專利名稱：試劑皿密封度檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種試劑皿密封度檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
在制藥廠、化工廠等化工產(chǎn)業(yè)中會(huì)大量用到如附

圖1所示的陣列排列的試劑皿。試劑皿對(duì)氣密性要求較高，因此通常在生產(chǎn)加工完成后需要進(jìn)行密封度的檢測(cè)。目前，常用的檢測(cè)方法是，人工在生產(chǎn)線的末端將試劑皿從傳送帶上取下來，利用進(jìn)口的檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)。其檢測(cè)效率較低且檢測(cè)設(shè)備的造價(jià)昂貴。

實(shí)用新型內(nèi)容針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的上述缺陷，本實(shí)用新型提供了一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低、效率高的試劑皿密封度檢測(cè)裝置。本實(shí)用新型提供一種試劑皿密封度檢測(cè)裝置，其包括檢測(cè)臺(tái)，其特征在于:所述檢測(cè)臺(tái)上設(shè)置有工件臺(tái)，所述工件臺(tái)上表面設(shè)置有向下凹陷的方形的工件槽，所述工件槽底部設(shè)置有貫穿的排氣孔；所述工件臺(tái)上方設(shè)置有可將所述工件槽密封的密封蓋，所述密封蓋上設(shè)置有貫通的進(jìn)氣孔，所述進(jìn)氣孔通過電磁閥連接高壓氣源；其還包括檢測(cè)所述工件槽內(nèi)氣壓的氣壓計(jì)及控制所述氣壓計(jì)和電磁閥的PLC控制單元。優(yōu)選的，所述工件槽內(nèi)壁上設(shè)置有凸出的凸臺(tái)。優(yōu)選的，所述密封蓋下表面上垂直設(shè)置有若干根正對(duì)所述凸臺(tái)的彈簧頂桿。優(yōu)選的，所述密封蓋下表面上設(shè)置有環(huán)形的密封圈。優(yōu)選的，所述檢測(cè)臺(tái)上水平設(shè)置有滑軌及驅(qū)動(dòng)所述工件臺(tái)沿所述滑軌移動(dòng)的水平氣缸。優(yōu)選的，所述檢測(cè)臺(tái)上設(shè)置有驅(qū)動(dòng)所述密封蓋上下移動(dòng)的垂直氣缸。優(yōu)選的，其還包括連接所述PLC控制單元控制的計(jì)時(shí)器。優(yōu)選的，其還包括連接所述PLC控制單元控制的檢測(cè)報(bào)警燈。本實(shí)用新型的試劑皿密封度檢測(cè)裝置通過簡(jiǎn)單的密封裝置、高壓氣及氣壓計(jì)組成一個(gè)完整功能的氣密性檢測(cè)裝置。此外，還設(shè)置有導(dǎo)軌，便于和機(jī)械手配合，自動(dòng)將傳送帶上的試劑皿取下來進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)完畢送回到傳送帶上完成后續(xù)的包裝工序，整個(gè)檢測(cè)過程不需要人工干預(yù)，高效且成本極低。
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。圖1是本實(shí)用新型最佳實(shí)施例的立體結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本實(shí)用新型最佳實(shí)施例的局部立體結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是圖1中本實(shí)用新型最佳實(shí)施例的立體結(jié)構(gòu)示意圖；圖4是圖1中工件臺(tái)的俯視圖。
具體實(shí)施方式
為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本實(shí)用新型方案，并使本實(shí)用新型的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合實(shí)施例及實(shí)施例附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。如圖2至圖4所示，本實(shí)用新型的一種試劑皿密封度檢測(cè)裝置包括檢測(cè)臺(tái)10，檢測(cè)臺(tái)10上水平設(shè)置有滑軌12，滑軌12上設(shè)置有工件臺(tái)14及驅(qū)動(dòng)工件臺(tái)14沿滑軌12移動(dòng)的水平氣缸16。工件臺(tái)14上表面(此處的上以正常操作時(shí)，垂直遠(yuǎn)離工件臺(tái)14的方向?yàn)樯?，下?設(shè)置有向下凹陷的方形的工件槽18，工件槽18內(nèi)壁上設(shè)置有凸出的凸臺(tái)20，工件槽18底部設(shè)置有貫穿的排氣孔22。工件臺(tái)14上方設(shè)置有密封蓋24及垂直設(shè)置在工件臺(tái)14上方，驅(qū)動(dòng)密封蓋24上下移動(dòng)的垂直氣缸26。密封蓋24下表面上設(shè)置有環(huán)形的密封圈28，密封圈28有橡膠墊等常見的密封裝置組成，其略比工件槽18的開口大。密封圈28的中間設(shè)置有貫通的進(jìn)氣孔30，進(jìn)氣孔30通過電磁閥(未圖示)連接高壓氣源(未圖示)。密封蓋24下表面上垂直設(shè)置有若干根正對(duì)凸臺(tái)20的彈簧頂桿32。其還包括檢測(cè)工件槽18內(nèi)氣壓的氣壓計(jì)(未圖示)、計(jì)時(shí)用的計(jì)時(shí)器(未圖示)和顯示檢測(cè)結(jié)果的檢測(cè)報(bào)警燈(未圖示)。氣壓計(jì)、計(jì)時(shí)器、電磁閥、檢測(cè)報(bào)警燈、垂直氣缸26和水平氣缸16等部件全都連接PLC控制單元(未圖示)，并由其控制指揮工作。這些都是目前常見的裝置，亦非本實(shí)用新型的創(chuàng)新點(diǎn)所在，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員根據(jù)本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)可以很容易地組裝出以上裝置，并實(shí)現(xiàn)其相應(yīng)的功能，因此未畫圖詳細(xì)表示。本實(shí)用新型的一種試劑皿密封度檢測(cè)裝置在使用時(shí)，首先由機(jī)械手(未圖示)將傳送帶(未圖示)上的試劑皿(未圖示)取下來，放入到工件槽18內(nèi)，試劑皿的邊緣放置在凸臺(tái)20上。水平氣缸16將檢測(cè)臺(tái)10沿滑軌12移動(dòng)到密封蓋24的下方，垂直氣缸26驅(qū)動(dòng)密封蓋24向下將正對(duì)檢測(cè)臺(tái)10，其上的密封墊將工件槽18的四周密封，彈簧頂桿32將試劑皿緊緊抵靠在凸臺(tái)20上，密封蓋24和試劑皿之間形成了密封的空間。PLC控制單元打開電磁閥，向工件槽18內(nèi)送入預(yù)訂壓力的高壓氣并關(guān)閉電磁閥；計(jì)時(shí)器開始計(jì)時(shí)，氣壓計(jì)開始監(jiān)測(cè)工件槽18內(nèi)的壓力變化。經(jīng)過一定時(shí)間的保持后，通過氣壓計(jì)上的讀數(shù)的變化可以得知試劑皿是否漏氣，如果漏氣，氣體會(huì)從排氣孔22排出，壓力下降，此時(shí)紅色報(bào)警燈亮，提醒操作人員取走不合格產(chǎn)品；否則，松開密封蓋24，水平氣缸16將試劑皿送出，由機(jī)械手將其送回到傳送帶上，從而完成檢測(cè)工作。以上所述，僅為本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式
，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本實(shí)用新型揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求所界定的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求1.一種試劑皿密封度檢測(cè)裝置，其包括檢測(cè)臺(tái)，其特征在于:所述檢測(cè)臺(tái)上設(shè)置有工件臺(tái)，所述工件臺(tái)上表面設(shè)置有向下凹陷的方形的工件槽，所述工件槽底部設(shè)置有貫穿的排氣孔；所述工件臺(tái)上方設(shè)置有可將所述工件槽密封的密封蓋，所述密封蓋上設(shè)置有貫通的進(jìn)氣孔，所述進(jìn)氣孔通過電磁閥連接高壓氣源；其還包括檢測(cè)所述工件槽內(nèi)氣壓的氣壓計(jì)及控制所述氣壓計(jì)和電磁閥的PLC控制單元。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的試劑皿密封度檢測(cè)裝置，其特征在于:所述工件槽內(nèi)壁上設(shè)置有凸出的凸臺(tái)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的試劑皿密封度檢測(cè)裝置，其特征在于:所述密封蓋下表面上垂直設(shè)置有若干根正對(duì)所述凸臺(tái)的彈簧頂桿。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的試劑皿密封度檢測(cè)裝置，其特征在于:所述密封蓋下表面上設(shè)置有環(huán)形的密封圈。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4其中之一所述的試劑皿密封度檢測(cè)裝置，其特征在于:所述檢測(cè)臺(tái)上水平設(shè)置有滑軌及驅(qū)動(dòng)所述工件臺(tái)沿所述滑軌移動(dòng)的水平氣缸。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的試劑皿密封度檢測(cè)裝置，其特征在于:所述檢測(cè)臺(tái)上設(shè)置有驅(qū)動(dòng)所述密封蓋上下移動(dòng)的垂直氣缸。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的試劑皿密封度檢測(cè)裝置，其特征在于:其還包括連接所述PLC控制單元控制的計(jì)時(shí)器。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的試劑皿密封度檢測(cè)裝置，其特征在于:其還包括連接所述PLC控制單元控制的檢測(cè)報(bào)警燈。
專利摘要本實(shí)用新型提供了一種試劑皿密封度檢測(cè)裝置，其包括檢測(cè)臺(tái)，其特征在于所述檢測(cè)臺(tái)上設(shè)置有工件臺(tái)，所述工件臺(tái)上表面設(shè)置有向下凹陷的方形的工件槽，所述工件槽底部設(shè)置有貫穿的排氣孔；所述工件臺(tái)上方設(shè)置有可將所述工件槽密封的密封蓋，所述密封蓋上設(shè)置有貫通的進(jìn)氣孔，所述進(jìn)氣孔通過電磁閥連接高壓氣源；其還包括檢測(cè)所述工件槽內(nèi)氣壓的氣壓計(jì)及控制所述氣壓計(jì)和電磁閥的PLC控制單元。本實(shí)用新型通過簡(jiǎn)單的密封裝置、高壓氣及氣壓計(jì)組成一個(gè)完整功能的氣密性檢測(cè)裝置。此外，還設(shè)置有導(dǎo)軌，便于和機(jī)械手配合，自動(dòng)將傳送帶上的試劑皿取下來進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)完畢送回到傳送帶，整個(gè)檢測(cè)過程不需要人工干預(yù)，高效且成本極低。
文檔編號(hào)G01M3/32GK203037433SQ20122071235
公開日2013年7月3日 申請(qǐng)日期2012年12月21日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月21日
發(fā)明者葉兵 申請(qǐng)人:英普億塑膠電子(蘇州)有限公司