專利名稱：新型微型軸槽位測試裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及ー種新型微型軸槽位測試裝置。
背景技術：
微型軸相對較小，精度高，又稱精密軸，在微型軸的加工中，常常需要測量已加工的微型軸槽位。傳統(tǒng)的做法是使用投影機(儀)來測量微型軸的槽位，由于受切削軸的影響常常使得測量的誤差比較大，而且這樣的測量方式效率比較低，使得產品的生產加工受到影響。

發(fā)明內容為解決背景技術中現有測量微型軸槽位測出的數據誤差較大，而且比較麻煩的問題，本實用新型提供ー種新型微型軸槽位測試裝置。本實用新型的技術方案是ー種新型微型軸槽位測試裝置，包括支架，所述的支架上設有微型軸安裝架和測試工具安裝架，所述的測試工具安裝架上設有測試工具，所述的微型軸安裝架上的側面上設有定位擋片，其水平面上設有用于安放待測試微型軸的凹槽，所述定位擋片的水平高度高于微型軸安裝架的水平高度且低于安放待測試微型軸后微型軸的軸心高度，所述的測試工具與定位擋片相對應。作為本實用新型的一種改進，所述的凹槽為V型。作為本實用新型的進ー步改進，所述的測試工具為螺旋測微器。本實用新型的有益效果是，通過新型的測試裝置，可以方便、快速、準確的測出微型軸的槽位，使得微型軸槽位的測量不受切削軸的影響，測試誤差小，而且通過本裝置大大的提高了微型軸槽位的測量效率。

附圖1為本實用新型實施例的結構示意圖。附圖2為附圖1中A向的結構示意放大圖。圖中，1、支架；2、微型軸安裝架；21、凹槽；3、測試工具安裝架；4、微型軸；41、凸臺；5、定位擋片；6、測試工具。
具體實施方式
以下結合附圖對本實用新型實施例作進ー步說明由圖1結合圖2所示，ー種新型微型軸槽位測試裝置，包括支架1，所述的支架I上設有微型軸安裝架2和測試工具安裝架3，所述的測試工具安裝架3上設有測試工具6，所述的微型軸安裝架2上的側面上設有定位擋片5，其水平面上設有用于安放待測試微型軸4的凹槽21，所述定位擋片5的水平高度高于微型軸安裝架2的水平高度且低于安放待測試微型軸4后微型軸4的軸心高度，所述的測試工具6與定位擋片5相對應。具體的說，待測試微型軸4的頭部設有凸臺41，所述的定位擋片5與凸臺41的后端相卡，凸臺41的前端與測試工具6相對應。更具體的說，所述的測試工具為螺旋測微器。通過新型的測試裝置，可以方便、快速、準確的測出微型軸的槽位，使得微型軸槽位的測量不受切削軸的影響，測試誤差小，而且通過本裝置大大的提高了微型軸槽位的測量效率。所述的凹槽21為V型。這樣的結構便于微型軸的安放和定位，便于測量槽位，當然在本實用新型中凹槽也可以為方形或者其他結構。各位技術人員須知雖然本實用新型已按照上述具體實施方式
做了描述，但是本實用新型的發(fā)明思想并不僅限于此實用新型，任何運用本發(fā)明思想的改裝，都將納入本專利專利權保護范圍內。
權利要求1.一種新型微型軸槽位測試裝置，其特征在于包括支架(I)，所述的支架(I)上設有微型軸安裝架(2)和測試工具安裝架(3)，所述的測試工具安裝架(3)上設有測試工具(6)，所述的微型軸安裝架(2)上的側面上設有定位擋片(5)，其水平面上設有用于安放待測試微型軸(4)的凹槽(21)，所述定位擋片(5)的水平高度高于微型軸安裝架(2)的水平高度且低于安放待測試微型軸(4)后微型軸(4)的軸心高度，所述的測試工具(6)與定位擋片(5)相對應。
2.根據權利要求1所述的新型微型軸槽位測試裝置，其特征在于所述的凹槽(21)為V型。
3.根據權利要求1或2所述的新型微型軸槽位測試裝置，其特征在于所述的測試工具(6)為螺旋測微器。
專利摘要一種新型微型軸槽位測試裝置。解決了現有測量微型軸槽位測出的數據誤差較大，而且比較麻煩的問題。它包括支架，所述的支架上設有微型軸安裝架和測試工具安裝架，所述的測試工具安裝架上設有測試工具，所述的微型軸安裝架上的側面上設有定位擋片，其水平面上設有用于安放待測試微型軸的凹槽，所述定位擋片的水平高度高于微型軸安裝架的水平高度且低于安放待測試微型軸后微型軸的軸心高度，所述的測試工具與定位擋片相對應。通過新型的測試裝置，可以方便、快速、準確的測出微型軸的槽位，使得微型軸槽位的測量不受切削軸的影響，測試誤差小，而且通過本裝置大大的提高了微型軸槽位的測量效率。
文檔編號G01B5/00GK202869402SQ20122056339
公開日2013年4月10日 申請日期2012年10月29日 優(yōu)先權日2012年10月29日
發(fā)明者邱朋清, 肖志剛 申請人:溫州神一微型軸有限公司