專利名稱：一種led光源模塊光電檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及光電測(cè)試設(shè)備制造技術(shù)領(lǐng)域，具體來說是一種LED光源模塊光電檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
目前，現(xiàn)有技術(shù)中的LED光源模塊多片連接的連片測(cè)試檢測(cè)工作還處于傳統(tǒng)的人工操作階段，對(duì)于插件LED燈珠和貼片LED燈珠的光學(xué)測(cè)試一般是采用單顆自動(dòng)測(cè)試的方式，由于LED光源趨向于COB模塊化方向發(fā)展，為了滿足自動(dòng)化、大批量生產(chǎn)，采用人工操作單塊測(cè)試的方式測(cè)試效率低下，測(cè)試準(zhǔn)確度不高，目前的測(cè)試方式難于適應(yīng)LED照明COB光源模塊大批量的測(cè)試工作，嚴(yán)重限制了 COB光源模塊的批量生產(chǎn)及廣泛應(yīng)用。因而設(shè)計(jì)一種結(jié)構(gòu)緊湊、構(gòu)思巧妙、可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化檢測(cè)、有效提高測(cè)試速度及準(zhǔn)確度的LED光源模塊
光電檢測(cè)裝置是本實(shí)用新型的構(gòu)思所在。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，提供一種結(jié)構(gòu)緊湊、構(gòu)思巧妙、可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化檢測(cè)、有效提高測(cè)試速度及準(zhǔn)確度的LED光源模塊光電檢測(cè)裝置。本實(shí)用新型可以通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型公開了一種LED光源模塊光電檢測(cè)裝置，該LED光源模塊光電檢測(cè)裝置包括座架，所述的座架上設(shè)有可作垂直運(yùn)動(dòng)軌跡用于光電檢測(cè)的光學(xué)積分球，所述在座架上的光學(xué)積分球下方位置設(shè)有用于輸送被檢測(cè)LED光源模塊連片的測(cè)試夾具，測(cè)試夾具設(shè)置于座架上所設(shè)有的滑動(dòng)導(dǎo)電軌上方，設(shè)有鏈條與滑動(dòng)導(dǎo)電軌相連接并由鏈條控制滑動(dòng)導(dǎo)電軌及測(cè)試夾具作水平運(yùn)動(dòng)軌跡至光學(xué)積分球下方的測(cè)試位置上，滑動(dòng)導(dǎo)電軌及光學(xué)積分球均與帶有光學(xué)分析儀的計(jì)算機(jī)相連接并在計(jì)算機(jī)控制下實(shí)現(xiàn)光電檢測(cè)工作。所述的座架上設(shè)有電機(jī)及減速電機(jī)與鏈條相連接實(shí)現(xiàn)為鏈條提供驅(qū)動(dòng)力。所述被測(cè)的LED光源模塊固定在輸送帶的測(cè)試夾具上并隨測(cè)試夾具移動(dòng)至下部開口光學(xué)積分球體下，積分球自動(dòng)罩住光源模塊連片，通過單片機(jī)(MCU)按一定程序給導(dǎo)電滑軌逐塊接通電源工作發(fā)光，當(dāng)一塊發(fā)光時(shí)，連片的其它光源模塊無電不工作、不發(fā)光，其供電系統(tǒng)按特定程序控制。所述的被測(cè)的LED光源模塊，進(jìn)入光學(xué)積分球(或稱暗室)以后光源模塊連片逐塊供電工作發(fā)光后，同步輸出相應(yīng)的光電參數(shù)信號(hào)至配套的計(jì)算機(jī)進(jìn)行計(jì)算，格式化，列表在顯示屏可進(jìn)行人工判別是否優(yōu)良、合格、不合格，或存貯于計(jì)算機(jī)內(nèi)，或輸出打印出紙質(zhì)檢測(cè)報(bào)告。本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比有如下優(yōu)點(diǎn)本實(shí)用新型在座架上設(shè)有用于光電檢測(cè)的光學(xué)積分球，光學(xué)積分球下方位置設(shè)有帶測(cè)試夾具的滑動(dòng)導(dǎo)電軌，設(shè)有鏈條與滑動(dòng)導(dǎo)電軌相連接并由鏈條控制滑動(dòng)導(dǎo)電軌及測(cè)試夾具作水平運(yùn)動(dòng)軌跡至光學(xué)積分球下方的測(cè)試位置上，控制滑動(dòng)導(dǎo)電軌按程序逐一向被測(cè)光源模塊供電及光學(xué)積分球均與逐一輸出被測(cè)光源模塊光電參數(shù)信號(hào)的MCU軟件程序至帶有光學(xué)分析儀的計(jì)算機(jī)相連接并在計(jì)算機(jī)控制下實(shí)現(xiàn)光電檢測(cè)工作，避免了人工測(cè)試手工操作的現(xiàn)象，有效提高了測(cè)試效率及準(zhǔn)確度，適合LED照明COB光源模塊大批量的測(cè)試工作，其結(jié)構(gòu)緊湊，構(gòu)思巧妙，機(jī)械化程度高，適合普遍推廣使用。

附圖I為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合說明書附圖來對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述如附圖I所示，本實(shí)施例公開了一種LED光源模塊光電檢測(cè)裝置，該LED光源模塊光電檢測(cè)裝置包括座架1，所述的座架上設(shè)有可作垂直運(yùn)動(dòng)軌跡用于光電檢測(cè)的光學(xué)積分球2，所述在座架上的光學(xué)積分球下方位置設(shè)有用于輸送被檢測(cè)LED光源模塊連片的測(cè)試·夾具3，測(cè)試夾具設(shè)置于座架上所設(shè)有的滑動(dòng)導(dǎo)電軌4上方，設(shè)有鏈條5與滑動(dòng)導(dǎo)電軌相連接并由鏈條控制滑動(dòng)導(dǎo)電軌及測(cè)試夾具作水平運(yùn)動(dòng)軌跡至光學(xué)積分球下方的測(cè)試位置上，滑動(dòng)導(dǎo)電軌及光學(xué)積分球均與帶有光學(xué)分析儀的計(jì)算機(jī)6相連接并在計(jì)算機(jī)控制下實(shí)現(xiàn)光電檢測(cè)工作。所述的座架上設(shè)有電機(jī)7及減速電機(jī)8與鏈條相連接實(shí)現(xiàn)為鏈條提供驅(qū)動(dòng)力。所述被測(cè)的LED光源模塊固定在輸送帶的測(cè)試夾具上并隨測(cè)試夾具移動(dòng)至下部開口光學(xué)積分球體下，積分球自動(dòng)罩住光源模塊連片，通過單片機(jī)(MCU)按一定程序給導(dǎo)電滑軌逐塊接通電源工作發(fā)光，當(dāng)一塊發(fā)光時(shí)，連片的其它光源模塊無電不工作、不發(fā)光，其供電系統(tǒng)按特定程序控制。所述的被測(cè)的LED光源模塊，進(jìn)入光學(xué)積分球(或稱暗室)以后光源模塊連片逐塊供電工作發(fā)光后，同步輸出相應(yīng)的光電參數(shù)信號(hào)至配套的計(jì)算機(jī)進(jìn)行計(jì)算，格式化，列表在顯示屏可進(jìn)行人工判別是否優(yōu)良、合格、不合格，或存貯于計(jì)算機(jī)內(nèi)，或輸出打印出紙質(zhì)檢測(cè)報(bào)告。當(dāng)然，本實(shí)用新型光電檢測(cè)裝置還應(yīng)包括供電系統(tǒng)(如配電箱9等)或其他相應(yīng)的電氣配件等。在此不作詳細(xì)描述。本實(shí)用新型的測(cè)試流程如下啟動(dòng)本實(shí)用新型機(jī)器后，將帶有多個(gè)COB光源模塊的LED光源模塊連片固定在測(cè)試夾具上，然后在計(jì)算機(jī)控制的滑動(dòng)導(dǎo)電軌作水平運(yùn)動(dòng)至光學(xué)積分球下方的測(cè)試位置上，此時(shí)，光學(xué)積分球同步自動(dòng)垂直降落，使LED光源模塊連片正好對(duì)準(zhǔn)置于光學(xué)積分球內(nèi)部相對(duì)形成暗室的測(cè)試區(qū)域，通過程序控制導(dǎo)電軌道逐一供電點(diǎn)亮，由檢測(cè)裝置的供電系統(tǒng)對(duì)LED光源模塊連片的各COB光源模塊依次供電工作，光學(xué)積分球感應(yīng)各COB光源模塊的光電檢測(cè)信號(hào)后經(jīng)過MCU的軟件程序和光纖傳送相應(yīng)的光電參數(shù)信號(hào)數(shù)據(jù)至帶有光學(xué)分析儀的計(jì)算機(jī)進(jìn)行光學(xué)光譜儀的分析工作，并在計(jì)算機(jī)上顯示相應(yīng)的各COB光源模塊的光學(xué)參數(shù)；列表或存貯，或輸出打印成紙質(zhì)報(bào)告。當(dāng)測(cè)試完成后，光學(xué)積分球作垂直上升，測(cè)試夾具運(yùn)動(dòng)回原始位置，卸下測(cè)試之后的LED光源模塊連片并重新裝入下一塊LED光源模塊連片進(jìn)行測(cè)試工作，如此循環(huán)。[0020]本實(shí)用新型在座架上設(shè)有用于光電檢測(cè)的光學(xué)積分球，光學(xué)積分球下方位置設(shè)有帶測(cè)試夾具的滑動(dòng)導(dǎo)電軌，設(shè)有鏈條與滑動(dòng)導(dǎo)電軌相連接并由鏈條控制滑動(dòng)導(dǎo)電軌及測(cè)試夾具作水平運(yùn)動(dòng)軌跡至光學(xué)積分球下方的測(cè)試位置上，控制滑動(dòng)導(dǎo)電軌按程序逐一向被測(cè)光源模塊供電及光學(xué)積分球均與逐一輸出被測(cè)光源模塊光電參數(shù)信號(hào)的MCU軟件程序至帶有光學(xué)分析儀的計(jì)算機(jī)相連接并在計(jì)算機(jī)控制下實(shí)現(xiàn)光電檢測(cè)工作，避免了人工測(cè)試手工操作的現(xiàn)象，有效提高了測(cè)試效率及準(zhǔn)確度，適合LED照明COB光源模塊大批量的測(cè)試工作，其結(jié)構(gòu)緊湊，構(gòu)思巧妙，機(jī)械化程度高，適合普遍推廣使用。以上所述，僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并非對(duì)本實(shí)用新型作任何形式上的限制；凡本行業(yè)的普通技術(shù)人員均可按說明書附圖所示和以上所述而順暢地實(shí)施本實(shí)用新型；但是，凡熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員在不脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案范圍內(nèi)，可利用以上所揭示的技術(shù)內(nèi)容而作出的些許更動(dòng)、修飾與演變的等同變化，均為本實(shí)用新型的等效實(shí)施例；同時(shí)，凡依據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)質(zhì)技術(shù)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何等同變化的更動(dòng)、修飾與 演變等，均仍屬于本實(shí)用新型的技術(shù)方案的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種LED光源模塊光電檢測(cè)裝置，包括座架(1)，其特征在于所述的座架上設(shè)有可作垂直運(yùn)動(dòng)軌跡用于光電檢測(cè)的光學(xué)積分球(2),所述在座架上的光學(xué)積分球下方位置設(shè)有用于輸送被檢測(cè)LED光 源模塊連片的測(cè)試夾具(3)，測(cè)試夾具設(shè)置于座架上所設(shè)有的滑動(dòng)導(dǎo)電軌(4)上方，設(shè)有鏈條(5)與滑動(dòng)導(dǎo)電軌相連接并由鏈條控制滑動(dòng)導(dǎo)電軌及測(cè)試夾具作水平運(yùn)動(dòng)軌跡至光學(xué)積分球下方的測(cè)試位置上，滑動(dòng)導(dǎo)電軌及光學(xué)積分球均與帶有光學(xué)分析儀的計(jì)算機(jī)(6)相連接并在計(jì)算機(jī)控制下實(shí)現(xiàn)光電檢測(cè)工作。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的LED光源模塊光電檢測(cè)裝置，其特征在于所述的座架上設(shè)有電機(jī)(7)及減速電機(jī)(8)與鏈條相連接實(shí)現(xiàn)為鏈條提供驅(qū)動(dòng)力。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種LED光源模塊光電檢測(cè)裝置，包括座架，所述的座架上設(shè)有可作垂直運(yùn)動(dòng)軌跡用于光電檢測(cè)的光學(xué)積分球，所述在座架上的光學(xué)積分球下方位置設(shè)有用于輸送被檢測(cè)LED光源模塊連片的測(cè)試夾具，測(cè)試夾具設(shè)置于座架上所設(shè)有的滑動(dòng)導(dǎo)電軌上方，設(shè)有鏈條與滑動(dòng)導(dǎo)電軌相連接并由鏈條控制滑動(dòng)導(dǎo)電軌及測(cè)試夾具作水平運(yùn)動(dòng)軌跡至光學(xué)積分球下方的測(cè)試位置上，滑動(dòng)導(dǎo)電軌及光學(xué)積分球均與帶有光學(xué)分析儀的計(jì)算機(jī)相連接并在計(jì)算機(jī)控制下實(shí)現(xiàn)光電檢測(cè)工作，避免了人工測(cè)試手工操作的現(xiàn)象，有效提高了測(cè)試效率及準(zhǔn)確度，適合LED照明COB光源模塊大批量的測(cè)試工作，其結(jié)構(gòu)緊湊，構(gòu)思巧妙，機(jī)械化程度高，適合普遍推廣使用。
文檔編號(hào)G01J1/04GK202710178SQ20122029009
公開日2013年1月30日 申請(qǐng)日期2012年6月20日 優(yōu)先權(quán)日2012年6月20日
發(fā)明者李轉(zhuǎn)發(fā), 劉明強(qiáng), 李文利 申請(qǐng)人:廣東天下行光電有限公司