專利名稱：測(cè)試數(shù)字邏輯器件中實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及數(shù)字邏輯系統(tǒng)領(lǐng)域，特別涉及一種測(cè)試數(shù)字邏輯器件中實(shí)時(shí)有限狀態(tài) 機(jī)的方法。
背景技術(shù)：
在數(shù)字邏輯系統(tǒng)中，有限狀態(tài)機(jī)對(duì)數(shù)字系統(tǒng)的設(shè)計(jì)具有十分重要的作用。有限狀 態(tài)機(jī)的輸出取決于過(guò)去輸入部分和當(dāng)前輸入部分。一般來(lái)說(shuō)，除了輸入部分和輸出部分外， 有限狀態(tài)機(jī)還含有一組具有“記憶”功能的寄存器，這些寄存器的功能是記憶有限狀態(tài)機(jī)的 內(nèi)部狀態(tài)，它們常被稱為狀態(tài)寄存器。在有限狀態(tài)機(jī)中，狀態(tài)寄存器的下一個(gè)狀態(tài)不僅與輸 入信號(hào)有關(guān)，而且還與該寄存器的當(dāng)前狀態(tài)有關(guān)，因此有限狀態(tài)機(jī)又可以認(rèn)為是組合邏輯 和寄存器邏輯的一種組合。有限狀態(tài)機(jī)可歸納為4個(gè)要素，即現(xiàn)態(tài)、條件、動(dòng)作、次態(tài)。現(xiàn)態(tài)是指當(dāng)前所處的狀 態(tài)。條件又稱為事件，當(dāng)一個(gè)條件被滿足，將會(huì)觸發(fā)一個(gè)動(dòng)作，或者執(zhí)行一次狀態(tài)的遷移。動(dòng) 作指條件滿足后執(zhí)行的動(dòng)作。動(dòng)作執(zhí)行完畢后，可以遷移到新的狀態(tài)，也可以仍舊保持原狀 態(tài)。動(dòng)作不是必需的，當(dāng)條件滿足后，也可以不執(zhí)行任何動(dòng)作，直接遷移到新?tīng)顟B(tài)。次態(tài)指 條件滿足后要遷往的新?tīng)顟B(tài)?！按螒B(tài)”是相對(duì)于“現(xiàn)態(tài)”而言的，“次態(tài)” 一旦被激活，就轉(zhuǎn)變 成新的“現(xiàn)態(tài)”了。在數(shù)字邏輯系統(tǒng)中，有限狀態(tài)機(jī)的實(shí)現(xiàn)往往需要考慮實(shí)時(shí)因素，既可以表現(xiàn)為實(shí) 時(shí)條件，也可表現(xiàn)為實(shí)時(shí)動(dòng)作。對(duì)實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)進(jìn)行完善的測(cè)試是保證數(shù)字邏輯系統(tǒng)無(wú)設(shè)計(jì)缺陷的重要方法。針對(duì)如圖1所示的實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)，假定其共有N個(gè)狀態(tài)Sp S2........Sn，對(duì)于
每個(gè)狀態(tài)，可能的觸發(fā)輸入條件數(shù)量分別為I” I2........IN，每個(gè)觸發(fā)輸入條件都可能存
在的時(shí)間約束值。根據(jù)一般數(shù)字邏輯器件的特點(diǎn)，假定上電復(fù)位后，實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)進(jìn)入狀
χ Sl O盡管實(shí)際設(shè)計(jì)數(shù)字邏輯器件中的實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)時(shí)，通常不會(huì)包含所有的狀態(tài)轉(zhuǎn) 移，但為了實(shí)現(xiàn)對(duì)實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的完備測(cè)試，設(shè)計(jì)測(cè)試案例時(shí)需要考慮所有的狀態(tài)轉(zhuǎn)移。如果針對(duì)實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)進(jìn)行完善測(cè)試，其完善的測(cè)試案例應(yīng)包含『個(gè)路徑，每 個(gè)路徑都經(jīng)過(guò)N個(gè)節(jié)點(diǎn)。但這些路徑中有1個(gè)路徑的所有節(jié)點(diǎn)都是S1，相當(dāng)于永遠(yuǎn)停留在 狀態(tài)節(jié)點(diǎn)S1,其它的路徑可根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)一步合并。例如3狀態(tài)節(jié)點(diǎn)實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)之中9個(gè)路徑最終合并后減少為7個(gè)，4狀態(tài)節(jié) 點(diǎn)實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)之中64個(gè)路徑最終合并后減少為40個(gè)。合并處理對(duì)于路徑的減少與Nm個(gè)路徑總數(shù)比還是較少的。同時(shí)需要考慮到如果 當(dāng)前狀態(tài)為S1,需要遍歷I1種觸發(fā)輸入條件，如果當(dāng)前狀態(tài)為S2,需要遍歷I2種觸發(fā)輸入條
件，......，如果當(dāng)前狀態(tài)為Sn，則需要遍歷In種觸發(fā)輸入條件，再考慮到觸發(fā)輸入條件的
時(shí)間約束值的連續(xù)性特征，如果對(duì)所有狀態(tài)轉(zhuǎn)移路徑、觸發(fā)輸入條件及時(shí)間約束值全部遍 歷，其可能的測(cè)試案例數(shù)量隨著N的增加而爆炸性增加。
因此完善的測(cè)試不但不可能由人工完成，即使采用計(jì)算機(jī)輔助測(cè)試，其測(cè)試時(shí)間 也會(huì)持續(xù)很長(zhǎng)時(shí)間。因此必須在合理化簡(jiǎn)測(cè)試案例的基礎(chǔ)上，采用計(jì)算機(jī)自動(dòng)測(cè)試完成對(duì) 數(shù)字邏輯器件中實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的完善測(cè)試。

發(fā)明內(nèi)容
(一)要解決的技術(shù)問(wèn)題本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是如何化簡(jiǎn)測(cè)試案例、對(duì)數(shù)字邏輯器件中實(shí)時(shí)有限狀態(tài) 機(jī)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。(二)技術(shù)方案為解決上述技術(shù)問(wèn)題，提供一種測(cè)試數(shù)字邏輯器件中實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的方法，包 括步驟Si，基于白盒測(cè)試原則，減少測(cè)試案例，在此基礎(chǔ)上完成測(cè)試案例的編制，并生成 測(cè)試序列；S2，上位機(jī)向?qū)崟r(shí)控制器發(fā)送測(cè)試命令，實(shí)時(shí)控制器提供受控電源和測(cè)試激勵(lì)信 號(hào)，按照全自動(dòng)測(cè)試方式進(jìn)行測(cè)試，生成測(cè)試結(jié)果；S3，實(shí)時(shí)控制器采集測(cè)試結(jié)果，并將所述測(cè)試結(jié)果發(fā)送給上位機(jī)生成測(cè)試報(bào)告和 測(cè)試日志。其中，所述步驟Sl中，所述減少測(cè)試案例的過(guò)程包括步驟Sl-I，從上電復(fù)位的初始狀態(tài)S1開(kāi)始，遍歷該狀態(tài)所有觸發(fā)輸入條件I1個(gè)，檢查狀 態(tài)轉(zhuǎn)移是否正確；S1-2，對(duì)初始狀態(tài)按照正常觸發(fā)方式轉(zhuǎn)移的下一個(gè)狀態(tài)Si,遍歷所有觸發(fā)輸入條 件Ii個(gè)，檢查狀態(tài)轉(zhuǎn)移是否正確；S1-3，按照步驟S1-2的方式，對(duì)所有N個(gè)狀態(tài)進(jìn)行測(cè)試。S1-4，對(duì)于所述觸發(fā)輸入條件中的時(shí)間約束值，進(jìn)行離散化處理。優(yōu)選地，當(dāng)所述時(shí)間約束值最大為Tmax時(shí)，在W，2Tmax]之間，取值間隔選為Tmax/10 ；且在[2Tmax，5Tmax]之間，取值間隔選為Tmax。優(yōu)選地，當(dāng)所述時(shí)間約束值最小為Tmin時(shí)，在
之間，取值間隔選為3Tmin/10 ；在[Tmin，2Tmin]之間，取值間隔選為Tmin/10 ；且在[2Tmin，5Tmin]之間，取值間隔選為Tmin。優(yōu)選地，當(dāng)所述時(shí)間約束值為[T1, T2]時(shí)，在
之間，取值間隔選為31/10 ；在[T1, T2]之間，取值間隔選為(T2-T1)AO ；在[T2，5T2]之間，取值間隔選為T2。優(yōu)選地，當(dāng)所述時(shí)間約束值為單點(diǎn)值T時(shí)，在
之間，取值間隔選為Τ/10 ；在[2Τ，5Τ]之間，取值間隔選為Τ。(三)有益效果
本發(fā)明針對(duì)實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的完善測(cè)試，基于狀態(tài)轉(zhuǎn)移化簡(jiǎn)和狀態(tài)轉(zhuǎn)移觸發(fā)輸入 條件時(shí)間約束值離散化處理，提供減少測(cè)試案例數(shù)量的方法，同時(shí)給出了基于實(shí)時(shí)有限狀 態(tài)機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，以全自動(dòng)方式完成數(shù)字邏輯器件中實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的測(cè)試工作。該發(fā) 明能夠解決測(cè)試案例數(shù)量爆炸的問(wèn)題，大大提高測(cè)試效率。


圖1是本發(fā)明實(shí)施例的實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)結(jié)構(gòu)模型圖；圖2是本發(fā)明實(shí)施例應(yīng)用簡(jiǎn)化生成方法測(cè)試的實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)；圖3是本發(fā)明實(shí)施例的實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)原理框圖；圖4是本發(fā)明實(shí)施例的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試流程具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖和實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式
作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施 例用于說(shuō)明本發(fā)明，但不用來(lái)限制本發(fā)明的范圍。1、實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)測(cè)試案例的化簡(jiǎn)方法傳統(tǒng)的基于實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)全狀態(tài)節(jié)點(diǎn)遍歷而生成測(cè)試案例方法，不會(huì)遺漏測(cè)試 路徑，但測(cè)試案例數(shù)量會(huì)隨著N的增加而爆炸性增加，因此必須考慮化簡(jiǎn)的方法。以狀態(tài)節(jié)點(diǎn)為中心考慮狀態(tài)轉(zhuǎn)移的化簡(jiǎn)，可以大幅度減少測(cè)試案例的數(shù)量。具體 方法如下1)首先，從上電復(fù)位的初始狀態(tài)S1開(kāi)始，遍歷該狀態(tài)所有可能的觸發(fā)輸入條件I1 個(gè)，檢查狀態(tài)轉(zhuǎn)移正確與否。2)然后，對(duì)初始狀態(tài)S1能正常轉(zhuǎn)移到的下一個(gè)狀態(tài)Si,遍歷該狀態(tài)所有可能的觸 發(fā)輸入條件Ii個(gè)，檢查狀態(tài)轉(zhuǎn)移正確與否。測(cè)試案例中測(cè)試該狀態(tài)的條件是按照正常觸發(fā) 方式從初始狀態(tài)S1轉(zhuǎn)移到該狀態(tài)Si。3)按照這種方式，將所有N個(gè)狀態(tài)全部測(cè)試完成，需要注意的是，測(cè)試案例中按照 正常觸發(fā)方式進(jìn)入某一狀態(tài)可能要經(jīng)過(guò)其它幾個(gè)已經(jīng)測(cè)試過(guò)的狀態(tài)。對(duì)于上述的狀態(tài)轉(zhuǎn)移所需要的觸發(fā)輸入條件時(shí)間約束值，考慮時(shí)間約束值的不同 情況，測(cè)試時(shí)必須離散化處理。1)當(dāng)觸發(fā)輸入條件時(shí)間約束值最大為Tmax時(shí)，離散化處理a)在W，2Tmax]之間，取值可以密一些，例如間隔可選為Tmax/10 ；b)大于2Tmax的值優(yōu)選取到5Tmax值即可，它們之間的間隔可選為Tmax。2)當(dāng)觸發(fā)輸入條件時(shí)間約束值最小為Tmin時(shí)，離散化處理a)在
之間，取值可以稀疏一些，例如間隔可選為3Tmin/10，即取0、 3Tmin/10、6Tmin/10、9Tmin/10 ；b)在[Tmin，2Tmin]之間，取值可以密一些，例如間隔可選為Tmin/10 ；c)大于2Tmin的值優(yōu)選取到5Tmin值即可，取值可以稀疏一些，例如間隔可選為Tmin。3)當(dāng)觸發(fā)輸入條件時(shí)間約束值為[T1, T2]時(shí)，離散化處理a)在
之間，取值可以稀疏一些，例如間隔可選為31/10，即取0、31/10、 61/10、91/10 ；
b)在[T1, T2]之間，取值可以密一些，例如間隔可選為(T2-T1VlO ；c)大于T2的值優(yōu)選取到5T2值即可，取值可以稀疏一些，例如間隔可選為T2。4)當(dāng)觸發(fā)輸入條件時(shí)間約束值為單點(diǎn)值T時(shí)，離散化處理a)在
之間，取值可以密一些，例如間隔可選為T/10 ；b)在[T，2T]之間，取值可以密一些，例如間隔可選為Τ/10 ；c)大于2Τ的值優(yōu)選取到5Τ值即可，取值可以稀疏一些，例如間隔可選為Τ。3、實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的測(cè)試案例簡(jiǎn)化生成方法舉例下面以圖2所示的實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)為例，說(shuō)明其測(cè)試案例的簡(jiǎn)化生成方法。圖2 描述了一個(gè)雙機(jī)熱備的模式控制實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)，其一共有5個(gè)狀態(tài)模式，狀態(tài)轉(zhuǎn)移規(guī)則 如下1)狀態(tài)轉(zhuǎn)移的觸發(fā)輸入條件為1組72位二進(jìn)制數(shù)據(jù)，包括32位序列號(hào)、16位條 件碼、8位預(yù)留碼、16位CRC碼，因此有效的狀態(tài)轉(zhuǎn)移觸發(fā)輸入條件為16位二進(jìn)制數(shù)據(jù)，共 有65536種可能。2)上電復(fù)位后首先進(jìn)入上電模式。3)進(jìn)入上電模式4. 7分鐘內(nèi)滿足進(jìn)入主模式的條件則轉(zhuǎn)移為主模式。4)進(jìn)入上電模式4. 7分鐘內(nèi)滿足進(jìn)入跟隨模式的條件則轉(zhuǎn)移為跟隨模式。5)進(jìn)入上電模式4. 7分鐘內(nèi)不滿足進(jìn)入主或跟隨模式的條件則轉(zhuǎn)移為復(fù)位模式。6)進(jìn)入跟隨模式800ms內(nèi)滿足進(jìn)入備模式的條件則轉(zhuǎn)移為備模式。7)主、備模式的周期為400ms，一旦在控制周期內(nèi)出現(xiàn)錯(cuò)誤，主或備模式都會(huì)轉(zhuǎn)移 為復(fù)位模式。8)備模式滿足進(jìn)入主模式的條件則轉(zhuǎn)移為主模式。9)主模式滿足進(jìn)入備模式的條件則轉(zhuǎn)移為備模式。10)復(fù)位模式滿足進(jìn)入上電模式的條件則轉(zhuǎn)移為上電模式。圖2所示實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的時(shí)間約束值有3個(gè)4. 7分鐘、800ms、400ms，都屬于 “時(shí)間約束值為最大”的情況，離散化處理分別如下對(duì)于4. 7分鐘，在
之間，間隔取為0. 47分鐘；在[9. 4分鐘，23. 5分 鐘]之間，間隔取為4. 7分鐘。對(duì)于800ms，在
之間，間隔取為80ms ；在[1.6s，4s]之間，間隔取為 800ms ο對(duì)于400ms,在
之間，間隔取為40ms ；在
之間，間隔取為 400ms ο測(cè)試案例簡(jiǎn)化生成方法如下1)上電模式可以轉(zhuǎn)移到主模式、跟隨模式、復(fù)位模式。測(cè)試時(shí)狀態(tài)轉(zhuǎn)移的觸發(fā)輸入 條件有65536種，離散時(shí)間約束值為24種，因此全部的測(cè)試案例有1572864種。2)跟隨模式可以轉(zhuǎn)移到復(fù)位模式、備模式，測(cè)試時(shí)狀態(tài)轉(zhuǎn)移的觸發(fā)輸入條件有 65536種，離散時(shí)間約束值為24種，因此全部的測(cè)試案例有1572864種。3)備模式可以轉(zhuǎn)移到復(fù)位模式、主模式，測(cè)試時(shí)狀態(tài)轉(zhuǎn)移的觸發(fā)輸入條件有 65536種，離散時(shí)間約束值為24種，因此全部的測(cè)試案例有1572864種。4)主模式可以轉(zhuǎn)移到復(fù)位模式、備模式，測(cè)試時(shí)狀態(tài)轉(zhuǎn)移的觸發(fā)輸入條件有65536種，離散時(shí)間約束值為24種，因此全部的測(cè)試案例有1572864種。5)復(fù)位模式可以轉(zhuǎn)移到上電模式。測(cè)試時(shí)狀態(tài)轉(zhuǎn)移的觸發(fā)輸入條件有65536種， 無(wú)時(shí)間約束值，因此全部的測(cè)試案例有65536種。4、實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可以看到，即使經(jīng)過(guò)化簡(jiǎn)后，完善測(cè)試僅5個(gè)狀態(tài)的實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)仍需要有630 萬(wàn)個(gè)測(cè)試案例，根本不可能由人工測(cè)試完成，必須使用計(jì)算機(jī)自動(dòng)測(cè)試完成。要完成對(duì)實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的自動(dòng)測(cè)試，首先需要基于白盒測(cè)試原則，完成測(cè)試案 例的編制，然后根據(jù)測(cè)試案例，測(cè)試案例的編制和測(cè)試序列的生成優(yōu)選由計(jì)算機(jī)自動(dòng)完成。白盒測(cè)試是把測(cè)試對(duì)象看作一個(gè)打開(kāi)的盒子，按照測(cè)試對(duì)象內(nèi)部的結(jié)構(gòu)測(cè)試程 序，通過(guò)測(cè)試來(lái)檢測(cè)測(cè)試對(duì)象內(nèi)部動(dòng)作是否按照設(shè)計(jì)規(guī)格說(shuō)明書(shū)的規(guī)定正常進(jìn)行，檢驗(yàn)程 序中的每條通路是否都能按預(yù)定要求正確工作。實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)原理框圖如圖3所示，該測(cè)試系統(tǒng)由上位機(jī)、實(shí)時(shí) 控制器、待測(cè)電路板插箱或整機(jī)組成。該系統(tǒng)使用通用計(jì)算機(jī)作為上位機(jī)，上位機(jī)運(yùn)行測(cè)試軟件，通過(guò)實(shí)時(shí)控制器向電 路板或整機(jī)提供受控的電源和測(cè)試激勵(lì)信號(hào)，按照測(cè)試案例，以全自動(dòng)測(cè)試方式進(jìn)行數(shù)字 邏輯器件中實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的測(cè)試活動(dòng)，實(shí)時(shí)控制器將測(cè)試結(jié)果發(fā)送給上位機(jī)測(cè)試軟件生 成測(cè)試報(bào)告和測(cè)試日志。上位機(jī)運(yùn)行的測(cè)試軟件只負(fù)責(zé)發(fā)起某個(gè)或全部測(cè)試案例，并以圖形化的方式提供 人機(jī)交互界面，生成測(cè)試報(bào)告和測(cè)試日志。實(shí)時(shí)控制器負(fù)責(zé)控制待測(cè)電路板或整機(jī)的電源，以確保測(cè)試時(shí)才開(kāi)始向其供電。 同時(shí)實(shí)時(shí)控制器模擬實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)自動(dòng)測(cè)試所需的全部測(cè)試激勵(lì)信號(hào)，采集、判斷測(cè)試 反饋信號(hào)，并向上位機(jī)輸出。由于某些狀態(tài)轉(zhuǎn)移路徑測(cè)試會(huì)使實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)進(jìn)入“死” 狀態(tài)，因此實(shí)時(shí)控制器可以通過(guò)關(guān)斷待測(cè)電路板或整機(jī)的電源后再上電的方式完成后續(xù)測(cè)
試ο實(shí)時(shí)控制器必須滿足測(cè)試實(shí)時(shí)性要求，優(yōu)選使用實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)的嵌入式計(jì)算機(jī) (例如PC104模塊)實(shí)現(xiàn)，測(cè)試時(shí)上位機(jī)只負(fù)責(zé)測(cè)試的發(fā)起，測(cè)試的執(zhí)行完全由實(shí)時(shí)控制器 完成，其它測(cè)試的輔助工作由上位機(jī)完成，以充分發(fā)揮實(shí)時(shí)控制器的實(shí)時(shí)能力和上位機(jī)的 人際交互、界面、報(bào)告與日志生成、數(shù)據(jù)記錄與查詢等能力。基于計(jì)算機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試流程如圖4所示。本發(fā)明的技術(shù)關(guān)鍵點(diǎn)在于給出了實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)以狀態(tài)節(jié)點(diǎn)為中心考慮狀態(tài)轉(zhuǎn) 移的化簡(jiǎn)方法；給出了實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的狀態(tài)轉(zhuǎn)移觸發(fā)輸入條件時(shí)間約束值的離散化處理 方法；給出了實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原理組成和功能描述。本發(fā)明針對(duì)實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的完善測(cè)試，基于狀態(tài)轉(zhuǎn)移化簡(jiǎn)和狀態(tài)轉(zhuǎn)移觸發(fā)輸入 條件時(shí)間約束值離散化處理，提供了減少測(cè)試案例數(shù)量的方法，同時(shí)給出了基于實(shí)時(shí)有限 狀態(tài)機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)和方法，以全自動(dòng)方式完成數(shù)字邏輯器件中實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的測(cè)試工 作。該發(fā)明能夠解決測(cè)試案例數(shù)量爆炸的問(wèn)題，大大提高測(cè)試效率，能夠迅速發(fā)現(xiàn)實(shí)時(shí)有限 狀態(tài)機(jī)的漏洞與缺陷。以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人 員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和變型，這些改進(jìn)和變型
7也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
一種測(cè)試數(shù)字邏輯器件中實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的方法，其特征在于，包括步驟S1，基于白盒測(cè)試原則，減少測(cè)試案例，在此基礎(chǔ)上完成測(cè)試案例的編制，并生成測(cè)試序列；S2，上位機(jī)向?qū)崟r(shí)控制器發(fā)送測(cè)試命令，實(shí)時(shí)控制器提供受控電源和測(cè)試激勵(lì)信號(hào)，按照全自動(dòng)測(cè)試方式進(jìn)行測(cè)試，生成測(cè)試結(jié)果；S3，實(shí)時(shí)控制器采集測(cè)試結(jié)果，并將所述測(cè)試結(jié)果發(fā)送給上位機(jī)生成測(cè)試報(bào)告和測(cè)試日志。其中，所述步驟S1中，所述減少測(cè)試案例的過(guò)程包括步驟S1 1，從上電復(fù)位的初始狀態(tài)S1開(kāi)始，遍歷該狀態(tài)所有觸發(fā)輸入條件I1個(gè)，檢查狀態(tài)轉(zhuǎn)移是否正確；S1 2，對(duì)初始狀態(tài)按照正常觸發(fā)方式轉(zhuǎn)移的下一個(gè)狀態(tài)Si，遍歷所有觸發(fā)輸入條件Ii個(gè)，檢查狀態(tài)轉(zhuǎn)移是否正確；S1 3，按照步驟S1 2的方式，對(duì)所有N個(gè)狀態(tài)進(jìn)行測(cè)試。S1 4，對(duì)于所述觸發(fā)輸入條件中的時(shí)間約束值，進(jìn)行離散化處理。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試數(shù)字邏輯器件中實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的方法，其特征在于，當(dāng) 所述時(shí)間約束值最大為Tmax時(shí)，在W，2Tmax]之間，取值間隔選為Tmax/10 ；且 在[2Tmax，5Tmax]之間，取值間隔選為Tmax。
3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試數(shù)字邏輯器件中實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的方法，其特征在于，當(dāng) 所述時(shí)間約束值最小為Tmin時(shí)，在
之間，取值間隔選為3Tmin/10 ； 在[Tmin，2Tmin]之間，取值間隔選為Tmin/10 ；且 在[2Tmin，5Tmin]之間，取值間隔選為Tmin。
4.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試數(shù)字邏輯器件中實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的方法，其特征在于，當(dāng) 所述時(shí)間約束值為[T1, T2]時(shí)，在
之間，取值間隔選為3V10 ； 在[T1, T2]之間，取值間隔選為(T2-T1VlO ； 在[T2，5T2]之間，取值間隔選為T2。
5.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試數(shù)字邏輯器件中實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的方法，其特征在于，當(dāng) 所述時(shí)間約束值為單點(diǎn)值T時(shí)，在
之間，取值間隔選為Τ/10 ； 在[2Τ，5Τ]之間，取值間隔選為T0
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種測(cè)試數(shù)字邏輯器件中實(shí)時(shí)有限狀態(tài)機(jī)的方法，包括步驟S1，減少測(cè)試案例、完成測(cè)試案例的編制，并生成測(cè)試序列；S2，按照全自動(dòng)測(cè)試方式進(jìn)行測(cè)試，生成測(cè)試結(jié)果；S3，采集測(cè)試結(jié)果，發(fā)送給上位機(jī)。其中，所述步驟S1具體包括S1-1，從上電復(fù)位的初始狀態(tài)S1開(kāi)始，遍歷該狀態(tài)所有觸發(fā)輸入條件I1個(gè)，檢查狀態(tài)轉(zhuǎn)移是否正確；S1-2，對(duì)初始狀態(tài)按照正常觸發(fā)方式轉(zhuǎn)移的下一個(gè)狀態(tài)Si，遍歷所有觸發(fā)輸入條件Ii個(gè)，檢查狀態(tài)轉(zhuǎn)移是否正確；S1-3，按照步驟S1-2的方式，對(duì)所有N個(gè)狀態(tài)進(jìn)行測(cè)試。S1-4，對(duì)于所述觸發(fā)輸入條件中的時(shí)間約束值，進(jìn)行離散化處理。該發(fā)明能夠解決測(cè)試案例數(shù)量爆炸的問(wèn)題，大大提高測(cè)試效率。
文檔編號(hào)G01R31/317GK101915894SQ20101023538
公開(kāi)日2010年12月15日 申請(qǐng)日期2010年7月22日 優(yōu)先權(quán)日2010年7月22日
發(fā)明者王悉, 袁彬彬, 馬連川 申請(qǐng)人:北京交通大學(xué)