一種模擬電路測(cè)試矢量生成方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種模擬電路測(cè)試矢量生成方法，包括：對(duì)待測(cè)電路進(jìn)行可測(cè)性分析，根據(jù)待測(cè)電路的可測(cè)性測(cè)度值T從有效測(cè)試節(jié)點(diǎn)中選取被測(cè)電路的最佳測(cè)試節(jié)點(diǎn)集，且當(dāng)可測(cè)性測(cè)度值T小于待測(cè)電路電路元件數(shù)目時(shí)，確定正則模糊組并最多從每一組中選擇一個(gè)元件作為待診斷元件；根據(jù)方差[y(t)-y′(t)]2建立最佳測(cè)試節(jié)點(diǎn)集中各測(cè)試節(jié)點(diǎn)的靈敏度方程，通過(guò)計(jì)算靈敏度曲線極值點(diǎn)處的頻率，獲得所需測(cè)試矢量集合；y(t)是測(cè)試節(jié)點(diǎn)的正常輸出，y′(t)是測(cè)試節(jié)點(diǎn)的故障輸出；對(duì)測(cè)試矢量集合中的測(cè)試矢量進(jìn)行刪減，優(yōu)化測(cè)試矢量數(shù)目。這種模擬電路測(cè)試矢量生成方法，減少了計(jì)算處理復(fù)雜度，提高了故障診斷速度，尤其對(duì)大規(guī)模模擬集成電路測(cè)試和診斷有效。
【專利說(shuō)明】一種模擬電路測(cè)試矢量生成方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及集成電路測(cè)試【技術(shù)領(lǐng)域】，具體涉及一種模擬電路測(cè)試矢量生成(測(cè)試激勵(lì))方法。
【背景技術(shù)】
[0002]客觀世界信號(hào)的本質(zhì)決定了模擬電路無(wú)處不在和不可替代性，開展相關(guān)的理論和方法研究尤為重要。隨著電子技術(shù)的迅猛發(fā)展，特別是集成電路的密度和集成度提高，可利用的測(cè)試點(diǎn)有限，傳統(tǒng)的通過(guò)外部接觸介入的方式已經(jīng)無(wú)能為力，這為模擬電路進(jìn)行可測(cè)性分析和測(cè)試矢量生成的研究及應(yīng)用提供了發(fā)展契機(jī)。
[0003]近年來(lái)，研究學(xué)者們?cè)谀M電路故障診斷方面開展了不少工作，但在測(cè)試矢量生成方面關(guān)注度較少，通常根據(jù)經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行選擇，如:方波、脈沖和白噪聲等，具有一定的隨機(jī)性，缺少定性的研究。本發(fā)明解決的技術(shù)問(wèn)題是，克服現(xiàn)有技術(shù)存在的上述缺陷，提供一種基于可測(cè)性分析的模擬電路測(cè)試矢量生成方法:其核心是對(duì)電路進(jìn)行可測(cè)性分析，選擇被測(cè)電路的有效測(cè)試點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)對(duì)模糊器件的確定；然后通過(guò)靈敏度計(jì)算，指導(dǎo)測(cè)試矢量生成，并對(duì)測(cè)試矢量進(jìn)行壓縮以獲得最優(yōu)測(cè)試集。本發(fā)明對(duì)模擬電路測(cè)試矢量生成非常有效，減少了計(jì)算處理復(fù)雜度，提高了故障診斷速度，具有較強(qiáng)的實(shí)用性。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明需要解決的技術(shù)問(wèn)題是，如何提供一種模擬電路測(cè)試矢量生成方法，能減少了計(jì)算處理復(fù)雜度，提高了故障診斷速度，具有很強(qiáng)的實(shí)用性，尤其對(duì)大規(guī)模模擬集成電路測(cè)試和診斷有效。
[0005]本發(fā)明的上述技術(shù)問(wèn)題這樣解決:構(gòu)建一種模擬電路測(cè)試矢量生成方法，其特征在于，包括以下步驟:
[0006]可測(cè)性分析:對(duì)待測(cè)電路進(jìn)行可測(cè)性分析，根據(jù)待測(cè)電路的可測(cè)性測(cè)度值T從有效測(cè)試節(jié)點(diǎn)中選取被測(cè)電路的最佳測(cè)試節(jié)點(diǎn)集，且當(dāng)可測(cè)性測(cè)度值T小于待測(cè)電路電路元件數(shù)目時(shí)，確定正則模糊組并最多從每一組中選擇一個(gè)元件作為待診斷元件；
[0007]測(cè)試矢量生成:根據(jù)方差[y(t)_y' (t)]2建立最佳測(cè)試節(jié)點(diǎn)集中各測(cè)試節(jié)點(diǎn)的靈敏度方程，通過(guò)計(jì)算靈敏度曲線極值點(diǎn)處的頻率，獲得所需測(cè)試矢量集合；y(t)是測(cè)試節(jié)點(diǎn)的正常輸出，y' (t)是測(cè)試節(jié)點(diǎn)的故障輸出；
[0008]測(cè)試矢量壓縮:對(duì)測(cè)試矢量集合中的測(cè)試矢量進(jìn)行刪減，優(yōu)化測(cè)試矢量數(shù)目。
[0009]按照本發(fā)明提供的生成方法，所述可測(cè)性分析步驟具體包括:
[0010]計(jì)算每個(gè)有效測(cè)試點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)傳遞函數(shù):被測(cè)電路元件的故障診斷方程由所選可測(cè)試點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)傳遞函數(shù)組成，每個(gè)有效可測(cè)點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)傳遞函數(shù)如下:
【權(quán)利要求】
1.一種模擬電路測(cè)試矢量生成方法，其特征在于，包括以下步驟: 可測(cè)性分析:對(duì)待測(cè)電路進(jìn)行可測(cè)性分析，根據(jù)待測(cè)電路的可測(cè)性測(cè)度值T從有效測(cè)試節(jié)點(diǎn)中選取被測(cè)電路的最佳測(cè)試節(jié)點(diǎn)集，且當(dāng)可測(cè)性測(cè)度值T小于待測(cè)電路電路元件數(shù)目時(shí)，確定正則模糊組并最多從每一組中選擇一個(gè)元件作為待診斷元件； 測(cè)試矢量生成:根據(jù)方差[y(t)-y, (t)]2建立最佳測(cè)試節(jié)點(diǎn)集中各測(cè)試節(jié)點(diǎn)的靈敏度方程，通過(guò)計(jì)算靈敏度曲線極值點(diǎn)處的頻率，獲得所需測(cè)試矢量集合；y(t)是測(cè)試節(jié)點(diǎn)的正常輸出，f (t)是測(cè)試節(jié)點(diǎn)的故障輸出； 測(cè)試矢量壓縮:對(duì)測(cè)試矢量集合中的測(cè)試矢量進(jìn)行刪減，優(yōu)化測(cè)試矢量數(shù)目。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述生成方法，其特征在于，所述可測(cè)性分析步驟具體包括: 計(jì)算每個(gè)有效測(cè)試點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)傳遞函數(shù):被測(cè)電路元件的故障診斷方程由所選可測(cè)試點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)傳遞函數(shù)組成，每個(gè)有效可測(cè)點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)傳遞函數(shù)(s)如下:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述生成方法，其特征在于，所述電路元件參數(shù)的函數(shù)包括倒數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述生成方法，其特征在于，所述測(cè)試矢量生成步驟具體包括: 計(jì)算出最佳測(cè)試節(jié)點(diǎn)集中各測(cè)試節(jié)點(diǎn)的靈敏度方程:應(yīng)用靈敏度分析選擇測(cè)試頻率，計(jì)算公式如下:
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述生成方法，其特征在于，所述測(cè)試矢量壓縮步驟包括從多個(gè)測(cè)試頻率中選擇一個(gè)使得各靈 敏度曲線差異最大化的頻率。
【文檔編號(hào)】G01R31/316GK103439646SQ201310381466
【公開日】2013年12月11日 申請(qǐng)日期:2013年8月28日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月28日
【發(fā)明者】王承, 何進(jìn), 杜彩霞, 朱小安, 何清興, 鐘勝菊, 梅金河 申請(qǐng)人:深圳華越天芯電子有限公司