專利名稱：電子元件測(cè)試系統(tǒng)及其切換裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電子元件測(cè)試系統(tǒng)，特別地，其涉及一種利用切換裝置來(lái)達(dá)到最小化待測(cè)物測(cè)試間所需時(shí)間的電子元件測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
適應(yīng)電子元件的待測(cè)物的產(chǎn)能提高，待測(cè)物的檢測(cè)需求也隨之增加。初期的圖像測(cè)試乃利用人工肉眼辨別待測(cè)物的優(yōu)劣，因此須仰賴大量人工，然而人工具有成本高、生產(chǎn)效率低以及可靠性較不足等缺點(diǎn)。據(jù)此，業(yè)界發(fā)展出自動(dòng)點(diǎn)測(cè)的技術(shù)，以利用點(diǎn)測(cè)機(jī)臺(tái)對(duì)待測(cè)物進(jìn)行測(cè)試。在公知的半導(dǎo)體邏輯電路測(cè)試系統(tǒng)中，其主要包含測(cè)試裝置以及點(diǎn)測(cè)機(jī)臺(tái)。點(diǎn)測(cè)機(jī)臺(tái)上有多個(gè)點(diǎn)測(cè)模塊，點(diǎn)測(cè)模塊分別的用于連接處于點(diǎn)測(cè)機(jī)臺(tái)上的多個(gè)待測(cè)物。其動(dòng)作流程為，首先將多個(gè)點(diǎn)測(cè)模塊與相對(duì)應(yīng)的第一組待測(cè)的電路耦接；對(duì)該第一組待測(cè)的 電路進(jìn)行測(cè)試；分離點(diǎn)測(cè)模塊及第一組的電路；耦接該多個(gè)點(diǎn)測(cè)模塊以及第二組電路。于上述的各個(gè)步驟中，點(diǎn)測(cè)模塊于第一組電路及第二組電路間的空閑時(shí)間占測(cè)試所需時(shí)間的比重甚高。此外，由于公知運(yùn)算裝置所能同時(shí)測(cè)試的待測(cè)物的數(shù)量有所限制，受測(cè)的待測(cè)物的數(shù)量必須小于或等于半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)所支持的最大測(cè)試數(shù)量。因此，當(dāng)運(yùn)算裝置所能同時(shí)測(cè)試的電路數(shù)量受到限制時(shí)，點(diǎn)測(cè)模塊將需要更多的移動(dòng)次數(shù)方能完成指定數(shù)量的電路測(cè)試。據(jù)此，消耗于電路間的移動(dòng)時(shí)間也隨之而增加。
有鑒于公知運(yùn)算裝置所能支持的同時(shí)測(cè)試數(shù)量與其價(jià)格成正比，因此，如何研發(fā)出一種不增加運(yùn)算裝置所能支持?jǐn)?shù)量的同時(shí)，最小化點(diǎn)測(cè)模塊消耗于電路間的移動(dòng)時(shí)間的方法，實(shí)有待相關(guān)業(yè)界再加以思索并為突破的目標(biāo)及方向。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的一范疇在于提供一種電子元件測(cè)試系統(tǒng)，用以對(duì)多個(gè)待測(cè)物進(jìn)行測(cè)試，本發(fā)明電子元件測(cè)試系統(tǒng)包含第一測(cè)試裝置以及第一切換模塊。第一測(cè)試裝置，用以對(duì)上述各待測(cè)物進(jìn)行第一測(cè)試。第一切換模塊耦接于各待測(cè)物及第一測(cè)試裝置。第一切換模塊用以將第一測(cè)試裝置于各待測(cè)物間進(jìn)行切換。另外，本發(fā)明的另一范疇在于提供另一種電子元件測(cè)試系統(tǒng)，用以對(duì)多個(gè)待測(cè)物進(jìn)行測(cè)試，其包含第一測(cè)試裝置、第二測(cè)試裝置以及切換裝置。第一測(cè)試裝置用以對(duì)各待測(cè)物進(jìn)行第一測(cè)試；第二測(cè)試裝置用以對(duì)各待測(cè)物進(jìn)行一第二測(cè)試；切換裝置包含第一切換模塊以及第二切換模塊。其中，第一切換模塊設(shè)置于各待測(cè)物以及第一測(cè)試裝置之間，第一切換模塊用于將第一測(cè)試模塊于各待測(cè)物間進(jìn)行切換。另外，第二切換模塊設(shè)置于各待測(cè)物以及第二測(cè)試裝置之間，第二切換模塊用于將第二測(cè)試裝置于各待測(cè)物間進(jìn)行切換。再者，于實(shí)際使用時(shí)，第二切換模塊進(jìn)一步包含電源單元、時(shí)鐘脈沖單元、緩沖單元以及存儲(chǔ)單元。電源單元用以對(duì)待測(cè)物提供電源。時(shí)鐘脈沖單元用以對(duì)待測(cè)物提供時(shí)鐘脈沖信號(hào)。緩沖單元用以對(duì)相對(duì)應(yīng)的待測(cè)物提供電平信號(hào)。存儲(chǔ)單元用以存放自待測(cè)物取得的數(shù)據(jù)。此外，本發(fā)明的另一范疇在于提供一種切換裝置，其用于將多個(gè)待測(cè)物分別的在一第一測(cè)試裝置及一第二測(cè)試裝置間切換，其包含一第一電路以及一第二電路。第一電路耦接于第一測(cè)試裝置，第一電路包含多個(gè)第一開關(guān)，每一個(gè)第一開關(guān)均分別相對(duì)應(yīng)有一個(gè)上述的待測(cè)物，上述第一開關(guān)用于將第一測(cè)試裝置于待測(cè)物間進(jìn)行切換。第二電路耦接于第二測(cè)試裝置，第二電路包含多個(gè)第二開關(guān)，每一個(gè)第二開關(guān)均分別相對(duì)應(yīng)有一個(gè)待測(cè)物，第二開關(guān)用于將第二測(cè)試裝置于待測(cè)物間進(jìn)行切換。再者，于實(shí)際使用時(shí)，第二切電路進(jìn)一步包含電源單元、時(shí)鐘脈沖單元、緩沖單元以及存儲(chǔ)單元，有鑒上述各單元的說(shuō)明已見于本說(shuō)明書的他部，故不予以贅述。相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明提出了利用低階測(cè)試裝備進(jìn)行快速測(cè)試的電子元件測(cè)試系統(tǒng)，再者，本發(fā)明的電子元件測(cè)試系統(tǒng)解決了傳統(tǒng)探針機(jī)端的待測(cè)物數(shù)量必須與測(cè)試裝置所能同時(shí)測(cè)試的數(shù)量相同的制式限制，也針對(duì)探針機(jī)于待測(cè)物間移動(dòng)的時(shí)間進(jìn)行了最小 化，以最低的成本達(dá)到高階測(cè)試裝備的效能。關(guān)于本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)與精神可以通過(guò)以下的發(fā)明詳述及附圖得到進(jìn)一步的了解。


圖IA為本發(fā)明的電子元件測(cè)試系統(tǒng)的功能方框圖。圖IB為本發(fā)明的電子元件測(cè)試系統(tǒng)的具體實(shí)施例的示意圖。圖2A為本發(fā)明的電子元件測(cè)試系統(tǒng)的另一具體實(shí)施例的功能方框圖。圖2B為本發(fā)明的電子元件測(cè)試系統(tǒng)的另一具體實(shí)施例的示意圖。圖3為本發(fā)明的切換裝置的另一具體實(shí)施例的電路圖。上述附圖中的附圖標(biāo)記說(shuō)明如下I:電子元件測(cè)試系統(tǒng)12:第一測(cè)試裝置14:切換裝置16 :探針機(jī)162 :連接裝置164 :探針2:待測(cè)物3:電子元件測(cè)試系統(tǒng)32 :第一測(cè)試裝置 34 :第二測(cè)試裝置36 :切換裝置362 :第一切換模塊364 :第二切換模塊 38 :服務(wù)器39 :集線器4 :切換裝置42 :第一測(cè)試裝置 44 :第二測(cè)試裝置46:第一電路 462:第一開關(guān)48:第二電路 482:電源單元484:電源單元 486 :時(shí)鐘脈沖單元488 :緩沖單元 489 :存儲(chǔ)單元
具體實(shí)施例方式為使本發(fā)明能更清楚的被說(shuō)明，請(qǐng)參照以下本發(fā)明詳細(xì)說(shuō)明及其中所包括的實(shí)例，以更容易地理解本發(fā)明。
本說(shuō)明書僅對(duì)本發(fā)明的必要元件作出陳述，且僅用于說(shuō)明本發(fā)明其中的可能的實(shí)施例，然而說(shuō)明書的記述應(yīng)不局限本發(fā)明所主張的技術(shù)本質(zhì)的權(quán)利范圍。除非于說(shuō)明書有明確地排除其可能，否則本發(fā)明并不局限于特定方法、流程、功能或手段。也應(yīng)了解的是，目前所述僅是本發(fā)明可能的實(shí)施例，在本發(fā)明的實(shí)施或測(cè)試中，可使用與本說(shuō)明書所述裝置或系統(tǒng)相類似或等效的任何方法、流程、功能或手段。除非有另外定義，否 則本說(shuō)明書所用的所有技術(shù)及科學(xué)術(shù)語(yǔ)，都具有與本領(lǐng)域技術(shù)人員通常所了解的意義相同的意義。盡管在本發(fā)明的實(shí)施或測(cè)試中，可使用與本說(shuō)明書所述方法及材料相類似或等效的任何方法及手段，但本說(shuō)明書目前所述僅是實(shí)例方法、流程及其相關(guān)數(shù)據(jù)。再者，本說(shuō)明書中所提及的一數(shù)目以上或以下，包含數(shù)目本身。且應(yīng)了解的是，本說(shuō)明書揭示執(zhí)行所揭示功能的某些方法、流程，均存在多種可執(zhí)行相同功能的與所揭示結(jié)構(gòu)有關(guān)的結(jié)構(gòu)，且上述的結(jié)構(gòu)通常均可實(shí)現(xiàn)相同結(jié)果。另外，本說(shuō)明書中所記敘的附圖旨在表達(dá)本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容的大鋼。附圖中各個(gè)元件間的大小、比例或數(shù)量?jī)H供參考，其未必與實(shí)際使用時(shí)相同。如附圖與說(shuō)明書中所記敘內(nèi)容，于大小、比例或數(shù)量上有所沖突，則以說(shuō)明書中的記載為準(zhǔn)。再者，本說(shuō)明書與記述的測(cè)試一詞，凡指對(duì)待測(cè)物的物理特性或外觀的測(cè)量、測(cè)試或分析行為。請(qǐng)一并參閱圖IA及圖1B，圖IA為本發(fā)明電子元件測(cè)試系統(tǒng)I的功能方框圖，圖IB為本發(fā)明電子元件測(cè)試系統(tǒng)I的具體實(shí)施例的示意圖。本發(fā)明揭示了一種電子元件測(cè)試系統(tǒng)1，用以對(duì)多個(gè)待測(cè)物2進(jìn)行測(cè)試。于本具體實(shí)施例中，電子元件測(cè)試系統(tǒng)I包含了一第一測(cè)試裝置12以及一切換裝置14。本發(fā)明的待測(cè)物2凡指具有電路或?qū)﹄娔苡兴磻?yīng)的電子元件。于本具體實(shí)施例中，待測(cè)物2指一圖像感測(cè)芯片(CMOS Image Sensor Chip)。更明確的說(shuō)，多個(gè)待測(cè)物2是從晶圓(wafer)完成分割且整齊排列的圖像感測(cè)芯片矩陣。然而，該電子元件不以圖像感測(cè)芯片為必要，其也可為發(fā)光二極管芯片、激光二極管芯片或其他性質(zhì)相似并具有電路的半導(dǎo)體單元。于本具體實(shí)施例中，為耦接待測(cè)物2以及第一測(cè)試裝置12，待測(cè)物2于測(cè)試時(shí)被置放于一探針機(jī)(probe station) 16上，探針機(jī)16包含多個(gè)連接裝置162，連接裝置162凡指設(shè)置于待測(cè)物2及其他元件之間，并提供其二者電性連接的裝置。于本具體實(shí)施例中，各個(gè)連接裝置162均分別包含一探針模塊，各個(gè)探針模塊則分別包含至少一根探針164。于測(cè)試進(jìn)行時(shí)，探針模塊的各探針164均分別的耦接于圖像感測(cè)元件的連接處以對(duì)圖像感測(cè)元件建立一電性連接。連接裝置162具有探針164的數(shù)量取決于探針模塊的類種。于本具體實(shí)施例中，每個(gè)待測(cè)物2具有二十一個(gè)信號(hào)線接頭，而每個(gè)探針模塊則具有三十二根探針164，然而，信號(hào)線接頭以及探針164的數(shù)量不以上述的數(shù)量為限，使用者得按其需求自由調(diào)整。為維持附圖的簡(jiǎn)潔，圖IA和圖IB將作適當(dāng)?shù)暮?jiǎn)化。于本具體實(shí)施例中，本發(fā)明的電子元件測(cè)試系統(tǒng)I具有四組連接裝置162，各組連接裝置162分別的與一個(gè)待測(cè)物2耦接。另外，本發(fā)明的第一測(cè)試裝置12凡指對(duì)這些待測(cè)物2進(jìn)行測(cè)試的裝置。其中，第一測(cè)試得指圖像測(cè)試、電性測(cè)試或其他待測(cè)物2的物理性質(zhì)測(cè)試。于本具體實(shí)施例中，第一測(cè)試裝置12為一自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)，而第一測(cè)試指上述的電性測(cè)試。有鑒于自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的詳細(xì)說(shuō)明可見于其他公開文獻(xiàn)，故不于此多加贅述。其中，上述提及的電性測(cè)試凡指對(duì)待測(cè)物2供給電源以測(cè)試待測(cè)物2的電學(xué)特性的測(cè)試。更明確的說(shuō)，于本具體實(shí)施例中，電性測(cè)試指對(duì)待測(cè)物2供給電源以測(cè)試待測(cè)物2的邏輯電路是否存在漏電、短路或其他電性相關(guān)的缺陷，然而電性測(cè)試不以上述的例子為限。另外，上述提及的圖像測(cè)試凡指利用光學(xué)元件對(duì)待測(cè)物2進(jìn)行圖像提取并根據(jù)提取的圖像進(jìn)行分析的測(cè)試。更明確的說(shuō)，于本具體實(shí)施例中，圖像測(cè)試指以一光源照射上述的待測(cè)物2并提取待測(cè)物2的圖像，再根據(jù)上述提取的待測(cè)物2的圖像判斷待測(cè)物2是否存在缺陷、破損、污染或其他影響待測(cè)物2品質(zhì)的行為，然而，圖像測(cè)試不以上述的例子為限。切換裝置14耦接于各待測(cè)物2及第一測(cè)試裝置12。切換裝置14用以將第一測(cè)試 裝置12于各個(gè)待測(cè)物2間進(jìn)行切換。于本具體實(shí)施例中，切換裝置14為一可用于切換電路的電路開關(guān)。本發(fā)明也揭示了另一電子元件測(cè)試系統(tǒng)3，用以對(duì)多個(gè)待測(cè)物2進(jìn)行測(cè)試，其包含一第一測(cè)試裝置32、一第二測(cè)試裝置34以及一切換裝置36。請(qǐng)一并參閱圖2A及圖2B，圖2A為本發(fā)明的另一具體實(shí)施例的功能方框圖，圖2B為本發(fā)明的另一具體實(shí)施例的示意圖。第一測(cè)試裝置32用以對(duì)各個(gè)待測(cè)物2進(jìn)行第一測(cè)試；第二測(cè)試裝置34用以對(duì)各個(gè)待測(cè)物2進(jìn)行第二測(cè)試。第一測(cè)試得指圖像測(cè)試、電性測(cè)試或其他待測(cè)物2的物理性質(zhì)測(cè)試。于本具體實(shí)施例中，第一測(cè)試裝置32為一自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)。其中，于本具體實(shí)施例中，第一測(cè)試僅支持同時(shí)對(duì)單顆待測(cè)物2進(jìn)行測(cè)試。第一測(cè)試指上述的電性測(cè)試，第二測(cè)試裝置34為圖像分析裝置，用于根據(jù)待測(cè)物2的外觀通過(guò)圖像測(cè)試以判斷各個(gè)待測(cè)物2的品質(zhì)。于本具體實(shí)施例中，第二測(cè)試裝置34為工業(yè)電腦及其相對(duì)應(yīng)的圖像分析軟件。上述提及的電性測(cè)試及圖像測(cè)試的說(shuō)明于前文已有提及，故不于此贅述。切換裝置36包含有第一切換模塊362及第二切換模塊364。第一切換模塊362設(shè)置于各待測(cè)物2以及第一測(cè)試裝置32之間，第一切換模塊362用于將第一測(cè)試裝置32于各待測(cè)物2間進(jìn)行切換以進(jìn)行序列式測(cè)試，也即將各個(gè)待測(cè)物2按序地與第一測(cè)試裝置32連接以進(jìn)行第一測(cè)試。 請(qǐng)?jiān)賲㈤唸D2B，于本具體實(shí)施例中，第一切換模塊362耦接于第一測(cè)試裝置32，第一切換模塊362包含多個(gè)第一開關(guān)，每一個(gè)第一開關(guān)均分別相對(duì)應(yīng)有一個(gè)待測(cè)物2，多個(gè)第一開關(guān)用于將多個(gè)第一測(cè)試裝置32于多個(gè)待測(cè)物2間進(jìn)行切換，其中，每一個(gè)第一開關(guān)均得以獨(dú)立控制。第二切換模塊364設(shè)置于各個(gè)待測(cè)物以及第二測(cè)試裝置34之間，第二切換模塊364用于將第二測(cè)試裝置34于各個(gè)待測(cè)物2間進(jìn)行切換。于本具體實(shí)施例中，本發(fā)明電子元件測(cè)試系統(tǒng)3由具有四臺(tái)第二測(cè)試裝置34，通過(guò)第二切換模塊364得以將各個(gè)待測(cè)物2按序進(jìn)行切換，以將各個(gè)待測(cè)物2的數(shù)據(jù)傳送予相對(duì)應(yīng)的各個(gè)第二測(cè)試裝置34以對(duì)上述的四顆待測(cè)物2進(jìn)行測(cè)試。第二切換模塊364耦接于第二測(cè)試裝置34，第二切換模塊364包含多個(gè)第二開關(guān)，每一個(gè)第二開關(guān)均分別相對(duì)應(yīng)有一個(gè)上述的待測(cè)物2，多個(gè)第二開關(guān)用于將多個(gè)第二測(cè)試裝置34于多個(gè)待測(cè)物2間進(jìn)行切換。再者，于本具體實(shí)施例中，第二切換模塊364進(jìn)一步包含一電源單元、時(shí)鐘脈沖單元、緩沖單元以及存儲(chǔ)單元。電源單元用以對(duì)各個(gè)待測(cè)物2提供電源。待測(cè)物2進(jìn)行圖像測(cè)試時(shí)，待測(cè)物2需要由外部提供電源。于本具體實(shí)施例中，電源單元提供了每個(gè)待測(cè)物2各四組電源，總共十六組電源，其中有一組為獨(dú)立可調(diào)。時(shí)鐘脈沖單元用以對(duì)相對(duì)應(yīng)的待測(cè)物2提供時(shí)鐘脈沖信號(hào)。待測(cè)物2進(jìn)行圖像測(cè)試時(shí)，待測(cè)物2需要由外部提供待測(cè)物2精準(zhǔn)的時(shí)鐘脈沖，時(shí)鐘脈沖單元提供一組25M赫茲時(shí)鐘脈沖，再利用緩沖器分別緩沖給各個(gè)待測(cè)物2。存儲(chǔ)單元用以存放自這些待測(cè)物2取得的數(shù)據(jù)以供相對(duì)應(yīng)的測(cè)試裝置進(jìn)行運(yùn)算、處理。于本具體實(shí)施例中，存儲(chǔ)單元為圖像提取卡(frame grabbercard)。緩沖單元用以對(duì)相對(duì)應(yīng)的該待測(cè)物2提供電平信號(hào)。緩沖電路在于對(duì)待測(cè)物2提供正確的電平，并且防止因不正確的動(dòng)作損毀待測(cè)物2或存儲(chǔ)單元。另外，于本具體實(shí)施例中，本發(fā)明電子元件測(cè)試系統(tǒng)3進(jìn)一步包含服務(wù)器38，服務(wù)器38與第一測(cè)試裝置32及第二測(cè)試裝置34相互耦接，服務(wù)器38用以對(duì)第一測(cè)試裝置32及第二測(cè)試裝置34進(jìn)行控制。其中，服務(wù)器38與第二測(cè)試裝置34利用一利用互聯(lián)網(wǎng)協(xié)議的集線器39予以耦接。為對(duì)待測(cè)物進(jìn)行測(cè)試，本發(fā)明的動(dòng)作流程為首先利用通用接口總線標(biāo)準(zhǔn)輪詢(GPIB Polling)程序(下稱程序)架設(shè)一傳輸控制協(xié)議服務(wù)器(TCP SocketServer),用以建立第一測(cè)試裝置與探針機(jī)的溝通，并控制切換裝置上的各個(gè)開關(guān)來(lái)調(diào)整電路信號(hào)。其中，傳輸控制協(xié)議服務(wù)器則是用來(lái)傳遞第一測(cè)試裝置與用于圖像測(cè)試的工業(yè)電腦(IPC)間溝通的信息。傳輸控制協(xié)議服務(wù)器中的通用接口總線標(biāo)準(zhǔn)輪詢程序于接收到探針機(jī)送過(guò)來(lái)的開始測(cè)試信號(hào)(Start Signal)與待測(cè)物的顆數(shù)(OnSite Data)后，首先會(huì)將切換裝置上的所有切換開關(guān)關(guān)閉。接著判斷程序所收到的待測(cè)物的顆數(shù)是否大于O ;若是，則繼續(xù)下一步；若不是，則回到等待探針機(jī)信號(hào)的狀態(tài)。接著，若待測(cè)物的顆數(shù)大于0，則程序先將打開切換裝置上控制第一顆待測(cè)物信號(hào)的開關(guān)，接著發(fā)送測(cè)試信號(hào)給第一測(cè)試裝置。當(dāng)?shù)谝粶y(cè)試裝置測(cè)試完成后，將測(cè)試結(jié)果回傳給程序。當(dāng)程序收到第一測(cè)試裝置的測(cè)試的結(jié)果后，先將結(jié)果送至網(wǎng)際協(xié)議服務(wù)器(TCP/IP Server)。接著判斷已測(cè)完的待測(cè)物顆數(shù)是否等于待測(cè)的待測(cè)物顆數(shù)；若是，則關(guān)閉切換裝置上所有控制第一測(cè)試裝置信號(hào)的開關(guān)，并打開所有控制圖像信號(hào)的開關(guān)，接著通知網(wǎng)際協(xié)議服務(wù)器電性測(cè)試或邏輯測(cè)試已全部測(cè)試結(jié)束，把測(cè)試信號(hào)轉(zhuǎn)移到圖像測(cè)試上。若已測(cè)完的待測(cè)物顆數(shù)相異于待測(cè)的待測(cè)物，則回到步驟3，將測(cè)試信號(hào)切換到下一顆待測(cè)物 上。其后，通用接口總線標(biāo)準(zhǔn)輪詢程序?qū)⒎峭诫娦詼y(cè)試或邏輯測(cè)試(Asynchronouslogic test)的分類結(jié)果傳送給傳輸控制協(xié)議/網(wǎng)際協(xié)議服務(wù)器。傳輸控制協(xié)議/網(wǎng)際協(xié)議服務(wù)器依據(jù)使用者的設(shè)定，在此以四臺(tái)工業(yè)電腦為例，等待并匯整四個(gè)非同步電性測(cè)試或邏輯測(cè)試的分類結(jié)果。在得到四個(gè)非同步電性測(cè)試或邏輯測(cè)試的分類結(jié)果之后，同時(shí)對(duì)四臺(tái)工業(yè)電腦發(fā)送分類數(shù)據(jù)。接著，四臺(tái)工業(yè)電腦利用傳輸控制協(xié)議/網(wǎng)際協(xié)議函式庫(kù)(TCP/IP Library)所提供的函式接收到分類數(shù)據(jù)后，同步進(jìn)行本身的圖像S測(cè)試(image test)。其中，此階段四臺(tái)工業(yè)電腦視為四個(gè)客戶端(client)分別利用傳輸控制協(xié)議/網(wǎng)際協(xié)議函式庫(kù)(TCP/IPLibrary)所提供的函式將圖像測(cè)試結(jié)果傳送至傳輸控制協(xié)議/網(wǎng)際協(xié)議服務(wù)器。傳輸控制協(xié)議/網(wǎng)際協(xié)議服務(wù)器等待并匯整四個(gè)從客戶端接收的圖像測(cè)試結(jié)果后，將四個(gè)圖像測(cè)試結(jié)果同步傳送至第一測(cè)試裝置的軟件，代表工業(yè)電腦的圖像測(cè)試已結(jié)束，并將測(cè)試結(jié)果正確回傳。當(dāng)通用接口總線標(biāo)準(zhǔn)輪詢程序收到網(wǎng)際協(xié)議服務(wù)器送回的圖像測(cè)試結(jié)果后，再經(jīng)由通用接口總線標(biāo)準(zhǔn)輪詢信號(hào)，將測(cè)試結(jié)果送至探針機(jī)端進(jìn)行待測(cè)物分類的動(dòng)作。 請(qǐng)參閱圖3，圖3為本發(fā)明的另一具體實(shí)施例的切換裝置4的電路圖。本發(fā)明另提供一種切換裝置4用以將多個(gè)待測(cè)物2分別的在一第一測(cè)試裝置42及一第二測(cè)試裝置44間切換，本發(fā)明切換裝置4包含有一第一電路46以及一第二電路48。第一電路46耦接于第一測(cè)試裝置42，第一電路46包含多個(gè)第一開關(guān)462，每一個(gè)第一開關(guān)462均分別相對(duì)應(yīng)有一個(gè)上述的待測(cè)物2，多個(gè)第一開關(guān)462用于將多個(gè)第一測(cè)試裝置42于多個(gè)待測(cè)物2間進(jìn)行切換。第二電路48耦接于第二測(cè)試裝置44，第二電路48包含多個(gè)第二開關(guān)482，每一個(gè)第二開關(guān)482均分別相對(duì)應(yīng)有一個(gè)待測(cè)物2，多個(gè)第二開關(guān)482用于將多個(gè)第二測(cè)試裝置44于多個(gè)待測(cè)物2間進(jìn)行切換。于本具體實(shí)施例中，第一測(cè)試裝置42為凡指對(duì)這些待測(cè)物2進(jìn)行電性測(cè)試的裝置。于本具體實(shí)施例中，上述的第一測(cè)試裝置42為自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)，自動(dòng)測(cè)試機(jī)具有三十二根輸出入(I/O)信號(hào)探針，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備得對(duì)待測(cè)物2進(jìn)行電性測(cè)試，其中，于本具體實(shí)施例中，待測(cè)物2有二十一根相對(duì)應(yīng)上述輸出入信號(hào)控針的信號(hào)節(jié)點(diǎn)。有鑒于自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的詳細(xì)說(shuō)明可見于其他公開文獻(xiàn)，故不于此多加贅述。另外，電性測(cè)試凡指對(duì)上述的待測(cè)物2供給電源以測(cè)試待測(cè)物2的電學(xué)特性的測(cè)試。更明確的說(shuō)，于本具體實(shí)施例中，電性測(cè)試指對(duì)待測(cè)物2進(jìn)行基本的電性測(cè)試以測(cè)試待測(cè)物2的電路是否存在漏電、短路或其他電性相關(guān)的缺陷，然而電性測(cè)試不以上述的例子為限。再者，于本具體實(shí)施例中，第二電路48進(jìn)一步包含一電源單元484、時(shí)鐘脈沖單元486、緩沖單元488以及存儲(chǔ)單元489。電源單元484用以對(duì)各個(gè)待測(cè)物2提供電源。待測(cè)物2進(jìn)行圖像測(cè)試時(shí)，待測(cè)物2需要由外部提供電源。于本具體實(shí)施例中，電源單元提供了每個(gè)待測(cè)物2各四組電源，總共十六組電源,其中有一組為獨(dú)立可調(diào)。時(shí)鐘脈沖單元486用以對(duì)相對(duì)應(yīng)的待測(cè)物2提供時(shí)鐘脈沖信號(hào)。待測(cè)物2進(jìn)行圖像測(cè)試時(shí)，待測(cè)物2需要由外部提供待測(cè)物2精準(zhǔn)的488時(shí)鐘脈沖，時(shí)鐘脈沖單元486提供一組25M赫茲時(shí)鐘脈沖，再利用緩沖器分別緩沖給各個(gè)待測(cè)物2。存儲(chǔ)單元489用以存放自這些待測(cè)物2取得的數(shù)據(jù)以供相對(duì)應(yīng)的測(cè)試裝置進(jìn)行運(yùn)算、處理。于本具體實(shí)施例中，存儲(chǔ)單元489為圖像提取卡。緩沖單元488用以對(duì)相對(duì)應(yīng)的該待測(cè)物2提供電平信號(hào)。緩沖電路在于對(duì)待測(cè)物2提供正確的電平，并且防止因不正確的動(dòng)作損毀待測(cè)物2或存儲(chǔ)單元489。相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明提出了利用低階測(cè)試裝備進(jìn)行快速測(cè)試的電子元件測(cè)試系統(tǒng)，再者，本發(fā)明的電子元件測(cè)試系統(tǒng)解決了傳統(tǒng)探針機(jī)端的待測(cè)物數(shù)量必須與測(cè)試裝置所能同時(shí)測(cè)試的數(shù)量相同的制式限制，也針對(duì)探針機(jī)于待測(cè)物間移動(dòng)的時(shí)間進(jìn)行了最小化，以最低的成本達(dá)到高階測(cè)試裝備的效能。通過(guò)以上較佳具體實(shí)施例的詳述，希望能更加清楚描述本發(fā)明的特征與精神，而并非以上述所揭示的較佳具體實(shí)施例來(lái)對(duì)本發(fā)明的范疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具有相等性的安排于本發(fā)明所欲申請(qǐng)的專利范圍的范疇內(nèi)。因此，本發(fā)明所申請(qǐng)的專利范圍的范疇?wèi)?yīng)根據(jù)上述的說(shuō)明作最寬廣的解釋，以致使其涵蓋所有可能的 改變以及具相等性的安排。
權(quán)利要求
1.一種電子元件測(cè)試系統(tǒng)，用以對(duì)多個(gè)待測(cè)物進(jìn)行測(cè)試，該電子元件測(cè)試系統(tǒng)包含 一第一測(cè)試裝置，用以對(duì)所述多個(gè)待測(cè)物進(jìn)行一第一測(cè)試；以及 一第一切換模塊，該第一切換模塊耦接于所述多個(gè)待測(cè)物及該第一測(cè)試裝置，該第一切換模塊用以將該第一測(cè)試裝置于所述多個(gè)待測(cè)物間進(jìn)行切換。
2.一種電子元件測(cè)試系統(tǒng)，用以對(duì)多個(gè)待測(cè)物進(jìn)行測(cè)試，該電子元件測(cè)試系統(tǒng)包含 一第一測(cè)試裝置，用以對(duì)所述多個(gè)待測(cè)物進(jìn)行一第一測(cè)試； 一第二測(cè)試裝置，用以對(duì)所述多個(gè)待測(cè)物進(jìn)行一第二測(cè)試；以及 一切換裝置，其包含； 一第一切換模塊，該第一切換模塊設(shè)置于所述多個(gè)待測(cè)物以及該第一測(cè)試裝置之間，該第一切換模塊用于將該第一測(cè)試模塊于所述多個(gè)待測(cè)物間進(jìn)行切換；以及 一第二切換模塊，該第二切換模塊設(shè)置于所述多個(gè)待測(cè)物以及該第二測(cè)試裝置之間，該第二切換模塊用于將該第二測(cè)試裝置于所述多個(gè)待測(cè)物間進(jìn)行切換。
3.如權(quán)利要求2所述的電子元件測(cè)試系統(tǒng)，其中該第二切換模塊進(jìn)一步包含一電源單元，用以對(duì)所述多個(gè)待測(cè)物提供電源。
4.如權(quán)利要求2所述的電子元件測(cè)試系統(tǒng)，其中該第二切換模塊進(jìn)一步包含多個(gè)時(shí)鐘脈沖單元，用以對(duì)所述多個(gè)待測(cè)物提供一時(shí)鐘脈沖信號(hào)。
5.如權(quán)利要求2所述的電子元件測(cè)試系統(tǒng)，其中該第二切換模塊進(jìn)一步包含多個(gè)緩沖單元，用以對(duì)相對(duì)應(yīng)的該待測(cè)物提供一電平信號(hào)。
6.如權(quán)利要求2所述的電子元件測(cè)試系統(tǒng)，其中該第二切換模塊進(jìn)一步包含多個(gè)存儲(chǔ)單元，用以存放自所述多個(gè)待測(cè)物取得的數(shù)據(jù)。
7.如權(quán)利要求2所述的電子元件測(cè)試系統(tǒng)，其進(jìn)一步包含一服務(wù)器，該服務(wù)器與該第一測(cè)試裝置及該第二測(cè)試裝置相互耦接，該服務(wù)器用以控制該第一測(cè)試裝置及該第二測(cè)試 裝直。
8.一種切換裝置，用以將多個(gè)待測(cè)物分別地在一第一測(cè)試裝置及一第二測(cè)試裝置間切換，其包含 一第一電路，耦接于該第一測(cè)試裝置，該第一電路包含多個(gè)第一開關(guān)，每一個(gè)第一開關(guān)均分別相對(duì)應(yīng)有一個(gè)該待測(cè)物，所述多個(gè)第一開關(guān)用于將該第一測(cè)試裝置于所述多個(gè)待測(cè)物間進(jìn)行切換；以及 一第二電路，耦接于該第二測(cè)試裝置，該第二電路包含多個(gè)第二開關(guān)，每一個(gè)第二開關(guān)均分別相對(duì)應(yīng)有一個(gè)該待測(cè)物，所述多個(gè)第二開關(guān)用于將該第二測(cè)試裝置于所述多個(gè)待測(cè)物間進(jìn)行切換。
9.如權(quán)利要求8所述的切換裝置，其中該第二電路進(jìn)一步包含多個(gè)電源單元，用以對(duì)相對(duì)應(yīng)的該待測(cè)物提供電源。
10.如權(quán)利要求8所述的切換裝置，其中該第二電路進(jìn)一步包含多個(gè)時(shí)鐘脈沖單元，用以對(duì)相對(duì)應(yīng)的該待測(cè)物提供一時(shí)鐘脈沖信號(hào)。
11.如權(quán)利要求8所述的切換裝置，其中該第二電路進(jìn)一步包含多個(gè)緩沖單元，用以對(duì)相對(duì)應(yīng)的該待測(cè)物提供一電平信號(hào)。
12.如權(quán)利要求8所述的切換裝置，其中該第二電路進(jìn)一步包含多個(gè)存儲(chǔ)單元，用以存放自所述多個(gè)待測(cè)物取得的數(shù)據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明揭示一種電子元件測(cè)試系統(tǒng)及其切換裝置，該測(cè)試系統(tǒng)用以對(duì)多個(gè)待測(cè)物進(jìn)行測(cè)試，其包含第一測(cè)試裝置、第二測(cè)試裝置以及切換裝置。第一測(cè)試裝置用以對(duì)各待測(cè)物進(jìn)行第一測(cè)試。第二測(cè)試裝置用以對(duì)各待測(cè)物進(jìn)行一第二測(cè)試。切換裝置包含第一切換模塊以及第二切換模塊。第一切換模塊設(shè)置于各待測(cè)物以及第一測(cè)試裝置之間，第一切換模塊用于將第一測(cè)試模塊于各待測(cè)物間進(jìn)行切換。第二切換模塊設(shè)置于各待測(cè)物以及第二測(cè)試裝置之間，第二切換模塊用于將第二測(cè)試裝置于各待測(cè)物間進(jìn)行切換。本發(fā)明提出了利用低階測(cè)試裝備進(jìn)行快速測(cè)試的電子元件測(cè)試系統(tǒng)，再者，解決了傳統(tǒng)探針機(jī)端的待測(cè)物數(shù)量必須與測(cè)試裝置所能同時(shí)測(cè)試的數(shù)量相同的制式限制。
文檔編號(hào)G01R31/00GK102680745SQ20111006061
公開日2012年9月19日 申請(qǐng)日期2011年3月10日 優(yōu)先權(quán)日2011年3月10日
發(fā)明者楊子慶, 溫耀星, 翟皓緯 申請(qǐng)人:致茂電子股份有限公司