專利名稱：具有預(yù)聚焦抗散射柵格的檢測器陣列的制作方法
具有預(yù)聚焦抗散射柵格的檢測器陣列下文總體上涉及一種具有抗散射柵格的檢測器陣列，尤其應(yīng)用于計算機(jī)斷層攝影 (CT)。不過，它也可以針對其他醫(yī)療成像應(yīng)用和非醫(yī)療成像應(yīng)用加以修改。通常，計算機(jī)斷層攝影(CT)掃描機(jī)包括χ射線管和檢測器陣列。X射線管從焦斑發(fā)射輻射，發(fā)射的輻射貫穿檢查區(qū)域。檢測器陣列設(shè)置在檢查區(qū)域相對側(cè)X射線管的對面并檢測貫穿檢查區(qū)域的輻射。檢測器陣列將檢測到的輻射轉(zhuǎn)換成表示所檢測輻射的信號。 重構(gòu)器重構(gòu)信號以產(chǎn)生其體積圖像數(shù)據(jù)。圖像發(fā)生器基于體積圖像數(shù)據(jù)產(chǎn)生被掃描受檢者或?qū)ο蟮囊粋€或多個圖像。對于一個CT系統(tǒng)而言，檢測器陣列包括多個檢測器模塊，每個模塊具有多個光傳感器塊。每個光傳感器塊都是由抗散射柵格(ASG)、閃爍體陣列、光傳感器陣列、處理電子裝置和基底構(gòu)成的堆疊結(jié)構(gòu)。首先組裝光傳感器塊，然后將光傳感器塊用于填充(populate) 檢測器模塊。每個光傳感器塊的基底包括螺紋凹槽，將光傳感器塊的螺紋凹槽與模塊構(gòu)架中加工的孔對準(zhǔn)，將螺絲釘(screw)穿過孔插入凹槽，使螺絲釘與螺紋凹槽嚙合，從而在檢測器模塊中安裝每個光傳感器塊。令人遺憾的是，光傳感器塊的ASG與焦斑的對準(zhǔn)取決于在模塊構(gòu)架中加工孔的精度和組裝每個堆疊光傳感器塊的精度，因為堆疊每個光傳感器塊的個體部件都可能引入、 傳遞和/或放大堆疊誤差。上述情況可能導(dǎo)致檢測器模塊中的ASG的對準(zhǔn)以及因此其與焦斑的對準(zhǔn)的不可忽略的誤差，ASG與焦斑對準(zhǔn)不良可能導(dǎo)致檢測器盲區(qū)(shadowing)，這又可能導(dǎo)致偽影，例如CT圖像中的環(huán)。本申請的各個方面解決上述問題以及其他問題。根據(jù)一個方面，一種輻射敏感檢測器陣列包括相對于成像系統(tǒng)沿ζ軸方向延伸并沿X軸方向排列的多個檢測器模塊。檢測器模塊中的至少一個包括模塊構(gòu)架和至少一個檢測器組塊(tile)。至少一個檢測器組塊通過非螺紋緊固件耦合到模塊構(gòu)架。所述至少一個檢測器組塊包括二維檢測器和聚焦在成像系統(tǒng)焦斑處的二維抗散射柵格。根據(jù)另一方面，具有焦斑的成像系統(tǒng)的檢測器陣列包括多個相對于成像系統(tǒng)沿橫向排列的檢測器模塊。檢測器模塊中的至少一個包括檢測器組塊。檢測器組塊包括在成像系統(tǒng)中安裝至少一個檢測器模塊之前相對于成像系統(tǒng)的焦斑聚焦的二維抗散射柵格。根據(jù)另一方面，一種方法在將抗散射柵格安裝在成像系統(tǒng)中之前將檢測器組塊的抗散射柵格與成像系統(tǒng)的焦斑對準(zhǔn)。該方法包括在對準(zhǔn)設(shè)備的引導(dǎo)區(qū)域中插入至少一個二維抗散射柵格。引導(dǎo)區(qū)域包括一個或多個基準(zhǔn)，基準(zhǔn)在引導(dǎo)區(qū)域中引導(dǎo)至少一個二維抗散射柵格。引導(dǎo)區(qū)域與焦斑預(yù)先對準(zhǔn)，將至少一個二維抗散射柵格引導(dǎo)到引導(dǎo)區(qū)域中，從而使至少一個二維抗散射柵格相對于焦斑聚焦。根據(jù)另一方面，一種對準(zhǔn)設(shè)備用于在成像系統(tǒng)之外相對于成像系統(tǒng)的焦斑聚焦抗散射柵格。對準(zhǔn)設(shè)備包括至少一個引導(dǎo)區(qū)域，引導(dǎo)區(qū)域被配置成接收抗散射柵格并相對于焦斑聚焦抗散射柵格。本發(fā)明可以實現(xiàn)為各種部件或部件設(shè)置以及各種步驟或步驟設(shè)置。附圖的作用僅在于對優(yōu)選實施例進(jìn)行例示，不應(yīng)認(rèn)為對本發(fā)明構(gòu)成限制。


圖1示出了一種范例成像系統(tǒng)。圖2示出了組塊的范例2D抗散射柵格。圖3示出了范例對準(zhǔn)設(shè)備。圖4示出了范例方法。圖5-8圖解示出了圖4中的方法的動作。圖9示出了另一種范例檢測器組塊對準(zhǔn)設(shè)備。圖10示出了將檢測器組塊固定到檢測器模塊構(gòu)架的范例方式。圖11示出了將檢測器組塊固定到檢測器模塊構(gòu)架的另一種范例方式。圖12示出了用于測試已安裝抗散射柵格和/或組塊在對準(zhǔn)設(shè)備中的對準(zhǔn)情況的方法。圖1示出了成像系統(tǒng)100，例如計算機(jī)斷層攝影(CT)掃描機(jī)。成像系統(tǒng)100包括靜止掃描架102和旋轉(zhuǎn)掃描架104，旋轉(zhuǎn)掃描架由靜止掃描架102可旋轉(zhuǎn)地支撐。旋轉(zhuǎn)掃描架104相對于縱向或ζ軸108繞檢查區(qū)域106旋轉(zhuǎn)。諸如χ射線管的輻射源110由旋轉(zhuǎn)掃描架104支撐并與旋轉(zhuǎn)掃描架一起繞著檢查區(qū)域106旋轉(zhuǎn)。輻射源110從焦斑112發(fā)射輻射。準(zhǔn)直器114使發(fā)射的輻射準(zhǔn)直，以產(chǎn)生貫穿檢查區(qū)域106的大致扇形、楔形或錐形輻射束。輻射敏感檢測器陣列116檢測貫穿檢查區(qū)域106的輻射并產(chǎn)生表示其的信號。輻射敏感檢測器陣列116包括多個沿橫向(x/y方向)并行排列并由模塊托架120承載的檢測器模塊118。檢測器模塊118包括一個或多個檢測器馬賽克或組塊122，沿著ζ軸108并行地、沿著檢測器模塊構(gòu)架1 排列。組塊122包括二維檢測器1 和二維抗散射柵格(ASG) 128。圖示的檢測器1 包括閃爍體陣列130、光傳感器陣列132(具有諸如光電二極管或其他光學(xué)傳感器的光學(xué)感測像素的二維布置)、襯底134、處理電子裝置136和基底138。如圖2所示，ASG 128包括多個由橫向和縱向延伸的相交壁204和206界定的通道。這里也想到了一維ASG。返回到圖1，閃爍體陣列130光耦合到光傳感器陣列132，光傳感器陣列132電耦合至襯底134上的處理電子裝置136。處理電子裝置136包括專用集成電路(ASIC)和/或其他集成電路。輸入/輸出(I/O)觸點(未示出)與處理電子裝置136電連通。ASG 128 固定到入射輻射一側(cè)的閃爍體陣列130上。ASG 128允許透射輻射通過并照射閃爍體陣列130，并衰減本來會照射閃爍體陣列130的大量散射輻射。閃爍體陣列130檢測貫穿ASG 1 的通道的輻射并產(chǎn)生表示其的光信號。光傳感器陣列132檢測光信號并產(chǎn)生表示所檢測輻射的電信號。處理電子裝置 136處理電信號。經(jīng)由I/O觸點從組塊檢測器122傳遞經(jīng)處理的信號(和/或未處理的電信號)。注意，I/O觸點還用于向組塊檢測器122傳遞信號。模塊構(gòu)架IM包括一個或多個組塊接收區(qū)域140。在圖示的實施例中，利用緊固件 142將組塊122固定到組塊接收區(qū)域140，緊固件例如是粘合劑，像導(dǎo)熱環(huán)氧樹脂等。另一種適當(dāng)?shù)木o固件包括低熔點金屬或合金。在將組塊122固定到模塊構(gòu)架IM之前，相對于焦斑112聚焦(或預(yù)聚焦)ASG 1 并將其相對于彼此對準(zhǔn)。如下文更詳細(xì)所述，可以這樣聚焦并對準(zhǔn)ASG 128，并利用對準(zhǔn)設(shè)備將組塊122固定到模塊構(gòu)架124。將填充了組塊的模塊118固定到掃描機(jī)100。在圖示的實施例中，模塊118包括具有無材料區(qū)域146的緊固區(qū)域144。范例緊固件148被示為通過無材料區(qū)域146延伸。在一種情況下，利用緊固件148或其他緊固件和無材料區(qū)域146將模塊118固定到托架120。 例如，在緊固件148是螺絲釘?shù)葧r，螺絲釘與托架120中的螺紋凹槽(帶有與螺絲釘?shù)穆菁y互補(bǔ)的螺紋)嚙合并可拆卸地將模塊118固定到托架120。如上所述，輻射敏感檢測器陣列116檢測輻射并產(chǎn)生表示其的信號。重構(gòu)器150 重構(gòu)信號并產(chǎn)生表示其的體積圖像數(shù)據(jù)。諸如臥榻的患者支撐物巧4在檢查區(qū)域106中支撐著患者以進(jìn)行掃描。通用計算系統(tǒng)152充當(dāng)操作員控制臺。駐存在控制臺上的軟件允許操作者控制系統(tǒng)100的工作，例如選擇掃描規(guī)程、開始和/或終止掃描等。圖3示出了范例對準(zhǔn)設(shè)備300。設(shè)備300包括一個或多個模塊構(gòu)架安裝區(qū)域302。 模塊構(gòu)架安裝區(qū)域302被配置成在物理上基本類似于托架120的模塊安裝區(qū)域，并被配置成與模塊構(gòu)架124的緊固區(qū)域144(圖1)機(jī)械連接。以上結(jié)構(gòu)允許在焦斑112處聚焦ASG 128，同時在設(shè)備300中安裝組塊122并將組塊122固定到模塊構(gòu)架124。圖示的構(gòu)架安裝區(qū)域302包括凹槽306，其適于嚙合緊固件 148 (圖1)。對準(zhǔn)基準(zhǔn)304便于將模塊構(gòu)架124與模塊構(gòu)架安裝區(qū)域302對準(zhǔn)。在另一實施例中，省略對準(zhǔn)基準(zhǔn)304。設(shè)備300還包括一個或多個引導(dǎo)區(qū)域308。引導(dǎo)區(qū)域308包括一個或多個對準(zhǔn)基準(zhǔn)，包括一個或多個對準(zhǔn)特征310和對準(zhǔn)表面312。對準(zhǔn)基準(zhǔn)310和312在設(shè)備300中支撐和引導(dǎo)抗散射柵格128。對準(zhǔn)特征310被配置成，在將ASG 1 或?qū)?yīng)組塊122插入設(shè)備 300中時引導(dǎo)ASG 128的側(cè)壁的外表面。注意，各對特征310之間的虛線是為了例示的目的，不是對準(zhǔn)特征310的一部分。 此外，注意，圖示的對準(zhǔn)特征310的數(shù)量是用于解釋性目的而非用于限制。組塊對準(zhǔn)表面312適于接觸ASG 128面對入射輻射的側(cè)面。相對于模塊構(gòu)架安裝區(qū)域302，并因此相對于托架120配置對準(zhǔn)表面312，便于相對于模塊構(gòu)架安裝區(qū)域302對 ASG 1 進(jìn)行取向以在焦斑112處聚焦ASG 128。結(jié)果，將ASG 1 安裝到區(qū)域308中就相對于焦斑112對ASG 1 進(jìn)行了預(yù)聚焦。圖4示出了范例方法。圖5-8圖解示出了方法的動作。一開始參考圖4和5，在402，在對準(zhǔn)設(shè)備300的引導(dǎo)區(qū)域308中安裝組塊122。如上所述，對準(zhǔn)基準(zhǔn)310和312在引導(dǎo)區(qū)域308中引導(dǎo)組塊122，使組塊122的ASG 128彼此相對地并相對于模塊構(gòu)架安裝區(qū)域302對準(zhǔn)，這樣將組塊122的ASG 128聚焦在焦斑112。 可以如下文更詳細(xì)所述那樣測試ASG 128的對準(zhǔn)情況。參考圖4和6，在404，將緊固件142施加到組塊122的基底138。在圖示的實施例中，緊固件142為無螺絲釘緊固件，例如導(dǎo)熱粘合劑或其他無螺絲釘緊固件。參考圖4和7，在406，將模塊構(gòu)架124安裝到對準(zhǔn)設(shè)備300。在圖示的實施例中， 利用緊固件148將構(gòu)架IM安裝到其上。這樣安裝模塊構(gòu)架IM使得緊固件142與構(gòu)架 124的緊固區(qū)域140物理接觸?？梢酝ㄟ^緊固件142補(bǔ)償組塊122中存在的堆疊誤差。例如，在緊固件142與組塊緊固區(qū)域144嚙合時，擠壓緊固件142并從組塊122和組塊緊固區(qū)域144之間擠出多余的緊固件142。這樣一來，堆疊組塊122的厚度差異將導(dǎo)致緊固件142的厚度差異。此外， 緊固件142還減小了由于模塊構(gòu)架124中的加工不精確導(dǎo)致的機(jī)械誤差，在使用螺絲釘將組塊122安裝到構(gòu)架124的配置中就是這種情況。這樣一來，可以減輕檢測器盲區(qū)以及偽影，例如CT圖像中的環(huán)。參考圖4和8，在408，從對準(zhǔn)設(shè)備300去除組裝好的模塊118。參考圖4，在410， 可以在掃描機(jī)100中安裝已組裝的模塊118。論述變化和/或替換方案。在圖示的實施例中，檢測器1 是閃爍體/光傳感器型檢測器。在另一實施例中， 檢測器1 包括直接轉(zhuǎn)換材料，例如碲化鎘(CdTe)、碲化鎘鋅(CZT)等。圖9示出了對準(zhǔn)設(shè)備300的另一非限制性實施例。在這一實施例中，引導(dǎo)區(qū)域308 中的至少一個包括至少一個對準(zhǔn)特征902，對準(zhǔn)特征310被省略。與對準(zhǔn)特征310不同的是，至少一個對準(zhǔn)特征902被配置成接觸ASG 1 的內(nèi)部部分，例如ASG 1 的一個或多個壁204或206。在另一實施例中，使用了兩個對準(zhǔn)特征310和902和/或其他對準(zhǔn)基準(zhǔn)。在又一實施例中，可以使用其他對準(zhǔn)基準(zhǔn)。在結(jié)合圖1、3、7和8所示的模塊118的實施例中，通過緊固件142將組塊122永久性固定到模塊構(gòu)架124。圖10和11示出了替代配置，其中將組塊122可拆除地固定到模塊構(gòu)架口4。參考圖10，模塊構(gòu)架124的組塊接收區(qū)域140包括凹槽1002，隨后是無材料區(qū)域 1004。組塊122的基底138包括第一和第二子部分US1和1382，具有彼此相對并配合在一起的大致平面的內(nèi)側(cè)1008和1010。第二子部分13 包括與內(nèi)側(cè)1010相對一側(cè)上的螺紋凹槽1006。利用凹槽1002、無材料區(qū)域1004和螺紋凹槽1006將第二子部分13 固定到模塊構(gòu)架124。例如，緊固件148可以是螺絲釘?shù)?，并可用于通過經(jīng)凹槽1002和無材料區(qū)域1004 延伸并與螺紋凹槽1006嚙合來將第二子部分13 固定到模塊構(gòu)架124。對于本實施例而言，經(jīng)由緊固件148將第二子部分13 固定到模塊構(gòu)架124。然后將第一子部分HS1固定到第二子部分1382，由此將組塊122固定到模塊構(gòu)架IM并形成模塊118?？梢酝ㄟ^去除緊固件148從模塊構(gòu)架124去除特定組塊122。圖11類似于圖10，只是內(nèi)側(cè)1008和1010是非平面的，具有更大的表面面積。更大的表面面積允許更大的熱傳遞，因此允許粘合劑兩端的溫降。在圖示的實施例中，通過在基底上、下區(qū)段US1和13 上制造聯(lián)鎖鰭來增大表面面積。這里也想到了其他形狀。對于圖10和11而言，可以由諸如鋁的金屬或另一種材料形成上、下區(qū)段
13&。由于模塊精確度是利用緊固件148實現(xiàn)的，所以上、下區(qū)段US1和13 不需要是高度精確的。因此可以通過更低成本的方法，例如鑄造、擠壓等來制造上、下區(qū)段US1和13&。圖12示出了用于測試對準(zhǔn)設(shè)備300中安裝的ASG 128的對準(zhǔn)情況的設(shè)備1200。在本范例中，如這里所述，利用對準(zhǔn)基準(zhǔn)310、312和/或902在對準(zhǔn)設(shè)備300中安裝ASG 128。 在將檢測器126固定到ASG 128之前，將ASG對準(zhǔn)測試固定件1200安裝到模塊構(gòu)架安裝區(qū)域 302。對準(zhǔn)測試固定件1200包括可動檢測器1202，可以相對于特定的已安裝ASG 128， 例如圖示實施例中的ASG US1有選擇地定位它。通過對應(yīng)的ASG 1 將輻射投射到檢測器1202?？梢栽跍y試期間移動焦斑112，可以基于檢測器1202的信號輸出評估ASG盲區(qū)。在另一實施例中，使用設(shè)備1200測試對準(zhǔn)設(shè)備300中安裝的組塊122(而非僅僅ASG 128) 0同樣地，利用對準(zhǔn)基準(zhǔn)310、312和/或902，如這里所述在對準(zhǔn)設(shè)備300中安裝組塊122。類似地，通過對應(yīng)組塊122向檢測器1202投射輻射，可以基于檢測器1202的信號輸出評估ASG盲區(qū)。在另一實施例中，額外地或替代地使用膠片1204取代檢測器1202。能夠在將ASG 128安裝到檢測器1 之前提前測試它和/或在將組塊122安裝到模塊構(gòu)架1 之前提前測試組塊122可以降低成本，因為可以在完整組裝組塊122和/或模塊118之前檢測故障部件?？梢杂芍T如鋁的適當(dāng)χ射線透明材料形成設(shè)備1200。這里所述的檢測器陣列116適用于各種成像應(yīng)用，包括CT掃描機(jī)和/或其他模態(tài)的掃描機(jī)。更具體而言，其非常適用于如下應(yīng)用，檢測器陣列116的每個組塊122都具有其自己的ASG 128并獨立安裝到模塊構(gòu)架124。在這里已經(jīng)參考各實施例描述了本發(fā)明。在閱讀這里的描述后，其他人可以想到修改和變化。這意味著，應(yīng)當(dāng)將本發(fā)明理解為包括所有此類落在所附權(quán)利要求及其等同物的范圍內(nèi)的修改和變化。
權(quán)利要求
1.一種輻射敏感檢測器陣列，包括相對于成像系統(tǒng)(100)沿Z軸方向延伸并沿X軸方向排列的多個檢測器模塊(118)，所述檢測器模塊(118)中的至少一個包括模塊構(gòu)架(124)；以及通過非螺紋緊固件(14 耦合到所述模塊構(gòu)架(124)的至少一個檢測器組塊(122)， 所述至少一個檢測器組塊(12 包括二維檢測器(126)和聚焦在成像系統(tǒng)(100)的焦斑 (112)的二維抗散射柵格(1 )。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測器陣列，其中所述二維檢測器(126)包括 耦合到所述二維抗散射柵格(128)的閃爍體層(130)；耦合到所述閃爍體層(130)的光傳感器層(132)；具有耦合到所述光傳感器層(132)的電子裝置(136)的襯底層(134)；以及耦合到所述襯底層(134)的基底層(138)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1到2中的任一項所述的檢測器陣列，其中所述非螺紋緊固件(142) 是導(dǎo)熱粘合劑。
4.根據(jù)權(quán)利要求2到3中的任一項所述的檢測器陣列，其中所述非螺紋緊固件(142) 將所述組塊(122)的基底層(138)緊固到所述模塊構(gòu)架(IM)。
5.根據(jù)權(quán)利要求2到4中的任一項所述的檢測器陣列，所述基底層(138)包括第一和第二子構(gòu)件(1381; 1382)，其中所述子構(gòu)件(1381;13&)中的第一個通過螺紋緊固件(148) 耦合到所述模塊構(gòu)架(IM)，所述子構(gòu)件(1381; 1382)中的第二個是所述組塊(12 的部分， 所述第一和第二子構(gòu)件(1381; 1382)通過螺紋緊固件(148)耦合。
6.根據(jù)權(quán)利要求1到5中的任一項所述的檢測器陣列，其中所述非螺紋緊固件(142) 適于填充所述組塊(122)和所述模塊構(gòu)架(124)之間的預(yù)定距離。
7.根據(jù)權(quán)利要求1到6中的任一項所述的檢測器陣列，其中所述非螺紋緊固件(142) 具有可調(diào)節(jié)的厚度，該厚度根據(jù)所述模塊構(gòu)架(124)中的所述組塊(122)的預(yù)定對準(zhǔn)而調(diào)離iF. ο
8.根據(jù)權(quán)利要求1到7中的任一項所述的檢測器陣列，其中利用對準(zhǔn)設(shè)備(300)相對于所述焦斑(11 聚焦所述二維抗散射柵格(1 )。
9.一種具有焦斑(11 的成像系統(tǒng)(100)的檢測器陣列，包括相對于所述成像系統(tǒng)(100)沿橫向排列的多個檢測器模塊(118)，所述檢測器模塊 (118)中的至少一個包括檢測器組塊(122)，其中所述檢測器組塊(12 包括二維抗散射柵格(1 )，在將所述至少一個檢測器模塊(118)安裝到所述成像系統(tǒng)(100)中之前相對于所述成像系統(tǒng)(100)的焦斑(11 聚焦所述二維抗散射柵格(1 )。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的檢測器陣列，所述至少一個檢測器模塊(118)包括 包括至少一個組塊接收區(qū)域(140)的模塊構(gòu)架(IM)，其中所述組塊(12 通過粘合劑緊固件(14 耦合到所述至少一個組塊接收區(qū)域(140)。
11.根據(jù)權(quán)利要求9到10中的任一項所述的檢測器陣列，其中所述組塊(12 包括多個堆疊的層(128，130，132，134，136，138)，所述緊固件(142)補(bǔ)償所述堆疊層的堆疊失準(zhǔn)。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的檢測器陣列，其中所述多個堆疊層包括檢測器基底(138)， 所述檢測器基底(138)通過所述粘合劑緊固件(142)固定到所述模塊構(gòu)架(IM)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的檢測器陣列，其中所述檢測器基底(138)為單個構(gòu)件。
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的檢測器陣列，其中所述檢測器基底(138)包括通過粘合劑耦合在一起的至少兩個子構(gòu)件(1381;13&)，所述構(gòu)件(1381; 1382)之一通過螺紋緊固件 (148)固定到所述模塊構(gòu)架(IM)，所述至少兩個子構(gòu)件(1381; 1382)中的另一個是所述組塊(122)的部分。
15.根據(jù)權(quán)利要求9到14中的任一項所述的檢測器陣列，其中利用對準(zhǔn)設(shè)備(300)相對于所述焦斑(11 聚焦所述二維抗散射柵格(1 )。
16.一種在將檢測器組塊(122)安裝到成像系統(tǒng)(100)中之前相對于所述成像系統(tǒng) (100)的焦斑(11 聚焦檢測器組塊(122)的抗散射柵格(1 )的方法，包括在對準(zhǔn)設(shè)備(300)的引導(dǎo)區(qū)域(308)中插入至少一個二維抗散射柵格(1 )，所述引導(dǎo)區(qū)域(308)包括一個或多個基準(zhǔn)(310，312，902)，所述一個或多個基準(zhǔn)在所述引導(dǎo)區(qū)域 (308)中引導(dǎo)所述至少一個二維抗散射柵格(1 )，其中所述引導(dǎo)區(qū)域(308)預(yù)先與所述焦斑(11 對準(zhǔn)，并且將所述至少一個二維抗散射柵格(1 )引導(dǎo)到所述引導(dǎo)區(qū)域(308)中使所述至少一個二維抗散射柵格(128)相對于所述焦斑(11 聚焦。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中所述抗散射柵格(128)是插入所述接收區(qū)域 (140)中的檢測器組塊(122)的部分。
18.根據(jù)權(quán)利要求16到17中的任一項所述的方法，還包括通過導(dǎo)熱環(huán)氧樹脂將模塊構(gòu)架(124)固定到所述組塊(122)的基底區(qū)域(138)。
19.根據(jù)權(quán)利要求16到18中的任一項所述的方法，其中所述基底區(qū)域(138)包括第一和第二子區(qū)域(1381; 1382)，所述第一子區(qū)域(1381； 1382)固定到所述組塊(122)，還包括將所述第二子區(qū)域(1381; 1382)固定到所述模塊構(gòu)架(124)；以及在將所述第二子區(qū)域耦合到所述模塊構(gòu)架(124)之后將所述第一和第二子區(qū)域(138” 1382)耦合在一起。
20.一種對準(zhǔn)設(shè)備(300)，用于在成像系統(tǒng)(100)外部相對于所述成像系統(tǒng)(100)的焦斑(112)聚焦檢測器組塊(122)的抗散射柵格(1 )，包括適于接收檢測器模塊構(gòu)架(124)的安裝區(qū)域(302)，其中基于利用所述成像系統(tǒng)(100) 中的所述焦斑(11 預(yù)先確定的焦點物理地配置所述安裝區(qū)域(302)；以及至少一個引導(dǎo)區(qū)域(308)，其被配置成接收抗散射柵格(128)并相對于所述安裝區(qū)域 (302)聚焦所述抗散射柵格(1 )，由此相對于焦斑(11 聚焦所述抗散射柵格(1 )。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的對準(zhǔn)設(shè)備(300)，其中所述至少一個引導(dǎo)區(qū)域(308)包括基準(zhǔn)(310)，所述基準(zhǔn)(310)在所述至少一個引導(dǎo)區(qū)域(308)中相對于所述安裝區(qū)域(302) 引導(dǎo)所述抗散射柵格(1 )的外表面，由此相對于所述焦斑(11 聚焦所述抗散射柵格 (128)。
22.根據(jù)權(quán)利要求20所述的對準(zhǔn)設(shè)備(300)，其中所述至少一個引導(dǎo)區(qū)域(308)包括基準(zhǔn)(902)，所述基準(zhǔn)(902)在所述至少一個引導(dǎo)區(qū)域(308)中相對于所述安裝區(qū)域 (302)引導(dǎo)所述抗散射柵格(128)的內(nèi)壁，由此相對于所述焦斑(11 聚焦所述抗散射柵格 (128)。
23.根據(jù)權(quán)利要求20到22中的任一項所述的對準(zhǔn)設(shè)備(300)，還包括測試設(shè)備 (1200)，該測試設(shè)備(1200)被配置成測試所述抗散射柵格(128)相對于所述焦斑(112)的聚焦O
24.根據(jù)權(quán)利要求23所述的對準(zhǔn)設(shè)備(300)，其中所述測試設(shè)備(1200)包括產(chǎn)生表示所述聚焦的信號的檢測器(120 或提供表示所述聚焦的圖像的膠片(1204)。
全文摘要
一種輻射敏感檢測器陣列，包括相對于所述成像系統(tǒng)(100)沿z軸方向延伸并沿x軸方向排列的多個檢測器模塊(118)。檢測器模塊中的至少一個包括模塊構(gòu)架(124)和至少一個檢測器組塊(122)。所述至少一個檢測器組塊(122)通過非螺紋緊固件(142)耦合到模塊構(gòu)架(124)。所述至少一個檢測器組塊(122)包括二維檢測器(126)和聚焦在成像系統(tǒng)(100)的焦斑(112)處的二維抗散射柵格(128)。
文檔編號G01T1/29GK102428388SQ201080021763
公開日2012年4月25日 申請日期2010年4月14日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月20日
發(fā)明者B·E·哈伍德, R·A·馬特森, R·P·盧赫塔 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司