專利名稱：一種檢定儀的自校準(zhǔn)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及測量領(lǐng)域，特別涉及一種檢定儀的自校準(zhǔn)方法。
背景技術(shù)：
為了使工業(yè)生產(chǎn)過程可靠、安全地運(yùn)行，根據(jù)有關(guān)檢定規(guī)程與國家計(jì)量法的要 求，需對生產(chǎn)過程中所用的測控儀表進(jìn)行定期的檢定。同時(shí)各種測控儀表在生產(chǎn)中為了保 證其符合要求，也必須對其進(jìn)行標(biāo)定和檢驗(yàn)，使其符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的要求。由于環(huán)境的變化，作為檢定用的工具每年都需要校準(zhǔn)，校準(zhǔn)的周期一般為一年，而 一年中有春夏秋冬四個(gè)季節(jié)，其環(huán)境溫度、濕度都有很大的差別，對于高精度的測量系統(tǒng)， 應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)，還有對于剛生產(chǎn)好的檢定儀其插孔、接線端子接觸良好，使用時(shí)間久后，金屬 表面會氧化，接觸電阻會有一定的增加，并且對于多參數(shù)的切換，一般采用繼電器進(jìn)行切 換，繼電器使用久了觸點(diǎn)會氧化，接觸電阻也將會增加，這些變化對測量與輸出精確度有一 定的影響，特別是電阻的測量與輸出，很難滿足要求。而采用了本發(fā)明的檢定儀會自動(dòng)定時(shí) 對系統(tǒng)進(jìn)行自校準(zhǔn)，不會因?yàn)槭褂脮r(shí)間久、環(huán)境變化對檢定的精度產(chǎn)生影響。有一些檢定儀具備校準(zhǔn)功能，但都是需要人工操作，對于電壓、電阻測量，是先將 表棒短接，再按清零鍵實(shí)現(xiàn)。但對于輸出目前很少有儀表實(shí)現(xiàn)自校準(zhǔn)功能。浙江中控的過 程校驗(yàn)儀實(shí)現(xiàn)了輸出自校準(zhǔn)功能，能對電阻進(jìn)行校準(zhǔn)，但這也需要人工操作進(jìn)行。對于多通 道的檢定裝置，目前還沒有發(fā)現(xiàn)能自動(dòng)校準(zhǔn)的檢定裝置。

發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明公開了一種檢定儀的自校準(zhǔn)方法，其解決了檢 定儀需要人工操作進(jìn)行自校準(zhǔn)，且所述檢定儀的精度會受時(shí)間、環(huán)境變化影響的技術(shù)問題。一種檢定儀的自校準(zhǔn)方法，包括下列步驟
1)在具有測量單元和輸出單元的檢定儀上設(shè)置控制單元和自校準(zhǔn)單元，控制單元與自 校準(zhǔn)單元連接；自校準(zhǔn)單元包括切換開關(guān)單元，所述切換開關(guān)單元分別與測量單元和輸出 單元連接；
切換開關(guān)單元包括第一開關(guān)、第二開關(guān)和第三開關(guān)；第一開關(guān)的兩端與測量單元連 接在一起，同時(shí)第一開關(guān)的兩端又分別與第二開關(guān)和第三開關(guān)的一端相連；第二開關(guān)和第 三開關(guān)的另一端與輸出單元連接；
2)控制單元設(shè)定上述檢定儀進(jìn)行自校準(zhǔn)的時(shí)間間隔；
3)當(dāng)上述檢定儀開機(jī)或自校準(zhǔn)的時(shí)間間隔到了后，控制單元控制自校準(zhǔn)單元使其自動(dòng) 進(jìn)行測量自校準(zhǔn)；
4)采用經(jīng)過校準(zhǔn)的測量作為基準(zhǔn)，控制單元控制自校準(zhǔn)單元使其自動(dòng)進(jìn)行輸出自校準(zhǔn)。較優(yōu)地，所述測量自校準(zhǔn)，輸出自校準(zhǔn)均發(fā)生在所述具有自校準(zhǔn)功能的檢定儀進(jìn) 行正常測量和輸出的工作之外的時(shí)間。
較優(yōu)地，所述控制單元包括CPU及其對應(yīng)的用于啟動(dòng)并實(shí)行自校準(zhǔn)過程的固化程序。較優(yōu)地，所述自校準(zhǔn)單元還包括內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)信號源/高精度低溫漂的電子元器件。較優(yōu)地，所述測量自校準(zhǔn)包括下列步驟
1)切斷測量單元與外界的所有連接；
2)通過切換開關(guān)單元短路所述測量單元，則此時(shí)測量單元的測量值為零點(diǎn)的信號；
3)運(yùn)用所述檢定儀內(nèi)部自帶的測量功能進(jìn)行測量，測量到此時(shí)的測量單元的信號，并 把該信號作為零點(diǎn)偏移值；
4)所述測量校驗(yàn)的滿度校準(zhǔn)通過高精度低溫度系數(shù)的電子元器件來保證，故上述零點(diǎn) 偏移值即為測量自校準(zhǔn)的偏移值；結(jié)束測量自校準(zhǔn)。5)在后續(xù)的測量中，將測量單元的測量值減去上述測量自校準(zhǔn)的偏移值作為修正 后的測量值。較優(yōu)地，所述測量自校準(zhǔn)包括下列步驟
1)切斷測量單元與外界的所有連接；
2)通過切換開關(guān)單元短路所述測量單元，則此時(shí)測量單元的測量值為零點(diǎn)的信號；
3)運(yùn)用所述檢定儀內(nèi)部自帶的測量功能進(jìn)行測量，測量到此時(shí)的測量單元的信號，并 把該信號作為零點(diǎn)偏移值；
4)利用切換開關(guān)單元使測量單元與內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)信號源連接；則此時(shí)測量單元的測量值為 內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)信號源的值；并把該值作為測量自校準(zhǔn)的滿度附近的參考值；
5)通過控制單元對上述3)和4)得到的零點(diǎn)偏移值和滿度附近的偏移值進(jìn)行線性運(yùn) 算；即得到了測量自校準(zhǔn)的偏移值；結(jié)束測量自校準(zhǔn)。較優(yōu)地，所述輸出自校準(zhǔn)包括下列步驟
1)切斷測量單元和輸出單元與外界的所有連接；
2)通過切換開關(guān)單元使測量單元與輸出單元連接；
3)控制單元控制輸出單元輸出零點(diǎn)附近的信號，并通過測量單元得到一個(gè)測量值，該 測量值減去在前述測量自校準(zhǔn)得到的偏移值后，得到輸出自校準(zhǔn)的零點(diǎn)附近的偏移值；
4)控制單元控制輸出單元輸出滿度附近的信號，并通過測量單元得到一個(gè)測量值，該 測量值減去在前述測量自校準(zhǔn)得到的偏移值后，得到輸出自校準(zhǔn)的滿度附近的偏移值；
5)通過控制單元對上述3)和4)得到的零點(diǎn)附近的偏移值和滿度附近的偏移值進(jìn)行線 性運(yùn)算；即得到了輸出自校準(zhǔn)的偏移值；
6)將上述輸出自校準(zhǔn)的偏移值返回控制單元，使控制單元根據(jù)該值將輸出單元的輸出 值修正至與測量值一致，結(jié)束輸出自校準(zhǔn)。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果如下
本發(fā)明是針對具有測量與輸出功能的檢定儀提出的自校準(zhǔn)方案。采用了本發(fā)明的檢定 儀會自動(dòng)定時(shí)對系統(tǒng)進(jìn)行自校準(zhǔn)，不會因?yàn)槭褂镁昧恕h(huán)境的變化對檢定的精度產(chǎn)生影響， 且自校準(zhǔn)是內(nèi)部自動(dòng)進(jìn)行，對于用戶來說不會感覺到自校準(zhǔn)過程的存在。


圖1為本發(fā)明的實(shí)施例1的切換開關(guān)單元的電路示意圖； 圖2為本發(fā)明的實(shí)施例1的檢定儀自校準(zhǔn)的流程圖3為本發(fā)明的實(shí)施例1的測量自校準(zhǔn)的流程圖； 圖4為本發(fā)明的實(shí)施例1的輸出自校準(zhǔn)流程圖。
具體實(shí)施例方式下方結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對本發(fā)明做進(jìn)一步的說明 實(shí)施例1
一種檢定儀，包括測量單元、輸出單元；在其上設(shè)置控制單元和自校準(zhǔn)單元，所述控制 單元與所述自校準(zhǔn)單元連接。測量單元用來完成對各種電信號的測量。輸出單元用來完成對各種電信號的輸出。 控制單元控制所述自校準(zhǔn)單元實(shí)現(xiàn)上述檢定儀的進(jìn)行自校準(zhǔn)?？刂茊卧–PU及其對應(yīng)的用于啟動(dòng)并實(shí)行自校準(zhǔn)過程的固化程序。自校準(zhǔn)單元包括切換開關(guān)單元，切換開關(guān)單元分別與所述測量單元和輸出單元連接。在本實(shí)施例中，如圖1切換開關(guān)單元3包括第一開關(guān)01、第二開關(guān)02和第三開 關(guān)03 ；第一開關(guān)01的兩端與測量單元1連接在一起，同時(shí)第一開關(guān)01的兩端又分別與第 二開關(guān)02和第三開關(guān)03的一端相連；第二開關(guān)02和第三開關(guān)03的另一端與輸出單元2 連接；圖1表示了切換開關(guān)單元3的原始狀態(tài)以及其與測量單元1和輸出單元2的連接關(guān) 系；或者檢定儀不進(jìn)行自校準(zhǔn)時(shí)，也對應(yīng)圖1的狀態(tài)。另11、12分別表示測量單元的第一測 量端和第二測量端；21、22分別表示輸出單元的第一輸出端和第二輸出端。切換開關(guān)單元 的實(shí)現(xiàn)形式還有很多種，本實(shí)施例僅為舉例，其只要滿足能實(shí)現(xiàn)檢定儀的自校準(zhǔn)功能即可， 本發(fā)明不對其實(shí)現(xiàn)形式作出限定。在本實(shí)施例中，自校準(zhǔn)單元還包括有高精度低溫度系數(shù)的電子元器件。在本實(shí)施例中，控制單元包括檢定儀內(nèi)置的CPU及其對應(yīng)的固化程序設(shè)定好檢 定儀進(jìn)行自校準(zhǔn)的時(shí)間間隔。僅為舉例，因?yàn)镃PU也可以外置在檢定儀上，故本發(fā)明不對此 作出限定。對于上述檢定儀進(jìn)行自校準(zhǔn)方法，包括下列步驟
1)在具有測量單元和輸出單元的檢定儀上設(shè)置控制單元和自校準(zhǔn)單元，控制單元與自 校準(zhǔn)單元連接；自校準(zhǔn)單元包括切換開關(guān)單元，所述切換開關(guān)單元分別與測量單元和輸出 單元連接；
切換開關(guān)單元包括第一開關(guān)、第二開關(guān)和第三開關(guān)；第一開關(guān)的兩端與測量單元連 接在一起，同時(shí)第一開關(guān)的兩端又分別與第二開關(guān)和第三開關(guān)的一端相連；第二開關(guān)和第 三開關(guān)的另一端與輸出單元連接；
上述檢定儀已經(jīng)完成了第一個(gè)步驟。2)控制單元設(shè)定上述檢定儀進(jìn)行自校準(zhǔn)的時(shí)間間隔。3)當(dāng)上述檢定儀開機(jī)或自校準(zhǔn)的時(shí)間間隔到了后，控制單元控制自校準(zhǔn)單元使其自動(dòng)進(jìn)行測量自校準(zhǔn)。4)采用經(jīng)過校準(zhǔn)的測量作為基準(zhǔn)，控制單元控制自校準(zhǔn)單元使其自動(dòng)進(jìn)行輸出自 校準(zhǔn)。且上述測量自校準(zhǔn)，輸出自校準(zhǔn)均發(fā)生在所述具有自校準(zhǔn)功能的檢定儀進(jìn)行正常 測量和輸出的工作之外的時(shí)間。我們通過圖2對上述步驟做詳細(xì)說明，因?yàn)槲覀冊谇笆鰴z定儀部分利用其內(nèi)置的 CPU及其對應(yīng)的固化程序設(shè)定好檢定儀進(jìn)行自校準(zhǔn)的時(shí)間間隔；則
當(dāng)檢定儀開機(jī)或自校準(zhǔn)時(shí)間間隔到了后，檢定儀會啟動(dòng)自校準(zhǔn)流程，具體的自校準(zhǔn)動(dòng) 作會在檢定儀不進(jìn)行對外的測量或輸出時(shí)進(jìn)行，不會影響檢定儀對外的測量與輸出。具體 實(shí)現(xiàn)方法結(jié)合圖2所示，檢定儀在工作中檢測到自校準(zhǔn)時(shí)間間隔到或剛開始工作，內(nèi)置CPU 控制切換開關(guān)單元自動(dòng)啟動(dòng)自校準(zhǔn)流程，這時(shí)先判斷系統(tǒng)是否正在測量中，如不是，則開始 測量自校準(zhǔn)，否則監(jiān)視測量單元，直到本次測量過程結(jié)束，再開始測量自校準(zhǔn)；測量自校準(zhǔn) 完成后，再判斷系統(tǒng)是否正在輸出中，如不是，則開始輸出自校準(zhǔn)，否則監(jiān)視輸出單元，直到 本次輸出結(jié)束，再開始輸出自校準(zhǔn)。測量、輸出都校準(zhǔn)完畢，本次校準(zhǔn)過程結(jié)束。下面我們結(jié)合附圖來分別說明測量自校準(zhǔn)和輸出自校準(zhǔn)的過程。測量自校準(zhǔn)過程
在本實(shí)施例中，因?yàn)闄z定儀采用了前述高精度低溫度系數(shù)的電子元器件，且在測量中 引入的器件很少，系統(tǒng)的AD自帶溫度補(bǔ)償，所以在測量時(shí)一般不會由于環(huán)境的變化引起測 量誤差，只是在小信號零點(diǎn)時(shí)，有可能會有一點(diǎn)漂移，所以本檢定儀僅對測量的零點(diǎn)進(jìn)行自 校準(zhǔn)即可，同時(shí)通過自校準(zhǔn)后的測量通道作為標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)輸出通道，以實(shí)現(xiàn)輸出信號的自校 準(zhǔn)。具體步驟如下，結(jié)合圖3和圖1
1)切斷測量單元與外界的所有連接，即切斷測量單元測量端的所有連接。2)在圖1的基礎(chǔ)上，閉合K1，使測量單元的兩個(gè)測量端11和12短路。3)運(yùn)用檢定儀內(nèi)部自帶的測量功能進(jìn)行測量，測量到此時(shí)的測量單元的信號，并 把該信號作為零點(diǎn)偏移值。4)所述測量校驗(yàn)的滿度校準(zhǔn)通過高精度低溫度系數(shù)的電子元器件來保證，故上述 零點(diǎn)偏移值即為測量自校準(zhǔn)的偏移值；結(jié)束測量自校準(zhǔn)。5)在后續(xù)的測量中，將測量單元的測量值減去上述測量自校準(zhǔn)的偏移值作為修正 后的測量值。輸出自校準(zhǔn)過程包括下列步驟，結(jié)合圖1和圖4進(jìn)行說明
1)切斷測量單元和輸出單元與外界的所有連接；即切斷測量與輸出的所有連接。2)在圖1的基礎(chǔ)上，閉合第二開關(guān)02和第三開關(guān)03，使測量單元的第一測量端11 與輸出單元的第一輸出端21連接；測量單元的第二測量端12與輸出單元的第二輸出端22 連接。3)通過檢定儀內(nèi)置的CPU控制輸出單元輸出零點(diǎn)附近的信號，并通過測量單元得 到一個(gè)測量值，該測量值減去在前述測量自校準(zhǔn)得到的偏移值后，得到輸出自校準(zhǔn)的零點(diǎn) 附近的偏移值；
4)通過檢定儀內(nèi)置的CPU控制輸出單元輸出滿度附近的信號，并通過測量單元得到一個(gè)測量值，該測量值減去在前述測量自校準(zhǔn)得到的偏移值后，得到輸出自校準(zhǔn)的滿度附近 的偏移值；
5)通過檢定儀內(nèi)置的CPU對上述3)和4)得到的零點(diǎn)附近的偏移值和滿度附近的偏移 值進(jìn)行線性運(yùn)算；即得到了輸出自校準(zhǔn)的偏移值；
6)將上述輸出自校準(zhǔn)的偏移值返回控制單元，使控制單元根據(jù)該值將輸出單元的輸出 值修正至與測量值一致，結(jié)束輸出自校準(zhǔn)。上述6)可進(jìn)一步細(xì)化為下面的步驟
第一，把上述輸出自標(biāo)準(zhǔn)偏移值返回內(nèi)置CPU，進(jìn)行處理，并以處理結(jié)果來控制輸出單
元；
第二，通過內(nèi)置CPU使輸出單元輸出一個(gè)固定值，并判斷該固定值是否與測量單元測 量到的的測量值一致。第三，如果上述結(jié)果一致，則結(jié)束輸出自校準(zhǔn)；如果結(jié)果不一致，則回到3)，重復(fù) 3) — 6)的過程。實(shí)施例2
實(shí)施例1中的測量自校準(zhǔn)也可以通過別的形式來實(shí)現(xiàn)
在本實(shí)施例中，自校準(zhǔn)單元還包括內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)信號源；在測量自校準(zhǔn)的零度偏移值得到 的方法與實(shí)施例1的相同，但在滿度偏移值的得到的方法不同，其利用了內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)信號源。其實(shí)現(xiàn)的步驟如下
1)切斷測量單元與外界的所有連接；
2)通過切換開關(guān)單元短路所述測量單元，則此時(shí)測量單元的測量值為零點(diǎn)的信號；
3)運(yùn)用所述檢定儀內(nèi)部自帶的測量功能進(jìn)行測量，測量到此時(shí)的測量單元的信號，并 把該信號作為零點(diǎn)偏移值；
4)利用切換開關(guān)單元使測量單元與內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)信號源連接；則此時(shí)測量單元的測量值為 內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)信號源的值；并把該值作為測量自校準(zhǔn)的滿度附近的參考值；
5)通過控制單元對上述3)和4)得到的零點(diǎn)偏移值和滿度附近的偏移值進(jìn)行線性運(yùn) 算；即得到了測量自校準(zhǔn)的偏移值；
6)在后續(xù)的測量中，將測量單元的測量值減去上述測量自校準(zhǔn)的偏移值作為修正后的 測量值；即完成了測量自校準(zhǔn)。本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例只是用于幫助闡述本發(fā)明。優(yōu)選實(shí)施例并沒有詳盡敘述所有的 細(xì)節(jié)，也不限制該發(fā)明僅為所述的具體實(shí)施方式
。顯然，根據(jù)本說明書的內(nèi)容，可作很多的 修改和變化。本說明書選取并具體描述這些實(shí)施例，是為了更好地解釋本發(fā)明的原理和實(shí) 際應(yīng)用，從而使所屬技術(shù)領(lǐng)域技術(shù)人員能很好地利用本發(fā)明。本發(fā)明僅受權(quán)利要求書及其 全部范圍和等效物的限制。以上公開的僅為本申請的幾個(gè)具體實(shí)施例，但本申請并非局限 于此，任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員能思之的變化，都應(yīng)落在本申請的保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種檢定儀的自校準(zhǔn)方法，其特征在于其包括下列步驟1)在具有測量單元和輸出單元的檢定儀上設(shè)置控制單元和自校準(zhǔn)單元，控制單元與自 校準(zhǔn)單元連接；自校準(zhǔn)單元包括切換開關(guān)單元，所述切換開關(guān)單元分別與測量單元和輸出 單元連接；切換開關(guān)單元包括第一開關(guān)、第二開關(guān)和第三開關(guān)；第一開關(guān)的兩端與測量單元連 接在一起，同時(shí)第一開關(guān)的兩端又分別與第二開關(guān)和第三開關(guān)的一端相連；第二開關(guān)和第 三開關(guān)的另一端與輸出單元連接；2)控制單元設(shè)定上述檢定儀進(jìn)行自校準(zhǔn)的時(shí)間間隔；3)當(dāng)上述檢定儀開機(jī)或自校準(zhǔn)的時(shí)間間隔到了后，控制單元控制自校準(zhǔn)單元使其自動(dòng) 進(jìn)行測量自校準(zhǔn)；4)采用經(jīng)過校準(zhǔn)的測量作為基準(zhǔn)，控制單元控制自校準(zhǔn)單元使其自動(dòng)進(jìn)行輸出自校準(zhǔn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種檢定儀的自校準(zhǔn)方法，其特征在于所述測量自校準(zhǔn)，輸 出自校準(zhǔn)均發(fā)生在所述具有自校準(zhǔn)功能的檢定儀進(jìn)行正常測量和輸出的工作之外的時(shí)間。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種檢定儀的自校準(zhǔn)方法，其特征在于所述控制單元 包括CPU及其對應(yīng)的用于啟動(dòng)并實(shí)行自校準(zhǔn)過程的固化程序。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種檢定儀的自校準(zhǔn)方法，其特征在于所述自校準(zhǔn)單 元還包括內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)信號源/高精度低溫漂的電子元器件。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種檢定儀的自校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述測量自校準(zhǔn) 包括下列步驟1)切斷測量單元與外界的所有連接；2)通過切換開關(guān)單元短路所述測量單元，則此時(shí)測量單元的測量值為零點(diǎn)的信號；3)運(yùn)用所述檢定儀內(nèi)部自帶的測量功能進(jìn)行測量，測量到此時(shí)的測量單元的信號，并 把該信號作為零點(diǎn)偏移值；4)所述測量校驗(yàn)的滿度校準(zhǔn)通過高精度低溫度系數(shù)的電子元器件來保證，故上述零點(diǎn) 偏移值即為測量自校準(zhǔn)的偏移值；結(jié)束測量自校準(zhǔn)；5)在后續(xù)的測量中，將測量單元的測量值減去上述測量自校準(zhǔn)的偏移值作為修正后的 測量值。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2或4所述的一種檢定儀的自校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述測量自 校準(zhǔn)包括下列步驟1)切斷測量單元與外界的所有連接；2)通過切換開關(guān)單元短路所述測量單元，則此時(shí)測量單元的測量值為零點(diǎn)的信號；3)運(yùn)用所述檢定儀內(nèi)部自帶的測量功能進(jìn)行測量，測量到此時(shí)的測量單元的信號，并 把該信號作為零點(diǎn)偏移值；4)利用切換開關(guān)單元使測量單元與內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)信號源連接；則此時(shí)測量單元的測量值為 內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)信號源的值；并把該值作為測量自校準(zhǔn)的滿度附近參考值；5)通過控制單元對上述3)和4)得到的零點(diǎn)偏移值和滿度附近的偏移值進(jìn)行線性運(yùn) 算；即得到了測量自校準(zhǔn)的偏移值；結(jié)束測量自校準(zhǔn)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種檢定儀的自校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述輸出自校準(zhǔn)包括下列步驟1)切斷測量單元和輸出單元與外界的所有連接；2)通過切換開關(guān)單元使測量單元與輸出單元連接；3)控制單元控制輸出單元輸出零點(diǎn)附近的信號，并通過測量單元得到一個(gè)測量值，該 測量值減去在前述測量自校準(zhǔn)得到的偏移值后，得到輸出自校準(zhǔn)的零點(diǎn)附近的偏移值；4)控制單元控制輸出單元輸出滿度附近的信號，并通過測量單元得到一個(gè)測量值，該 測量值減去在前述測量自校準(zhǔn)得到的偏移值后，得到輸出自校準(zhǔn)的滿度附近的偏移值；5)通過控制單元對上述3)和4)得到的零點(diǎn)附近的偏移值和滿度附近的偏移值進(jìn)行線 性運(yùn)算；即得到了輸出自校準(zhǔn)的偏移值；6)將上述輸出自校準(zhǔn)的偏移值返回控制單元，使控制單元根據(jù)該值將輸出單元的輸出 值修正至與測量值一致，結(jié)束輸出自校準(zhǔn)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種檢定儀的自校準(zhǔn)方法，其包括下列步驟1)在具有測量單元和輸出單元的檢定儀上設(shè)置控制單元和自校準(zhǔn)單元，控制單元與自校準(zhǔn)單元連接；自校準(zhǔn)單元包括切換開關(guān)單元，所述切換開關(guān)單元分別與測量單元和輸出單元連接；2)控制單元設(shè)定上述檢定儀進(jìn)行自校準(zhǔn)的時(shí)間間隔；3)當(dāng)上述檢定儀開機(jī)或自校準(zhǔn)的時(shí)間間隔到了后，控制單元控制自校準(zhǔn)單元使其自動(dòng)進(jìn)行測量自校準(zhǔn)；4)采用經(jīng)過校準(zhǔn)的測量作為基準(zhǔn)，控制單元控制自校準(zhǔn)單元使其自動(dòng)進(jìn)行輸出自校準(zhǔn)。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明解決了檢定儀需要人工操作進(jìn)行自校準(zhǔn)，且所述檢定儀的精度會受時(shí)間、環(huán)境變化影響的技術(shù)問題。
文檔編號G01D18/00GK102128647SQ20101061846
公開日2011年7月20日 申請日期2010年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月31日
發(fā)明者張合純, 張磊, 熊遠(yuǎn)昌, 王凱, 陳麗君 申請人:浙江中控自動(dòng)化儀表有限公司