測(cè)試探筆輔助頭的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種測(cè)試探筆輔助頭，適用于一測(cè)試儀器的探筆，所述探筆具有一筆身以及一由所述筆身一端凸伸出的探針，本發(fā)明的測(cè)試探筆輔助頭，包括：一主體以及一導(dǎo)電件，所述導(dǎo)電件具有一凸伸出所述主體的測(cè)試頭，當(dāng)使用時(shí)，所述筆身以及所述探針收容于所述主體內(nèi)，所述探針與所述導(dǎo)電件的測(cè)試頭導(dǎo)電連接。本發(fā)明的測(cè)試探筆輔助頭可提供不同于測(cè)試探筆尺寸的測(cè)試頭以便滿足不同場(chǎng)合的需求，無(wú)需更換測(cè)試探筆，增加了便利性。
【專利說明】 測(cè)試探筆輔助頭
【【技術(shù)領(lǐng)域】】
[0001]本發(fā)明是一種測(cè)試輔助治具，特別是一種測(cè)試探筆輔助頭。
【【背景技術(shù)】】
[0002]現(xiàn)在的電子儀器測(cè)試探筆設(shè)計(jì)的很簡(jiǎn)單，但大多數(shù)不是公歸的，往往測(cè)試用起來比較麻煩，遇到死角就無(wú)法繼續(xù)測(cè)試使用，需要添加輔助工具。(其中比如常見的測(cè)試儀器，萬(wàn)用表的探筆，示波器的探筆，等等，往往由于探筆的探針太粗或太細(xì)而不能使用于目前的工作，于是，測(cè)試人員不得不更換測(cè)試探筆，因此，非常的麻煩。
[0003]有鑒于此，是有必要提供一種測(cè)試探筆輔助頭，其可提供一不同于測(cè)試探筆尺寸的測(cè)試頭以便滿足不同場(chǎng)合的需求，無(wú)需更換測(cè)試探筆，增加了便利性。
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【發(fā)明內(nèi)容】
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[0004]本發(fā)明的主要目的在于提供一種測(cè)試探筆輔助頭，其可提供一不同于測(cè)試探筆尺寸的測(cè)試頭以便滿足不同場(chǎng)合的需求，無(wú)需更換測(cè)試探筆，增加了便利性。
[0005]為達(dá)上述目的，本發(fā)明提供一種測(cè)試探筆輔助頭，適用于一測(cè)試儀器的探筆，所述探筆具有一筆身以及一由所述筆身一端凸伸出的探針，其特征在于，包括:一主體以及一導(dǎo)電件，所述導(dǎo)電件具有一凸伸出所述主體的測(cè)試頭，當(dāng)使用時(shí)，所述筆身以及所述探針收容于所述主體內(nèi)，所述探針與所述導(dǎo)電件的測(cè)試頭導(dǎo)電連接。
[0006]優(yōu)選地，所述主體開設(shè)一筆身收容槽。
[0007]優(yōu)選地，所述導(dǎo)電件一端設(shè)于所述主體內(nèi)且開設(shè)一探針收容槽，另一端設(shè)有所述凸伸出所述主體的測(cè)試頭。
[0008]優(yōu)選地，所述測(cè)試儀器為萬(wàn)用表。
[0009]優(yōu)選地，所述測(cè)試儀器為示波器。
[0010]與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本發(fā)明測(cè)試探筆輔助頭設(shè)有供探筆收容的主體，以及具有個(gè)探筆的探針相同導(dǎo)電特性但尺寸不同的測(cè)試頭，從而可在現(xiàn)有的探筆不滿足場(chǎng)合需要的時(shí)候安裝上具有合適尺寸測(cè)試頭的本發(fā)明的測(cè)試探筆輔助頭即可，從而達(dá)到了提供一不同于測(cè)試探筆尺寸的測(cè)試頭以便滿足不同場(chǎng)合的需求的功效，無(wú)需更換測(cè)試探筆，增加了便利性。
【【專利附圖】

【附圖說明】】
[0011]圖1為本發(fā)明一種測(cè)試探筆輔助頭一較佳實(shí)施例平面外觀示意圖。
[0012]圖2為本發(fā)明的測(cè)試探筆輔助頭的剖面示意圖。
[0013]圖3為一剖面示意圖，顯示本發(fā)明的測(cè)試探筆輔助頭與測(cè)試探筆組裝時(shí)的結(jié)構(gòu)狀態(tài)。
[0014]圖4為一剖面示意圖，顯示探筆組裝本發(fā)明一不同尺寸的測(cè)試探筆輔助頭。【【具體實(shí)施方式】】
[0015]請(qǐng)參閱圖1所示，本發(fā)明一種測(cè)試探筆輔助頭一較佳實(shí)施例，適用于一測(cè)試儀器的探筆2，在本實(shí)施例中，所述測(cè)試儀器可為示波器或萬(wàn)用表，所述探筆2具有一筆身21以及一由所述筆身一端凸伸出的探針22，在本實(shí)施例中，本發(fā)明的測(cè)試探筆輔助頭1，包括:一主體10以及一導(dǎo)電件11,所述主體開設(shè)一筆身收容槽101供收容所述探筆2的筆身21，所述導(dǎo)電件11 一端設(shè)于所述主體10內(nèi)且開設(shè)一探針收容槽111供收容所述探針22，另一端設(shè)有一凸伸出所述主體10的測(cè)試頭112。
[0016]當(dāng)發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有的測(cè)試探筆2的探針22不滿足工作場(chǎng)合需求時(shí)，可使用本發(fā)明的具有合適測(cè)試頭112的測(cè)試探筆輔助頭時(shí)，如圖2-3所示，可將所述探筆2的筆身21以及探針22插入本發(fā)明的主體10內(nèi)，使得所述探筆2的部分筆身21以及所述探針22收容于所述筆身收容槽101以及探針收容槽111內(nèi)，由于所述導(dǎo)電件11的導(dǎo)電特性，故所述探針22收容于所述探針收容槽111內(nèi)時(shí)，所述探針22與所述測(cè)試頭112導(dǎo)電連接，也就是說所述測(cè)試頭112具有所述探針22相同的電性特征。當(dāng)工作場(chǎng)合發(fā)生變化時(shí)，如圖4，使用者更換使用另一尺寸的測(cè)試探筆輔助頭，由此可見，當(dāng)所述探筆的探針22不適合現(xiàn)場(chǎng)的工作需要時(shí)，使用者可將具有合適尺寸的測(cè)試頭112的測(cè)試探筆輔助頭裝在所述探筆2上，從而可滿足工作需要，避免由于找不到合適的探筆2而影響工作。
[0017]值得注意的是，為了確保本發(fā)明的測(cè)試探筆輔助頭緊密地與本發(fā)明的測(cè)試探筆輔助頭結(jié)合在一起，本發(fā)明的主體10對(duì)應(yīng)所述筆身收容槽101的外圍增設(shè)緊固件用于緊固所述所述筆身收容槽101從而確保結(jié)合的牢固性，例如帶有調(diào)節(jié)閥的緊固環(huán)，只要其能起到緊固地目的即可，故在此不作詳述。
[0018]綜上所述，上述各實(shí)施例及圖示僅為本發(fā)明之較佳實(shí)施例而已，當(dāng)不能以之限定本發(fā)明實(shí)施之范圍，即大凡依本發(fā)明申請(qǐng)專利范圍所作之均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明專利涵蓋之范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種測(cè)試探筆輔助頭，適用于一測(cè)試儀器的探筆，所述探筆具有一筆身以及一由所述筆身一端凸伸出的探針，其特征在于，包括:一主體以及一導(dǎo)電件，所述導(dǎo)電件具有一凸伸出所述主體的測(cè)試頭，當(dāng)使用時(shí)，所述筆身以及所述探針收容于所述主體內(nèi)，所述探針與所述導(dǎo)電件的測(cè)試頭導(dǎo)電連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試探筆輔助頭，其特征在于，所述主體開設(shè)一筆身收容槽。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試探筆輔助頭，其特征在于，所述導(dǎo)電件一端設(shè)于所述主體內(nèi)且開設(shè)一探針收容槽，另一端設(shè)有所述凸伸出所述主體的測(cè)試頭。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試探筆輔助頭，其特征在于，所述測(cè)試儀器為萬(wàn)用表。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試探筆輔助頭，其特征在于，所述測(cè)試儀器為示波器。
【文檔編號(hào)】G01R1/067GK104515879SQ201310464030
【公開日】2015年4月15日 申請(qǐng)日期:2013年9月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月30日
【發(fā)明者】萬(wàn)衛(wèi)軍 申請(qǐng)人:旭達(dá)電腦（昆山）有限公司