專利名稱：紫外傳感增強膜變頻效率的測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種紫外傳感增強膜變頻效率的測試方法。
背景技術(shù)：
變頻效率是衡量很多器件的重要參數(shù)，變頻效率或稱變頻效率QE(QUantUm Efficiency)，傳統(tǒng)的對變頻效率的測試方法，采用對每一個入射的光子所能產(chǎn)生和收集的電子數(shù)來計算，需要把經(jīng)過反射損失而不能透射到硅片的光子、光電轉(zhuǎn)化、電子和光子的傳輸效率的變化、轉(zhuǎn)化電流的效率等考慮進去。例如由電子科技集團44研究所提供的 512X512面陣CXD中電荷信號由AOpin輸出。CXD收集的電子注入到電荷放大器，經(jīng)該放大器讀出由光子產(chǎn)生的電流，輸出電壓引腳AOpin應當連接上-18V的電源以導走電流放大器的輸入門電路的電流。因此，通過測量流過輸出引腳AOpin的電流就可以計算出CCD由于光照收集到的電子數(shù)目。在輸出引腳AOpin和-18V之間接入IM歐的導通電阻，輸出電壓經(jīng)該電阻后產(chǎn)生衰減，測量流經(jīng)該電阻的電流或者電壓即可計算量子效率QE，為了方便計算，CCD設置為TDI模式，即CCD產(chǎn)生的電荷包通過恒定的傳輸頻率從一個線陣列轉(zhuǎn)移到下一個線陣列。同時，不能讓C⑶傳感器進入到飽和狀態(tài)，因為進入到飽和狀態(tài)產(chǎn)生的電荷包中就有電荷丟失，因為難以，從而使計算不準確。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明公開了一種紫外傳感增強膜變頻效率的測試方法，通過采用直接對功率進行測量的方式，省去了光電轉(zhuǎn)換這一環(huán)節(jié)，可以有效克服現(xiàn)有技術(shù)對紫外增強膜變頻效率測試方法測量精度不高的弊端，本發(fā)明技術(shù)方案基于對準確性、操作性、穩(wěn)定性等方面進行綜合性技術(shù)考慮，所采用的測試方法，不僅大大減小了誤差，有效提高了測量的準確性，而且操作方便，穩(wěn)定性強。
一種紫外傳感增強膜變頻效率的測試方法其特點是
A)變頻效率是反映熒光粉或熒光粉薄膜發(fā)光效率的一個物理量，在對紫外變頻方面而言變頻效率定義為薄膜表面發(fā)生波長轉(zhuǎn)換的紫外光子數(shù)與入射到薄膜的紫外光子數(shù)之比，也可以定義為光能量或光功率之比，此處定義為紫外光子數(shù)之比
CE=ph0t0m^(OPhotonsmadent
CE表示為變頻效率，Photonsefflitted表示入射到薄膜表面的紫外光子數(shù)， Photonsincident表示薄膜表面發(fā)射出的可見光子數(shù)；ρ x ；
B)由公式=、 F(2)計算出薄膜表面入射紫外he修正光子數(shù)Photonsincddent，其中Pin為光功率計示數(shù)，λ皿為紫外光波長，h為普朗克常量， c為光速；
C)但是對于出射光子數(shù)，由于受激發(fā)射的光子具有各向同性特性，即發(fā)射光并不循著入射光的方向，而只是部分地進入光功率計，所以在計算薄膜表面發(fā)射出的可見光子數(shù)時，需要考慮未被光功率計測量到的那部分光子數(shù)，有很多未探測到的光子，故引入立體角修正因子 correction ，_o]
權(quán)利要求
1. 一種紫外傳感增強膜變頻效率的測試方法，其特征在于A)首先計算變頻效率CE變頻效率是反映熒光粉或熒光粉薄膜發(fā)光效率的一個物理量，定義為薄膜表面發(fā)生波長轉(zhuǎn)換的紫外光子數(shù)與入射到薄膜的紫外光子數(shù)之比 CE _
全文摘要
一種紫外傳感增強膜變頻效率的測試方法，A)變頻效率定義為薄膜表面發(fā)生波長轉(zhuǎn)換的紫外光子數(shù)與入射到薄膜的紫外光子數(shù)之比B)計算薄膜表面入射紫外修正光子數(shù)C)計算出立體角修正數(shù)SA＝2πr(1-cosθ)；D)計算出樣品表面發(fā)生波長轉(zhuǎn)換的紫外光子E)將Photonsemitted和Photonsincident代入公式(1)求得變頻效率CE。本發(fā)明通過采用直接對功率進行測量的方式，省去了光電轉(zhuǎn)換這一環(huán)節(jié)，有效的克服現(xiàn)有技術(shù)對紫外增強膜變頻效率測試方法測量精度不高的弊端，本發(fā)明技術(shù)方案基于對準確性、操作性、穩(wěn)定性等方面進行綜合性技術(shù)考慮，所采用的測試方法，不僅大大減小了誤差，有效提高了測量的準確性，而且操作方便，穩(wěn)定性強。
文檔編號G01M11/02GK102507144SQ20111029796
公開日2012年6月20日 申請日期2011年9月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月30日
發(fā)明者倪爭技, 姜霖, 莊松林, 張大偉, 陶春先, 黃元申 申請人:上海理工大學