絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)、絕緣狀態(tài)檢測方法及螢光顯微鏡系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明為一種絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)、絕緣狀態(tài)檢測方法及螢光顯微鏡系統(tǒng)。該絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)用以檢測待測裝置內(nèi)部的第一絕緣層及第二絕緣層的絕緣狀態(tài)。絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)包括控制模塊及檢測回路?？刂颇K具有電壓輸出端及電壓檢測端。檢測回路電性連接于電壓輸出端、電壓檢測端及待測裝置，控制模塊由電壓輸出端輸出測試電壓訊號以經(jīng)由檢測回路傳輸至待測裝置，并自電壓檢測端接收回傳電壓訊號；其中控制模塊判斷回傳電壓訊號的電壓值是否與測試電壓訊號的電壓值相同；若是，則控制模塊判斷第一絕緣層及第二絕緣層的狀態(tài)正常。
【專利說明】絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)、絕緣狀態(tài)檢測方法及螢光顯微鏡系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)、絕緣狀態(tài)檢測的方法及其螢光顯微鏡系統(tǒng)，特別是涉及一種僅利用內(nèi)部電路即可達到檢測絕緣狀態(tài)的絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)、絕緣狀態(tài)檢測的方法及其螢光顯微鏡系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著科技的進步，現(xiàn)今已經(jīng)發(fā)展出一種螢光顯微鏡系統(tǒng)中，其利用高功率及高亮度的發(fā)光二極管來做為螢光光源，以便能更清楚地觀察到待測物質(zhì)。但若使用高功率的發(fā)光二極管元件必定會產(chǎn)生高溫。例如以LUMINUS DEVICE?公司生產(chǎn)的編號CBT-90-G綠光發(fā)光二極管元件為例，其功率消耗約為75瓦，所以發(fā)光二極管元件運作時會產(chǎn)生高溫，必需搭配散熱模塊才能將其溫度降到產(chǎn)品許可的操作溫度，以避免發(fā)光二極管元件損壞。且因為發(fā)光二極管元件本體是接電源的正極，而非負(fù)極，加上散熱模塊都是具有導(dǎo)電性的元件，如銅片、鋁等導(dǎo)電金屬，所以當(dāng)發(fā)光二極管元件和散熱模塊結(jié)合時，需要加上絕緣層來隔絕，例如利用聚脂薄膜制成的絕緣片。在現(xiàn)有技術(shù)中利用絕緣層讓發(fā)光二極管元件正極和散熱模塊上的銅片絕緣，再利用另一絕緣層將散熱模塊與基座絕緣，以達到絕緣的效果O
[0003]但在現(xiàn)有技術(shù)中，當(dāng)絕緣層失效時，會伴隨系統(tǒng)電源短路或漏電的問題，讓整個電子電路系統(tǒng)失效。如果能事先檢測出絕緣片的失效，就能預(yù)先關(guān)閉發(fā)光二極管元件電源防止短路及漏電，并送出異常訊息以告知使用者。在現(xiàn)有技術(shù)中為了防止絕緣層失效的問題，一般是事先利用簡單的數(shù)字三用電表來進行測量。但螢光顯微鏡系統(tǒng)等機電系統(tǒng)中多為是為封閉系統(tǒng)，且空間上多無法放置數(shù)字三用電表，而必須要拆除整個結(jié)構(gòu)才能進行測量，對檢測人員來說會造成極大的不便。
[0004]因此，有必要發(fā)明一種新的絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)、絕緣狀態(tài)檢測的方法及其螢光顯微鏡系統(tǒng)，以解決現(xiàn)有技術(shù)的缺失。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的主要目的是提供一種絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)，其具有僅利用內(nèi)部電路即可達到檢測絕緣狀態(tài)的效果。
[0006]本發(fā)明的另一主要目的是提供一種用于上述絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)的絕緣狀態(tài)檢測的方法。
[0007]本發(fā)明的又一主要目的是提供一種具有上述絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)的其螢光顯微鏡系統(tǒng)。
[0008]為實現(xiàn)上述的目的，本發(fā)明的絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)用以檢測待測裝置內(nèi)部的絕緣狀態(tài)。待測裝置包括發(fā)光二極管元件、散熱模塊及金屬基座。發(fā)光二極管元件及散熱模塊之間具有第一絕緣層，散熱模塊及金屬基座之間具有第二絕緣層。絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)包括控制模塊及檢測回路?？刂颇K具有電壓輸出端及電壓檢測端。檢測回路電性連接于電壓輸出端、電壓檢測端及散熱模塊，控制模塊由電壓輸出端輸出測試電壓訊號以經(jīng)由檢測回路傳輸至散熱模塊，并自電壓檢測端接收回傳電壓訊號；其中控制模塊判斷回傳電壓訊號的電壓值是否與測試電壓訊號的電壓值相同；若是，則控制模塊判斷第一絕緣層及第二絕緣層的狀態(tài)正常。
[0009]本發(fā)明的絕緣狀態(tài)檢測的方法包括以下步驟:自電壓輸出端以經(jīng)由檢測回路傳輸測試電壓訊號至散熱模塊；自散熱模塊接收回傳電壓訊號；判斷回傳電壓訊號的電壓值是否與測試電壓訊號的電壓值相同；以及若是，則判斷第一絕緣層及第二絕緣層的狀態(tài)正常。
[0010]本發(fā)明的螢光顯微鏡系統(tǒng)，包括螢光發(fā)光裝置及絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)。螢光發(fā)光裝置包括發(fā)光二極管元件、散熱模塊、金屬基座、第一絕緣層及第二絕緣層。發(fā)光二極管元件用以發(fā)出螢光光源訊號。散熱模塊用以讓發(fā)光二極管元件散熱。金屬基座用以支撐散熱模塊。第一絕緣層設(shè)置于發(fā)光二極管元件及散熱模塊之間。第二絕緣層設(shè)置于散熱模塊及金屬基座之間。絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)電性連接于螢光發(fā)光裝置。絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)包括控制模塊及檢測回路?？刂颇K具有電壓輸出端及電壓檢測端。檢測回路電性連接于電壓輸出端、電壓檢測端及散熱模塊，控制模塊由電壓輸出端輸出測試電壓訊號以經(jīng)由檢測回路傳輸至散熱模塊，并自電壓檢測端接收回傳電壓訊號；其中控制模塊判斷回傳電壓訊號的電壓值是否與測試電壓訊號的電壓值相同；若是，則控制模塊判斷第一絕緣層及第二絕緣層的狀態(tài)正常。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0011]圖1是本發(fā)明的螢光顯微鏡系統(tǒng)及其具有的絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)的架構(gòu)圖。
[0012]圖2A-2B是本發(fā)明的絕緣狀態(tài)檢測的方法的步驟流程圖。
[0013]附圖符號說明
[0014]螢光顯微鏡系統(tǒng)I
[0015]絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)10
[0016]控制模塊11
[0017]電壓輸出端111
[0018]電壓檢測端112
[0019]電源控制端113
[0020]檢測回路12
[0021]螢光發(fā)光裝置20
[0022]發(fā)光二極管元件21
[0023]散熱模塊22
[0024]金屬基座23
[0025]第一絕緣層24
[0026]第二絕緣層25
[0027]電源供應(yīng)模塊30
[0028]測試電壓訊號SI
[0029]回傳電壓訊號S2
[0030]電源控制訊號S3[0031]電源訊號P【具體實施方式】
[0032]為使本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉出本發(fā)明的具體實施例，并結(jié)合附圖詳細(xì)說明如下。
[0033]請先參考圖1，圖1是本發(fā)明的螢光顯微鏡系統(tǒng)及其具有的絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)的架構(gòu)圖。
[0034]本發(fā)明的絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)10用于檢測一待測裝置的絕緣狀態(tài)，以保護待測裝置內(nèi)部的負(fù)載元件，避免有漏電或是短路的情形發(fā)生。在本發(fā)明的一實施例中，此待測裝置為螢光顯微鏡系統(tǒng)I內(nèi)的螢光發(fā)光裝置20，而負(fù)載元件則為發(fā)光二極管元件21。因此以下的實施方式是以絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)10用于螢光顯微鏡系統(tǒng)I內(nèi)為例來進行說明，但本發(fā)明的絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)10并不限定僅能用于螢光顯微鏡系統(tǒng)I內(nèi)。
[0035]螢光顯微鏡系統(tǒng)I用以發(fā)出螢光以照射要觀察的物體(圖未示)，由于螢光顯微鏡系統(tǒng)I用于觀察物體的方式并非本發(fā)明所要改進的重點所在，故在此不再贅述。本發(fā)明的螢光顯微鏡系統(tǒng)I可包括絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)10、螢光發(fā)光裝置20及電源供應(yīng)模塊30。螢光發(fā)光裝置20包括發(fā)光二極管元件21、散熱模塊22、金屬基座23、第一絕緣層24與第二絕緣層25。發(fā)光二極管元件21用以發(fā)出螢光光源訊號，以供照射要觀察的物體。散熱模塊22為散熱片或風(fēng)扇等設(shè)備，并可由銅片或其他導(dǎo)熱良好的材質(zhì)所制成，得以讓發(fā)光二極管元件21可以散熱。金屬基座23則用以支撐發(fā)光二極管元件21及散熱模塊22，并且金屬基座23可以做為接地之用。而由于散熱模塊22及金屬基座23皆為金屬材質(zhì)，因此為了避免發(fā)光二極管元件21運作時受到散熱模塊22及金屬基座23的影響，螢光發(fā)光裝置20將第一絕緣層24設(shè)置于發(fā)光二極管元件21與散熱模塊22之間，第二絕緣層25則設(shè)置于散熱模塊22與金屬基座23之間。第一絕緣層24及第二絕緣層25皆可由聚酯薄膜所制成，但本發(fā)明并不限于此。因此在正常狀況下，第一絕緣層24及第二絕緣層25的絕緣特性可以保護發(fā)光二極管元件21，而不會有漏電或是短路的情形發(fā)生。
[0036]絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)10則用以檢測第一絕緣層24及第二絕緣層25是否能正常絕緣。絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)10包括控制模塊11與檢測回路12。控制模塊11可為一微控制單元，以用于螢光顯微鏡系統(tǒng)I內(nèi)，來控制螢光發(fā)光裝置20的操作，但本發(fā)明并不限于此?？刂颇K11可具有不同的接點，例如電壓輸出端111、電壓檢測端112與電源控制端113。電壓輸出端111及電壓檢測端112與檢測回路12電性連接，且檢測回路12同時連接至散熱模塊22?？刂颇K11可先設(shè)定電壓輸出端111為高電位，因此電壓輸出端111輸出一測試電壓訊號SI，以經(jīng)由檢測回路12傳輸?shù)缴崮K22，再回傳一回傳電壓訊號S2至電壓檢測端112。測試電壓訊號SI具有一電壓值,于本發(fā)明的一實施例中，測試電壓訊號SI的電壓值為3.3伏特，但本發(fā)明并不限于此。
[0037]所以當(dāng)電壓檢測端112接收回傳的回傳電壓訊號S2時，控制模塊11判斷回傳電壓訊號S2的電壓值是否與測試電壓訊號SI的電壓值相同，也就是判斷回傳電壓訊號S2的電壓值是否為3.3伏特。由于散熱模塊22是由銅或其他導(dǎo)熱性佳的材質(zhì)所制成，且散熱模塊22的上下具有第一絕緣層24及第二絕緣層25，因此當(dāng)?shù)谝唤^緣層24及第二絕緣層25的絕緣狀態(tài)正常時，訊號流通散熱模塊22應(yīng)不會有電壓降。所以若回傳電壓訊號S2的電壓值為測試電壓訊號SI的電壓值時，也就是回傳電壓訊號S2的電壓值等于3.3伏特時，控制模塊11判斷第一絕緣層24及第二絕緣層25的狀態(tài)正常。
[0038]另一方面，若控制模塊11檢測得知回傳電壓訊號S2的電壓值為零，此時不論第一絕緣層24是否正常，則必定代表第二絕緣層25有異常狀態(tài)，所以會導(dǎo)致散熱模塊22與金屬基座23導(dǎo)通接地。另外，若是控制模塊11檢測得知回傳電壓訊號S2的電壓值介于測試電壓訊號SI的電壓值與零之間，也就是回傳電壓訊號S2的電壓值小于3.3伏特但大于O伏特，則代表第一絕緣層24有異常，所以回傳電壓訊號S2會因為發(fā)光二極管元件21而有電壓降產(chǎn)生。
[0039]另外，本發(fā)明還可具有電源供應(yīng)模塊30，用以傳輸電源訊號P至發(fā)光二極管元件
21。電源供應(yīng)模塊30可以設(shè)置于螢光顯微鏡系統(tǒng)I的內(nèi)部或外部，本發(fā)明并不限定電源供應(yīng)模塊30的設(shè)置方式?？刂颇K11的電源控制端113與電源供應(yīng)模塊30電性連接，藉此控制電源供應(yīng)模塊30。因此當(dāng)控制模塊11確定第一絕緣層24及第二絕緣層25的狀態(tài)正常時，控制模塊11可以利用電源控制端113產(chǎn)生一電源控制訊號S3至電源供應(yīng)模塊30，來控制電源供應(yīng)模塊30傳輸電源訊號P至發(fā)光二極管元件21，來供應(yīng)發(fā)光二極管元件21所需的電源，讓發(fā)光二極管元件21正常發(fā)光。
[0040]接著請參考圖2A-2B本發(fā)明的絕緣狀態(tài)檢測的方法的步驟流程圖。此處需注意的是，以下雖以具有絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)10的螢光顯微鏡系統(tǒng)I為例說明本發(fā)明的絕緣狀態(tài)檢測的方法，但本發(fā)明的絕緣狀態(tài)檢測的方法并不以使用在上述的絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)10或螢光顯微鏡系統(tǒng)I為限。
[0041]首先進行步驟201:自一電壓輸出端以經(jīng)由一檢測回路傳輸一測試電壓訊號至該散熱模塊。
[0042]首先，當(dāng)螢光顯微鏡系統(tǒng)I啟動時，控制模塊11會進行初始化設(shè)定，在此同時控制模塊11檢測第一絕緣層24及第二絕緣層25的狀態(tài)是否正常。因此控制模塊11先控制電壓輸出端111為高電位，以利用電壓輸出端111輸出電壓值為3.3伏特的測試電壓訊號SI。測試電壓訊號SI就會經(jīng)由檢測回路12以傳輸?shù)缴崮K22。
[0043]其次進行步驟202:自該散熱模塊接收一回傳電壓訊號。
[0044]其次控制模塊11的電壓檢測端112同樣經(jīng)由檢測回路12，以接收從散熱模塊22回傳回來的回傳電壓訊號S2。
[0045]接著進行步驟203:判斷該回傳電壓訊號的電壓值是否與該測試電壓訊號的電壓值相同。
[0046]接著控制模塊11判斷電壓檢測端112接收的回傳電壓訊號S2的電壓值是否為
3.3伏特，也就是判斷回傳電壓訊號S2的電壓值是否等于測試電壓訊號SI的電壓值，藉此得知經(jīng)由檢測回路12會產(chǎn)生的壓降為何。
[0047]若回傳電壓訊號S2的電壓值等于測試電壓訊號SI的電壓值，則進行步驟204:判斷該第一絕緣層及該第二絕緣層的狀態(tài)正常。
[0048]由于在正常的絕緣狀態(tài)下，檢測回路12經(jīng)過散熱模塊22時不會有壓降產(chǎn)生。因此當(dāng)回傳電壓訊號S2的電壓值等于測試電壓訊號SI的電壓值時，控制模塊11可判斷出第一絕緣層24及第二絕緣層25的狀態(tài)皆為正常，都可具有絕緣的作用。
[0049]因此即進行步驟205:傳輸一電源訊號至該發(fā)光元件。[0050]由于確定第一絕緣層24及第二絕緣層25的絕緣狀態(tài)正常，此時控制模塊11經(jīng)由電源控制端113以產(chǎn)生電源控制訊號S3至電源供應(yīng)模塊30，控制電源供應(yīng)模塊30開始傳輸電源訊號P至發(fā)光二極管元件21，來供應(yīng)發(fā)光二極管元件21所需的電源。
[0051]若于步驟203中，控制模塊11判斷回傳電壓訊號S2的電壓值不等于測試電壓訊號SI的電壓值，則控制模塊11進一步進行步驟206:判斷該回傳電壓訊號的電壓值是否等于零。
[0052]此時控制模塊11進一步判斷回傳電壓訊號S2的電壓值是否等于零，來確定是第一絕緣層24還是第二絕緣層25的狀態(tài)異常。
[0053]若回傳電壓訊號S2的電壓值等于零，則進行步驟207:判斷該第二絕緣層的狀態(tài)異常。
[0054]當(dāng)回傳電壓訊號S2的電壓值等于零時，則代表第二絕緣層25的狀態(tài)異常，所以才會導(dǎo)致檢測回路12直接連接到金屬基座23而接地。在此情形下，亦有可能為第一絕緣層24及第二絕緣層25皆為異常。
[0055]最后若回傳電壓訊號S2的電壓值不等于零，則進行步驟208:判斷該第一絕緣層的狀態(tài)異常。
[0056]若回傳電壓訊號S2的電壓值不等于零，且又不等于測試電壓訊號SI的電壓值時，則必定位于電壓訊號SI的電壓值與零之間。因此即代表第一絕緣層24的狀態(tài)異常，才會導(dǎo)致檢測回路12會連接至發(fā)光二極管元件21，因為發(fā)光二極管元件21的內(nèi)阻而產(chǎn)生壓降。
[0057]在步驟207及步驟208后，控制模塊11亦可發(fā)出警示訊息以告知使用者螢光顯微鏡系統(tǒng)I的狀態(tài)異常。
[0058]此處需注意的是，本發(fā)明的絕緣狀態(tài)檢測的方法并不以上述的步驟次序為限，只要能實現(xiàn)本發(fā)明的目的，上述的步驟次序亦可加以改變。
[0059]藉由上述的結(jié)構(gòu)及方法，即可利用螢光顯微鏡系統(tǒng)I本身內(nèi)部的控制模塊11方便地達到檢測是否有正常絕緣狀態(tài)的目的，而不須大幅度地改變電路架構(gòu)，或是利用外接數(shù)字三用電表等方式來測量是否正常絕緣。
[0060]綜上所陳，本發(fā)明無論就目的、手段及功效，均顯示其迥異于現(xiàn)有技術(shù)的特征。應(yīng)注意的是，上述諸多實施例僅是為了便于說明而舉例而已，本發(fā)明所主張的權(quán)利范圍應(yīng)以本發(fā)明的權(quán)利要求所述為準(zhǔn)，而非僅限于上述實施例。
【權(quán)利要求】
1.一種絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)，用以檢測一待測裝置內(nèi)部的絕緣狀態(tài)，該待測裝置包括一發(fā)光二極管元件、一散熱模塊及一金屬基座，該發(fā)光二極管元件及該散熱模塊之間具有一第一絕緣層，該散熱模塊及該金屬基座之間具有一第二絕緣層；該絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)包括: 一控制模塊，具有一電壓輸出端及一電壓檢測端；以及 一檢測回路，電性連接于該電壓輸出端、該電壓檢測端及該散熱模塊，該控制模塊由該電壓輸出端輸出一測試電壓訊號以經(jīng)由該檢測回路傳輸至該散熱模塊，并自該電壓檢測端接收一回傳電壓訊號；其中該控制模塊判斷該回傳電壓訊號的電壓值是否與該測試電壓訊號的電壓值相同；若是，則該控制模塊判斷該第一絕緣層及該第二絕緣層的狀態(tài)正常。
2.如權(quán)利要求1所述的絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)，其中該控制模塊還包括一電源控制端，用以電性連接至一電源供應(yīng)模塊，該電源供應(yīng)模塊供應(yīng)一電源訊號至該發(fā)光二極管元件；其中若該控制模塊判斷該第一絕緣層及該第二絕緣層的狀態(tài)正常，則利用該電源控制端產(chǎn)生一電源控制訊號至該電源供應(yīng)模塊，以控制該電源供應(yīng)模塊傳輸該電源訊號至該發(fā)光二極管元件。
3.如權(quán)利要求1所述的絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)，其中若該回傳電壓訊號的電壓值介于該測試電壓訊號的電壓值與零之間，則該控制模塊判斷該第一絕緣層的狀態(tài)異常。
4.如權(quán)利要求1所述的絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)，其中若該回傳電壓訊號的電壓值等于零，則該控制模塊判斷該第二 絕緣層的狀態(tài)異常。
5.如權(quán)利要求1所述的絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)，其中該測試電壓訊號的電壓值為3.3伏特。
6.如權(quán)利要求1至5的任一權(quán)利要求所述的絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)，其中該絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)用于檢測一螢光發(fā)光裝置的絕緣狀態(tài)。
7.—種絕緣狀態(tài)檢測的方法，用于檢測一待測裝置的絕緣狀態(tài)，該待測裝置包括一發(fā)光二極管元件、一散熱模塊及一金屬基座，該發(fā)光二極管元件及該散熱模塊之間具有一第一絕緣層，該散熱模塊及該金屬基座之間具有一第二絕緣層；該方法包括以下步驟: 自一電壓輸出端以經(jīng)由一檢測回路傳輸一測試電壓訊號至該散熱模塊； 自該散熱模塊接收一回傳電壓訊號； 判斷該回傳電壓訊號的電壓值是否與該測試電壓訊號的電壓值相同；以及 若是，則判斷該第一絕緣層及該第二絕緣層的狀態(tài)正常。
8.如權(quán)利要求7所述的絕緣狀態(tài)檢測的方法，其中若該第一絕緣層及該第二絕緣層的狀態(tài)正常，則進一步執(zhí)行傳輸一電源訊號至該發(fā)光二極管元件的步驟。
9.如權(quán)利要求7所述的絕緣狀態(tài)檢測的方法，還包括以下步驟: 其中若該回傳電壓訊號的電壓值介于該測試電壓訊號的電壓值與零之間，判斷該第一絕緣層的狀態(tài)異常。
10.如權(quán)利要求7所述的絕緣狀態(tài)檢測的方法，還包括以下步驟:其中若該回傳電壓訊號的電壓值等于零，判斷該第二絕緣層的狀態(tài)異常。
11.一種螢光顯微鏡系統(tǒng),包括: 一螢光發(fā)光裝置，該螢光發(fā)光裝置包括: 一發(fā)光二極管兀件，用以發(fā)出一螢光光源訊號； 一散熱模塊，用以讓該發(fā)光二極管元件散熱；一金屬基座，用以支撐該散熱模塊； 一第一絕緣層,設(shè)置于該發(fā)光二極管兀件及該散熱模塊之間；以及 一第二絕緣層，設(shè)置于該散熱模塊及該金屬基座之間；以及 一絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)，電性連接于該螢光發(fā)光裝置，該絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)包括: 一控制模塊，具有一電壓輸出端及一電壓檢測端；以及 一檢測回路，電性連接于該電壓輸出端、該電壓檢測端及該散熱模塊，該控制模塊由該電壓輸出端輸出一測試電壓訊號以經(jīng)由該檢測回路傳輸至該散熱模塊，并自該電壓檢測端接收一回傳電壓訊號；其中該控制模塊判斷該回傳電壓訊號的電壓值是否與該測試電壓訊號的電壓值相同；若是，則該控制模塊判斷該第一絕緣層及該第二絕緣層的狀態(tài)正常。
12.如權(quán)利要求11所述的螢光顯微鏡系統(tǒng)，其中該控制模塊還包括一電源控制端，用以電性連接至一電源供應(yīng)模塊，該電源供應(yīng)模塊供應(yīng)一電源訊號至該發(fā)光二極管元件；其中若該控制模塊判斷該第一絕緣層及該第二絕緣層狀態(tài)正常，則利用該電源控制端產(chǎn)生一電源控制訊號至該電源供應(yīng)模塊，以控制該電源供應(yīng)模塊傳輸該電源訊號至該發(fā)光二極管元件。
13.如權(quán)利要求11所述的螢光顯微鏡系統(tǒng)，其中若該回傳電壓訊號的電壓值介于該測試電壓訊號的電壓值與零之間，則該控制模塊判斷該第一絕緣層的狀態(tài)異常。
14.如權(quán)利要求11所述的螢光顯微鏡系統(tǒng)，其中若該回傳電壓訊號的電壓值等于零，則該控制模塊判斷該第二絕緣層的狀態(tài)異常。
15.如權(quán)利要求11所述·的螢光顯微鏡系統(tǒng)，其中該測試電壓值為3.3伏特。
【文檔編號】G01R31/12GK103823161SQ201210518547
【公開日】2014年5月28日 申請日期:2012年12月5日 優(yōu)先權(quán)日:2012年11月19日
【發(fā)明者】李義政, 施文暉, 龔智詮 申請人:緯創(chuàng)資通股份有限公司