一種電機失步的檢測方法和檢測設備的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開一種電機失步的檢測方法和檢測設備，能夠檢測步進電機整步或細分運行時是否失步，并且易于工程實現(xiàn)。該方法包括：對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)；確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預設門限值；若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得并存儲第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止；統(tǒng)計存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計值；若所述統(tǒng)計值小于第二預設門限值，則確定所述電機失步。本發(fā)明適用于電機控制領域。
【專利說明】一種電機失步的檢測方法和檢測設備
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及電機控制領域，尤其涉及一種電機失步的檢測方法和檢測設備。
【背景技術】
[0002]步進電機是將電脈沖信號轉變?yōu)榻俏灰苹蚓€位移的開環(huán)控制元步進電機件。步進電機是機電一體化的關鍵產(chǎn)品之一，步進電機因其控制簡單，轉動精度高并且成本低，而被廣泛應用在各種自動化控制系統(tǒng)中。而步進電機在運行過程中，很容易發(fā)生電機失步，而電機失步時，會直接影響數(shù)控系統(tǒng)的穩(wěn)定性和控制精度，使電機在高精度應用場合的應用受到限制。
[0003]為了防止電機失步帶來的影響，保證數(shù)控系統(tǒng)的穩(wěn)定性和控制精度，相關技術的領域人員提供了多種電機失步的檢測技術。其中，一種技術中利用在電機的傳動裝置上添加傳感器的方式來反饋步進電機轉動的當前位置，進而判斷電機是否失步。該技術需要在傳動裝置上安裝傳感器，工程實現(xiàn)復雜。另一種技術中通過檢測電機轉動時產(chǎn)生的反向電動勢來確定電機是否失步。該技術只能應用于步進電機整步運行的情況，對于步進電機細分運行的情況無法檢測。另一種技術中通過檢測電機線圈電流或者電壓的上升時間來判斷步進電機是否失步。該技術中，上升沿的開始位置和終止位置的門限值難以確定，并且上升沿時間的實時性也難以確定，工程設計很難實現(xiàn)。因此，提供一種易于工程實現(xiàn)的檢測步進電機整步或細分運行時是否失步方法很有必要。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0004]本發(fā)明的實施例提供一種電機失步的檢測方法和檢測設備,能夠檢測步進電機整步或細分運行時是否失步，并且易于工程實現(xiàn)。
[0005]為達到上述目的，本發(fā)明的實施例采用如下技術方案:
[0006]第一方面，本發(fā)明提供一種電機失步的檢測方法，所述方法包括:
[0007]對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)；
[0008]確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預設門限值；
[0009]若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得并存儲第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止；
[0010]統(tǒng)計存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計值；
[0011]若所述統(tǒng)計值小于第二預設門限值，則確定所述電機失步。
[0012]在第一方面的第一種可能的實現(xiàn)方式中，根據(jù)第一方面，在所述確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預設門限值之后，該方法還包括:
[0013]若所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值，則對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得并存儲第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于或等于所述第一預設門限值為止。
[0014]在第一方面的第二種可能的實現(xiàn)方式中，結合第一方面或第一方面的第一種可能的實現(xiàn)方式，所述若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得并存儲第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止具體包括:
[0015]若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，則對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值；
[0016]對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得并存儲第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止。
[0017]在第一方面的第三種可能的實現(xiàn)方式中，結合第一方面或第一方面的第一種可能的實現(xiàn)方式或第一方面的第二種可能的實現(xiàn)方式，所述統(tǒng)計存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計值具體包括:
[0018]對存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)進行方差計算，獲得統(tǒng)計值。
[0019]在第一方面的第四種可能的實現(xiàn)方式中，結合第一方面或第一方面的第一種可能的實現(xiàn)方式至第一方面的第三種可能的實現(xiàn)方式，所述對所述電機的電壓或電流進行采樣具體包括:
[0020]以固定頻率對所述電機的電壓或電流進行采樣。
[0021]在第一方面的第五種可能的實現(xiàn)方式中，根據(jù)第一方面的第四種可能的實現(xiàn)方式，在所述對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)之前，所述方法還包括:
[0022]獲得所述電機的轉動速率；
[0023]根據(jù)所述電機的轉動速率，確定所述固定頻率，所述固定頻率小于或等于所述電機的轉動速率。
[0024]第二方面，本發(fā)明提供一種電機失步檢測設備，所述電機失步檢測設備包括:獲得單元、確定單元、存儲單元和統(tǒng)計單元；
[0025]所述獲得單元，用于對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)；
[0026]所述確定單元，用于確定所述獲得單元獲得的第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預設門限值；
[0027]所述存儲單元，用于若所述確定單元確定所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)；
[0028]所述獲得單元，還用于在所述存儲單元存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)之后，對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止；
[0029]所述存儲單元，還用于存儲所述第二采樣數(shù)據(jù)；
[0030]所述統(tǒng)計單元，用于統(tǒng)計所述存儲單元存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計值；
[0031]所述確定單元，還用于若所述統(tǒng)計單元統(tǒng)計的所述統(tǒng)計值小于第二預設門限值，則確定所述電機失步。
[0032]在第二方面的第一種可能的實現(xiàn)方式中，根據(jù)第二方面，所述獲得單元，還用于若所述確定單元確定所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值，則對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值；
[0033]所述獲得單元，還用于對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于或等于所述第一預設門限值為止。
[0034]在第二方面的第二種可能的實現(xiàn)方式中，結合第二方面或第二方面的第一種可能的實現(xiàn)方式，所述獲得單元，具體用于:
[0035]若所述獲得單元獲得的所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，則對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值；
[0036]對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值；
[0037]所述獲得單元，具體還用于對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止。
[0038]在第二方面的第三種可能的實現(xiàn)方式中，結合第二方面或第二方面的第一種可能的實現(xiàn)方式或第二方面的第二種可能的實現(xiàn)方式，所述統(tǒng)計單元，具體用于:
[0039]對存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)進行方差計算，獲得統(tǒng)計值。
[0040]在第二方面的第四種可能的實現(xiàn)方式中，結合第二方面或第二方面的第一種可能的實現(xiàn)方式至第二方面的第三種可能的實現(xiàn)方式，所述獲得單元，具體用于:
[0041 ] 以固定頻率對所述電機的電壓或電流進行采樣。
[0042]在第二方面的第五種可能的實現(xiàn)方式中，根據(jù)第二方面的第四種可能的實現(xiàn)方式，所述獲得單元，還用于獲得所述電機的轉動速率；
[0043]所述確定單元，還用于根據(jù)所述獲得單元獲得的所述電機的轉動速率，確定所述固定頻率，所述固定頻率小于或等于所述電機的轉動速率。
[0044]本發(fā)明實施例提供的一種電機失步的檢測方法和檢測設備，對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)；確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預設門限值；若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得并存儲第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止；統(tǒng)計存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計值；若所述統(tǒng)計值小于第二預設門限值，則確定所述電機失步。本方案中，通過對步進電機的電壓或電流進行多次采樣，可以獲得采樣數(shù)據(jù)，根據(jù)采樣數(shù)據(jù)可以確定步進電機的電壓或電流變化的波動趨勢，進而，能夠檢測步進電機整步或細分運行時是否失步，并且該方法不需要安裝傳感器，易于工程實現(xiàn)。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0045]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0046]圖1為本發(fā)明實施例提供的一種電機失步的檢測方法的流程示意圖；
[0047]圖2為本發(fā)明實施例提供的另一種電機失步的檢測方法的流程示意圖；
[0048]圖3為本發(fā)明實施例提供的又一種電機失步的檢測方法的流程示意圖；
[0049]圖4為本發(fā)明實施例提供的一種電機失步檢測設備的結構示意圖；
[0050]圖5為本發(fā)明實施例提供的另一種電機失步檢測設備的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0051]下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0052]本文中術語“和/或”，僅僅是一種描述關聯(lián)對象的關聯(lián)關系，表示可以存在三種關系，例如，A和/或B，可以表示:單獨存在A，同時存在A和B，單獨存在B這三種情況。另夕卜，本文中字符“/”，一般表示前后關聯(lián)對象是一種“或”的關系。
[0053]實施例一、
[0054]本發(fā)明實施例提供一種電機失步的檢測方法，如圖1所示，所述方法包括:
[0055]101、對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)。
[0056]具體的，電機失步檢測設備可以以固定頻率、按照一定規(guī)律變化的頻率等對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)。
[0057]102、確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預設門限值。
[0058]當電機采用恒相流電機驅動方式時，電機線圈在轉動過程中會產(chǎn)生反向電動勢。當電機正常運行時，電機線圈在原有的電壓的基礎上會疊加反向電動勢，這樣，電機的電壓或電流會有較大的波動；而當電機失步時，電機線圈不轉動，進而，不能產(chǎn)生感應電動勢，這樣，電機的電壓或電流不會有較大的波動。
[0059]所述第一門限值可以根據(jù)電機采用的恒相流驅動器所設定的電流值來進行設定。
[0060]具體的，所述第一門限值可以根據(jù)電機采用的恒相流驅動器所設定的電流或電壓、電流或電壓的波動范圍、輸出壓降以及模擬/數(shù)字轉換器(Analog-to-DigitalConverter, ADC)采樣誤差等進行修正來獲得第一門限值。
[0061]103、若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得并存儲第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止。
[0062]104、統(tǒng)計存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計值。
[0063]具體的，可以對第一采樣數(shù)據(jù)和第二采樣數(shù)據(jù)進行方差計算。
[0064]所述電機故障的檢測裝置可以將所述第一采樣數(shù)據(jù)和第二采樣數(shù)據(jù)與所述第一預設門限值進行方差計算；或者，將所述第一采樣數(shù)據(jù)和第二采樣數(shù)據(jù)，與所述第一采樣數(shù)據(jù)和第二采樣數(shù)據(jù)的平均值進行方差計算。
[0065]105、若所述統(tǒng)計值小于第二預設門限值，則確定所述電機失步。
[0066]在理論情況下，電機失步時，計算出的方差應該為O。但實際情況下，考慮電流波動、ADC采樣誤差等系統(tǒng)噪聲后，該方差值會被放大，具體會被放大的范圍因不同的電機、不同的驅動器會有所區(qū)別。所以第二預設門限值必須在所述電機失步檢測設備每次上電的時候進行初始化矯正。
[0067]具體操作過程如下，所述電機失步檢測設備上電時，讓電機處于失步狀態(tài)，所述電機失步檢測設備會自動對電流進行采樣并求方差，多次計算求平均后自動設定第二門限值，設定完畢后就可以使得電機正常工作了。
[0068]本發(fā)明實施例提供一種電機失步的檢測方法，對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)；確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預設門限值；若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得并存儲第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止；統(tǒng)計存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計值；若所述統(tǒng)計值小于第二預設門限值，則確定所述電機失步。本方案中，通過對步進電機的電壓或電流進行多次采樣，可以獲得采樣數(shù)據(jù)，根據(jù)采樣數(shù)據(jù)可以確定步進電機的電壓或電流變化的波動趨勢，進而，能夠檢測步進電機整步或細分運行時是否失步，并且該方法不需要安裝傳感器，易于工程實現(xiàn)。
[0069]實施例二、
[0070]本發(fā)明實施例提供一種電機失步的檢測方法，如圖2所示，所述方法包括:
[0071 ] 201、對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)。
[0072]具體的，電機失步檢測設備可以以固定頻率、按照一定規(guī)律變化的頻率等對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)。
[0073]在以固定頻率對所述電機的電壓或電流進行采樣時，可以首先獲得所述電機的轉動速率；然后，根據(jù)所述電機的轉動速率，確定所述固定頻率。其中，所述固定頻率小于或等于所述電機的轉動速率。
[0074]202、確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預設門限值。
[0075]當電機采用恒相流電機驅動方式時，電機線圈在轉動過程中會產(chǎn)生反向電動勢。當電機正常運行時，電機線圈在原有的電壓的基礎上會疊加反向電動勢，這樣，電機的電壓或電流會有較大的波動；而當電機失步時，電機線圈不轉動，進而，不能產(chǎn)生感應電動勢，這樣，電機的電壓或電流不會有較大的波動。
[0076]所述第一門限值可以根據(jù)電機采用的恒相流驅動器所設定的電流值來進行設定。
[0077]具體的，所述第一門限值可以根據(jù)電機采用的恒相流驅動器所設定的電流或電壓、電流或電壓的波動范圍、輸出壓降以及模擬/數(shù)字轉換器(Analog-to-DigitalConverter, ADC)采樣誤差等進行修正來獲得第一門限值。
[0078]203、若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得并存儲第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止。
[0079]204、若所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值，則對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得并存儲第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于或等于所述第一預設門限值為止。
[0080]205、統(tǒng)計存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計值。[0081 ] 具體的，可以對第一采樣數(shù)據(jù)和第二采樣數(shù)據(jù)進行方差計算。
[0082]所述電機故障的檢測裝置可以將所述第一采樣數(shù)據(jù)和第二采樣數(shù)據(jù)與所述第一預設門限值進行方差計算；或者，將所述第一采樣數(shù)據(jù)和第二采樣數(shù)據(jù)，與所述第一采樣數(shù)據(jù)和第二采樣數(shù)據(jù)的平均值進行方差計算。
[0083]206、若所述統(tǒng)計值小于第二預設門限值，則確定所述電機失步。
[0084]在理論情況下，電機失步時，計算出的方差應該為O。但實際情況下，考慮電流波動、ADC采樣誤差等系統(tǒng)噪聲后，該方差值會被放大，具體會被放大的范圍因不同的電機、不同的驅動器會有所區(qū)別。所以第二預設門限值必須在所述電機失步檢測設備每次上電的時候進行初始化矯正。
[0085]具體操作過程如下，所述電機失步檢測設備上電時，讓電機處于失步狀態(tài)，所述電機失步檢測設備會自動對電流進行采樣并求方差，多次計算求平均后自動設定第二門限值，設定完畢后就可以使得電機正常工作了。
[0086]可選的，為了使得電機故障的檢測更為準確，如圖3所示，所述方法包括:
[0087]301、對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)。
[0088]具體的，電機失步檢測設備可以以固定頻率、按照一定規(guī)律變化的頻率等對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)。
[0089]在以固定頻率對所述電機的電壓或電流進行采樣時，可以首先獲得所述電機的轉動速率；然后，根據(jù)所述電機的轉動速率，確定所述固定頻率。其中，所述固定頻率小于或等于所述電機的轉動速率。
[0090]302、確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預設門限值。
[0091]303、若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，則對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止。
[0092]304、對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得并存儲第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止。
[0093]305、若所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值，則對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得并存儲第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于或等于所述第一預設門限值為止。
[0094]306、統(tǒng)計存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計值。
[0095]307、若所述統(tǒng)計值小于第二預設門限值，則確定所述電機失步。
[0096]本發(fā)明實施例提供一種電機失步的檢測方法，對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)；確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預設門限值；若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得并存儲第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止；統(tǒng)計存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計值；若所述統(tǒng)計值小于第二預設門限值，則確定所述電機失步。本方案中，通過對步進電機的電壓或電流進行多次采樣，可以獲得采樣數(shù)據(jù)，根據(jù)采樣數(shù)據(jù)可以確定步進電機的電壓或電流變化的波動趨勢，進而，能夠檢測步進電機整步或細分運行時是否失步，并且該方法不需要安裝傳感器，易于工程實現(xiàn)。
[0097]實施例三、
[0098]本發(fā)明實施例提供一種電機失步檢測設備，如圖4所示，所述電機失步檢測設備40包括:獲得單元41、確定單元42、存儲單元43和統(tǒng)計單元44。
[0099]所述獲得單元41，用于對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)。
[0100]所述確定單元42，用于確定所述獲得單元41獲得的第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預設門限值。
[0101]所述存儲單元43，用于若所述確定單元42確定所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)。
[0102]所述獲得單元41，還用于在所述存儲單元43存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)之后，對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止。
[0103]所述存儲單元43，還用于存儲所述第二采樣數(shù)據(jù)。
[0104]所述統(tǒng)計單元44，用于統(tǒng)計所述存儲單元43存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計值。
[0105]所述確定單元42，還用于若所述統(tǒng)計單元44統(tǒng)計的所述統(tǒng)計值小于第二預設門限值，則確定所述電機失步。
[0106]進一步的，所述獲得單元41，還用于若所述確定單元42確定所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值，則對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值。
[0107]所述獲得單元41，還用于對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于或等于所述第一預設門限值為止。
[0108]進一步的，所述獲得單元41，具體用于:
[0109]若所述獲得單元41獲得的所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，則對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值；
[0110]對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值。
[0111]所述獲得單元41，具體還用于對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止。
[0112]進一步的，所述統(tǒng)計單元44，具體用于:
[0113]對存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)進行方差計算，獲得統(tǒng)計值。
[0114]進一步的，所述獲得單元41，具體用于:
[0115]以固定頻率對所述電機的電壓或電流進行采樣。
[0116]進一步的，所述獲得單元41，還用于獲得所述電機的轉動速率。
[0117]所述確定單元42，還用于根據(jù)所述獲得單元41獲得的所述電機的轉動速率，確定所述固定頻率，所述固定頻率小于或等于所述電機的轉動速率。
[0118]本發(fā)明實施例提供一種電機失步檢測設備，所述獲得單元對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)；所述確定單元確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預設門限值；若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，所述存儲單元存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)，所述獲得單元對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得并存儲第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止；所述統(tǒng)計單元統(tǒng)計存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計值；若所述統(tǒng)計值小于第二預設門限值，則所述確定單元確定所述電機失步。本方案中，通過對步進電機的電壓或電流進行多次采樣，可以獲得采樣數(shù)據(jù)，根據(jù)采樣數(shù)據(jù)可以確定步進電機的電壓或電流變化的波動趨勢，進而，能夠檢測步進電機整步或細分運行時是否失步，并且該方法不需要安裝傳感器，易于工程實現(xiàn)。
[0119]實施例四、
[0120]本發(fā)明實施例提供一種電機失步檢測設備，如圖5所示，所述電機失步檢測設備50包括:處理器51和存儲器52。
[0121]所述處理器51，用于對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)。
[0122]所述處理器51，用于確定獲得的第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預設門限值。
[0123]所述存儲器52，用于若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)。
[0124]所述處理器51，還用于在存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)之后，對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止。
[0125]所述存儲器52，還用于存儲所述第二采樣數(shù)據(jù)。
[0126]所述處理器51，用于統(tǒng)計所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計值。
[0127]所述處理器51，還用于若所述統(tǒng)計值小于第二預設門限值，則確定所述電機失步。
[0128]進一步的，所述處理器51，還用于若所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值，則對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值。
[0129]所述處理器51，還用于對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于或等于所述第一預設門限值為止。
[0130]進一步的，所述處理器51，具體用于:
[0131 ] 若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，則對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值；
[0132]對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值。
[0133]所述處理器51，具體還用于對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止。
[0134]進一步的，所述處理器51，具體用于:
[0135]對存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)進行方差計算，獲得統(tǒng)計值。
[0136]進一步的，所述處理器51，具體用于:
[0137]以固定頻率對所述電機的電壓或電流進行采樣。
[0138]進一步的，所述處理器51，還用于獲得所述電機的轉動速率。
[0139]所述處理器51，還用于根據(jù)所述電機的轉動速率，確定所述固定頻率，所述固定頻率小于或等于所述電機的轉動速率。
[0140]本發(fā)明實施例提供一種電機失步檢測設備，所述處理器對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)；所述處理器確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預設門限值；若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，所述存儲器存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)，所述處理器對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得并存儲第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止；所述處理器統(tǒng)計存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計值；若所述統(tǒng)計值小于第二預設門限值，則所述處理器確定所述電機失步。本方案中，通過對步進電機的電壓或電流進行多次采樣，可以獲得采樣數(shù)據(jù)，根據(jù)采樣數(shù)據(jù)可以確定步進電機的電壓或電流變化的波動趨勢，進而，能夠檢測步進電機整步或細分運行時是否失步，并且該方法不需要安裝傳感器，易于工程實現(xiàn)。
[0141]所屬領域的技術人員可以清楚地了解到，為描述的方便和簡潔，僅以上述各功能模塊的劃分進行舉例說明，實際應用中，可以根據(jù)需要而將上述功能分配由不同的功能模塊完成，即將裝置的內(nèi)部結構劃分成不同的功能模塊，以完成以上描述的全部或者部分功能。上述描述的系統(tǒng)，裝置和單元的具體工作過程，可以參考前述方法實施例中的對應過程，在此不再贅述。
[0142]在本申請所提供的幾個實施例中，應該理解到，所揭露的系統(tǒng)，裝置和方法，可以通過其它的方式實現(xiàn)。例如，以上所描述的裝置實施例僅僅是示意性的，例如，所述模塊或單元的劃分，僅僅為一種邏輯功能劃分，實際實現(xiàn)時可以有另外的劃分方式，例如多個單元或組件可以結合或者可以集成到另一個系統(tǒng)，或一些特征可以忽略，或不執(zhí)行。另一點，所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些接口，裝置或單元的間接耦合或通信連接，可以是電性，機械或其它的形式。
[0143]所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個地方，或者也可以分布到多個網(wǎng)絡單元上?？梢愿鶕?jù)實際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實現(xiàn)本實施例方案的目的。
[0144]另外，在本發(fā)明各個實施例中的各功能單元可以集成在一個處理單元中，也可以是各個單元單獨物理存在，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個單元中。上述集成的單元既可以采用硬件的形式實現(xiàn)，也可以采用軟件功能單元的形式實現(xiàn)。
[0145]所述集成的單元如果以軟件功能單元的形式實現(xiàn)并作為獨立的產(chǎn)品銷售或使用時，可以存儲在一個計算機可讀取存儲介質中。基于這樣的理解，本發(fā)明的技術方案本質上或者說對現(xiàn)有技術做出貢獻的部分或者該技術方案的全部或部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計算機軟件產(chǎn)品存儲在一個存儲介質中，包括若干指令用以使得一臺計算機設備(可以是個人計算機，服務器，或者網(wǎng)絡設備等)或處理器(processor)執(zhí)行本發(fā)明各個實施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲介質包括:U盤、移動硬盤、只讀存儲器(ROM, Read-Only Memory)、隨機存取存儲器(RAM, Random Access Memory)、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質。
[0146]以上所述，僅為本發(fā)明的【具體實施方式】，但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本【技術領域】的技術人員在本發(fā)明揭露的技術范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護范圍應以所述權利要求的保護范圍為準。
【權利要求】
1.一種電機失步的檢測方法，其特征在于，所述方法包括: 對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)； 確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預設門限值； 若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得并存儲第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止； 統(tǒng)計存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計值； 若所述統(tǒng)計值小于第二預設門限值，則確定所述電機失步。
2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預設門限值之后，該方法還包括: 若所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值，則對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得并存儲第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于或等于所述第一預設門限值為止。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得并存儲第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止具體包括: 若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，則對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值； 對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得并存儲第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止。
4.根據(jù)權利要求1-3任一項所述的方法，其特征在于，所述統(tǒng)計存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計值具體包括: 對存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)進行方差計算，獲得統(tǒng)計值。
5.根據(jù)權利要求1-4任一項所述的方法，其特征在于，所述對所述電機的電壓或電流進行采樣具體包括: 以固定頻率對所述電機的電壓或電流進行采樣。
6.根據(jù)權利要求5所述的方法，其特征在于，在所述對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)之前，所述方法還包括: 獲得所述電機的轉動速率； 根據(jù)所述電機的轉動速率，確定所述固定頻率，所述固定頻率小于或等于所述電機的轉動速率。
7.一種電機失步檢測設備，其特征在于，所述電機失步檢測設備包括:獲得單元、確定單元、存儲單元和統(tǒng)計單元； 所述獲得單元，用于對電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)； 所述確定單元，用于確定所述獲得單元獲得的第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預設門限值； 所述存儲單元，用于若所述確定單元確定所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)； 所述獲得單元，還用于在所述存儲單元存儲所述第一采樣數(shù)據(jù)之后，對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止； 所述存儲單元，還用于存儲所述第二采樣數(shù)據(jù)； 所述統(tǒng)計單元，用于統(tǒng)計所述存儲單元存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計值； 所述確定單元，還用于若所述統(tǒng)計單元統(tǒng)計的所述統(tǒng)計值小于第二預設門限值，則確定所述電機失步。
8.根據(jù)權利要求7所述的電機失步檢測設備，其特征在于， 所述獲得單元，還用于若所述確定單元確定所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值，則對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值； 所述獲得單元，還用于對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于或等于所述第一預設門限值為止。
9.根據(jù)權利要求7或8所述的電機失步檢測設備，其特征在于，所述獲得單元，具體用于: 若所述獲得單元獲得的所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值，則對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值； 對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預設門限值； 所述獲得單元，具體還用于對所述電機的電壓或電流進行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預設門限值為止。
10.根據(jù)權利要求7-9任一項所述的電機失步檢測設備，其特征在于，所述統(tǒng)計單元，具體用于: 對存儲的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)進行方差計算，獲得統(tǒng)計值。
11.根據(jù)權利要求7-10任一項所述的電機失步檢測設備，其特征在于，所述獲得單元，具體用于: 以固定頻率對所述電機的電壓或電流進行采樣。
12.根據(jù)權利要求11所述的電機失步檢測設備，其特征在于， 所述獲得單元，還用于獲得所述電機的轉動速率； 所述確定單元，還用于根據(jù)所述獲得單元獲得的所述電機的轉動速率，確定所述固定頻率，所述固定頻率小于或等于所述電機的轉動速率。
【文檔編號】G01R31/34GK104422883SQ201310367550
【公開日】2015年3月18日 申請日期:2013年8月21日 優(yōu)先權日:2013年8月21日
【發(fā)明者】李東陽, 尹莉 申請人:華為技術有限公司