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      一種圖像法測(cè)定織物理論孔隙率的方法

      文檔序號(hào):6175068閱讀:1365來源:國(guó)知局
      一種圖像法測(cè)定織物理論孔隙率的方法
      【專利摘要】本發(fā)明涉及一種圖像法測(cè)定織物理論孔隙率的方法,特別是涉及一種圖像法測(cè)定網(wǎng)格狀稀疏織物理論孔隙率的方法。本發(fā)明利用數(shù)字圖像處理技術(shù)對(duì)稀疏織物圖像進(jìn)行分析和處理,得到理論孔隙率指標(biāo);本發(fā)明利用織物圖像的灰度直方圖雙峰法閾值將灰度圖像轉(zhuǎn)換成二值圖像,將其對(duì)應(yīng)的二值矩陣中紗線區(qū)域的像素設(shè)置為1,分別將二值矩陣在經(jīng)紗方向和緯紗方向投影后分析經(jīng)紗和緯紗的中心線位置;利用邊紗中心位置分析裁剪圖像四周區(qū)域,使新圖像中經(jīng)緯紗線數(shù)量均為整數(shù)根,根據(jù)二值矩陣投影后波形曲線的分析,獲取紗線直徑;然后計(jì)算經(jīng)向緊度和緯向緊度,從而得到理論孔隙率指標(biāo)。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了客觀、準(zhǔn)確、快速地計(jì)算理論孔隙率指標(biāo)。
      【專利說明】一種圖像法測(cè)定織物理論孔隙率的方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及一種圖像法測(cè)定織物理論孔隙率的方法,特別是涉及一種圖像法測(cè)定網(wǎng)格狀稀疏織物理論孔隙率的方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]織物理論孔隙率的傳統(tǒng)方法是通過測(cè)定經(jīng)緯密和經(jīng)緯紗直徑計(jì)算得到,經(jīng)緯密的測(cè)定通常使用照布鏡人工目測(cè)10厘米內(nèi)的紗線數(shù)量,在紗線計(jì)數(shù)時(shí),如遇到半根紗線時(shí)根據(jù)情況取舍為整數(shù)??椢镏屑喚€直徑的測(cè)量一般是將紗線從織物中拆下來,測(cè)量單位長(zhǎng)度的克重繼而換算成紗線直徑。或者將紗線在放大儀器中直接測(cè)量直徑,這種方法麻煩耗時(shí)。圖像處理方法中江南大學(xué)根據(jù)頻域變換獲取網(wǎng)格圈織物水平和豎直方向的信息,再利用頻域反變換得到經(jīng)紗和緯紗的單獨(dú)圖像,提取紗線直徑和紗線間距等信息,判斷圖像中是否存在散邊等疵點(diǎn),但未涉及孔隙率分析。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0003]本發(fā)明的目的是提供一種圖像法測(cè)定織物理論孔隙率的方法,特別是涉及一種圖像法測(cè)定網(wǎng)格狀稀疏織物理論孔隙率的方法。
      [0004]本發(fā)明的一種圖像法測(cè)定織物理論孔隙率的方法,采用圖像處理方法確定織物經(jīng)向緊度和緯向緊度,根據(jù)公式計(jì)算得到織物的總緊度,并計(jì)算得到理論孔隙率P1=1-E;其中,
      [0005]E=Ej+Ew-0.0I X Ε」X Ew ;
      [0006]公式中,E是總緊度,Ej是經(jīng)向緊度,Ew是緯向緊度;所述采用圖像處理方法確定織物的經(jīng)向緊度和緯向緊度的具體步驟為:
      [0007](I)圖像采集
      [0008]在織物掃描時(shí),在織物層上方加入一層顏色對(duì)比強(qiáng)烈的紙板,經(jīng)紗方向和圖像列向平行,緯紗方向和圖像行向平行。為了使紗線和孔隙兩者對(duì)比明顯,在織物層上面放入與紗線顏色對(duì)比強(qiáng)烈的黑色或者白色紙板。如織物紗線為淺色系列,在織物層上方加入黑色紙板,如織紗線為深色系列,則放入白色紙板。由于掃描后織物圖像孔隙部分表現(xiàn)為紙板的顏色,因此,采用顏色對(duì)比強(qiáng)烈的紙板可以使圖像中紗線區(qū)域和孔隙區(qū)域表現(xiàn)為不同亮度的兩個(gè)灰度范圍,在對(duì)應(yīng)的灰度直方圖上表現(xiàn)為兩個(gè)灰度分布峰,顏色對(duì)比越強(qiáng)烈,這兩個(gè)灰度分布峰的距離越大,更有利于圖像二值化處理。
      [0009](2)圖像處理
      [0010]I)分析織物圖像的灰度直方圖,由于紗線和孔隙區(qū)域分別對(duì)應(yīng)直方圖上的兩個(gè)灰度分布峰,將這兩個(gè)峰之間的谷底作為閾值,將織物圖像轉(zhuǎn)化為二值圖像,使紗線區(qū)域的像素設(shè)置為1,孔隙區(qū)域像素設(shè)置為0,得到對(duì)應(yīng)的二值矩陣;
      [0011]2)分別統(tǒng)計(jì)二值矩陣每列和每行的和,由于紗線區(qū)域像素為1,且經(jīng)紗方向和圖像的列方向一致,因此,每列之和反映了在該列方向上紗線的像素?cái)?shù)量,如該列處于經(jīng)紗的主體部分,該列之和的數(shù)值最大,理論上與圖像的行數(shù)一致,如該列處于孔隙區(qū)域,則每列之和的數(shù)值要明顯小;同理,處于緯紗主體區(qū)域的每行之和最大,理論上與圖像的列數(shù)一致;
      [0012]3)計(jì)算平均值,將所述每列之和除以列數(shù)得到列向平均值,同理得到行向平均值;
      [0013]4)在直角坐標(biāo)系中,以列數(shù)為橫坐標(biāo),以所統(tǒng)計(jì)列向之和為縱坐標(biāo),繪制得到列向波形曲線,該波形曲線中的波峰數(shù)量反映了經(jīng)紗數(shù)量,波峰位置對(duì)應(yīng)經(jīng)紗中心位置;以列向平均值為縱坐標(biāo),畫一條平行于橫坐標(biāo)的直線;
      [0014]同理,繪制行向波形曲線和直線;
      [0015](3)紗線中心線的獲取
      [0016]在經(jīng)紗主體區(qū)域,每列之和理論上為最大值,與圖像的行數(shù)一致,對(duì)應(yīng)于波形曲線的波峰的頂部,但由于多種原因,波峰頂部會(huì)出現(xiàn)一些小的波動(dòng),因此,將所述直線和波形曲線每個(gè)波峰的兩個(gè)交點(diǎn)之間的中點(diǎn)的列位置,作為經(jīng)紗的中心線位置。即過該中點(diǎn)繪制一條平行于縱坐標(biāo)的直線,其與橫坐標(biāo)的交點(diǎn)的數(shù)值對(duì)應(yīng)為圖像中經(jīng)紗中心所在的列位置;
      [0017]然后在織物圖像上,過所述的列位置,繪制平行于列向的直線,即為經(jīng)紗中心線;
      [0018]同理,得到緯紗中心線所在的行位置后在織物圖像上繪制緯紗中心線;
      [0019](4)邊紗裁剪
      [0020]織物中經(jīng)緯紗是有規(guī)律的交織在一起,呈現(xiàn)為周期性,因此,分析的織物區(qū)域若為整數(shù)個(gè)循環(huán)數(shù),則分析的數(shù)據(jù)更為準(zhǔn)確。因此,在上述已繪制經(jīng)紗中心線和緯紗中心線的織物圖像上,分別找到圖像中列向最左側(cè)的經(jīng)紗中心線和最右側(cè)的經(jīng)紗中心線,找到圖像中行向最上側(cè)的緯紗中心線和最下側(cè)緯紗中心線,將四條中心線圍成的矩形之外的區(qū)域去除,即將最左側(cè)半根經(jīng)紗和最右側(cè)半根經(jīng)紗計(jì)為一根完整的經(jīng)紗,最上側(cè)半根緯紗和最下側(cè)半根緯紗計(jì)為一根完整的緯紗,獲得新的織物圖像和對(duì)應(yīng)的新的二值矩陣;在新的圖像中,經(jīng)紗和緯紗的數(shù)量均為整數(shù)根;
      [0021 ] (5)經(jīng)緯紗直徑的獲取
      [0022]將經(jīng)過邊紗裁剪后的圖像對(duì)應(yīng)的新的二值矩陣,按照步驟(2)中的第2)?4)步在直角坐標(biāo)中重新繪制波形曲線,在橫坐標(biāo)代表列數(shù)的波形曲線中,由于二值矩陣的列向之和對(duì)應(yīng)為二值圖像中經(jīng)紗在每一列列向的像數(shù)之和;理論上最大值對(duì)應(yīng)為經(jīng)紗區(qū)域,考慮到經(jīng)紗直徑不勻和可能存在的略微傾斜,取波峰最大值的0.96?0.99倍作為縱坐標(biāo)值繪制平行于橫坐標(biāo)的直線,與波形曲線每個(gè)波峰相交于兩點(diǎn),此兩點(diǎn)之間的距離即為經(jīng)紗直徑;
      [0023]同理,繪制橫坐標(biāo)代表行數(shù)的波形曲線,同樣獲取的兩點(diǎn)之間的距離即為緯紗直徑;
      [0024](6)經(jīng)向緊度和緯向緊度的計(jì)算
      [0025]根據(jù)織物經(jīng)向緊度的定義:經(jīng)向緊度為經(jīng)紗直徑與兩根經(jīng)紗間的距離之比的百分率,緯向緊度為緯紗直徑與兩根緯紗間的距離之比的百分率;分別統(tǒng)計(jì)新圖像中所有經(jīng)紗直徑之和與圖像列數(shù)之比和緯紗直徑之和與圖像行數(shù)之比;根據(jù)公式計(jì)算經(jīng)向緊度和緯向緊度,
      【權(quán)利要求】
      1.一種圖像法測(cè)定織物理論孔隙率的方法,其特征是:采用圖像處理方法確定織物經(jīng)向緊度和緯向緊度,根據(jù)公式計(jì)算得到織物的總緊度,并計(jì)算得到理論孔隙率P1=1-E;其中,
      E=Ej+Ew_0.0l XEjXEw ; 公式中,E是總緊度,Ej是經(jīng)向緊度,Ew是緯向緊度;所述采用圖像處理方法確定織物的經(jīng)向緊度和緯向緊度的具體步驟為: (1)圖像米集 在織物掃描時(shí),在織物層上方加入一層顏色對(duì)比強(qiáng)烈的紙板,同時(shí)使織物經(jīng)紗方向和圖像列向平行,緯紗方向和圖像行向平行,掃描該層織物得到灰度圖像; (2)圖像處理 1)獲取織物圖像的灰度直方圖,將直方圖雙峰之間的谷底作為閾值,將織物灰度圖像轉(zhuǎn)化為二值圖像,得到對(duì)應(yīng)的二值矩陣; 2)分別統(tǒng)計(jì)二值矩陣每列和每行的和; 3)計(jì)算平均值,將所述每列的和除以列數(shù)得到列向平均值,同理得到行向平均值; 4)在直角坐標(biāo)系中,以列數(shù)為橫坐標(biāo),以所統(tǒng)計(jì)列向之和為縱坐標(biāo),繪制得到列向波形曲線; 5)以列向平均值為縱坐標(biāo),畫一條平行于橫坐標(biāo)的直線; 同理,繪制行向波形曲線和直線; (3)紗線中心線的獲取 在直角坐標(biāo)系中,取所述直線與所述列向波形曲線的每個(gè)波峰的兩個(gè)交點(diǎn)之間的中點(diǎn),過該位置畫一條平行于縱坐標(biāo)的直線,其與橫坐標(biāo)的交點(diǎn)的數(shù)值對(duì)應(yīng)為圖像中經(jīng)紗中心所在的列數(shù),即為經(jīng)紗中心線的列位置; 然后在織物灰度圖像上,過所述的列位置,繪制平行于列向的直線,即為經(jīng)紗中心線; 同理,得到緯紗中心線所在的行位置后在網(wǎng)格圈織物圖像上繪制緯紗中心線; (4)邊紗裁剪 在上述已繪制經(jīng)紗中心線和緯紗中心線的織物圖像上,找到位于圖像四周邊界的四條中心線,將該四條線圍成的矩形之外的區(qū)域去除,獲得新的織物灰度圖像和對(duì)應(yīng)的新的二值矩陣,使得新圖像中經(jīng)紗和緯紗數(shù)量為整數(shù)根; (5),經(jīng)緯紗直徑的獲取 將經(jīng)過邊紗裁剪后的圖像對(duì)應(yīng)的新的二值矩陣,按照步驟(2)中的第2)~4)步在直角坐標(biāo)中重新繪制波形曲線,在橫坐標(biāo)代表列數(shù)的波形曲線中,取波峰最大值的0.96~0.99倍作為縱坐標(biāo)值繪出平行于橫坐標(biāo)的直線,與波形曲線每個(gè)波峰相交于兩點(diǎn),此兩點(diǎn)之間的距離即為經(jīng)紗直徑; 同理,繪制橫坐標(biāo)代表行數(shù)的波形曲線,同樣獲取兩點(diǎn)之間的距離即為緯紗直徑; (6)經(jīng)向緊度和緯向緊度的計(jì)算 根據(jù)織物經(jīng)向緊度的定義:經(jīng)向緊度為經(jīng)紗直徑與兩根經(jīng)紗間的距離之比的百分率,緯向緊度為緯紗直徑與兩根緯紗間的距離之比的百分率;分別統(tǒng)計(jì)新圖像中所有經(jīng)紗直徑之和與圖像列數(shù)之比和緯紗直徑之和與圖像行數(shù)之比;根據(jù)公式計(jì)算經(jīng)向緊度和緯向緊度,
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種圖像法測(cè)定織物理論孔隙率的方法,其特征在于,所述的織物為網(wǎng)格狀織物,兩根相鄰紗線之間存在一定間隙,E〈0.8。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種圖像法測(cè)定織物理論孔隙率的方法,其特征在于,所述織物為網(wǎng)格圈織物。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種圖像法測(cè)定織物理論孔隙率的方法,其特征在于,所述顏色對(duì)比強(qiáng)烈是兩種顏色在灰度系中對(duì)比明顯。
      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種圖像法測(cè)定織物理論孔隙率的方法,其特征在于,所述使織物經(jīng)紗方向和圖像列向平行是指經(jīng)紗方向和圖像列向的夾角角度小于5度。
      【文檔編號(hào)】G01N15/08GK103471974SQ201310401069
      【公開日】2013年12月25日 申請(qǐng)日期:2013年9月5日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月5日
      【發(fā)明者】陳霞, 汪軍, 傅婷, 萬賢福, 李立輕, 梁翠芳, 朱方亮 申請(qǐng)人:東華大學(xué)
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