專利名稱：高準(zhǔn)度電瓶檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電瓶檢測裝置及其方法，尤指一種高準(zhǔn)度電瓶檢測裝置。
背景技術(shù)：
由于市面上鉛池電瓶電瓶容量不同，但配合檢測電瓶剩余容量的電瓶檢測裝置卻僅提供單一檢測方法，使得檢測結(jié)果有些許誤差。一般來說現(xiàn)有檢測方法多采1/2 CCA檢測方法，即將一檢測負(fù)載跨接于電瓶正極電極之間，對電瓶進行放電至1/2 CCA(Cold cranking Amps)，并持續(xù)15秒，再移除電瓶上負(fù)載一段時間后，再重復(fù)加載15秒，幾次后獲得電瓶的放電曲線，據(jù)此判斷該電瓶是否已老化。然而，由于既有電瓶檢測裝置的負(fù)載電阻值及加載秒數(shù)都固定，因此以相同條件測量不同電瓶容量的電瓶，所獲得測量曲線將不盡相同，對部分電瓶來說即無法提供準(zhǔn)確的測量結(jié)果，有待進一步改進。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于所述目前電瓶檢測裝置的缺點，本發(fā)明主要目的是提供一種可隨著不同待測電瓶的電容量改變檢測條件的高精度電瓶檢測裝置。欲達所述目的所使用的主要技術(shù)手段為令該高準(zhǔn)度電瓶檢測裝置包含有一輸入裝置，輸入待測電瓶的電瓶容量；—微處理器，內(nèi)建有一第一檢測模式?jīng)Q策程序；一負(fù)載單元，電連接至該微處理器，供跨接于待測電瓶的正負(fù)電極之間；一電量狀態(tài)檢測單元，電連接至該微處理器，供連接至該待測電瓶的正負(fù)電極之間，以檢知待測電瓶于檢測期間的電壓值及電流值，并回報予該微處理器；所述微處理器的檢測模式?jīng)Q策程序讀取輸入裝置取得的待測電瓶容量，再依據(jù)該電瓶容量檢測條件(1//N CCA及加載時間)，并依檢測條件決定負(fù)載單元的加載時間；如此一來，本發(fā)明的檢測裝置可依據(jù)不同的電瓶容量選擇合適加載時間，供檢測裝置精確判斷待測電瓶的電容量及其老化狀態(tài)。


圖1 本發(fā)明電瓶檢測裝置外觀圖。圖2 本發(fā)明電瓶檢測裝置的一優(yōu)選實施例的電路方塊圖。圖3 用于圖2的檢測模式?jīng)Q策程序的流程圖。圖4:本發(fā)明檢測曲線圖。圖5 本發(fā)明檢測程序流程圖。主要元件符號說明10外殼11輸入裝置12檢測導(dǎo)線13顯示器
14電腦連接接口15警報器20微處理器20，負(fù)載單元22電量狀態(tài)檢測單元30電瓶31 電極
具體實施例方式請參閱圖1及圖2所示，為本發(fā)明電瓶檢測裝置的第二優(yōu)選實施例，其包含有一外殼10，于外殼上設(shè)有一輸入裝置11及二檢測導(dǎo)線12 ；其中該輸入裝置11用以輸入待測電瓶30的電瓶容量，而檢測導(dǎo)線12用以連接至待測電瓶20的正負(fù)電極31上； 于本實施例中，該二檢測導(dǎo)線12夾設(shè)于待測電瓶30的正負(fù)電極31上；一微處理器20，內(nèi)建有一檢測模式?jīng)Q策程序；一負(fù)載單元21’，電連接至該微處理器20，供跨接于待測電瓶30的正負(fù)電極31之間；一電量狀態(tài)檢測單元22，電連接至該微處理器20，供連接至該待測電瓶30的正負(fù)電極31之間，以檢知待測電瓶30于檢測期間的電壓值及電流值，并回報予該微處理器20。所述檢測模式?jīng)Q策程序如圖3所示，包含有讀取輸入裝置取得的待測電瓶容量^CAb)及電壓(Vb) (S30)；讀取加載后待測電瓶30的輸出電流值(Ib) (S31)；以檢測到的輸出電流值為基礎(chǔ)，配合預(yù)設(shè)檢測條件(1/2 CCAU5秒加載時間)調(diào)
(CCA3 χ Vn) 整其中的加載時間——X Tload 及
“(S32)；執(zhí)行檢測程序，以獲得一檢測曲線圖(S33)。舉例說明，欲采用固定檢測條件(1/2 CCAU5秒加載時間)檢測一顆12V/1000 CCA容量的電瓶30，且負(fù)載單元21’包含一 0. 12歐姆電阻器。該微處理器20于執(zhí)行檢測程序之前預(yù)先加載，將0. 12歐姆電阻器連接至二待測導(dǎo)線12，以檢測電瓶30的輸出電流值(Ib)，令其為100A。由于容量不同的電瓶30其加載時間并不同，故帶入加載時間計算式 [(1000*1/2)/100]*15 = 75，調(diào)整檢測條件中的加載時間為75秒。于本實施例中，同樣以采用固定檢測條件(1/3CCA、20秒加載時間)檢測一顆 12V/900 CCA容量的電瓶30，且負(fù)載單元21，包含一 0. 08歐姆電阻器。該微處理器20于執(zhí)行檢測程序之前預(yù)先加載，將0. 08歐姆電阻器連接至二待測導(dǎo)線12，以檢測電瓶30的輸出電流值，令其為150A。由于容量不同的電瓶30其加載時間并不同，故帶入加載時間計算式[(900*1/3)/150]拉0 = 40，調(diào)整檢測條件中的加載時間為40秒。由所述二例可知，本發(fā)明負(fù)載單元采用固定電阻器，可依據(jù)電瓶容量不同，調(diào)整預(yù)設(shè)檢測條件的加載時間，可于檢測期間中，讓電瓶釋放足夠判斷其健康狀態(tài)的總功率值；意即，該微處理器獲得準(zhǔn)確度較高的檢測曲線圖。請進一步配合參閱圖4及圖5所示，為所述微處理器執(zhí)行檢測程序后獲得的一檢測曲線的曲線圖，一般電瓶檢測會預(yù)先充飽電，再對待測電瓶進行一次預(yù)先加載及卸載動作(S40)，令電瓶放電至一定瓦特數(shù)Ve2(S41)，以避免浮充電時進行檢測。結(jié)束后，才以所述實施例計算出的檢測條件進行檢測，即同樣進行加載及卸載動作(S42)，并持續(xù)測量并記錄電瓶的電壓及電流變化，最后獲得檢測曲線。 綜上所述，本發(fā)明的電瓶檢測裝置可依據(jù)不同容量電瓶調(diào)整出最合適的檢測條件，當(dāng)進行實際檢測程序時，可確保待測電瓶釋放足夠判斷其健康狀態(tài)的功率，而提升其檢測精準(zhǔn)度。
權(quán)利要求
1.一種高準(zhǔn)度電瓶檢測裝置，包含有一外殼，于外殼上設(shè)有一輸入裝置及二檢測導(dǎo)線；其中該輸入裝置用以輸入待測電瓶的電瓶容量，而檢測導(dǎo)線用以連接至待測電瓶的正負(fù)電極上； 一微處理器，內(nèi)建有一檢測模式?jīng)Q策程序；一負(fù)載單元，電連接至該微處理器，供跨接于待測電瓶的正負(fù)電極之間； 一電量狀態(tài)檢測單元，電連接至該微處理器，供連接至該待測電瓶的正負(fù)電極之間，以檢知待測電瓶于檢測期間的電壓值及電流值，并回報予該微處理器； 所述檢測模式?jīng)Q策程序包含有 讀取輸入裝置取得的待測電瓶容量CCAb及電壓Vb ； 讀取加載后待測電瓶的輸出電流值；以檢測到的輸出電流值為基礎(chǔ)，配合預(yù)設(shè)檢測條件調(diào)整其中的加載時間(CCAb χ V )——T-zj^xTload 及 Ib.執(zhí)行檢測程序，以獲得一檢測曲線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高準(zhǔn)度電瓶檢測裝置，該微處理器執(zhí)行檢測程序包含有 對充飽電待測電瓶進行一次預(yù)先加載及卸載動作，使其放電至一預(yù)設(shè)瓦特數(shù)；及以最終檢測條件進行加載及卸載，并持續(xù)測量并記錄電瓶的電壓及電流變化，最后獲得檢測曲線。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的高準(zhǔn)度電瓶檢測裝置，該外殼也可進一步設(shè)有一顯示器及一電腦連接接口及一警報器。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種高準(zhǔn)度電瓶檢測裝置，包含有一用以輸入待測電瓶的電瓶容量的輸入裝置、一微處理器、一負(fù)載單元及一電量狀態(tài)檢測單元；其中該微處理器內(nèi)建有一檢測模式?jīng)Q策程序，并與負(fù)載單元及電量狀態(tài)檢測單元電連接；其中當(dāng)微處理器執(zhí)行檢測模式?jīng)Q策程序時，先讀取輸入裝置取得的待測電瓶容量，再依據(jù)該電瓶容量檢測條件(1/N CCA及加載時間)，并依檢測條件決定負(fù)載單元連接至待測電瓶的加載時間；如此一來，本發(fā)明的檢測裝置可依據(jù)不同的電瓶容量選擇合適的加載時間，供檢測裝置精確判斷待測電瓶的電容量及其老化狀態(tài)。
文檔編號G01R31/36GK102466782SQ20101053531
公開日2012年5月23日 申請日期2010年11月1日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月1日
發(fā)明者盛賢芳, 蕭遠(yuǎn)誠 申請人:昶懋國際股份有限公司