專利名稱：測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試裝置，特別涉及一種用于測試連接器插槽信號完整性的測試
直O(jiān)
背景技術(shù)：
存儲(chǔ)橋接艙(StorageBridge Bay, SBB)工作組是 EMC、Dell、Intel 和 LSILogic 聯(lián)手組建的致力于入門級外置存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)化的非營利協(xié)作組織。該組織通過標(biāo)準(zhǔn)化存儲(chǔ)控制卡的插槽接口，使之適用于多廠商多類型的存儲(chǔ)器產(chǎn)品，以節(jié)省供貨商們在硬件架構(gòu)設(shè)計(jì)上的重復(fù)投入。SBB組織定義的存儲(chǔ)控制卡插槽接口就是SBBMI (SBB Midplane Interconnect)接口。SBBMI接口是基于SBB架構(gòu)的存儲(chǔ)器用來連接存儲(chǔ)控制卡和存儲(chǔ)單元(如硬盤) 的接口，存儲(chǔ)控制卡通過SBBMI接口來實(shí)現(xiàn)和存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)交換。為了確保存儲(chǔ)器產(chǎn)品的品質(zhì)，需對SBBMI接口中傳輸?shù)腟AS、SATA及FC等高頻數(shù)字信號進(jìn)行信號完整性測試，以驗(yàn)證其是否符合SBB規(guī)范。然而，因SBB規(guī)范定義的連接器的引腳數(shù)量較多，無法對所有的引腳一次完成測試。現(xiàn)有方式通常需要使用多個(gè)測試裝置分別對不同的各引腳信號接入到測試儀器。如此，在測試連接器的一部分高頻信號輸出引腳時(shí)，由于沒有對其余部分的高頻信號輸出引腳的信號進(jìn)行終結(jié)，造成測試結(jié)果的不準(zhǔn)確，無法真實(shí)反映待測連接器的質(zhì)量。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種可提高測試準(zhǔn)確性的測試裝置。一種測試裝置，用以對待測試的連接器進(jìn)行測試。所述測試裝置包括一測試電路板、多個(gè)轉(zhuǎn)接器及一測試儀器。所述待測試的連接器可插拔地連接在所述測試電路板上。所述多個(gè)轉(zhuǎn)接器分別連接至所述測試電路板。所述待測試的連接器的輸出信號經(jīng)所述測試電路板傳輸至所述轉(zhuǎn)接器，并由所述轉(zhuǎn)接器輸出至所述測試儀器。所述測試電路板包括多個(gè)引腳。所述多個(gè)引腳采用9*10方式排列，其9行定義為A-I，10列定義為1-10。其中，所述測試電路板的引腳A5、B5、D5、E5、G5、H5、B6、C6、E6、F6、H6、16與所述多個(gè)轉(zhuǎn)接器—— 相連，引腳 C1、F1、I1、A2、D2、G2、C3、F3、13、A4、D4、G4、C5、F5、15、A6、D6、G6、C7、F7、17、 A8、D8、G8、C8、C9、F9、19、A10、CIO、GlO為接地引腳，其余各引腳分別通過一電阻與上述接地引腳電性連接。相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明的所述測試裝置將所述測試電路板的引腳A5、B5、D5、E5、 G5、H5、B6、C6、E6、F6、H6、I6分別與一轉(zhuǎn)接器相連，只需通過改變待測試連接器與測試電路板連接的引腳列數(shù)，即可將待測試連接器的引腳信號分別由轉(zhuǎn)接器輸出，使用方便。而且， 在測試待測試的連接器的第一組引腳時(shí)，其他兩組的高頻信號輸出引腳均通過所述電阻與接地引腳相連，實(shí)現(xiàn)了對其余未測試的高頻信號輸出引腳的信號終結(jié)。因此，避免了未測試的高頻信號輸出引腳輸出的高頻信號的串?dāng)_，提高了測試的準(zhǔn)確性。


圖1為本發(fā)明實(shí)施方式的測試裝置的功能模塊圖；圖2為本發(fā)明實(shí)施方式的待測試的連接器的引腳封裝圖；圖3為圖2的待測試的連接器的引腳封裝接器的引腳定義表；圖4為圖1的測試裝置的示意圖；圖5為本發(fā)明實(shí)施方式的測試裝置的測試電路板示意圖；圖6為本發(fā)明實(shí)施方式的測試裝置對待測試的連接器的第一組引腳進(jìn)行測試時(shí)， 待測試的連接器與測試電路板的連接示意圖；圖7為本發(fā)明實(shí)施方式的測試裝置對待測試的連接器的第二組引腳進(jìn)行測試時(shí)， 待測試的連接器與測試電路板的連接示意圖；圖8為本發(fā)明實(shí)施方式的測試裝置對待測試的連接器的第三組引腳進(jìn)行測試時(shí)， 待測試的連接器與測試電路板的連接示意圖。主要元件符號說明
測試裝置100
待測試的連接器200
測試電路板20
轉(zhuǎn)接器60
測試儀器80
具體實(shí)施例方式下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明實(shí)施方式作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。請一并參閱圖1與圖2，本發(fā)明較佳實(shí)施方式提供的測試裝置100用以對待測試的連接器200的高頻數(shù)字信號的完整性進(jìn)行測試。本實(shí)施方式中，所述待測試的連接器200 的引腳采用9*6方式排列。其9行定義為A-I，6列定位為01-06 ；所述待測試的連接器200 的引腳定義如圖3列表所示。其中，GND表示為接地引腳，HS為高頻信號輸出引腳，LS為低頻信號輸出引腳。其中，所述待測試的連接器200的15對引腳(A0U B01), (DOU E01), (B02、C02)，(E02、F02)，(H02、I02)，(A03、B03)，(D03、E03)，(G03、H03)，(B04、C04)，(E04、 F04), (A05、B05)，(D05、E05)，(G05.H05), (B06、C06)，(E06、F06)用以連接兩個(gè)存儲(chǔ)卡。所述待測試的連接器 200 的 12 對引腳(D01、E01)，(G01、H01)，(E02、F02)，(H02、I02)，(D03、 E03), (G03、H03)，(E04、F04)，(H04、104)，(D05、E05)，(G05、H05)，(E06、F06)，(H06、106) 用以連接存儲(chǔ)控制卡或硬盤。所述測試裝置100包括一測試電路板20、多個(gè)轉(zhuǎn)接器60及一測試儀器80。所述測試電路板20分別與所述待測試的連接器200及轉(zhuǎn)接器60相連。所述轉(zhuǎn)接器60與所述測試儀器80相連。所述待測試的連接器200的輸出信號經(jīng)所述測試電路板20傳輸至所述轉(zhuǎn)接器60，并由所述轉(zhuǎn)接器60輸出至所述測試儀器80。請一并參閱圖4與圖5，所述測試電路板20為一印刷電路板，其引腳采用9*10方式排列，其9行定義為A-1,10列定義為1-10。其中，所述測試電路板20的引腳A5、B5、D5、 E5、G5、H5、B6、C6、E6、F6、H6、I6 分別與一轉(zhuǎn)接器 60 相連。引腳 C1、F1、I1、A2、D2、G2、C3、 F3、13、A4、D4、G4、C5、F5、15、A6、D6、G6、C7、F7、17、A8、D8、G8、C8、C9、F9、19、A10、CIO、GlO為接地引腳。其余各引腳分別通過一電阻R與上述接地引腳電性連接。所述電阻R與所述待測試連接器200上的閑置信號走線的特征阻抗匹配。本實(shí)施方式中，所述電阻R的阻值為50歐姆。所述待測試的連接器200可插拔地設(shè)置于所述測試電路板20上。所述待測試的連接器200的引腳輸出的信號接入至所述測試電路板20。所述轉(zhuǎn)接器60用于將上述引腳六5、85、05工5、65、!15、86丄636、卩6、!16、16分別連接至所述測試儀器80，以進(jìn)行測試。在本實(shí)施方式中，對應(yīng)上述12個(gè)引腳A5、B5、D5、E5、 G5、H5、B6、C6、E6、F6、H6、16共有12個(gè)轉(zhuǎn)接器60。所述測試儀器80為示波器。使用該測試裝置100將所述待測試的連接器200的輸出信號轉(zhuǎn)接至所述測試儀器 80時(shí)，可將所述待測試的連接器200的引腳分為三組，其中，第一組為(A01、B01)，(D0U E01)，(G01、H01)，(B02、C02)，(E02、F02)，(H02、102)；第二組為(A03、B03)，(D03、E03)， (G03、H03)，(B04、C04)，(E04、F04)，(H04、104)；第三組為(A05、B05)，(D05、E05)，(G05、 H05)，(B06、C06)，(E06、F06)，(H06、106)。請一并參閱圖6，當(dāng)需要對第一組引腳進(jìn)行測試時(shí)，將所述測試電路板20位于1-6 列的引腳相連至所述待測試的連接器200。此時(shí)，所述待測試的連接器200的第一組引腳即被連接至所述測試電路板20，并通過轉(zhuǎn)接器60連接到測試儀器80。所述待測試的連接器 200的第二組引腳和第三組引腳的高頻信號輸出引腳均通過所述電阻R與接地引腳相連。請一并參閱圖7，當(dāng)需要對第二組引腳進(jìn)行測試時(shí)，將測試電路板20位于3-8列的引腳相連至所述待測試的連接器200，此時(shí)，所述待測試的連接器200的第二組引腳即被連接至所述測試電路板20，并通過所述轉(zhuǎn)接器60連接到所述測試儀器80。所述待測試的連接器200的第一組引腳和第三組引腳的高頻信號輸出引腳均通過所述電阻R與接地引腳相連。請一并參閱圖8，當(dāng)需要對第三組引腳進(jìn)行測試時(shí)，將測試電路板20位于5-10列的引腳相連至所述待測試的連接器200，此時(shí)，所述待測試的連接器200的第三組引腳即被接入到所述測試電路板20，并通過所述轉(zhuǎn)接器60連接到所述測試儀器80。所述待測試的連接器200的第一組引腳和第二組引腳的高頻信號輸出引腳均通過所述電阻R與接地引腳相連。本發(fā)明的所述測試裝置100將所述測試電路板20的引腳々5、85、0535、65、!15、86、 C6、E6、F6、H6、I6與一轉(zhuǎn)接器60相連，只需通過改變待測試連接器與測試電路板20連接的引腳列數(shù)，即可將待測試連接器的引腳信號分別由轉(zhuǎn)接器60輸出，使用方便。而且，在測試其中一組引腳時(shí)，其他兩組的高頻信號輸出引腳均通過所述電阻R與接地引腳相連，實(shí)現(xiàn)了對其余未測試的高頻信號輸出引腳的信號終結(jié)，因此，避免了未測試的高頻信號輸出引腳輸出的高頻信號的串?dāng)_，提高了測試的準(zhǔn)確性。雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施方式披露如上，但是，其并非用以限定本發(fā)明，另外，本領(lǐng)域技術(shù)人員還可以在本發(fā)明精神內(nèi)做其它變化等。當(dāng)然，這些依據(jù)本發(fā)明精神所做的變化，都應(yīng)包含在本發(fā)明所要求保護(hù)的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種測試裝置，用以對待測試的連接器進(jìn)行測試，所述測試裝置包括一測試電路板、 多個(gè)轉(zhuǎn)接器及一測試儀器，所述待測試的連接器可插拔地連接在所述測試電路板上，所述多個(gè)轉(zhuǎn)接器分別連接至所述測試電路板，所述待測試的連接器的輸出信號經(jīng)所述測試電路板傳輸至所述轉(zhuǎn)接器，并由所述轉(zhuǎn)接器輸出至所述測試儀器，其特征在于所述測試電路板包括多個(gè)引腳，所述多個(gè)引腳采用9*10方式排列，其9行定義為A-I，10列定義為1-10，其中，所述測試電路板的引腳A5、B5、D5、E5、G5、H5、B6、C6、E6、F6、H6、16與所述多個(gè)轉(zhuǎn)接器 ——相連，引腳 CUFU I1、A2、D2、G2、C3、F3、13、A4、D4、G4、C5、F5、15、A6、D6、G6、C7、F7、 17、A8、D8、G8、C8、C9、F9、19、A10、CIO、GlO為接地引腳，其余各引腳分別通過一電阻與上述接地引腳電性連接。
2.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于所述電阻與所述待測試連接器上的閑置信號走線的特征阻抗匹配。
3.如權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于所述電阻的阻值為50歐姆。
4.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于所述測試儀器為示波器。
5.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于所述待測試的連接器的引腳分為三組， 其中，第一組為(A01、B01)，(D0U E01), (GOU HOI), (B02、C02)，(E02、F02)，(H02、102)； 第二組為(A03、B03)，(D03、E03)，(G03、H03)，(B04、C04)，(E04、F04)，(H04、104)；第三組為(A05、B05)，(D05、E05)，(G05、H05)，(B06、C06)，(E06、F06)，(H06、106)。
6.如權(quán)利要求5所述的測試裝置，其特征在于當(dāng)需要對第一組引腳進(jìn)行測試時(shí)，將所述測試電路板上位于1-6列的引腳相連至所述待測試的連接器，所述待測試的連接器的第二組引腳和第三組引腳的高頻信號輸出引腳均通過所述電阻與接地引腳相連。
7.如權(quán)利要求5所述的測試裝置，其特征在于當(dāng)需要對第二組引腳進(jìn)行測試時(shí)，將測試電路板上位于3-8列的引腳相連至所述待測試的連接器，所述待測試的連接器的第二組引腳即被連接至所述測試電路板，并通過所述轉(zhuǎn)接器連接到所述測試儀器，所述待測試的連接器的第一組引腳和第三組引腳的高頻信號輸出引腳均通過所述電阻與接地引腳相連。
8.如權(quán)利要求5所述的測試裝置，其特征在于當(dāng)需要對第三組引腳進(jìn)行測試時(shí)，將測試電路板上位于5-10列的引腳相連至所述待測試的連接器，所述待測試的連接器的第三組引腳即被接入到所述測試電路板，并通過所述轉(zhuǎn)接器連接到所述測試儀器，所述待測試的連接器的第一組引腳和第二組引腳的高頻信號輸出引腳均通過所述電阻與接地引腳相連。
全文摘要
一種測試裝置，其包括一測試電路板、多個(gè)轉(zhuǎn)接器及一測試儀器。待測試的連接器可插拔地連接在測試電路板上。多個(gè)轉(zhuǎn)接器分別連接至測試電路板。待測試的連接器的輸出信號經(jīng)測試電路板傳輸至轉(zhuǎn)接器，并由轉(zhuǎn)接器輸出至測試儀器。測試電路板包括多個(gè)引腳。多個(gè)引腳采用9*10方式排列，其9行定義為A-I，10列定義為1-10。其中，測試電路板的引腳A5、B5、D5、E5、G5、H5、B6、C6、E6、F6、H6、I6與多個(gè)轉(zhuǎn)接器一一相連，引腳C1、F1、I1、A2、D2、G2、C3、F3、I3、A4、D4、G4、C5、F5、I5、A6、D6、G6、C7、F7、I7、A8、D8、G8、C8、C9、F9、I9、A10、C10、G10為接地引腳，其余各引腳分別通過一電阻與上述接地引腳連接。本發(fā)明的測試裝置的測試的準(zhǔn)確性高。
文檔編號G01R31/04GK102540004SQ201010579160
公開日2012年7月4日 申請日期2010年12月8日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月8日
發(fā)明者黃發(fā)生 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司