專利名稱：Rfid大板測試儀的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及RFID測試技術領域，特別涉及一種RFID大板測試儀。
背景技術：
在RFID卡制造過程中，將RFID芯片與基板結合，通?；宓拿娣e較大，每個基板包括多個RFID卡。當RFID芯片與基板結合后通常需要通過專用的測試裝置檢測一個基板上每個RFID芯片是否能正常工作，才能進入下一個工序?，F有的RFID大板測試儀主要是在RFID大板對應位置設置采集RFID芯片信號，當RFID大板放置在測試儀后，通過人工的方式開啟檢測開關進行檢測，雖然該裝置可以檢測RFID大板上每一個RFID芯片，但其檢測的效率較低。同時也無法有效地區(qū)分RFID大板上每個RFID芯片廠商，當多種不同廠商的RFID芯片混在一起時無法有效地分離。

實用新型內容本實用新型主要解決的技術問題是提供一種RFID大板測試儀，該RFID大板測試儀可以避免采用人工方式啟動檢測時的檢測效率較低，同時可以在檢測同一個RFID大板上每個RFID芯片區(qū)分不同的廠商，方便快速地分離各種廠商RFID卡。為了解決上述問題，本實用新型提供一種RFID大板測試儀，該RFID大板測試儀包括測試臺和設置于測試臺的控制器，該控制器分別與電連接呈矩陣分布的RFID芯片檢測探頭電連接，以及與RFID芯片檢測探頭對應的指示燈，還包括與控制器連接自動啟動檢測的至少兩個位置檢測探頭。進一步地說，所述指示燈為彩色指示燈。進一步地說，所述RFID大板測試儀包括還包括存儲不同RFID芯片廠商的RFID芯片特征信息的存儲器。進一步地說，所述測試臺上設有至少兩個限位塊。進一步地說，所述限位塊呈L形。進一步地說，所述RFID大板測試儀呈L型，其中矩陣分布的RFID芯片檢測探頭設置在L的平水方向，指示燈分布于豎直方向。本實用新型RFID大板測試儀，包括主體和設置于主體的測試臺，在該主體內設有控制器，該控制器分別與呈矩陣分布的且設于測試臺的RFID芯片檢測探頭電連接，用于顯示RFID大板RFID芯片狀態(tài)的指示燈分別與控制器和RFID芯片檢測探頭電連接，該指示燈的數量與RFID芯片檢測探頭相當，還包括與控制器連接且同時輸入位置信號時自動啟動對RFID大板進行檢測的至少兩個位置檢測探頭。當所述RFID大板放置在測試儀對應位置由兩個位置都檢測探頭采集到RFID大板存在時，控制器根據RFID大板存的信息輸出控制信號由RFID芯片檢測探頭采集對應位置RFID芯片。由于該測試裝置實現自動檢測RFID大板測試儀相應位置是否存在待檢測的RFID大板，并輸出相應的檢測結果，提高檢測效率。
為了更清楚地說明本實用新型實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單介紹，顯而易見地，而描述中的附圖是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來說，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他附圖。圖1是本實用新型RFID大板測試儀實施例結構示意圖。圖2是本實用新型RFID大板測試儀實施例原理示意圖。下面結合實施例，并參照附圖，對本實用新型目的的實現、功能特點及優(yōu)點作進一步說明。
具體實施方式
為了使要實用新型的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。如圖1和圖2所示，本實用新型提供一種RFID大板測試儀實施例。該RFID大板測試儀包括主體I和設置于主體I的測試臺2，在該主體I內設有控制器I’，該控制器I’分別與呈矩陣分布的且設于測試臺2的RFID芯片檢測探頭4電連接，用于顯示RFID大板RFID芯片狀態(tài)的指示燈4分別與控制器I’和RFID芯片檢測探頭3電連接，該指示燈4’的數量與RFID芯片檢測探頭4相當，還包括與控制器I’連接且同時輸入位置信號時自動啟動對RFID大板進行檢測的至少兩個位置檢測探頭3。具體地說，所述控制器I’根據位置檢測探頭3輸入的信號自動啟動對RFID大板的檢測，即當兩個位置檢測探頭3同時檢測到待檢測的RFID大板時，兩個位置檢測探頭3同時出出位置信號給控制器1’，由控制器I’根據設置好的程序啟動對RFID大板上的每個RFID芯片檢測程序，由RFID芯片檢測探頭實時檢測對應位置RFID大板RFID芯片好壞狀態(tài)。當只有一個位置檢測探頭檢測到待檢測的RFID大板時，通常出現RFID大板位置放置不正確或未完全放置好，致使部分RFID芯片檢測探頭無法檢測對應的RFID芯片好壞的狀態(tài)，因此在此情況下，所述控制器不啟動檢測程序。工作時，將所述RFID大板放置在測試臺時，當所述測試臺上的位置檢測探頭檢測到該RFID大板后，由控制器自動控制RFID芯片檢測探頭采集對應位置RFID芯片信號，并輸出相應的結果。當RFID芯片合格后，由與該RFID芯片對應位置的指示燈通過不同顔色，例如可以采用綠色為正常合格，紅色為不合格。由于該測試裝置實現自動檢測RFID大板測試儀相應位置是否存在待檢測的RFID大板，并輸出相應的檢測結果，提高檢測效率。在上述實施例中，所述RFID大板測試儀包括還包括存儲不同RFID芯片廠商的RFID芯片特征信息的存儲器5’。當所述RFID芯片檢測探頭檢測RFID芯片時，由于每個廠商的RFID芯片特征信息不同，該RFID芯片檢測探頭將對應位置的每個RFID芯片特征信息讀取，并由控制器將讀取的信息與存儲器內的數據進行比對和認別，并通過不同顔色指示燈輸出不同廠商RFID芯片，當多種不同廠商的RFID芯片混在一起時可以有效地進行分離，方便更好地認別由不同廠商RFID芯片的RFID卡。所述指示燈為彩色指示燈，可以通過控制器控制通過不同顔色來區(qū)分不同狀態(tài)的RFID芯片，例如紅色可以表示與RFID芯片檢測探頭對應位置RFID大板上的RFID芯片為壞的，而綠色可以表示與RFID芯片檢測探頭對應位置RFID大板上的RFID芯片為好的。所述RFID大板測試儀呈L型，其中矩陣分布的RFID芯片檢測探頭設置在L的平水方向，指示燈分布于豎直方向，可以更好方便檢測和觀察指示燈工作狀態(tài)。所述測試臺上設有至少兩個限位塊5，當RFID大板通過限位塊5可以方便地使RFID大板上的RFID芯片能與RFID芯片檢測探頭對應置，同時能保證兩個位置檢測探頭3’都能出輸位置信號，方便定位和自動檢測，優(yōu)選地，該限位塊6呈L形，可以設置于RFID大板在測試臺正投影的拐角處，最好是對角線的拐角分布。以上實施例僅用以說明本實用新型的技術方案，而非對其限制；盡管參照前述實施例對本實用新型進行了詳細的說明，本領域的普通技術人員應當理解其依然可以對前述各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分技術特征進行等同替換，而這些修改或替換，并不使相應技術方案的本質脫離本實用新型各實施例技術方案的精神和范圍。
權利要求1.RFID大板測試儀，包括主體和設置于主體的測試臺，在該主體內設有控制器，該控制器分別與呈矩陣分布的且設于測試臺的RFID芯片檢測探頭電連接，用于顯示RFID大板RFID芯片狀態(tài)的指示燈分別與控制器和RFID芯片檢測探頭電連接，該指示燈的數量與 RFID芯片檢測探頭相當，其特征在于還包括與控制器連接且同時輸入位置信號時自動啟動對RFID大板進行檢測的至少兩個位置檢測探頭。
2.根據權利要求1所述的RFID大板測試儀，其特征在于所述指示燈為彩色指示燈。
3.根據權利要求1或2所述的RFID大板測試儀，其特征在于所述RFID大板測試儀包括還包括存儲不同RFID芯片廠商的RFID芯片特征信息的存儲器。
4.根據權利要求3所述的RFID大板測試儀，其特征在于所述測試臺上設有至少兩個限位塊。
5.根據權利要求4所述的RFID大板測試儀，其特征在于所述限位塊呈L形。
6.根據權利要求5所述的RFID大板測試儀，其特征在于所述RFID大板測試儀呈L型，其中矩陣分布的RFID芯片檢測探頭設置在L的平水方向，指示燈分布于豎直方向
專利摘要本實用新型RFID大板測試儀，包括主體和設置于主體的測試臺，在該主體內設有控制器，該控制器分別與呈矩陣分布的且設于測試臺的RFID芯片檢測探頭電連接，用于顯示RFID大板RFID芯片狀態(tài)的指示燈分別與控制器和RFID芯片檢測探頭電連接，該指示燈的數量與RFID芯片檢測探頭相當，還包括與控制器連接且同時輸入位置信號時自動啟動對RFID大板進行檢測的至少兩個位置檢測探頭。當所述RFID大板放置在測試儀對應位置由兩個位置都檢測探頭采集到RFID大板存在時，控制器根據RFID大板存的信息輸出控制信號由RFID芯片檢測探頭采集對應位置RFID芯片。由于該測試裝置實現自動檢測RFID大板測試儀相應位置是否存在待檢測的RFID大板，并輸出相應的檢測結果，提高檢測效率。
文檔編號G01R31/00GK202837441SQ20122051490
公開日2013年3月27日 申請日期2012年9月28日 優(yōu)先權日2012年9月28日
發(fā)明者蘭榮 申請人:蘭榮