30，再 將所述待測試電路板30的通信端口與一個相對的背板22上的連接器222通信連接，對所述電 路板30進(jìn)行測試。
本實施方式中，所述上承載板16平行于所述下承載板12， 二者均垂直于所述側(cè)承載板 18。所述側(cè)承載板18定位于所述固定板的多個第三導(dǎo)向槽145內(nèi)，所述側(cè)承載板18兩側(cè)還分 別包括一個固定部184，所述固定部184上設(shè)至少一個第四導(dǎo)向槽1841，其延伸的方向垂直于 固定板14上的第三導(dǎo)向槽145的延伸方向。通過螺釘穿過所述第四導(dǎo)向槽1841及所述第三導(dǎo) 向槽145，以將側(cè)承載板18固定于固定板14，并實現(xiàn)側(cè)承載板18相對下承載板12上、下、左 、右四個方向的位置調(diào)節(jié)。
請同時參閱圖3、圖4及圖5，所述測試板20兩側(cè)分別通過一個調(diào)整塊15連接于所述固定板14，調(diào)整塊15包括導(dǎo)軌151，所述測試板20可沿所述導(dǎo)軌151移動并固定于其上。所述測試 板20兩側(cè)均包括至少一個定位孔21，通過墊片26及螺釘28將所述測試板20固定于所述調(diào)整塊 15上。所述調(diào)整塊15彼此相對固定于所述固定板14的第二導(dǎo)向槽141內(nèi)，且可沿所述第二導(dǎo) 向槽141相對所述上、下承載板16， 12移動以定位于不同的位置。所述導(dǎo)軌151的延伸方向與 所述第二導(dǎo)向槽141相異，本實施方式中，所述導(dǎo)軌151延伸的方向垂直于所述第一滑槽122 的延伸方向及所述固定板14之第二導(dǎo)向槽141的延伸方向，因此，可實現(xiàn)測試板20相對下承 載板12上、下、左、右四個方向的位置調(diào)節(jié)。
本實施方式中所述第一滑槽122彼此平行，且等距離排列于所述下承載板12上，所述第 二、第三滑槽162、 182于所述承載板16、 18上的排列方式均與所述第一滑槽122于所述下承 載板12上的排列方式相同。
所述承載板12、 16與所述固定板14共同形成一個包圍空間，所述包圍空間一側(cè)為開口， 以方便將待測試電路板30插入所述包圍空間內(nèi)，所述包圍空間的另一側(cè)為測試板20及側(cè)承載 板18。本實用新型之電路板測試治具的承載框體10可以取消側(cè)承載板18，只通過上、下承載 板16、 12就可以達(dá)到固定待測試電路板30的目的；也可以同時取消上承載板16和側(cè)承載板 18，只通過下承載板12和測試板20的背板22上的連接器222達(dá)到固定待測試電路板30的目的 ，以使整個電路板測試治具結(jié)構(gòu)簡單，降低成本。
本實用新型之電路板測試治具可以同時測試多塊電路板(如圖2所示)，也可以將第一 滑槽122、第二滑槽162、第三滑槽182及背板20的數(shù)量均設(shè)計為一個，每次只測試一塊電路 板30，以此來減小測試治具的體積。
權(quán)利要求1.一種電路板測試治具，用于測試具有通信端口的待測試電路板，其特征在于，所述電路板測試治具包括承載框體，包括下承載板、上承載板以及一對固定板，所述下承載板及上承載板分別相對設(shè)置有多個滑槽，用于收容電路板于其中，所述固定板固定于所述下承載板的兩側(cè)，其上分別相對設(shè)置有多個第一導(dǎo)向槽及第二導(dǎo)向槽，所述上承載板可沿所述第一導(dǎo)向槽相對所述下承載板移動以定位于不同的位置；調(diào)整塊，可沿第二導(dǎo)向槽相對所述上、下承載板移動以定位于不同的位置，所述調(diào)整塊包括導(dǎo)軌，所述導(dǎo)軌之延伸方向與所述第二導(dǎo)向槽相異；及測試板，包括用于測試所述電路板的背板，所述測試板可沿所述導(dǎo)軌移動并固定于其上，所述背板上設(shè)有與所述滑槽一一對應(yīng)的連接器；其中，由于所述上承載板相對所述下承載板的位置可調(diào)，所述測試板通過所述調(diào)整塊可調(diào)整其相對于所述下承載板的位置，從而所述電路板測試治具可適用于測試不同尺寸的電路板。
2.如權(quán)利要求l所述的電路板測試治具，其特征在于，所述第一導(dǎo) 向槽的延伸方向垂直于所述下承載板。
3.如權(quán)利要求2所述的電路板測試治具，其特征在于，所述第二導(dǎo) 向槽的延伸方向平行于所述下承載板。
4.如權(quán)利要求3所述的電路板測試治具，其特征在于，所述導(dǎo)軌的 延伸方向垂直于所述第二導(dǎo)向槽的延伸方向。
5.如權(quán)利要求l所述的電路板測試治具， 體還包括側(cè)承載板，所述側(cè)承載板設(shè)于所述上、下承載板之間， 板上，且所述側(cè)承載板固定于所述固定板上的位置可調(diào)。
6.如權(quán)利要求5所述的電路板測試治具，其特征在于，所述固定板其特征在于，所述承載框 其兩側(cè)分別連接于所述固定上還設(shè)有多個第三導(dǎo)向槽，所述側(cè)承載板可沿所述第三導(dǎo)向槽移動以定位于不同的位置c
7.如權(quán)利要求6所述的電路板測試治具，其特征在于，所述側(cè)承載 板之兩側(cè)分別包括一個固定部，所述固定部上設(shè)至少一個第四導(dǎo)向槽，所述第四導(dǎo)向槽之延 伸的方向垂直于所述第三導(dǎo)向槽的延伸方向，通過螺釘穿過所述第四導(dǎo)向槽及所述第三導(dǎo)向 槽，以將所述側(cè)承載板固定于所述固定板上。
專利摘要一種電路板測試治具，包括承載框體、調(diào)整塊及測試板。所述承載框體包括下承載板、上承載板以及一對固定板，所述下承載板及上承載板分別相對設(shè)有多個滑槽，用于收容電路板于其中，所述固定板固定于所述下承載板的兩側(cè)，其上分別相對設(shè)置多個第一導(dǎo)向槽及第二導(dǎo)向槽，所述上承載板可沿所述第一導(dǎo)向槽相對所述下承載板移動以定位于不同的位置。所述調(diào)整塊可沿第二導(dǎo)向槽相對所述上、下承載板移動，其包括導(dǎo)軌，所述導(dǎo)軌的延伸方向與所述第二導(dǎo)向槽相異。所述測試板可沿所述導(dǎo)軌移動并固定于其上。由于所述測試板通過所述調(diào)整塊可調(diào)整其相對于所述下承載板的位置，從而所述電路板測試治具可適用于測試不同尺寸的電路板。
文檔編號G01R31/00GK201348650SQ20092030026
公開日2009年11月18日 申請日期2009年1月16日 優(yōu)先權(quán)日2009年1月16日
發(fā)明者兵 李 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司