專利名稱：測試針座的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種應(yīng)用于電子電路測試領(lǐng)域的測試針座。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)中，在對PCB板進(jìn)行測試時，PCB板上的測試點直接接觸測試設(shè)備的測試管腳，這就會導(dǎo)致PCB板上與測試設(shè)備相接觸的金手指部位磨損較為嚴(yán)重，使測試性能不穩(wěn)定，且成本較高。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的是提供一種避免PCB板的測試點磨損并提高測試穩(wěn)定性的測試針座。為達(dá)到上述目的，本實用新型采用的技術(shù)方案是一種測試針座，安裝于PCB板上，對PCB板進(jìn)行測試時，用以連接所述的PCB板與測試設(shè)備，所述的測試針座包括至少一根測試探針、安裝座，所述的測試探針安裝于所述的安裝座上。優(yōu)選的，所述的測試針座包括18根所述的測試探針。優(yōu)選的，所述的安裝座上開設(shè)有螺釘孔。優(yōu)選的，所述的安裝座上開設(shè)有兩個所述的螺釘孔。該測試針座在使用時，首先將測試針座上的測試探針焊接在PCB板上的待測點的位置，并通過與所述的安裝座上的螺釘孔相匹配的螺釘固定在所述的PCB板上。由于上述技術(shù)方案運(yùn)用，本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有下列優(yōu)點由于本實用新型采用測試探針接觸測試設(shè)備的測試管腳，避免了 PCB板上的金手指的磨損，延長了 PCB 板的使用壽命，同時，由于測試探針與設(shè)備的接觸性能較好，提高了測試的穩(wěn)定性，節(jié)約成本。

附圖1為本實用新型使用時的主視圖。附圖2為本實用新型使用時的俯視圖。附圖3為本實用新型使用時的右視圖。以上附圖中1、PCB板；2、測試探針；3、安裝座；4、螺釘孔。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖所示的實施例對本實用新型作進(jìn)一步描述。實施例一參見附圖1至附圖3所示。一種測試針座，安裝于PCB板1上，對PCB板1進(jìn)行測試時，用以連接PCB板1與測試設(shè)備。測試針座包括至少一根測試探針2、安裝座3，例如包括18根測試探針2。測試探針2安裝于安裝座3上。安裝座3上開設(shè)有兩個螺釘孔4。當(dāng)使用時，首先將測試針座上的測試探針2焊接在PCB板1上的待測點的位置， 并通過與安裝座3上的螺釘孔4相匹配的螺釘固定在PCB板1上。這樣，在對PCB板1進(jìn)行測試時，就可將測試探針2與測試設(shè)備的測試管腳相接觸，提高了測試的穩(wěn)定性，避免了 PCB板1的磨損。上述實施例只為說明本實用新型的技術(shù)構(gòu)思及特點，其目的在于讓熟悉此項技術(shù)的人士能夠了解本實用新型的內(nèi)容并據(jù)以實施，并不能以此限制本實用新型的保護(hù)范圍。 凡根據(jù)本實用新型精神實質(zhì)所作的等效變化或修飾，都應(yīng)涵蓋在本實用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種測試針座，安裝于PCB板上，對PCB板進(jìn)行測試時，用以連接所述的PCB板與測試設(shè)備，其特征在于所述的測試針座包括至少一根測試探針、安裝座，所述的測試探針安裝于所述的安裝座上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試針座，其特征在于所述的測試針座包括18根所述的測試探針。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試針座，其特征在于所述的安裝座上開設(shè)有螺釘孔。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試針座，其特征在于所述的安裝座上開設(shè)有兩個所述的螺釘孔。
專利摘要本實用新型涉及一種測試針座，安裝于PCB板上，對PCB板進(jìn)行測試時，用以連接PCB板與測試設(shè)備，測試針座包括至少一根測試探針、安裝座，測試探針安裝于安裝座上。由于本實用新型采用測試探針接觸測試設(shè)備的測試管腳，避免了PCB板上的金手指的磨損，延長了PCB板的使用壽命，同時，由于測試探針與設(shè)備的接觸性能較好，提高了測試的穩(wěn)定性，節(jié)約成本。
文檔編號G01R1/067GK201955362SQ20112006209
公開日2011年8月31日 申請日期2011年3月11日 優(yōu)先權(quán)日2011年3月11日
發(fā)明者趙銘 申請人:蘇州市歐康諾電子科技有限公司