專利名稱：一種具有檢錯(cuò)功能的邊界掃描測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種具有檢錯(cuò)功能的邊界掃描測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
JTAG是一種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試協(xié)議，對(duì)邊界掃描測(cè)試技術(shù)進(jìn)行了規(guī)范。JTAG的應(yīng)用非常廣泛，如器件互聯(lián)測(cè)試、器件虛擬測(cè)試和器件自建內(nèi)測(cè)試等等。測(cè)試設(shè)備通過(guò)發(fā)送測(cè)試信號(hào)給被測(cè)單元，并接收測(cè)試結(jié)果，從而判斷被測(cè)單元是否有故障以及故障在哪里。在進(jìn)行邊界掃描測(cè)試時(shí)，需要產(chǎn)生邊界掃描測(cè)試信號(hào)和接收測(cè)試響應(yīng)，其中各個(gè)信號(hào)的具體定義如下
TCK =Test Access Port，測(cè)試時(shí)鐘輸入； TMS =Test Mode Select input，測(cè)試模式輸入； TDI =Test Data Input，測(cè)試數(shù)據(jù)輸入； TDO =Test Data Output，測(cè)試數(shù)據(jù)輸出； TRST =Test Logic Reset，測(cè)試邏輯復(fù)位；
這些信號(hào)的產(chǎn)生和接收一般都是通過(guò)專門的邊界掃描測(cè)試控制器實(shí)現(xiàn)的。邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)一般由三個(gè)部分組成計(jì)算機(jī)、邊界掃描測(cè)試控制器和被測(cè)電路板。其中，計(jì)算機(jī)主要負(fù)責(zé)響應(yīng)用戶操作、產(chǎn)生測(cè)試指令和數(shù)據(jù)、監(jiān)控測(cè)試過(guò)程和進(jìn)行測(cè)試結(jié)果的分析和診斷。邊界掃描測(cè)試控制器主要負(fù)責(zé)接收計(jì)算機(jī)通過(guò)接口下發(fā)的測(cè)試指令和數(shù)據(jù)，生成串行的邊界掃描測(cè)試信號(hào)，通過(guò)邊界掃描測(cè)試測(cè)試接口將串行數(shù)據(jù)傳送給被測(cè)電路板，完成測(cè)試任務(wù)；同時(shí)邊界掃描測(cè)試控制器通過(guò)邊界掃描測(cè)試測(cè)試接口接收來(lái)自被測(cè)電路板的 TDO信號(hào)，將測(cè)試結(jié)果通過(guò)計(jì)算機(jī)接口反饋給計(jì)算機(jī)。采用專用測(cè)試控制器的實(shí)現(xiàn)技術(shù)的主要缺點(diǎn)是需要專門的硬件，增加了實(shí)現(xiàn)成本。在邊界掃描測(cè)試的過(guò)程中，由于外界環(huán)境的干擾，測(cè)試指令和數(shù)據(jù)在傳輸?shù)竭吔鐠呙杵骷倪^(guò)程中可能發(fā)生錯(cuò)誤，這將影響測(cè)試的正確性和穩(wěn)定性。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種具有檢錯(cuò)功能的邊界掃描測(cè)試方法。具有檢錯(cuò)功能的邊界掃描測(cè)試方法的步驟如下
1)在8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器上增加一個(gè)兩輸出多路輸出器和一條由8個(gè)D觸發(fā)器構(gòu)成的時(shí)鐘上升沿觸發(fā)的串行移位寄存器鏈；兩輸出多路輸出器數(shù)據(jù)輸出的一端連接到串行移位寄存器鏈的第一級(jí)D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸入端；兩輸出多路輸出器數(shù)據(jù)輸出的另一端連接到最后一級(jí)異或門；8個(gè)D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸出端連接到4個(gè)8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器的輸入端，即4個(gè)兩輸入異或門的輸入端；其中，改進(jìn)后的8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器的信號(hào)引腳DataIN為帶奇校驗(yàn)位的數(shù)據(jù)輸入，信號(hào)引腳SEL為兩輸出多路輸出器選擇信號(hào)輸入，信號(hào)引腳CLK為串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入，信號(hào)引腳FB為檢錯(cuò)反饋信號(hào)輸出，信號(hào)引腳DataOUT為不帶奇校驗(yàn)位的數(shù)據(jù)輸出；
2)在8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器上增加一個(gè)兩輸入多路選擇器、一條由8個(gè)D觸發(fā)器構(gòu)成的時(shí)鐘上升沿觸發(fā)的串行移位寄存器鏈和兩個(gè)用于緩存奇校驗(yàn)位輸出的D觸發(fā)器；兩輸入多路選擇器數(shù)據(jù)輸入的一端連接串行移位寄存器鏈的最后一級(jí)D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸出端；兩輸入多路選擇器數(shù)據(jù)輸入的另一端連接第二級(jí)奇校驗(yàn)位D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸出端；構(gòu)成串行移位寄存器的8個(gè)D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸出端連接到4個(gè)8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器的輸入端，即4個(gè)兩輸入異或門的輸入端；最后一級(jí)異或門的輸出端連接到第一級(jí)奇校驗(yàn)位D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸入端；其中，改進(jìn)后的8位奇檢驗(yàn)位產(chǎn)生器的信號(hào)引腳DataIN為數(shù)據(jù)輸入，信號(hào)引腳SEL 為兩輸入多路選擇器選擇信號(hào)輸入，信號(hào)引腳CLKl為串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入，信號(hào)引腳CLK2為奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器控制時(shí)鐘輸入，信號(hào)引腳DataOUT為帶奇校驗(yàn)位的數(shù)據(jù)輸出；
3)將8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器置于被測(cè)邊界掃描器件之前，8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器數(shù)據(jù)輸出引腳DataOUT連接到被測(cè)邊界掃描器件數(shù)據(jù)輸入引腳TDI ；
4)將8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器置于被測(cè)邊界掃描器件之后，被測(cè)邊界掃描器件數(shù)據(jù)輸出引腳TDO連接到8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器數(shù)據(jù)輸入引腳DataIN ；
5)擴(kuò)展邊界掃描測(cè)試接口，擴(kuò)展后的邊界掃描測(cè)試接口信號(hào)引腳包括
CLKl 8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器中的串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入，被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試時(shí)鐘輸入，8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器中的串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入； TMS 被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試模式控制信號(hào)輸入； TRST 被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試邏輯復(fù)位信號(hào)輸入； TDI 帶奇校驗(yàn)位的測(cè)試數(shù)據(jù)輸入； TDO 帶奇校驗(yàn)位的測(cè)試數(shù)據(jù)輸出；
SELl :8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器中的兩輸出多路輸出器選擇信號(hào)輸入； FB 8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器檢錯(cuò)反饋信號(hào)輸出； SEL2 8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器中的兩輸入多路選擇器選擇信號(hào)輸入； CLK2 8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器中的奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器控制時(shí)鐘輸入； 連接8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器、8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器和被測(cè)邊界掃描器件的測(cè)試信號(hào)引腳到邊界掃描測(cè)試接口的相應(yīng)測(cè)試信號(hào)引腳；
6 )建立計(jì)算機(jī)并口弓I腳指針和邊界掃描測(cè)試信號(hào)的對(duì)應(yīng)關(guān)系，并連接計(jì)算并口弓I腳指針到邊界掃描測(cè)試接口的相應(yīng)測(cè)試信號(hào)引腳；
7)通過(guò)計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)生帶奇校驗(yàn)位的測(cè)試矢量；
8)通過(guò)計(jì)算機(jī)程序在計(jì)算機(jī)并口上產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)并加載到被測(cè)電路板，接受測(cè)試響應(yīng)，并對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析，具體測(cè)試步驟如下
(1)通過(guò)計(jì)算機(jī)并口控制被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試模式控制信號(hào)TMS輸出值設(shè)置被測(cè)邊界掃描器件工作在正確的工作模式；
(2)伴隨8個(gè)串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘CLKl上升沿，通過(guò)計(jì)算機(jī)并口將8個(gè)數(shù)據(jù)位加載到數(shù)據(jù)線TDI，每一個(gè)CLKl上升沿加載1個(gè)數(shù)據(jù)位到數(shù)據(jù)線TDI ；
(3)通過(guò)計(jì)算機(jī)并口設(shè)置8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器中的兩輸出多路輸出器選擇信號(hào) SELl=O,將上述8個(gè)數(shù)據(jù)位的奇校驗(yàn)位加載到數(shù)據(jù)線TDI ；
(4)通過(guò)計(jì)算機(jī)并口讀取8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器檢錯(cuò)反饋信號(hào)FB；
(5)根據(jù)8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器檢錯(cuò)反饋信號(hào)FB的值判斷數(shù)據(jù)傳輸是否出錯(cuò)，如果出錯(cuò)， 則測(cè)試終止，否則，重復(fù)步驟(2) 步驟(5)直到所有測(cè)試矢量發(fā)送、測(cè)試完畢；
(6)假定從計(jì)算機(jī)并口加載第一個(gè)測(cè)試矢量數(shù)據(jù)位到被測(cè)邊界掃描器件產(chǎn)生第一個(gè)輸出數(shù)據(jù)需要η個(gè)串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入CLKl周期，則(η+8)個(gè)CLKl上升沿之后， 通過(guò)計(jì)算機(jī)并口設(shè)置8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器中的兩輸入多路選擇器選擇信號(hào)輸入SEL2=0，產(chǎn)生一個(gè)奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器控制時(shí)鐘CLK2上升沿；
(7)伴隨8個(gè)串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入CLKl上升沿，通過(guò)計(jì)算機(jī)并口讀取數(shù)據(jù)線TD0，讀取8個(gè)數(shù)據(jù)位，每一個(gè)CLKl上升沿在數(shù)據(jù)線TDO上讀取1個(gè)數(shù)據(jù)位；
(8)通過(guò)計(jì)算機(jī)并口設(shè)置8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器中的兩輸入多路選擇器選擇信號(hào) SEL2=0，產(chǎn)生一個(gè)奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器控制時(shí)鐘CLK2上升沿，通過(guò)計(jì)算機(jī)并口讀取數(shù)據(jù)線TD0，此時(shí)讀取數(shù)據(jù)為上述8個(gè)數(shù)據(jù)位的奇校驗(yàn)位；
(9)通過(guò)計(jì)算機(jī)程序?qū)ψx取到的8個(gè)數(shù)據(jù)位和該8個(gè)數(shù)據(jù)位的奇校驗(yàn)位進(jìn)行奇校驗(yàn)，判斷數(shù)據(jù)傳輸是否出錯(cuò)，如果出錯(cuò)，則測(cè)試終止，否則，重復(fù)步驟(7) 步驟(9)直到所有測(cè)試矢量發(fā)送、測(cè)試完畢。本發(fā)明通過(guò)計(jì)算機(jī)并口實(shí)現(xiàn)邊界掃描測(cè)試，不需要專門的邊界掃描測(cè)試控制器， 使得實(shí)現(xiàn)成本極低，實(shí)現(xiàn)和應(yīng)用都非常簡(jiǎn)單；針對(duì)邊界掃描測(cè)試過(guò)程中數(shù)據(jù)傳輸可能出錯(cuò)的情況，提出通過(guò)插入奇校驗(yàn)單元的方法檢測(cè)數(shù)據(jù)傳輸過(guò)程中可能發(fā)生的錯(cuò)誤，提高了邊界掃描測(cè)試的正確性和穩(wěn)定性。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的8位奇校驗(yàn)碼檢驗(yàn)器； 圖2為現(xiàn)有技術(shù)中的8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器；
圖3為本發(fā)明所述改進(jìn)后的8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器； 圖4為本發(fā)明所述改進(jìn)后的8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器信號(hào)引腳示意圖； 圖5為本發(fā)明所述改進(jìn)后的8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器； 圖6為本發(fā)明所述改進(jìn)后的8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器信號(hào)引腳示意圖； 圖7為現(xiàn)有技術(shù)中的邊界掃描測(cè)試連接示意圖； 圖8為本發(fā)明所述帶奇校驗(yàn)單元的邊界掃描測(cè)試連接示意圖； 圖9為本發(fā)明所述擴(kuò)展測(cè)試信號(hào)后的邊界掃描接口 ； 圖10為本實(shí)施例中所述25針的計(jì)算機(jī)并口圖11為本實(shí)施例中所述25針的計(jì)算機(jī)并口和擴(kuò)展測(cè)試信號(hào)后的邊界掃描接口的連接
圖12為本發(fā)明所述帶檢錯(cuò)功能的邊界掃描測(cè)試工作流程圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合說(shuō)明書附圖來(lái)說(shuō)明本發(fā)明的具體實(shí)施方式
。具有檢錯(cuò)功能的邊界掃描測(cè)試方法的步驟如下
1)在8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器上增加一個(gè)兩輸出多路輸出器和一條由8個(gè)D觸發(fā)器構(gòu)成的時(shí)鐘上升沿觸發(fā)的串行移位寄存器鏈；兩輸出多路輸出器數(shù)據(jù)輸出的一端連接到串行移位寄存器鏈的第一級(jí)D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸入端；兩輸出多路輸出器數(shù)據(jù)輸出的另一端連接到最后一級(jí)異或門；8個(gè)D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸出端連接到4個(gè)8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器的輸入端，即4 個(gè)兩輸入異或門的輸入端；其中，改進(jìn)后的8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器的信號(hào)引腳DataIN為帶奇校驗(yàn)位的數(shù)據(jù)輸入，信號(hào)引腳SEL為兩輸出多路輸出器選擇信號(hào)輸入，信號(hào)引腳CLK為串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入，信號(hào)引腳FB為檢錯(cuò)反饋信號(hào)輸出，信號(hào)引腳DataOUT為不帶奇校驗(yàn)位的數(shù)據(jù)輸出；
2)在8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器上增加一個(gè)兩輸入多路選擇器、一條由8個(gè)D觸發(fā)器構(gòu)成的時(shí)鐘上升沿觸發(fā)的串行移位寄存器鏈和兩個(gè)用于緩存奇校驗(yàn)位輸出的D觸發(fā)器；兩輸入多路選擇器數(shù)據(jù)輸入的一端連接串行移位寄存器鏈的最后一級(jí)D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸出端；兩輸入多路選擇器數(shù)據(jù)輸入的另一端連接第二級(jí)奇校驗(yàn)位D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸出端；構(gòu)成串行移位寄存器的8個(gè)D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸出端連接到4個(gè)8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器的輸入端，即4個(gè)兩輸入異或門的輸入端；最后一級(jí)異或門的輸出端連接到第一級(jí)奇校驗(yàn)位D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸入端；其中，改進(jìn)后的8位奇檢驗(yàn)位產(chǎn)生器的信號(hào)引腳DataIN為數(shù)據(jù)輸入，信號(hào)引腳SEL 為兩輸入多路選擇器選擇信號(hào)輸入，信號(hào)引腳CLKl為串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入，信號(hào)引腳CLK2為奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器控制時(shí)鐘輸入，信號(hào)引腳DataOUT為帶奇校驗(yàn)位的數(shù)據(jù)輸出；
3)將8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器置于被測(cè)邊界掃描器件之前，8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器數(shù)據(jù)輸出引腳DataOUT連接到被測(cè)邊界掃描器件數(shù)據(jù)輸入引腳TDI ；
4)將8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器置于被測(cè)邊界掃描器件之后，被測(cè)邊界掃描器件數(shù)據(jù)輸出引腳TDO連接到8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器數(shù)據(jù)輸入引腳DataIN ；
5)擴(kuò)展邊界掃描測(cè)試接口，擴(kuò)展后的邊界掃描測(cè)試接口信號(hào)引腳包括
CLKl 8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器中的串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入，被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試時(shí)鐘輸入，8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器中的串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入； TMS 被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試模式控制信號(hào)輸入； TRST 被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試邏輯復(fù)位信號(hào)輸入； TDI 帶奇校驗(yàn)位的測(cè)試數(shù)據(jù)輸入； TDO 帶奇校驗(yàn)位的測(cè)試數(shù)據(jù)輸出；
SELl :8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器中的兩輸出多路輸出器選擇信號(hào)輸入； FB 8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器檢錯(cuò)反饋信號(hào)輸出； SEL2 8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器中的兩輸入多路選擇器選擇信號(hào)輸入； CLK2 8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器中的奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器控制時(shí)鐘輸入； 連接8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器、8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器和被測(cè)邊界掃描器件的測(cè)試信號(hào)引腳到邊界掃描測(cè)試接口的相應(yīng)測(cè)試信號(hào)引腳；
6 )建立計(jì)算機(jī)并口弓I腳指針和邊界掃描測(cè)試信號(hào)的對(duì)應(yīng)關(guān)系，并連接計(jì)算并口弓I腳指針到邊界掃描測(cè)試接口的相應(yīng)測(cè)試信號(hào)引腳；7)通過(guò)計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)生帶奇校驗(yàn)位的測(cè)試矢量；
8)通過(guò)計(jì)算機(jī)程序在計(jì)算機(jī)并口上產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)并加載到被測(cè)電路板，接受測(cè)試響應(yīng)，并對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析，具體測(cè)試步驟如下
(1)通過(guò)計(jì)算機(jī)并口控制被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試模式控制信號(hào)TMS輸出值設(shè)置被測(cè)邊界掃描器件工作在正確的工作模式；
(2)伴隨8個(gè)串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘CLKl上升沿，通過(guò)計(jì)算機(jī)并口將8個(gè)數(shù)據(jù)位加載到數(shù)據(jù)線TDI，每一個(gè)CLKl上升沿加載1個(gè)數(shù)據(jù)位到數(shù)據(jù)線TDI ；
(3)通過(guò)計(jì)算機(jī)并口設(shè)置8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器中的兩輸出多路輸出器選擇信號(hào) SELl=O,將上述8個(gè)數(shù)據(jù)位的奇校驗(yàn)位加載到數(shù)據(jù)線TDI ；
(4)通過(guò)計(jì)算機(jī)并口讀取8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器檢錯(cuò)反饋信號(hào)FB；
(5)根據(jù)8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器檢錯(cuò)反饋信號(hào)FB的值判斷數(shù)據(jù)傳輸是否出錯(cuò)，如果出錯(cuò)， 則測(cè)試終止，否則，重復(fù)步驟(2) 步驟(5)直到所有測(cè)試矢量發(fā)送、測(cè)試完畢；
(6)假定從計(jì)算機(jī)并口加載第一個(gè)測(cè)試矢量數(shù)據(jù)位到被測(cè)邊界掃描器件產(chǎn)生第一個(gè)輸出數(shù)據(jù)需要η個(gè)串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入CLKl周期，則(η+8)個(gè)CLKl上升沿之后， 通過(guò)計(jì)算機(jī)并口設(shè)置8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器中的兩輸入多路選擇器選擇信號(hào)輸入SEL2=0，產(chǎn)生一個(gè)奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器控制時(shí)鐘CLK2上升沿；
(7)伴隨8個(gè)串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入CLKl上升沿，通過(guò)計(jì)算機(jī)并口讀取數(shù)據(jù)線TD0，讀取8個(gè)數(shù)據(jù)位，每一個(gè)CLKl上升沿在數(shù)據(jù)線TDO上讀取1個(gè)數(shù)據(jù)位；
(8)通過(guò)計(jì)算機(jī)并口設(shè)置8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器中的兩輸入多路選擇器選擇信號(hào) SEL2=0，產(chǎn)生一個(gè)奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器控制時(shí)鐘CLK2上升沿，通過(guò)計(jì)算機(jī)并口讀取數(shù)據(jù)線TD0，此時(shí)讀取數(shù)據(jù)為上述8個(gè)數(shù)據(jù)位的奇校驗(yàn)位；
(9)通過(guò)計(jì)算機(jī)程序?qū)ψx取到的8個(gè)數(shù)據(jù)位和該8個(gè)數(shù)據(jù)位的奇校驗(yàn)位進(jìn)行奇校驗(yàn)，判斷數(shù)據(jù)傳輸是否出錯(cuò)，如果出錯(cuò)，則測(cè)試終止，否則，重復(fù)步驟(7) 步驟(9)直到所有測(cè)試矢量發(fā)送、測(cè)試完畢。
實(shí)施例在本發(fā)明中，通過(guò)計(jì)算機(jī)并口實(shí)現(xiàn)邊界掃描測(cè)試，不需要專門的邊界掃描測(cè)試控制器，利用計(jì)算機(jī)并口可以方便的完成邊界掃描測(cè)試信號(hào)的擴(kuò)展；在被測(cè)邊界掃描器件和計(jì)算機(jī)之間插入了奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器和奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器，可實(shí)現(xiàn)對(duì)傳輸數(shù)據(jù)的檢錯(cuò)功能?，F(xiàn)有技術(shù)中的8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器和8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器對(duì)并行數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)， 而邊界掃描測(cè)試輸出的是串行數(shù)據(jù)，因此需要對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器和8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器進(jìn)行改進(jìn)，使之符合本測(cè)試方法的需要?，F(xiàn)有技術(shù)中的8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器如圖1所示。該8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器由8個(gè)異或門構(gòu)成，檢驗(yàn)無(wú)誤時(shí)，輸出為0，反之輸出為1?，F(xiàn)有技術(shù)中的8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器如圖2所示。該8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器由7個(gè)異或門構(gòu)成，當(dāng)8位輸入數(shù)據(jù)中“1”的個(gè)數(shù)為奇數(shù)時(shí)，輸出為1，反之輸出為0。在8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器上增加一個(gè)兩輸出多路輸出器和一條由8個(gè)D觸發(fā)器構(gòu)成的時(shí)鐘上升沿觸發(fā)的串行移位寄存器鏈。兩輸出多路輸出器數(shù)據(jù)輸出的一端連接到串行移位寄存器鏈的第一級(jí)D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸入端；兩輸出多路輸出器數(shù)據(jù)輸出的另一端連接到最后一級(jí)異或門；8個(gè)D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸出端連接到4個(gè)8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器的輸入端，即 4個(gè)兩輸入異或門的輸入端。改進(jìn)后的8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器如圖3所示。定義奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器信號(hào)引腳如下 DataIN 帶奇校驗(yàn)位的數(shù)據(jù)輸入；
SEL 兩輸出多路輸出器選擇信號(hào)輸入； CLK 串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入； FB 檢錯(cuò)反饋信號(hào)輸出； DataOUT 不帶奇校驗(yàn)位的數(shù)據(jù)輸出；
當(dāng)兩輸出多路輸出器選擇信號(hào)SEL為1時(shí)，DataIN輸入到串行移位寄存器鏈第一級(jí)觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸入端；當(dāng)兩輸出多路輸出器選擇信號(hào)SEL為0時(shí)，DataIN輸入到最后一級(jí)異或門；最后一級(jí)異或門的輸出為檢錯(cuò)反饋信號(hào)FB。在時(shí)鐘信號(hào)CLK的上升沿觸發(fā)下，上一級(jí)觸發(fā)器的輸出數(shù)據(jù)傳遞到下一級(jí)觸發(fā)器，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的串行移位。當(dāng)選擇信號(hào)為1時(shí)，數(shù)據(jù)輸入到串行移位寄存器鏈第一級(jí)觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸入端，經(jīng)過(guò)8個(gè)串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘CLK的上升沿觸發(fā)，來(lái)自DataIN的第一位數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于最后一級(jí)觸發(fā)器輸出端，第八位數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于第一級(jí)觸發(fā)器輸出端。對(duì)于本發(fā)明中帶奇校驗(yàn)位的8位串行數(shù)據(jù)而言，奇校驗(yàn)位跟隨在8位串行數(shù)據(jù)之后。因此，通過(guò)8個(gè)串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘CLK的上升沿觸發(fā)將8位串行數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于串行移位寄存器后，設(shè)置SEL為0，使得奇校驗(yàn)位輸入到最后一級(jí)異或門，產(chǎn)生檢錯(cuò)反饋信號(hào)FB。FB為0，表示檢驗(yàn)無(wú)誤；否則，數(shù)據(jù)傳輸出錯(cuò)。奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器信號(hào)引腳示意圖如圖4所示。在8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器上增加一個(gè)兩輸入多路選擇器、一條由8個(gè)D觸發(fā)器構(gòu)成的時(shí)鐘上升沿觸發(fā)的串行移位寄存器鏈和兩個(gè)用于緩存奇校驗(yàn)位輸出的D觸發(fā)器。兩輸入多路選擇器數(shù)據(jù)輸入的一端連接串行移位寄存器鏈的最后一級(jí)D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸出端；兩輸入多路選擇器數(shù)據(jù)輸入的另一端連接第二級(jí)奇校驗(yàn)位D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸出端；構(gòu)成串行移位寄存器的8個(gè)D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸出端連接到4個(gè)8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器的輸入端，即4 個(gè)兩輸入異或門的輸入端；最后一級(jí)異或門的輸出端連接到第一級(jí)奇校驗(yàn)位D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸入端。改進(jìn)后的8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器如圖5所示，定義奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器信號(hào)引腳如下 DataIN 數(shù)據(jù)輸入；
SEL 兩輸入多路選擇器選擇信號(hào)輸入； CLKl 串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入； CLK2 奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器控制時(shí)鐘輸入； DataOUT 帶奇校驗(yàn)位的數(shù)據(jù)輸出；
選擇信號(hào)SEL為1時(shí)，DataOUT數(shù)據(jù)輸出為串行移位寄存器鏈最后一級(jí)觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸出；選擇信號(hào)SEL為0時(shí)，DataOUT數(shù)據(jù)輸出為第二級(jí)奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器的輸出。在時(shí)鐘信號(hào)的上升沿觸發(fā)下，上一級(jí)觸發(fā)器的輸出數(shù)據(jù)傳遞到下一級(jí)觸發(fā)器，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的串行移位。經(jīng)過(guò)8個(gè)時(shí)鐘信號(hào)CLKl的上升沿觸發(fā)，來(lái)自DataIN的第一位數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于最后一級(jí)觸發(fā)器輸出端，第八位數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于第一級(jí)觸發(fā)器輸出端，對(duì)應(yīng)此八位數(shù)據(jù)的奇校驗(yàn)位輸出在第一級(jí)奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器的輸入端。此時(shí)通過(guò)產(chǎn)生一個(gè)時(shí)鐘信號(hào)CLK2的上升沿，觸發(fā)奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器，則奇校驗(yàn)位從第一級(jí)奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器輸入端傳遞到第一級(jí)奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器的輸出端。再經(jīng)過(guò)8個(gè)時(shí)鐘信號(hào)CLKl的上升沿觸發(fā)， 之前存在串行移位寄存器中的8位串行數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)多路選擇器后通過(guò)信號(hào)引腳DataOUT輸出，串行移位寄存器中存儲(chǔ)的是新的一組8位串行數(shù)據(jù)。此時(shí)設(shè)置選擇信號(hào)SEL為0，通過(guò)產(chǎn)生一個(gè)時(shí)鐘信號(hào)CLK2的上升沿，觸發(fā)奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器，則第一組8位串行數(shù)據(jù)的奇校驗(yàn)位從第一級(jí)奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器輸出端傳遞到第二級(jí)奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器輸出端，經(jīng)過(guò)多路選擇器后通過(guò) 信號(hào)引腳DataOUT輸出；新的一組8位串行數(shù)據(jù)的奇校驗(yàn)位從第一級(jí)奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器輸入端傳遞到第一級(jí)奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器的輸出端。奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器信號(hào) 引腳示意圖如圖6所示?，F(xiàn)有技術(shù)中的的邊界掃描測(cè)試連接示意圖如圖7所示，其中的邊界掃描測(cè)試信號(hào)定義如下
TCK 被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試時(shí)鐘輸入； TMS 被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試模式輸入； TDI 被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試數(shù)據(jù)輸入； TDO 被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試數(shù)據(jù)輸出； TRST 被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試邏輯復(fù)位；
為實(shí)現(xiàn)對(duì)奇校驗(yàn)單元的控制，需要對(duì)邊界掃描測(cè)試信號(hào)進(jìn)行擴(kuò)展，擴(kuò)展后的邊界掃描測(cè)試信號(hào)定義如下
CLKl 奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器中的串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入，被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試時(shí)鐘輸入，奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器中的串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入； TMS 被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試模式輸入； TRST 被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試邏輯復(fù)位； TDI 帶奇校驗(yàn)位的測(cè)試數(shù)據(jù)輸入； TDO 帶奇校驗(yàn)位的測(cè)試數(shù)據(jù)輸出； SELl 奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器選擇信號(hào)輸入； FB 奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器檢錯(cuò)反饋信號(hào)輸出； SEL2 奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器選擇信號(hào)輸入；
CLK2 奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器中的奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器控制時(shí)鐘輸入； 擴(kuò)展測(cè)試信號(hào)后的邊界掃描測(cè)試連接示意圖如圖8所示。對(duì)應(yīng)擴(kuò)展測(cè)試信號(hào)的邊界掃描接口如圖9所示。通過(guò)在邊界掃描接口上建立計(jì)算機(jī)并口引腳指針和邊界掃描測(cè)試信號(hào)的對(duì)應(yīng)關(guān)系，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)邊界掃描測(cè)試信號(hào)、校驗(yàn)反饋信號(hào)的控制和接收。下面以25針計(jì)算機(jī)并口為例說(shuō)明如何通過(guò)計(jì)算機(jī)并口實(shí)現(xiàn)具有檢錯(cuò)功能的邊界掃描測(cè)試，如圖10所示，是25針計(jì)算機(jī)并口圖。表1列出了 25針計(jì)算機(jī)并口的引腳定義_
權(quán)利要求
1. 一種具有檢錯(cuò)功能的邊界掃描測(cè)試方法，其特征在于它的步驟如下.1)在8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器上增加一個(gè)兩輸出多路輸出器和一條由8個(gè)D觸發(fā)器構(gòu)成的時(shí)鐘上升沿觸發(fā)的串行移位寄存器鏈；兩輸出多路輸出器數(shù)據(jù)輸出的一端連接到串行移位寄存器鏈的第一級(jí)D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸入端；兩輸出多路輸出器數(shù)據(jù)輸出的另一端連接到最后一級(jí)異或門；8個(gè)D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸出端連接到4個(gè)8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器的輸入端，即4 個(gè)兩輸入異或門的輸入端；其中，改進(jìn)后的8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器的信號(hào)引腳DataIN為帶奇校驗(yàn)位的數(shù)據(jù)輸入，信號(hào)引腳SEL為兩輸出多路輸出器選擇信號(hào)輸入，信號(hào)引腳CLK為串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入，信號(hào)引腳FB為檢錯(cuò)反饋信號(hào)輸出，信號(hào)引腳DataOUT為不帶奇校驗(yàn)位的數(shù)據(jù)輸出；.2)在8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器上增加一個(gè)兩輸入多路選擇器、一條由8個(gè)D觸發(fā)器構(gòu)成的時(shí)鐘上升沿觸發(fā)的串行移位寄存器鏈和兩個(gè)用于緩存奇校驗(yàn)位輸出的D觸發(fā)器；兩輸入多路選擇器數(shù)據(jù)輸入的一端連接串行移位寄存器鏈的最后一級(jí)D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸出端；兩輸入多路選擇器數(shù)據(jù)輸入的另一端連接第二級(jí)奇校驗(yàn)位D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸出端；構(gòu)成串行移位寄存器的8個(gè)D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸出端連接到4個(gè)8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器的輸入端，即4個(gè)兩輸入異或門的輸入端；最后一級(jí)異或門的輸出端連接到第一級(jí)奇校驗(yàn)位D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸入端；其中，改進(jìn)后的8位奇檢驗(yàn)位產(chǎn)生器的信號(hào)引腳DataIN為數(shù)據(jù)輸入，信號(hào)引腳SEL 為兩輸入多路選擇器選擇信號(hào)輸入，信號(hào)引腳CLKl為串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入，信號(hào)引腳CLK2為奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器控制時(shí)鐘輸入，信號(hào)引腳DataOUT為帶奇校驗(yàn)位的數(shù)據(jù)輸出；.3)將8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器置于被測(cè)邊界掃描器件之前，8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器數(shù)據(jù)輸出引腳DataOUT連接到被測(cè)邊界掃描器件數(shù)據(jù)輸入引腳TDI ；.4)將8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器置于被測(cè)邊界掃描器件之后，被測(cè)邊界掃描器件數(shù)據(jù)輸出引腳TDO連接到8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器數(shù)據(jù)輸入引腳DataIN ；.5)擴(kuò)展邊界掃描測(cè)試接口，擴(kuò)展后的邊界掃描測(cè)試接口信號(hào)引腳包括CLKl 8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器中的串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入，被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試時(shí)鐘輸入，8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器中的串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入； TMS 被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試模式控制信號(hào)輸入； TRST 被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試邏輯復(fù)位信號(hào)輸入； TDI 帶奇校驗(yàn)位的測(cè)試數(shù)據(jù)輸入； TDO 帶奇校驗(yàn)位的測(cè)試數(shù)據(jù)輸出；SELl :8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器中的兩輸出多路輸出器選擇信號(hào)輸入； FB 8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器檢錯(cuò)反饋信號(hào)輸出； SEL2 8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器中的兩輸入多路選擇器選擇信號(hào)輸入； CLK2 8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器中的奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器控制時(shí)鐘輸入； 連接8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器、8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器和被測(cè)邊界掃描器件的測(cè)試信號(hào)引腳到邊界掃描測(cè)試接口的相應(yīng)測(cè)試信號(hào)引腳；.6 )建立計(jì)算機(jī)并口弓I腳指針和邊界掃描測(cè)試信號(hào)的對(duì)應(yīng)關(guān)系，并連接計(jì)算并口弓I腳指針到邊界掃描測(cè)試接口的相應(yīng)測(cè)試信號(hào)引腳；.7)通過(guò)計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)生帶奇校驗(yàn)位的測(cè)試矢量；8)通過(guò)計(jì)算機(jī)程序在計(jì)算機(jī)并口上產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)并加載到被測(cè)電路板，接受測(cè)試響應(yīng)，并對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析，具體測(cè)試步驟如下(1)通過(guò)計(jì)算機(jī)并口控制被測(cè)邊界掃描器件測(cè)試模式控制信號(hào)TMS輸出值設(shè)置被測(cè)邊界掃描器件工作在正確的工作模式；(2)伴隨8個(gè)串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘CLKl上升沿，通過(guò)計(jì)算機(jī)并口將8個(gè)數(shù)據(jù)位加載到數(shù)據(jù)線TDI，每一個(gè)CLKl上升沿加載1個(gè)數(shù)據(jù)位到數(shù)據(jù)線TDI ；(3)通過(guò)計(jì)算機(jī)并口設(shè)置8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器中的兩輸出多路輸出器選擇信號(hào) SELl=O,將上述8個(gè)數(shù)據(jù)位的奇校驗(yàn)位加載到數(shù)據(jù)線TDI ；(4)通過(guò)計(jì)算機(jī)并口讀取8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器檢錯(cuò)反饋信號(hào)FB；(5)根據(jù)8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器檢錯(cuò)反饋信號(hào)FB的值判斷數(shù)據(jù)傳輸是否出錯(cuò)，如果出錯(cuò)， 則測(cè)試終止，否則，重復(fù)步驟(2) 步驟(5)直到所有測(cè)試矢量發(fā)送、測(cè)試完畢；(6)假定從計(jì)算機(jī)并口加載第一個(gè)測(cè)試矢量數(shù)據(jù)位到被測(cè)邊界掃描器件產(chǎn)生第一個(gè)輸出數(shù)據(jù)需要η個(gè)串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入CLKl周期，則(η+8)個(gè)CLKl上升沿之后， 通過(guò)計(jì)算機(jī)并口設(shè)置8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器中的兩輸入多路選擇器選擇信號(hào)輸入SEL2=0，產(chǎn)生一個(gè)奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器控制時(shí)鐘CLK2上升沿；(7)伴隨8個(gè)串行移位寄存器鏈控制時(shí)鐘輸入CLKl上升沿，通過(guò)計(jì)算機(jī)并口讀取數(shù)據(jù)線TD0，讀取8個(gè)數(shù)據(jù)位，每一個(gè)CLKl上升沿在數(shù)據(jù)線TDO上讀取1個(gè)數(shù)據(jù)位；(8)通過(guò)計(jì)算機(jī)并口設(shè)置8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器中的兩輸入多路選擇器選擇信號(hào) SEL2=0，產(chǎn)生一個(gè)奇校驗(yàn)位緩存D觸發(fā)器控制時(shí)鐘CLK2上升沿，通過(guò)計(jì)算機(jī)并口讀取數(shù)據(jù)線TD0，此時(shí)讀取數(shù)據(jù)為上述8個(gè)數(shù)據(jù)位的奇校驗(yàn)位；(9)通過(guò)計(jì)算機(jī)程序?qū)ψx取到的8個(gè)數(shù)據(jù)位和該8個(gè)數(shù)據(jù)位的奇校驗(yàn)位進(jìn)行奇校驗(yàn)，判斷數(shù)據(jù)傳輸是否出錯(cuò)，如果出錯(cuò)，則測(cè)試終止，否則，重復(fù)步驟(7) 步驟(9)直到所有測(cè)試矢量發(fā)送、測(cè)試完畢。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種具有檢錯(cuò)功能的邊界掃描測(cè)試方法。在8位奇校驗(yàn)碼校驗(yàn)器上增加一個(gè)兩輸出多路輸出器和一條串行移位寄存器鏈；在8位奇校驗(yàn)碼產(chǎn)生器上增加一個(gè)兩輸入多路選擇器、一條串行移位寄存器鏈和兩個(gè)用于緩存奇校驗(yàn)位輸出的D觸發(fā)器；通過(guò)擴(kuò)展邊界掃描測(cè)試接口建立計(jì)算機(jī)并口引腳指針和測(cè)試信號(hào)引腳的連接關(guān)系；通過(guò)計(jì)算機(jī)程序在計(jì)算機(jī)并口上產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)，接受測(cè)試響應(yīng)，并對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析。本發(fā)明通過(guò)計(jì)算機(jī)并口實(shí)現(xiàn)邊界掃描測(cè)試，不需要專門的邊界掃描測(cè)試控制器，使得實(shí)現(xiàn)成本極低，實(shí)現(xiàn)和應(yīng)用都非常簡(jiǎn)單；通過(guò)插入奇校驗(yàn)單元的方法檢測(cè)數(shù)據(jù)傳輸過(guò)程中可能發(fā)生的錯(cuò)誤，提高了邊界掃描測(cè)試的正確性和穩(wěn)定性。
文檔編號(hào)G01R31/3185GK102183727SQ20111014583
公開日2011年9月14日 申請(qǐng)日期2011年6月1日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月1日
發(fā)明者代鴻文, 沈海斌 申請(qǐng)人:浙江大學(xué)