專利名稱：：基板檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：基板檢測裝置
技術(shù)領(lǐng)域：
[0001]本實用新型是有關(guān)于一種檢測裝置，且特別是有關(guān)于一種基板檢測裝置。
背景技術(shù)：
：[0002]伴隨著電子科技的進(jìn)步，電子產(chǎn)品早已成為人類生活中不可獲缺的一部分，而用以乘載各種電子元件的電路基板也隨處可見。為了大量生產(chǎn)上的便利，印刷電路板(printablecircuitboard,PCB)的技術(shù)為最成熟也被廣泛使用的。使用印刷電路板不僅在生產(chǎn)上十分簡單，且價格低廉。但是美中不足的是，檢測量產(chǎn)品印刷電路板的好壞，一直都沒有很有效率的方法。[0003]當(dāng)印刷電路板不平整，例如翹曲或表面不平整，會對印刷電路板的制程造成諸多問題。例如，電子元件裝設(shè)在印刷電路板時會產(chǎn)生對位困難，甚至是無法裝設(shè)?；蛘唠娮釉c印刷電路板上的焊點容易有接觸不良。無論是何種問題，印刷電路板的不平整都將降低生產(chǎn)良率，因此需要一種有效的檢測裝置以檢測出印刷電路板的平整度。
實用新型內(nèi)容[0004]本實用新型提供一種基板檢測裝置，可檢測基板的平整度。[0005]本實用新型提出一種基板檢測裝置，用于檢測一基板的平整度?；鍣z測裝置包括一運送平臺、一基座、一滑輪組以及一感測處理器。運送平臺用以沿一第一方向運送基板?；潭ㄔ谶\送平臺上?；喗M可移動地設(shè)置在基座，并位于運送平臺上方?；喗M用以接觸基板，以在基板不平整時滑輪組沿著基板的輪廓而有垂直于第一方向的一第二方向的位移。感測處理器用以感測滑輪組沿著第二方向上的位移以產(chǎn)生不平整的感測信號。[0006]在本實用新型的一實施例中，上述的滑輪組具有一第一電性接點，且感測處理器具有一處理單元以及一第二電性接點。處理單元與第一電性接點及第二電性接點電連接。[0007]在本實用新型的一實施例中，上述的第二電性接點位于第一電性接點之下，而第一電性接點與第二電性接點常態(tài)接觸。[0008]在本實用新型的一實施例中，上述的第二電性接點位于第一電性接點之上，而第一電性接點與第二電性接點常態(tài)分離。[0009]在本實用新型的一實施例中，上述的感測處理器的處理單元以無線或有線的方式與第一電性接點及第二電性接點電連接。[0010]在本實用新型的一實施例中，上述的基座具有一垂直部以及一水平部，其中垂直部的表面平行于第二方向，而水平部的表面平行于第一方向。[0011]在本實用新型的一實施例中，上述的滑輪組包括一軸桿、一支撐架以及一滑輪。軸桿穿設(shè)基座的水平部，支撐架固定于軸桿的一末端?；啒薪佑谥渭埽靡匝刂宓妮喞獛又渭芗拜S桿沿著第二方向相對位移。[0012]在本實用新型的一實施例中，上述的基板檢測裝置還包括一彈性件，套設(shè)于軸桿之外，并位于滑輪組以及基座之間。[0013]基于上述，本實用新型的基板檢測裝置利用滑輪組來接觸基板，而感測處理器在基板不平整時可發(fā)出不平整的感測信號。檢測的方式可以是有線式或無線式。以有線的方式而言，借由滑輪組的第一電性接點接觸于感測處理器的第二電性接點或是分離于第二電性接點來檢測出基板的平整度。以無線的方式而言，則可利用例如光遮斷器來達(dá)成檢測的目的。[0014]為讓本實用新型的上述目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，以下結(jié)合附圖對本實用新型的具體實施方式作詳細(xì)說明，其中:[0015]圖1為本實用新型的一實施例的一種基板檢測裝置的立體示意圖。[0016]圖2為圖1的基板檢測裝置的前視示意圖。[0017]圖3為圖2的基板檢測裝置檢測出基板不平整時的前視示意圖。[0018]圖4為本實用新型的另一實施例的一種基板檢測裝置的立體示意圖。[0019]圖5為圖4的基板檢測裝置檢測出基板不平整時的前視示意圖。[0020]圖6為本實用新型的另一實施例的一種基板檢測裝置的立體示意圖。[0021]圖7為圖6的基板檢測裝置檢測出基板不平整時的前視示意圖。[0022]主要元件符號說明:[0023]50、50a、50b、50c:基棱140:感測處理器52a'52c:凸起142:處理甲-元100、100a:基板檢測裝W144、144a:第―:電性接點HO；運送'F臺150:彈性件120:基塵160、170；電_122:垂直部Dl:%一方向124:水平部D2:第二方_130、130a:滑輪組L:光線132、132a..第一電性接點請0:光遮斷器34:輔桿182:光接收器136:支撐架184:光發(fā)射器138:滑輪具體實施方式[0024]圖1為本實用新型的一實施例的一種基板檢測裝置的立體示意圖。圖2為圖1的基板檢測裝置的前視示意圖。為了使圖示清晰，圖2將圖1中的元件加以簡化，且由于視角的緣故，圖1中僅繪示出部分的元件。[0025]請同時參考圖1及圖2。本實施例的基板檢測裝置100是用于檢測一基板50的平整度。圖2中所繪示的是基板50為平整的情形?；鍣z測裝置100包括一運送平臺110、一基座120、一滑輪組130以及一感測處理器140。運送平臺110沿著一第一方向Dl運送基板50?；?20固定在運送平臺110上，滑輪組130可移動地設(shè)置在基座120，并位于運送平臺110上方。在本實施例中，滑輪組130可沿一第二方向D2移動，且此第二方向D2垂直于第一方向DI。此外，滑輪組130具有一第一電性接點132，感測處理器140具有一處理單元142以及一第二電性接點144。[0026]如圖2中所繪示，當(dāng)基板50沿第一方向Dl在運送平臺110上被運送，基板50介于滑輪組130與運送平臺110之間，且滑輪組130接觸基板50。并且，當(dāng)基板50為平整時(如圖2中所繪示的樣子)，第一電性接點132常態(tài)接觸第二電性接點144而與處理單元142形成一電路回路。在本實施例中，當(dāng)?shù)谝浑娦越狱c132維持接觸于第二電性接點144而形成電路回路，處理單元142可發(fā)出信號顯示運送平臺110上的基板50為平整。[0027]在本實施例中，第二電性接點144設(shè)置在基座120，而第一電性接點132設(shè)置在滑輪組130，其中第一電性接點132位在第二電性接點144的上方，并且當(dāng)基板50為平整狀態(tài)時，第一電性接點132會常態(tài)接觸于第二電性接點144。在其他的實施例中，第二電性接點144可以設(shè)置在運送平臺110的其他元件(未繪示)上，只要能與第一電性接點132常態(tài)接觸即可。[0028]此外，在本實施例中，基板檢測裝置100更包括兩條電線160、170，其中一條電線160連接于第一電性接點132與處理單元142之間，而其中另一條電線170連接于第二電性接點144與處理單元142之間。換言之，第一電性接點132、第二電性接點144是分別經(jīng)由電線160、170電性相連于處理單元142。在本實施例中，處理單元142可設(shè)置在基座120或是運送平臺110，本實用新型并不限制處理單元142的位置。[0029]請同時參考圖1及圖2，詳細(xì)而言，基座120具有一垂直部122以及一水平部124，其中垂直部122的表面平行于第二方向D2，而水平部124的表面平行于第一方向D1。在本實施例中，垂直部122固定在運送平臺110，而水平部124由垂直部122延伸。并且,垂直部122介于水平部124與運送平臺110之間以支撐水平部124。如圖1及圖2中所繪示，水平部124與運送平臺110之間具有一容置空間，滑輪組130配置在容置空間中，且滑輪組130的體積小于容置空間，使滑輪組130具備移動空間。[0030]承上述，滑輪組130包括一軸桿134、一支撐架136以及一滑輪138。軸桿134穿設(shè)基座120的水平部124，支撐架136固定于軸桿134的一末端，且滑輪138樞接于支撐架136。當(dāng)基板50由運送平臺110沿第一方向Dl運送，滑輪138接觸于基板50并被基板50帶動而轉(zhuǎn)動。如此，當(dāng)基板50為平整時，滑輪138可接觸于基板50且一面轉(zhuǎn)動而不影響基板50在運送平臺110上的運送。[0031]圖3為圖2的基板檢測裝置檢測出基板不平整時的前視示意圖。圖3中所繪示的是基板50a為不平整的情形。當(dāng)一不平整的基板50a沿第一方向Dl在運送平臺110上被運送，滑輪組130接觸于基板50a。具體而言，由于基板50a的不平整，在基板50a沿第一方向Dl前進(jìn)時，其凸起52a會推抵滑輪組130，使滑輪組130沿著基板50a的輪廓而有沿著第二方向D2的位移。在本實施例中，此位移使滑輪組130相對基座120靠近。進(jìn)一步地，設(shè)置在滑輪組130的第一電性接點132與第二電性接點144分離而電路回路斷路。[0032]承上述，本實施例的基板檢測裝置100是利用第一電性接點132與第二電性接點144兩者之間的接觸與否來決定不平整感測信號是否產(chǎn)生。并且，當(dāng)電路回路斷路產(chǎn)生，處理單元142可發(fā)出不平整感測信號顯示基板50a不平整，基板檢測裝置100的操作人員便可將不平整的基板50a由運送平臺110取下。或者基板檢測裝置100可以與其他自動化設(shè)備做連接，當(dāng)處理單元142發(fā)出信號顯示基板50a不平整，自動化設(shè)備如機械手臂可將基板50a由運送平臺110取下以避免后續(xù)制程產(chǎn)生問題。[0033]請參考圖3，詳細(xì)而言，當(dāng)滑輪138通過基板50a的不平整的凸起52a，凸起52a推抵滑輪138，使滑輪138帶動支撐架136及軸桿134沿著第二方向D2相對靠近基座120而使第一電性接點132與第二電性接點144分離。在本實施例中，滑輪組130可包括一滑軌(未繪示)，且基座120可包括一滑槽(未繪示)，滑輪組130沿第二方向D2滑設(shè)在基座120。當(dāng)滑輪138接觸凸起52a而被其推抵時，滑輪組130沿第二方向D2滑動而靠近基座120，進(jìn)一步使第一電性接點132與第二電性接點144分離。[0034]此外，在本實施例中，基板檢測裝置100更包括一彈性件150，例如彈簧，套設(shè)于軸桿134之外。彈性件150位于滑輪組130以及基座120之間，其一端相連于基座120的水平部124，另一端相連于滑輪組130的支撐架136。如圖3中所繪示，當(dāng)基板50a為不平整狀態(tài)時，滑輪組130會沿第二方向D2相對基座120靠近而壓縮彈性件150，并且在壓縮的過程中儲存彈性位能。當(dāng)不平整的基板50a由運送平臺110取下，彈性件150的彈性位能釋放而使滑輪組130回復(fù)到如圖2中的位置。如此，基板檢測裝置100可繼續(xù)檢測其他由運送平臺110運送的基板(未繪示)。簡單來說，彈性件150的設(shè)置，是用以讓第一電性接點132與第二電性接點144保持常態(tài)性的接觸。[0035]在此需說明的是，第一電性接點132、第二電性接點144以及處理單元142的電路回路可形成一常態(tài)短路或是常態(tài)斷路。具體而言，若電路回路于常態(tài)短路狀態(tài)時，第一電性接點132與第二電性接點144形成常態(tài)接觸，以當(dāng)不平整的基板50a而使滑輪組130以相對遠(yuǎn)離基板50a的第二方向D2產(chǎn)生位移時，第一電性接點132與第二電性接點144相互分離而形成斷路，此時，處理單元142將根據(jù)斷路狀態(tài)產(chǎn)生不平整感測信號。換言之，圖2與圖3的實施例所繪示的是常態(tài)短路的例子。[0036]圖4為本實用新型的另一實施例的一種基板檢測裝置的立體示意圖。圖4沿用圖2的元件標(biāo)號與部分內(nèi)容，其中采用相同的標(biāo)號來表示相同或近似的元件，并且省略了相同技術(shù)內(nèi)容的說明。關(guān)于省略部分的說明可參考前述實施例，于此不再重復(fù)贅述。圖4的實施例與圖2的實施例的差別主要在于，圖4的實施例是一種常態(tài)斷路的例子。[0037]請參考圖4，當(dāng)基板50為圖4中所繪示的平整狀態(tài)，第一電性接點132a與第二電性接點144a會維持分離。詳細(xì)而言，在圖4的實施例中，第二電性接點144a位在第一電性接點132a的上方，并且第一電性接點132a與第二電性接點144a之間相隔一間距，使兩者維持分離。請接著參考圖5，當(dāng)基板50a為如圖5中所繪示的不平整狀態(tài)，在滑輪組130a接觸到凸起52a時，滑輪組130a沿第二方向D2向上滑動，使配置在滑輪組130a第一電性接點132a接觸到上方的第二電性接點144a。[0038]也就是說，在本實施例中，若電路回路于常態(tài)斷路狀態(tài)時，第一電性接點132a與第二電性接點144a形成常態(tài)分離，以當(dāng)不平整的基板50a而使滑輪組130a以相對遠(yuǎn)離基板50a的第二方向D2產(chǎn)生位移時，第一電性接點132a與第二電性接點144a相互接觸而形成短路，此時，處理單元142將根據(jù)短路狀態(tài)產(chǎn)生不平整感測信號。[0039]圖6為本實用新型的另一實施例的一種基板檢測裝置的立體示意圖。圖6沿用圖2的元件標(biāo)號與部分內(nèi)容，其中采用相同的標(biāo)號來表示相同或近似的元件，并且省略了相同技術(shù)內(nèi)容的說明。關(guān)于省略部分的說明可參考前述實施例，于此不再重復(fù)贅述。圖6的實施例與圖2的實施例的差別主要在于，圖6的實施例是以無線的方式做檢測?；蛑f，圖6的實施例是以非接觸方式使感測處理器140進(jìn)一步產(chǎn)生不平整的感測信號，而圖2的實施例是以接觸方式使感測處理器140進(jìn)一步產(chǎn)生不平整的感測信號。[0040]請參考圖6，詳細(xì)而言，本實施例的基板檢測裝置IOOa更包括一光遮斷器180，且光遮斷器180包括一光接收器182以及一光發(fā)射器184。如圖6所繪示，在本實施例中，光接收器182配置在基座120，而光發(fā)射器184配置在滑輪組130。并且，在基板50b為圖6所繪示的平整狀態(tài)時，滑輪組130與基座120的相對位置使得配置在滑輪組130的光發(fā)射器184所發(fā)出的光線L適于被配置在基座120的光接收器182所接收。此外，感測處理器140電性連接于光遮斷器180，當(dāng)光接收器182沒有接受到光發(fā)射器184所發(fā)出的光線L時，感測處理器140便發(fā)出不平整的感測信號。[0041]圖7為圖6的基板檢測裝置檢測出基板不平整時的前視示意圖。請參考圖7，當(dāng)一不平整的基板50c沿第一方向Dl在運送平臺110上被運送，滑輪組130接觸于基板50c，并接觸到其凸起52c。此時滑輪組130以相對遠(yuǎn)離基板50c的方向產(chǎn)生位移，使得配置在滑輪組130的光發(fā)射器184所發(fā)出的光線L無法被光接收器182所接收。接著，感測處理器140便發(fā)出不平整的感測信號。在此須說明的是，光接收器182與光發(fā)射器184的設(shè)置方式并不以圖6中所繪示的為限，舉例而言，光接收器182也可以設(shè)置在滑輪組130，相對地光發(fā)射器184可設(shè)置在基座120。或者，光接收器182設(shè)置在滑輪組130，而光發(fā)射器184設(shè)置在運送平臺110的其他元件上。[0042]綜上所述，本實用新型的基板檢測裝置借由滑輪組來接觸基板，而感測處理器在基板不平整時可發(fā)出不平整的感測信號。檢測的方式可以是有線的方式或是無線的方式。以有線的方式而言，是利用滑輪組的第一電性接點接觸于感測處理器的第二電性接點或是分離于第二電性接點來檢測出基板的平整度。[0043]在一般狀態(tài)下，第一電性接點接觸于第二電性接點而與感測處理器的處理單元形成一電路回路。當(dāng)基板不平整，滑輪組產(chǎn)生相對遠(yuǎn)離基板的位移使第一電性接點與第二電性接點分離而電路回路斷路，并借此檢測出基板的不平整?；蛘?，第一電性接點不接觸于第二電性接點而維持一常態(tài)斷路狀態(tài)，當(dāng)基板不平整，第一電性接點與第二電性接點接觸而電路回路短路，并借此檢測出基板的不平整。[0044]此外，當(dāng)基板為平整時，滑輪受到基板的帶動而轉(zhuǎn)動，可避免影響平整的基板在運送平臺上的運送。當(dāng)基板為不平整時，滑輪帶動滑輪組產(chǎn)生位移，進(jìn)一步使第一電性接點與第二電性接點分離。另外，基板檢測裝置包括一彈性件，在滑輪組產(chǎn)生位移后可將滑輪組復(fù)位而繼續(xù)檢測其他由運送平臺運送的基板。當(dāng)檢測的方式為無線的方式，則可采用例如光遮斷器來達(dá)成檢測的目的。據(jù)此，本實用新型的基板檢測裝置可有效的檢測出基板的平整度。[0045]雖然本實用新型已以較佳實施例揭示如上，然其并非用以限定本實用新型，任何本領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本實用新型的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的修改和完善，因此本實用新型的保護(hù)范圍當(dāng)以權(quán)利要求書所界定的為準(zhǔn)。權(quán)利要求1.一種基板檢測裝置，用于檢測一基板的平整度，其特征在于該基板檢測裝置包括:一運送平臺，用以沿著一第一方向運送該基板；一基座，固定在該運送平臺上；一滑輪組，可移動地設(shè)置在該基座，并位于該運送平臺上方，該滑輪組用以接觸該基板，以在該基板不平整時該滑輪組沿著該基板的輪廓而有垂直于該第一方向的一第二方向的位移；以及一感測處理器，用以感測該滑輪組于該第二方向上的位移以產(chǎn)生不平整的感測信號。2.如權(quán)利要求1所述的基板檢測裝置，其特征在于，該滑輪組具有第一電性接點，而該感測處理器具有一處理單元以及一第二電性接點，且該處理單元與該第一電性接點及該第二電性接點電連接。3.如權(quán)利要求2所述的基板檢測裝置，其特征在于，該第二電性接點位于該第一電性接點之下，而該第一電性接點與該第二電性接點常態(tài)接觸。4.如權(quán)利要求2所述的基板檢測裝置，其特征在于，該第二電性接點位于該第一電性接點之上，而該第一電性接點與該第二電性接點常態(tài)分離。5.如權(quán)利要求2所述的基板檢測裝置，其特征在于，該感測處理器的該處理單元以無線或有線的方式與該第一電性接點及該第二電性接點電連接。6.如權(quán)利要求1所述的基板檢測裝置，其特征在于，該基座具有一垂直部以及一水平部，其中該垂直部的表面平行于該第二方向，而該水平部的表面平行于該第一方向。7.如權(quán)利要求1所述的基板檢測裝置，其特征在于，該滑輪組包括:一軸桿，穿設(shè)該基座的該水平部；一支撐架，固定于該軸桿的一末端；以及一滑輪，該滑輪樞接于該支撐架，用以沿著該基板的輪廓帶動該支撐架及該軸桿沿著該第二方向相對位移。8.如權(quán)利要求7所述的基板檢測裝置，其特征在于還包括一彈性件，套設(shè)于該軸桿之夕卜，并位于該滑輪組以及該基座之間。專利摘要一種基板檢測裝置，用于檢測一基板的平整度?；鍣z測裝置包括一運送平臺、一基座、一滑輪組及一感測處理器。運送平臺用以沿一第一方向運送基板?；潭ㄔ谶\送平臺上?；喗M可移動地設(shè)置在基座，并位于運送平臺上方。滑輪組用以接觸基板，以在基板不平整時滑輪組沿著基板的輪廓而有垂直于第一方向的一第二方向的位移。感測處理器用以感測滑輪組沿第二方向上的位移以產(chǎn)生不平整的感測信號。文檔編號G01B7/34GK203069137SQ20122074150公開日2013年7月17日申請日期2012年12月28日優(yōu)先權(quán)日2012年12月28日發(fā)明者陳忠賢申請人:金寶電子(中國)有限公司,金寶電子工業(yè)股份有限公司