一種x光機系統(tǒng)集成發(fā)生器耐壓測試方法
【專利摘要】本發(fā)明公開一種X光機系統(tǒng)集成發(fā)生器耐壓測試方法，包括以下步驟：保證發(fā)生器系統(tǒng)已斷電半小時以上；閉合千伏控制板上的跳線檢測電路；進行耐壓檢測，在10s內(nèi)將KVP值調(diào)整到180kV，并維持3min。本發(fā)明使得調(diào)試人員在裝配場地就能進行耐壓測試，從而大大方便了調(diào)試人員的調(diào)試流程，提高了生產(chǎn)效率。同時也不再需要為該耐壓測試專門制作測試設(shè)備，從而節(jié)約了成本。
【專利說明】一種X光機系統(tǒng)集成發(fā)生器耐壓測試方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及上耐壓測試方法，更確切地說是一種X光機系統(tǒng)集成發(fā)生器耐壓測試 方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 一套完成的X光機系統(tǒng)一般包括球管、高壓發(fā)生器、機架、圖像系統(tǒng)等四個部分。 外部交流電源從高壓發(fā)生器接入系統(tǒng)，在高壓發(fā)生器內(nèi)首先經(jīng)濾波后轉(zhuǎn)換成直流電源，接 下來直流電源將通過逆變模塊成為高頻的交流，該高頻交流輸入油箱，油箱內(nèi)部的高壓變 壓器會將該高頻交流變壓成為高頻高壓的交流，最后經(jīng)整流濾波后輸入到球管。球管接受 高壓并加載到陰極和陽極，同時加熱燈絲，使燈絲發(fā)射出點子流轟擊陽極靶面，從而產(chǎn)生X 射線。X射線穿透人體組織，到達接收器，接收器接收X射線，并將接收的X線光子轉(zhuǎn)換成 電荷，再由薄膜晶體管陣列將電信號讀出并經(jīng)AD轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號后將數(shù)據(jù)通過光纖傳送 至電腦，電腦讀取數(shù)據(jù)并處理后將圖像顯示在顯示器上。機架則用來承載球管、接收器和病 人，醫(yī)生可控制球管和接收器以及床面的轉(zhuǎn)動來獲取最佳的拍攝位置。
[0003]X光機的成像效果一般受3個主要因素控制：電壓kV、電流mA、曝光時間t，其中電 壓kV決定了X射線的能量大小，即穿透力的強弱，電流mA和曝光時間的乘積即mAs決定了 X射線數(shù)量的多少，即感光力的強弱。
[0004] 對于X光機系統(tǒng)中使用的發(fā)生器，根據(jù)GB9706. 3-2000醫(yī)用電氣設(shè)備第2部分： 診斷X射線發(fā)生裝置的高壓發(fā)生器安全專用要求20. 3試驗電壓值增補要求：試驗時不接 X射線管，試驗電壓應(yīng)為高壓發(fā)生器標稱X射線管電壓的1. 2倍。即對于一個輸出電壓范 圍40kV?150kV的發(fā)生器來說，根據(jù)標準要求應(yīng)能以90kV的試驗電壓開始，在IOs內(nèi)升到 180kV，并維持 3min。
[0005] 對于該標準要求，大部分發(fā)生器的做法是為該測試專門定制一套測試設(shè)備，在需 要進行測試的時候?qū)⒀b置連接于測試設(shè)備，對測試設(shè)備進行操作來進行測試。
[0006] 但由于測試設(shè)備一般數(shù)量較少，當發(fā)生器訂單較多時往往滿足不了測試需要，并 且由于測試裝置往往與發(fā)生器裝配、調(diào)試不在一個調(diào)試間，需要測試人員運載裝置至測試 點進行測試，需要多耗費人力和時間。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0007] 本發(fā)明的目的是提供一種X光機系統(tǒng)集成發(fā)生器耐壓測試方法，其可以解決現(xiàn)有 技術(shù)中費時費力的缺點。
[0008] 本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：
[0009] 一種X光機系統(tǒng)集成發(fā)生器耐壓測試方法，包括以下步驟：
[0010] (1)、發(fā)生器系統(tǒng)已斷電半小時以上；
[0011] (2)、閉合千伏控制板上的跳線檢測電路；
[0012] (3)、進行耐壓檢測，在IOs內(nèi)將KVP值調(diào)整到180kV，并維持3min。
[0013] 所述檢測電路包括一正極檢測電路及一負極檢測電路，所述正極檢測電路一端與 X光機系統(tǒng)正極電路連接，另一端接地；所述負極檢測電路一端與X光機系統(tǒng)負極電路連 接，另一端接地。
[0014] 所述正極檢測電路包括一第五電阻。
[0015] 所述負極檢測電路包括一第十電阻。
[0016] 所述X光機系統(tǒng)正極電路包括一第十A電阻，所述第十A電阻的一端連接一高 壓反饋輸出端，所述第十A電阻的另一端連接一第十五電阻，且所述第十五電阻另一端接 地，所述第十A電阻的另一端串聯(lián)一第二電阻，所述第二電阻的另一端連接一第一正極運 算放大器的一反相輸入端，且所述第十A電阻的另一端串聯(lián)一第一電容及一第一電阻后連 接第一正極運算放大器的同相輸入端，第一正極運算放大器的電源負串聯(lián)一第五電容及一 第十一電阻后連接一第二正極運算放大器的同相輸入端，第一正極運算放大器的電源正極 連接一第六電容后接地，所述第一正極運算放大器的輸出端并聯(lián)一第十二電阻后連接一第 二正極運算放大器的反相輸入端，所述第二正極運算放大器的電源負極連接一第七電阻后 接地，所述第二正極運算放大器的電源正極連接一第八電容后接地；還包括一第十三電阻， 其兩端連接于所述第二正極運算放大器的同相輸入端及其輸出端；還包括一第一電容，其 兩端連接于所述第十A電阻及所述第一電阻之間；還包括一第三電阻，所述第三電阻的一 端連接于第一正極運算放大器的反相輸入端，另一端接地；還包括第三雙向觸發(fā)二極管，所 述三雙向觸發(fā)二極管一端連接一所述第一電容及第一電阻之間，另一端接地；還包括一第 五二極管，其負極連接于所述第二電阻及所述第一運算放器之間；還包括一第四電阻及第 三電容，所述第四電阻及所述第三電容兩端均連接于所述第二正極運算放大器的反相輸入 端及其輸出端；還包括一第六二極管，其正極端連接于所述第二電阻及所述第一運算放器 之間。
[0017] 所述X光機系統(tǒng)負極電路包括一第十B電阻，所述第十B電阻的一端連接一高壓 反饋輸入端，所述第十B電阻另一端連接一第十五電阻，且所述第十五電阻另一端接地，所 述第十A電阻的另一端串聯(lián)一第二電容及一第六電阻后連接一第一負極運算放大器的一 同相輸入端，且所述第十B電阻的另一端串聯(lián)及一第七電阻后連接第一負極運算放大器的 反相輸入端，所述第一負極運算放大器的輸出端并聯(lián)一第十四電阻；還包括一第七二極管， 其負極連接于所述第七電阻及所述第一負極運算放器反相輸入端之間；還包括一第九電阻 及第四電容，第九電阻及第四電容兩端均連接于所述第二運算放大器的反相輸入端及其輸 出端；還包括一第八二極管，其正極端連接于所述第七電阻及所述第一負極運算放器之間。
[0018] 本發(fā)明的優(yōu)點是：本發(fā)明使得調(diào)試人員在裝配場地就能進行耐壓測試，從而大大 方便了調(diào)試人員的調(diào)試流程，提高了生產(chǎn)效率。同時也不再需要為該耐壓測試專門制作測 試設(shè)備,從而節(jié)約了成本。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0019] 下面結(jié)合實施例和附圖對本發(fā)明進行詳細說明，其中：
[0020] 圖1是本發(fā)明X光機系統(tǒng)正極電路的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0021] 圖2是本發(fā)明X光機系統(tǒng)負極電路的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實施方式】
[0022] 下面結(jié)合附圖進一步闡述本發(fā)明的【具體實施方式】：
[0023] -種X光機系統(tǒng)集成發(fā)生器耐壓測試方法，包括以下步驟：
[0024] (1)、保證發(fā)生器系統(tǒng)已斷電半小時以上，拔掉油箱上與球管連接的陽/陰極高壓 電纜；
[0025] (2)、閉合千伏控制板上的跳線檢測電路；
[0026] (3)、進行耐壓檢測，在IOs內(nèi)將KVP值調(diào)整到180kV，并維持3min。
[0027] 所述檢測電路包括一正極檢測電路及一負極檢測電路，所述正極檢測電路一端與 X光機系統(tǒng)正極電路連接，另一端接地；所述負極檢測電路一端與X光機系統(tǒng)負極電路連 接，另一端接地。
[0028] 所述正極檢測電路包括一第五電阻。
[0029] 所述負極檢測電路包括一第十電阻。
[0030] 所述X光機系統(tǒng)正極電路包括一第十A電阻R10A，所述第十A電阻的一端連接一 高壓反饋輸出端(該處的電壓為VIN)，所述第十A電阻的另一端連接一第十五電阻R15,且 所述第十五電阻另一端接地，所述第十A電阻的另一端串聯(lián)一第二電阻R2,所述第二電阻 的另一端連接一第一正極運算放大器UlA的一反相輸入端，且所述第十A電阻的另一端串 聯(lián)一第一電容Cl及一第一電阻Rl后連接第一正極運算放大器的同相輸入端，第一正極運 算放大器的電源負極串聯(lián)一第五電容及一第十一電阻Rll后連接一第二正極運算放大器 U2A的同相輸入端，第一正極運算放大器的電源正極連接一第六電容C6后接地，所述第一 正極運算放大器的輸出端并聯(lián)一第十二電阻后R12連接一第二正極運算放大器的反相輸 入端，所述第二正極運算放大器的電源負極連接一第七電阻R7后接地，所述第二正極運算 放大器的電源正極連接一第八電容C8后接地；還包括一第十三電阻R13,其兩端連接于所 述第二正極運算放大器的同相輸入端及其輸出端；還包括一第一電容C1，其兩端連接于所 述第十A電阻及所述第一電阻Rl之間；還包括一第三電阻R3,所述第三電阻的一端連接于 第一正極運算放大器的反相輸入端，另一端接地；還包括第三雙向觸發(fā)二極管D3,所述三 雙向觸發(fā)二極管一端連接一所述第一電容及第一電阻之間，另一端接地；還包括一第五二 極管D2,其負極連接于所述第二電阻及所述第一運算放器之間；還包括一第四電阻R4及第 三電容C3,所述第四電阻及所述第三電容兩端均連接于所述第二正極運算放大器的反相輸 入端及其輸出端；還包括一第六二極管D6,其正極端連接于所述第二電阻及所述第一運 算放器之間。
[0031] 所述X光機系統(tǒng)負極電路包括一第十B電阻R10B，所述第十B電阻的一端連接一 高壓反饋輸入端（-VIN)，所述第十B電阻另一端連接一第十五電阻R15,且所述第十五電阻 另一端接地，所述第十A電阻的另一端串聯(lián)一第二電容C2及一第六電阻R6后連接一第一 負極運算放大器的UlB-同相輸入端，且所述第十B電阻的另一端串聯(lián)及一第七電阻R7后 連接第一負極運算放大器的反相輸入端，所述第一負極運算放大器的輸出端并聯(lián)一第十四 電阻R14 ;還包括一第七二極管D7,其負極連接于所述第七電阻R7及所述第一負極運算放 器之間；還包括一第九電阻R9及第三電容C4,所述第九電阻R9及第三電容C4兩端均連接 于所述第一負極運算放大器的UlB的反相輸入端及其輸出端；還包括一第八二極管D8,其 正極端連接于所述第七電阻及所述第一負極運算放器反相輸入端之間；還包括一第十六 電阻R16,其一端連接于所述第一負極運算放器之間同向輸入端，另一端接地。
[0032] 陽極反饋電路的工作原理如下：
[0033] 在一般模式(非180KV)時JPl沒有連接上，所以反饋比例為：
[0034]

【權(quán)利要求】
1. 一種X光機系統(tǒng)集成發(fā)生器耐壓測試方法，其特征在于，包括w下步驟： (1) 、發(fā)生器系統(tǒng)已斷電半小時W上； (2) 、閉合千伏控制板上的跳線檢測電路； (3) 、進行耐壓檢測，在10s內(nèi)將KVP值調(diào)整到180kV，并維持3min。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的X光機系統(tǒng)集成發(fā)生器耐壓測試方法，其特征在于，所述檢測 電路包括一正極檢測電路及一負極檢測電路，所述正極檢測電路一端與X光機系統(tǒng)正極電 路連接，另一端接地；所述負極檢測電路一端與X光機系統(tǒng)負極電路連接，另一端接地。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的X光機系統(tǒng)集成發(fā)生器耐壓測試方法，其特征在于，所述正極 檢測電路包括一第五電阻。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的X光機系統(tǒng)集成發(fā)生器耐壓測試方法，其特征在于，所述負極 檢測電路包括一第十電阻。
5. 根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的X光機系統(tǒng)集成發(fā)生器耐壓測試方法，其特征在于，所述 X光機系統(tǒng)正極電路包括一第十A電阻，所述第十A電阻的一端連接一高壓反饋輸出端，所 述第十A電阻的另一端連接一第十五電阻，且所述第十五電阻另一端接地，所述第十A電阻 的另一端串聯(lián)一第二電阻，所述第二電阻的另一端連接一第一正極運算放大器的一反相輸 入端，且所述第十A電阻的另一端串聯(lián)一第一電容及一第一電阻后連接第一正極運算放大 器的同相輸入端，第一正極運算放大器的電源負串聯(lián)一第五電容及一第^ 電阻后連接一 第二正極運算放大器的同相輸入端，第一正極運算放大器的電源正極連接一第六電容后接 地，所述第一正極運算放大器的輸出端并聯(lián)一第十二電阻后連接一第二正極運算放大器的 反相輸入端，所述第二正極運算放大器的電源負極連接一第走電阻后接地，所述第二正極 運算放大器的電源正極連接一第八電容后接地；還包括一第十H電阻，其兩端連接于所述 第二正極運算放大器的同相輸入端及其輸出端；還包括一第一電容，其兩端連接于所述第 十A電阻及所述第一電阻之間；還包括一第H電阻，所述第H電阻的一端連接于第一正極 運算放大器的反相輸入端，另一端接地；還包括第H雙向觸發(fā)二極管，所述H雙向觸發(fā)二極 管一端連接一所述第一電容及第一電阻之間，另一端接地；還包括一第五二極管，其負極連 接于所述第二電阻及所述第一運算放器之間；還包括一第四電阻及第H電容，所述第四電 阻及所述第H電容兩端均連接于所述第二正極運算放大器的反相輸入端及其輸出端；還包 括一第六二極管，其正極端連接于所述第二電阻及所述第一運算放器之間。
6. 根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的X光機系統(tǒng)集成發(fā)生器耐壓測試方法，其特征在于，所述 X光機系統(tǒng)負極電路包括一第十B電阻，所述第十B電阻的一端連接一高壓反饋輸入端，所 述第十B電阻另一端連接一第十五電阻，且所述第十五電阻另一端接地，所述第十A電阻的 另一端串聯(lián)一第二電容及一第六電阻后連接一第一負極運算放大器的一同相輸入端，且所 述第十B電阻的另一端串聯(lián)及一第走電阻后連接第一負極運算放大器的反相輸入端，所述 第一負極運算放大器的輸出端并聯(lián)一第十四電阻；還包括一第走二極管，其負極連接于所 述第走電阻及所述第一負極運算放器反相輸入端之間；還包括一第九電阻及第四電容，第 九電阻及第四電容兩端均連接于所述第二運算放大器的反相輸入端及其輸出端；還包括一 第八二極管，其正極端連接于所述第走電阻及所述第一負極運算放器之間。
【文檔編號】G01R31/12GK104345251SQ201310312312
【公開日】2015年2月11日 申請日期:2013年7月23日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月23日
【發(fā)明者】不公告發(fā)明人 申請人:上?？颠_醫(yī)學科技有限公司