專利名稱：X射線探傷快捷檢測平臺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及工業(yè)探傷用X射線檢測輔助檢測平臺，尤其涉及一種X射線探傷快捷檢測平臺。
背景技術(shù)：
X射線探傷，是指利用X射線對材料或試件進行透照，檢查其內(nèi)部缺陷或根據(jù)衍射特性對其晶體結(jié)構(gòu)進行分析的技術(shù)。傳統(tǒng)的X射線檢測，對于短管的對焦操作主要通過地面上擺放鐵塊、木頭等墊高X射線機，不僅費時、費工、費力，而且由于鐵塊、木頭等厚度固定，焦點難以找正，造成對焦效果不佳，嚴重影響檢測效率和底片檢測質(zhì)量。因此有必要對傳統(tǒng)檢測對焦方法采取改進措施，以降低作業(yè)強度，提高操作效率和工作質(zhì)量。

實用新型內(nèi)容本實用新型要解決的技術(shù)問題在于針對現(xiàn)有技術(shù)中利用X射線對材料或試件進行透照時，焦點難以找正，造成對焦效果不佳，嚴重影響檢測效率和底片檢測質(zhì)量的缺陷，提供一種可提高對焦的精確度、提高檢測效率以及降低檢測人員勞動強度的X射線探傷快捷檢測平臺及檢測方法。本實用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:提供一種X射線探傷快捷檢測平臺，包括刻度平臺，所述刻度平臺下設(shè)有平臺支腿，所述刻度平臺的中心設(shè)有升降機裝置，所述升降機裝置上固定有X射線機，在所述刻度平臺的一角設(shè)有射線機電纜線支桿，所述X射線機的電纜線架設(shè)在所述射線機電纜線支桿上；該檢測平臺還包括激光準直器，安裝在所述射線機電纜線支桿上。本實用新型所述的X射線探傷快捷檢測平臺還設(shè)有平臺坡道，與所述刻度平臺固定連接。本實用新型所述的X射線探傷快捷檢測平臺中，所述平臺坡道的傾角為30°。本實用新型所述的X射線探傷快捷檢測平臺中，所述刻度平臺包括正方形鋼板和加固角鋼。本實用新型所述的X射線探傷快捷檢測平臺中，所述刻度平臺上的刻度為以刻度平臺的中心為圓心的多個同心圓。本實用新型所述的X射線探傷快捷檢測平臺中，所述X射線機為周向X射線機。本實用新型所述的X射線探傷快捷檢測平臺中，所述升降機裝置包括升降機支撐臺、升降機和導(dǎo)力桿，所述刻度平臺的中心開有平臺孔，所述升降機支撐臺焊接在所述平臺孔下方，并固定在所述加固角鋼上，所述升降機支撐臺上安裝有升降機，所述升降機的軸心與所述平臺孔同軸，且所述升降機與所述X射線機之間裝有所述導(dǎo)力桿。本實用新型解決其技術(shù)問題所采用的另一技術(shù)方案是:提供一種X射線探傷快捷檢測方法，該檢測方法基于上述X射線探傷快捷檢測平臺，包括以下步驟:[0014]檢測人員將待檢測工件擺放在刻度平臺上對好平面焦距，貼上膠片；將激光準直器對準焊接試件焊縫位置后，再水平旋轉(zhuǎn)對準X射線機的機身；調(diào)節(jié)升降機裝置，使X射線機的焦點區(qū)域與激光束相對，并使射線機焦點區(qū)域與待檢測焊縫處于同一水平面；檢測人員退出曝光室，并完成檢測曝光工作。本實用新型所述的X射線探傷快捷檢測方法中，若有多個同一規(guī)格的待檢測工件，則一次將X射線機周圍擺滿一圈待檢測工件，并進行一次曝光檢測，以節(jié)約曝光時間。本實用新型產(chǎn)生的有益效果是:本實用新型通過升降機裝置可從焦距和高度兩個方位對X射線機的焦點進行微調(diào)，提高了對焦的精確度；檢測平臺可以實施多待檢測工件同時曝光檢測，提高了檢測效率；另外機械升降機裝置的使用降低了檢測人員勞動強度，省時且省力。

下面將結(jié)合附圖及實施例對本實用新型作進一步說明，附圖中:圖1為本實用新型實施例X射線探傷快捷檢測平臺的主視圖；圖2為本實用新型實施例X射線探傷快捷檢測平臺的俯視圖；圖3為本實用新型實施例X射線探傷快捷檢測平臺的左視圖；圖4為本實用新型施例X射線探傷快捷檢測平臺實際檢測操作示意圖。圖中:1-帶刻度平臺、2-平臺坡道、3-平臺支腿、4-升降機支撐臺、5-升降機、6_搖把、7-導(dǎo)力桿、8-射線機電纜線支桿、9-X射線機、10-激光準直器、11-管焊接試件、12-焊縫
具體實施方式
為了使本實用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，
以下結(jié)合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。本實用新型實施例X射線探傷快捷檢測平臺，如圖1、圖2和圖3所示，包括刻度平臺1，刻度平臺2下設(shè)有平臺支腿3。本實用新型的一個實施例中，刻度平臺I包括正方形鋼板和加固角鋼。如刻度平臺I由I塊1200*1200*10的正方形鋼板和加固角鋼組成?？潭绕脚_I的中心設(shè)有升降機裝置，升降機裝置上固定有X射線機9，在本實用新型實施例中X射線機9為周向X射線機。在刻度平臺I的一角設(shè)有射線機電纜線支桿8，X射線機9的電纜線架設(shè)在射線機電纜線支桿8上，這樣可以避開檢測區(qū)，避免電纜線誤擋在待檢測工件前，影響檢測。該檢測平臺還包括激光準直器10，安裝在射線機電纜線支桿8上，可以快速便捷的校準焦點。在本實用新型的一個實施例中，該檢測平臺還設(shè)有平臺坡道2，與刻度平臺I固定連接，刻度平臺I和平臺坡道2的底部在同一水平面上。平臺坡道2的設(shè)計更方便小構(gòu)件的搬上搬下。平臺坡道2的傾角可設(shè)為30°。本實用新型的一個實施例中，刻度平臺I上的刻度為以刻度平臺的中心為圓心的多個同心圓，以方便測量水平焦距。在本實用新型的一個實施例中，如圖1所示，升降機裝置包括升降機支撐臺4、升降機5和導(dǎo)力桿7，其中升降機5可為手搖升降機，其搖把6為加長搖把。刻度平臺I的中心開有平臺孔，升降機支撐臺4焊接在平臺孔下方，并固定在加固角鋼上，升降機支撐臺4上安裝有升降機5，升降機的軸心與平臺孔同軸，且升降機5與X射線機9之間裝有導(dǎo)力桿7，以使升降軸達到升降的目的。本實用新型實施例X射線探傷快捷檢測方法，基于上述實施例的X射線探傷快捷檢測平臺，其檢測操作示意圖如圖4所示，包括以下步驟:(I)檢測人員將待檢測工件擺放在刻度平臺上對好平面焦距，貼上膠片；(2)將激光準直器對管焊接試件11 (即待檢測工件)的焊縫12位置后，再水平旋轉(zhuǎn)對準X射線機的機身；(3)調(diào)節(jié)升降機裝置，使X射線機的焦點區(qū)域與激光束相對，并使射線機焦點區(qū)域與待檢測焊縫處于同一水平面；(4)檢測人員退出曝光室，并完成檢測曝光工作。若有多個同一規(guī)格待檢測工件，則一次將X射線機周圍擺滿一圈待檢測工件，并進行一次曝光檢測，以節(jié)約曝光時間，提高檢測效率。本實用新型實施例的X射線探傷快捷檢測方法通過升降機裝置可從焦距和高度兩個方位對X射線機的焦點進行微調(diào)，提高了對焦的精確度；周向X射線機可以360度無阻擋曝光，且該檢測平臺可以實施多試件同時曝光檢測，提高檢測效率；另外機械升降機裝置的使用降低了檢測人員勞動強度，省時且省力。應(yīng)當(dāng)理解的是，對本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)上述說明加以改進或變換，而所有這些改進和變換都應(yīng)屬于本實用新型所附權(quán)利要求的保護范圍。
權(quán)利要求1.一種X射線探傷快捷檢測平臺，其特征在于，包括刻度平臺，所述刻度平臺下設(shè)有平臺支腿，所述刻度平臺的中心設(shè)有升降機裝置，所述升降機裝置上固定有X射線機，在所述刻度平臺的一角設(shè)有射線機電纜線支桿，所述X射線機的電纜線架設(shè)在所述射線機電纜線支桿上；該檢測平臺還包括激光準直器，安裝在所述射線機電纜線支桿上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線探傷快捷檢測平臺，其特征在于，該檢測平臺還設(shè)有平臺坡道，與所述刻度平臺固定連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的X射線探傷快捷檢測平臺，其特征在于，所述平臺坡道的傾角為 30。。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的X射線探傷快捷檢測平臺，其特征在于，所述刻度平臺包括正方形鋼板和加固角鋼。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的X射線探傷快捷檢測平臺，其特征在于，所述X射線機為周向X射線機。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的X射線探傷快捷檢測平臺，其特征在于，所述刻度平臺上的刻度為以刻度平臺的中心為圓心的多個同心圓。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的X射線探傷快捷檢測平臺，其特征在于，所述升降機裝置包括升降機支撐臺、升降機和導(dǎo)力桿，所述刻度平臺的中心開有平臺孔，所述升降機支撐臺焊接在所述平臺孔下方，并固定在所述加固角鋼上，所述升降機支撐臺上安裝有升降機，所述升降機的軸心與所述平臺孔同軸，且所述升降機與所述X射線機之間裝有所述導(dǎo)力桿。
專利摘要本實用新型公開了一種X射線探傷快捷檢測平臺，包括刻度平臺，刻度平臺下設(shè)有平臺支腿，刻度平臺的中心設(shè)有升降機裝置，升降機裝置上固定有X射線機，在刻度平臺的一角設(shè)有射線機電纜線支桿，X射線機的電纜線架設(shè)在射線機電纜線支桿上；該檢測平臺還包括激光準直器，安裝在射線機電纜線支桿上。本實用新型可從焦距和高度兩個方位對X射線機的焦點進行微調(diào)，提高了對焦的精確度；檢測平臺可以實施多試件同時曝光檢測，提高了檢測效率；另外機械升降機裝置的使用降低了檢測人員勞動強度，省時且省力。
文檔編號G01N23/04GK202994691SQ20122065372
公開日2013年6月12日 申請日期2012年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月30日
發(fā)明者賀全偉, 白曉良, 陳德超, 侯華東, 鄧昌明, 馮定國, 徐幼清, 吳勇剛, 趙宗合 申請人:武漢一冶鋼結(jié)構(gòu)有限責(zé)任公司