專利名稱：一種用于金屬試樣電阻率測(cè)量的試樣架的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及電阻率測(cè)量領(lǐng)域，特別涉及一種用于金屬試樣電阻率測(cè)量的試樣
^K O
背景技術(shù)：
電阻率是用來表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。電阻是金屬材料性能參數(shù)之一， 測(cè)量的電阻數(shù)據(jù)，已廣泛應(yīng)用于相圖、有序-無序轉(zhuǎn)變、晶體中的位錯(cuò)、點(diǎn)陣缺陷、合金中的 間隙離子、晶粒間界、金屬表面時(shí)效以及晶體熔化等金屬學(xué)課題。對(duì)于各種材料的電阻率的測(cè)量，國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)都有相應(yīng)的規(guī)定，比如國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)“電線電 纜電性能試驗(yàn)方法第二部分金屬導(dǎo)體材料電阻率試驗(yàn)”(GBT 3048. 2-2007)、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)“電 工鋼片(帶)的密度、電阻率和疊裝系數(shù)的測(cè)量方法”(GBT 19289-2003)，這些標(biāo)準(zhǔn)通常規(guī) 定了電阻率測(cè)量時(shí)試樣的制備、測(cè)量的方法等，但是都沒有明確具體的實(shí)現(xiàn)方式，特別是符 合標(biāo)準(zhǔn)的試樣，如何對(duì)試樣進(jìn)行固定，實(shí)現(xiàn)快速可靠地測(cè)量等，因此設(shè)計(jì)一個(gè)穩(wěn)定可靠的試 樣架對(duì)金屬材料的電阻率的測(cè)量有非常重要的意義。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種用于金屬試樣電阻率測(cè)量的試樣架，方便對(duì)試樣進(jìn) 行可靠地測(cè)量。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型的用于金屬試樣電阻率測(cè)量的試樣架，包括一絕緣 板臺(tái)、兩個(gè)支撐梁、兩個(gè)倒T形的試樣夾持刀和兩個(gè)絕緣墊片，所述絕緣板臺(tái)上開設(shè)有相互 平行的多個(gè)條形槽孔；所述支撐梁的兩端各設(shè)有一個(gè)支撐桿，所述支撐桿的上部與所述支 撐梁固定連接，所述支撐桿的下部穿過所述條形槽孔，并可通過螺栓固定在所述絕緣板臺(tái) 上；所述試樣夾持刀可通過鎖緊螺栓固定在所述絕緣板臺(tái)上，所述鎖緊螺栓穿過所述條形 槽孔，所述兩個(gè)試樣夾持刀分別位于所述兩個(gè)支撐梁下方；所述兩個(gè)支撐梁上都設(shè)有壓緊 螺栓，所述兩個(gè)絕緣墊片分別位于所述兩個(gè)支撐梁的壓緊螺栓下方；待測(cè)試樣的兩端分別 置于所述兩個(gè)試樣夾持刀上，并通過壓緊螺栓推動(dòng)所述絕緣墊片將所述待測(cè)試樣固定。本實(shí)用新型的用于金屬試樣電阻率測(cè)量的試樣架，能快速低將待測(cè)試樣固定，可 以用于測(cè)量金屬材料試樣的電阻率，有利于對(duì)電阻率方便快速地測(cè)量，而且重復(fù)性、穩(wěn)定性 好。

圖1為本實(shí)用新型的用于金屬試樣電阻率測(cè)量的試樣架的示意圖；圖2為圖1中試樣架的A-A向剖視圖；圖3為圖2中試樣架的側(cè)視圖。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的實(shí)施例進(jìn)行具體說明如圖1 3所示，本實(shí)用新型的用于金屬試樣電阻率測(cè)量的試樣架包括一絕緣板 臺(tái)10、兩個(gè)支撐梁20、兩個(gè)倒T形的試樣夾持刀30和兩個(gè)絕緣墊片40。所述絕緣板臺(tái)10上開設(shè)有相互平行的多個(gè)條形槽孔11 ；所述支撐梁20的兩端各設(shè)有一個(gè)支撐桿21，所述支撐桿21的上部與所述支撐梁 20固定連接，其固定方式可以采用焊接或螺栓連接，所述支撐桿21的下部穿過所述條形槽 孔11，并可通過螺栓固定在所述絕緣板臺(tái)10上；所述試樣夾持刀30可通過鎖緊螺栓31固定在所述絕緣板臺(tái)10上，所述鎖緊螺栓 31穿過所述條形槽孔11，所述兩個(gè)試樣夾持刀30分別位于所述兩個(gè)支撐梁20下方；所述兩個(gè)支撐梁20上都設(shè)有壓緊螺栓22，所述兩個(gè)絕緣墊片40分別位于所述兩 個(gè)支撐梁20的壓緊螺栓22下方；待測(cè)試樣50的兩端分別置于所述兩個(gè)試樣夾持刀30上，并通過壓緊螺栓22推動(dòng) 所述絕緣墊片40將所述待測(cè)試樣50固定。通過旋緊壓緊螺栓22，將待測(cè)試樣50與所述試 樣夾持刀30緊密接觸。對(duì)于不同長(zhǎng)度的待測(cè)試樣50，可以通過移動(dòng)所述試樣夾持刀30相對(duì)所述條形槽 孔11滑動(dòng)來進(jìn)行調(diào)整兩個(gè)試樣夾持刀30的距離，相應(yīng)地將所述支撐桿21和支撐梁20也 相對(duì)所述條形槽孔11滑動(dòng)。所述試樣夾持刀30呈倒T形，有利于試樣夾持刀30的平穩(wěn)，所述試樣夾持刀30 也可以是兩個(gè)L形的直角金屬塊組合而成。在測(cè)量待測(cè)試樣50的電阻率時(shí)，可以通過兩根引線將兩個(gè)試樣夾持刀30與測(cè)量 裝置連接。測(cè)量電阻時(shí)可以采用常規(guī)的方法進(jìn)行測(cè)量，測(cè)出兩個(gè)所述試樣夾持刀30之間的 試樣的電阻值，并進(jìn)行至少兩次重復(fù)測(cè)量，取平均值為測(cè)得的電阻值。將試樣50尺寸及測(cè) 得的電阻值代入下式，計(jì)算出試樣的電阻率。ρ = Rbh/L式中p——電阻率，(μ Ω · cm)R——測(cè)得的電阻，(Ω)b——試樣寬度，(cm)h——試樣厚度，(cm)L——測(cè)試長(zhǎng)度即兩個(gè)所述試樣夾持刀30的頂部的距離，(cm)
權(quán)利要求一種用于金屬試樣電阻率測(cè)量的試樣架，其特征在于，包括一絕緣板臺(tái)、兩個(gè)支撐梁、兩個(gè)倒T形的試樣夾持刀和兩個(gè)絕緣墊片，所述絕緣板臺(tái)上開設(shè)有相互平行的多個(gè)條形槽孔；所述支撐梁的兩端各設(shè)有一個(gè)支撐桿，所述支撐桿的上部與所述支撐梁固定連接，所述支撐桿的下部穿過所述條形槽孔，并可通過螺栓固定在所述絕緣板臺(tái)上；所述試樣夾持刀可通過鎖緊螺栓固定在所述絕緣板臺(tái)上，所述鎖緊螺栓穿過所述條形槽孔，所述兩個(gè)試樣夾持刀分別位于所述兩個(gè)支撐梁下方；所述兩個(gè)支撐梁上都設(shè)有壓緊螺栓，所述兩個(gè)絕緣墊片分別位于所述兩個(gè)支撐梁的壓緊螺栓下方；待測(cè)試樣的兩端分別置于所述兩個(gè)試樣夾持刀上，并通過壓緊螺栓推動(dòng)所述絕緣墊片將所述待測(cè)試樣固定。
2.如權(quán)利要求1所述的用于金屬試樣電阻率測(cè)量的試樣架，其特征在于，所述試樣夾 持刀由兩個(gè)L形的直角金屬塊組合而成。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種用于金屬試樣電阻率測(cè)量的試樣架，其包括一絕緣板臺(tái)、兩個(gè)支撐梁、兩個(gè)倒T形的試樣夾持刀和兩個(gè)絕緣墊片，所述絕緣板臺(tái)上開設(shè)有相互平行的多個(gè)條形槽孔；所述支撐梁的兩端各設(shè)有一個(gè)支撐桿，所述支撐桿的上部與所述支撐梁固定連接，所述支撐桿的下部穿過所述條形槽孔，并可通過螺栓固定在所述絕緣板臺(tái)上；所述試樣夾持刀可通過鎖緊螺栓固定在所述絕緣板臺(tái)上；所述兩個(gè)支撐梁上都設(shè)有壓緊螺栓，所述兩個(gè)絕緣墊片分別位于所述兩個(gè)支撐梁的壓緊螺栓下方；待測(cè)試樣的兩端分別置于所述兩個(gè)試樣夾持刀上，并通過壓緊螺栓推動(dòng)所述絕緣墊片將所述待測(cè)試樣固定。本實(shí)用新型有利于對(duì)電阻率方便快速地測(cè)量，而且重復(fù)性、穩(wěn)定性好。
文檔編號(hào)G01R1/02GK201716329SQ20102020192
公開日2011年1月19日 申請(qǐng)日期2010年5月21日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月21日
發(fā)明者華瑛, 孫時(shí)秋 申請(qǐng)人:寶山鋼鐵股份有限公司