專利名稱：電流測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電流測試系統(tǒng)，尤其涉及一種中央處理器電源的電流測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
在對主板的CPU (Central Processing Unit,中央處理器)電源測試中，有一項(xiàng)為電流平衡的驗(yàn)證，即通過測試得到CPU電源輸出的各相電流的大小，之后，對各相電流值進(jìn)行一定的運(yùn)算得到一相差值，并根據(jù)該相差值與該CPU電源的數(shù)據(jù)手冊中的值進(jìn)行比較，從而可判斷該CPU電源是否符合要求?，F(xiàn)在對CPU電源的核心電壓進(jìn)行驗(yàn)證時(shí)，一般都是通過一電感連接于該CPU電源的輸出端，并通過一電阻與一電容串聯(lián)之后再并聯(lián)至該電感的兩端，之后通過一電壓表跨接至該電容的兩端來測量該電容兩端的電壓，并根據(jù)測量得到的電壓值與該電感的電感阻值來計(jì)算出該單相電流的大小。這種方式雖簡單，但由于使用電壓表測量得到的電壓值非常小，如此可能增大計(jì)算得到的單相電流值誤差，從而使得單相電源的電流測試不準(zhǔn)確，進(jìn)而影響到整個(gè)電流平衡的測試結(jié)果。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種可提高CPU電源的電流測試準(zhǔn)確度的電流測試系統(tǒng)。—種電流測試系統(tǒng)，用于對一 CPU電源進(jìn)行測試，該CPU電源輸出的各相電流值存儲(chǔ)于一電源控制模塊內(nèi)的寄存器中，該電流測試系統(tǒng)包括
一控制電路，包括一微處理器，該微處理器用于獲取存儲(chǔ)于該電源控制模塊中CPU電源輸出的各相電流值及對各相電流值運(yùn)算以得到相差值；以及
一顯示設(shè)備，該顯示設(shè)備與該微處理器相連，用于顯示控制電路得到的各相電流值及相差值。上述電流測試系統(tǒng)通過控制電路獲取該電源控制模塊中存儲(chǔ)的各相電流值，并將獲取得到電流的大小與計(jì)算得到的相差值的值通過該顯示設(shè)備顯示出來，如此提高了電流測試的準(zhǔn)確度。


圖I是本發(fā)明電流測試系統(tǒng)的較佳實(shí)施方式的電路圖。主要元件符號(hào)說明 _
顯示設(shè)備__
電源控制模塊 20 —
控制電路_30_
Wmm ~ 300
電源_P5V
甭阻—Rl
電容—C1-C4
晶振Ixi[I鍵開關(guān)Iswi
如下具體實(shí)施方式
將結(jié)合上述附圖進(jìn)一步說明本發(fā)明。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖及較佳實(shí)施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述
請參考圖1，本發(fā)明電流測試系統(tǒng)用于對一CPU電源進(jìn)行測試，該CPU電源輸出的各相電流值存儲(chǔ)于一電源控制模塊20內(nèi)的寄存器中，該電流測試系統(tǒng)的較佳實(shí)施方式包括一顯示設(shè)備10及一與該顯示設(shè)備10、電源控制模塊20均相連的控制電路30，該控制電路30用于獲取該電源控制模塊20所存儲(chǔ)的CPU電源輸出的各相電流值，并通過該顯示設(shè)備10將各相電流值顯示出來。
本實(shí)施方式中，該電源控制模塊20為一支持VR12平臺(tái)處理器的電源控制芯片。根據(jù)VR12平臺(tái)電源控制模塊的工作原理可知，該VR12平臺(tái)的CPU電源控制模塊20設(shè)有一SMBus (System Management Bus,系統(tǒng)管理總線)接口。因此,本發(fā)明中的該控制電路30可通過SMBus直接獲取該電源控制模塊20內(nèi)存儲(chǔ)的各相電流值。該控制電路30包括一微處理器300、一電阻R1、四個(gè)電容C1-C4、一晶振Xl及一按鍵開關(guān)SWl。該微處理器300的接腳VDD與一電源P5V相連。該電源P5V依次通過該電阻R1、電容Cl接地，還直接通過該電容C2接地。該微處理器300的接腳VPP連接于該電阻Rl與電容Cl之間的節(jié)點(diǎn)處，接腳OSCl與0SC2分別與該電容C3、C4以及晶振Xl組成的時(shí)鐘電路相連，接腳RCl與該按鍵開關(guān)SWl的一端相連，該按鍵開關(guān)SWl的另一端接地，該微處理器300的接腳VSS1、VSS2接地，接腳RB7、RB8與該電源控制模塊20的SMBus接口相連，該微處理器300的接腳RA1-RA5分別與顯示設(shè)備10的接腳CS、RST、A0、Al及A2相連，該微處理器300的接腳RAO及RCO分別與該顯示設(shè)備10的接腳SCK及SDA相連，接腳GND接地。工作時(shí)，合上該按鍵開關(guān)SWl，該微處理器300的接腳RCl接收到低電平，此時(shí)，該微處理器300經(jīng)由與其接腳RB7、RB8相連的電源控制模塊20通過SMBus接口直接尋址至用于存儲(chǔ)CPU電源各相電流大小的寄存器地址，之后，通過SMBus讀取各個(gè)寄存器地址中的值，并通過一定運(yùn)算計(jì)算出CPU電源的各相電流之間的相差值。例如CPU電源由四相輸出電源組成，該微處理器300獲得的四相電流大小分別為11，12，13，及14，其中Il最大，則其相差值=[Ι1-(Ι1+Ι2+Ι3+Ι4)/4]/[(Ι1+Ι2+Ι3+Ι4)/4]。之后，該微處理器300通過其接腳RA0-RA5與RCO將獲取得到的各相電流值與計(jì)算得到的相差值顯示在該顯示設(shè)備10上。上述電流測試系統(tǒng)通過控制電路30獲取該電源控制模塊20中存儲(chǔ)的各相電流值，并將獲取得到電流的大小與計(jì)算得到的相差值的值通過該顯示設(shè)備10顯示出來，如此避免了直接使用電壓表的測量而影響該CPU電源的電流測試的準(zhǔn)確度。
權(quán)利要求
1.一種電流測試系統(tǒng)，用于對一CPU電源進(jìn)行測試，該CPU電源輸出的各相電流值存儲(chǔ)于一電源控制模塊內(nèi)的寄存器中，該電流測試系統(tǒng)包括一控制電路，包括一微處理器，該微處理器用于獲取存儲(chǔ)于該電源控制模塊中CPU電源輸出的各相電流值及對各相電流值運(yùn)算以得到相差值；以及一顯示設(shè)備，該顯示設(shè)備與該微處理器相連，用于顯示控制電路得到的各相電流值及相差值。
2.如權(quán)利要求I所述的電流測試系統(tǒng)，其特征在于該控制電路還包括一按鍵開關(guān)，當(dāng)該按鍵開關(guān)按下時(shí)，該微處理器開始獲取該電源控制模塊中存儲(chǔ)的CPU電源輸出的各相電流值。
3.如權(quán)利要求I所述的電流測試系統(tǒng)，其特征在于該電流測試系統(tǒng)還包括一時(shí)鐘電路，該時(shí)鐘電路為該控制電路提供工作時(shí)鐘。
4.如權(quán)利要求I所述的電流測試系統(tǒng)，其特征在于該電路測試系統(tǒng)還包括一電阻、一第二電容及一第二電容，該第二電容的一端與一電源相連，另一端接地，該電容依次通過該第一電阻及第一電容接地，該微處理器與該第一電阻及第一電容之間的節(jié)點(diǎn)相連。
全文摘要
一種電流測試系統(tǒng)，用于對一CPU電源進(jìn)行測試，該CPU電源輸出的各相電流值存儲(chǔ)于一電源控制模塊內(nèi)的寄存器中，該電流測試系統(tǒng)包括一顯示設(shè)備及一均與該電源控制模塊與顯示設(shè)備相連的控制電路，該控制電路包括一微處理器，該微處理器用于獲取存儲(chǔ)于該電源控制模塊中CPU電源輸出的各相電流值及對各相電流值運(yùn)算以得到相差值，該顯示設(shè)備用于顯示控制電路得到的各相電流值及相差值。本發(fā)明電流測試系統(tǒng)通過控制電路獲取該電源控制模塊中存儲(chǔ)的各相電流值，并將獲取得到電流值與計(jì)算得到的相差值的值通過該顯示設(shè)備顯示出來，如此提高了電流測試的準(zhǔn)確度。
文檔編號(hào)G01R31/40GK102928642SQ20111022701
公開日2013年2月13日 申請日期2011年8月9日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月9日
發(fā)明者馮嵐毅, 付迎賓 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司