專利名稱：一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于冶金分析檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法。
背景技術(shù)：
直讀光譜分析由于其方便、迅速、準(zhǔn)確、分析范圍寬等諸多特點(diǎn)，在鋼鐵生產(chǎn)檢驗(yàn)上得到廣泛應(yīng)用。然而，直讀光譜分析對(duì)試樣的形狀有一定要求。由于直讀光譜儀激發(fā)孔直徑為 12 16mm，對(duì)于直徑小于12mm的小試樣成分分析是個(gè)非常棘手的問題。這類小截面金屬試樣大部分細(xì)小不規(guī)則，表面生繡、污濁、較難磨樣或磨樣時(shí)不易把握角度，通常會(huì)使磨面傾斜，導(dǎo)致分析準(zhǔn)確度降低。特別是試樣小在使用直讀光譜儀分析時(shí)分析面不能密封激發(fā)孔使得火花臺(tái)面嚴(yán)重漏氣，達(dá)不到儀器正常分析要求，分析結(jié)果偏差大。如使用便攜式光譜分析，其分析精度有限，某些重要元素如碳含量等不能分析，樣品表面生銹、污濁不便磨制，亦使分析偏差極大；如使用化學(xué)分析，元素逐個(gè)分析周期長(zhǎng)、繁瑣，不能及時(shí)提供數(shù)據(jù)，而且化學(xué)分析取樣也困難，不適合煉鋼在線生產(chǎn)過程中適時(shí)分析控制。目前，對(duì)于小截面金屬試樣的直讀光譜分析一般借助小夾具，但大多數(shù)直讀光譜儀隨機(jī)附贈(zèng)的小試樣夾具與試樣相匹配的程度低，如要購買或自制成本較高，即使相匹配，還需保證小截面金屬試樣位于夾具中心，否則所測(cè)結(jié)果精度較低，較難控制。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，該方法解決了小截面金屬試樣磨樣不方便及分析時(shí)火花臺(tái)漏氣等問題，無需使用小夾具，具有操作簡(jiǎn)單，快速及精準(zhǔn)的優(yōu)點(diǎn)。本發(fā)明的上述技術(shù)目的是通過以下技術(shù)方案得以實(shí)現(xiàn)的一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，包括以下步驟
(1)鑲嵌將小截面金屬試樣制成平板狀，然后把平板狀試樣放入金相試樣鑲嵌機(jī)，加入鑲嵌料進(jìn)行鑲嵌；
(2)磨制上述鑲嵌好的試樣取出冷卻至不燙手后，用光譜磨樣機(jī)對(duì)鑲嵌好的試樣的金屬外露面進(jìn)行磨制；
(3)分析將上述磨制好的試樣的金屬外露面對(duì)準(zhǔn)火花臺(tái)上的電極，使用一導(dǎo)電棒將激發(fā)升降控制裝置與火花臺(tái)連通，使試樣處于激發(fā)狀態(tài)，按常規(guī)大截面試樣分析條件進(jìn)行分析。本發(fā)明上述技術(shù)方案中的鑲嵌步驟，通過簡(jiǎn)單的敲打等方式將小截面金屬試樣做成平板狀，通過鑲嵌使得小截面試樣成為一圓柱體，其一端面中心部位為金屬試樣，外圍為熱固性塑料。鑲嵌后的試樣其截面變大，厚度變高，易于后續(xù)的磨制和分析步驟。所述磨制步驟是對(duì)鑲嵌好的試樣的金屬外露面進(jìn)行光譜磨樣機(jī)磨制，以除去表面污濁，確保金屬面平整光滑、無氧化物。磨制后的試樣還需采用有機(jī)溶劑進(jìn)行超聲波清洗， 以除去試樣金屬外露面可能會(huì)殘留的鑲嵌料。作為本發(fā)明的優(yōu)選，所述有機(jī)溶劑為乙醇、丙酮中的一種或兩種。一般直讀光譜儀激發(fā)孔直徑為12 16mm，直讀光譜儀型號(hào)不同其相應(yīng)的激發(fā)孔不同，本發(fā)明所述的小截面金屬試樣的最大截面直徑小于直讀光譜激發(fā)孔的直徑。相應(yīng)地，常規(guī)大截面試樣為截面直徑大于直讀光譜激發(fā)孔直徑的試樣。作為本發(fā)明的優(yōu)選，所述鑲嵌步驟中平板狀試樣直徑為15mnT20mm，不僅便于放入金相試樣鑲嵌機(jī)腔體，節(jié)省鑲嵌料，而且有利于后續(xù)磨制及光譜精確分析。所述鑲嵌料為熱固性塑料，優(yōu)選膠木粉，因其對(duì)后續(xù)光譜分析的影響最小。所述分析步驟是將磨制好的試樣的金屬外露面對(duì)準(zhǔn)火花臺(tái)上的電極，因磨制好的試樣另一端面為熱固性塑料，不導(dǎo)電，因此為了保證磨制好的試樣處于激發(fā)狀態(tài)，需使用一導(dǎo)電棒將激發(fā)升降控制裝置與火花臺(tái)連通。所述導(dǎo)電棒上端靠在激發(fā)升降控制裝置上，下端與火花臺(tái)接觸。綜上所述，本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下突出優(yōu)點(diǎn)及有益效果
1、通過將小截面金屬試樣進(jìn)行熱固性鑲嵌，鑲嵌后的樣品易于磨拋操作，解決了小樣品在光譜磨樣機(jī)上不方便制樣的問題；
2、本發(fā)明鑲嵌好的試樣直徑大于激發(fā)孔的直徑，解決了小截面金屬試樣在直讀光譜分析時(shí)火花臺(tái)漏氣的問題；
3、本發(fā)明對(duì)小截面金屬試樣進(jìn)行分析無需使用小夾具，操作簡(jiǎn)單，短周期內(nèi)可快速精準(zhǔn)地分析出試樣中所有重要的元素。將標(biāo)準(zhǔn)鋼，鋼種為lCrl8M9Ti按常規(guī)大截面試樣直讀光譜分析其成分，再切成小截面試樣按本發(fā)明所述方法測(cè)定其成分，對(duì)照結(jié)果見表1。表1準(zhǔn)確度測(cè)試
權(quán)利要求
1.一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，包括以下步驟(1)鑲嵌將小截面金屬試樣制成平板狀，然后把平板狀試樣放入金相試樣鑲嵌機(jī)，加入鑲嵌料進(jìn)行鑲嵌；(2)磨制上述鑲嵌好的試樣取出冷卻至不燙手后，用光譜磨樣機(jī)對(duì)鑲嵌好的試樣的金屬外露面進(jìn)行磨制；(3)分析將上述磨制好的試樣的金屬外露面對(duì)準(zhǔn)火花臺(tái)上的電極，使用一導(dǎo)電棒將激發(fā)升降控制裝置與火花臺(tái)連通，使試樣處于激發(fā)狀態(tài)，按常規(guī)大截面試樣分析條件進(jìn)行分析。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，其特征在于所述試樣經(jīng)磨制步驟后還需用有機(jī)溶劑進(jìn)行超聲波清洗。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，其特征在于所述有機(jī)溶劑為乙醇、丙酮中的一種或兩種。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，其特征在于所述小截面金屬試樣的最大截面直徑小于直讀光譜激發(fā)孔的直徑。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，其特征在于所述鑲嵌步驟中平板狀試樣直徑為15mnT20mm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，其特征在于所述鑲嵌步驟中的鑲嵌料為熱固性塑料。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，其特征在于所述熱固性塑料為膠木粉。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-7任一所述的一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，其特征在于所述導(dǎo)電棒上端靠在激發(fā)升降控制裝置上，下端與火花臺(tái)接觸。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，屬于冶金分析檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。它包括以下三步鑲嵌、磨制、分析，通過對(duì)小截面金屬試樣進(jìn)行鑲嵌，鑲嵌后的試樣其截面變大，厚度變高，解決了小截面試樣磨樣不方便及分析時(shí)火花臺(tái)漏氣等問題。本發(fā)明無需使用小夾具，具有操作簡(jiǎn)單、快速、精準(zhǔn)的優(yōu)點(diǎn)，適宜在鋼鐵生產(chǎn)檢驗(yàn)中推廣。
文檔編號(hào)G01N21/66GK102359957SQ20111020070
公開日2012年2月22日 申請(qǐng)日期2011年7月18日 優(yōu)先權(quán)日2011年7月18日
發(fā)明者丁斌華, 馮惠偉, 吳明華, 孫健, 汪雯, 王建勇 申請(qǐng)人:永興特種不銹鋼股份有限公司