一種薄單砂層厚度預(yù)測方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種薄單砂層厚度預(yù)測方法，屬于油藏儲(chǔ)層預(yù)測技術(shù)，是利用高精度三維地震提取的平均反射強(qiáng)度屬性簡單、快捷定量描述薄單砂層厚度的有效預(yù)測方法，包括地震屬性的優(yōu)選、確定提取屬性的時(shí)窗范圍、提取平均反射強(qiáng)度屬性并歸一化處理、建立平均反射強(qiáng)度值與單砂層厚度的關(guān)系式、單砂層厚度計(jì)算及極值校正、編制單砂層厚度圖。本發(fā)明利用小時(shí)窗沿層提取平均反射強(qiáng)度預(yù)測薄單砂層厚度及平面展布的方法，提高了薄單砂層預(yù)測的效率和有效性，解決了井間的注采矛盾，使得單砂層厚度預(yù)測吻合率大于80%。
【專利說明】一種薄單砂層厚度預(yù)測方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種薄單砂層厚度預(yù)測方法，屬于油藏地震儲(chǔ)層預(yù)測【技術(shù)領(lǐng)域】。

【背景技術(shù)】
[0002] 陸相斷陷湖盆，一般具有構(gòu)造復(fù)雜、斷塊小而碎，多物源、小物源的特點(diǎn)，常見河 流及三角洲砂體多期疊置類型，沉積地層縱向上常呈頻繁的砂泥巖薄互層韻律組合，砂巖 儲(chǔ)層發(fā)育但單層厚度薄，橫向上砂巖儲(chǔ)層分布連續(xù)性差、變化大，單個(gè)砂體橫向展布范圍有 限。利用相鄰鉆井鉆遇的砂體對(duì)比不能有效區(qū)分是否是同一砂體，影響了對(duì)砂體橫向分布 的認(rèn)識(shí)。受地震分辨率的限制，如何利用地震資料有效描述單砂層平面展布特征一直是困 擾物探技術(shù)的難題，尤其是針對(duì)復(fù)雜斷塊油藏密集井網(wǎng)區(qū)小于1/4波長厚度的單砂層的預(yù) 測更是困難，常規(guī)的地震方法不能有效識(shí)別和預(yù)測。
[0003] 目前預(yù)測單砂層的厚度及平面展布的方法有限，主要有多井單砂層勾畫厚度圖、 波阻抗反演技術(shù)、三維可視化解釋技術(shù)。
[0004] 多井單砂層勾畫厚度圖：是通過讀取多口井的同一沉積環(huán)境下的單砂層厚度值標(biāo) 于這些井的井位坐標(biāo)圖上，將相同值的點(diǎn)連成等值線，形成砂巖等厚圖。該方法直觀，缺陷 是不能有效識(shí)別和描述單砂層在井間及無井區(qū)的變化分布，且同一等值線的砂層厚度值不 能保證是代表的同一個(gè)砂體。
[0005] 波阻抗反演技術(shù)：反演技術(shù)預(yù)測單砂層的方法是利用地震數(shù)據(jù)信息與井?dāng)?shù)據(jù)信息 建立一種聯(lián)系并在構(gòu)造模型約束的基礎(chǔ)上進(jìn)行處理，計(jì)算出波阻抗體，再利用不同巖性對(duì) 應(yīng)不同波阻抗值的特點(diǎn)預(yù)測砂體的厚度與平面展布。優(yōu)點(diǎn)，在測井約束下對(duì)模型進(jìn)行迭代 修改，得到高分辨率的地層波阻抗資料，為儲(chǔ)層厚度、物性等精細(xì)解釋提供了一種可能性解 答，但是反演結(jié)果的可靠性受到地質(zhì)條件和測井資料的控制，在斷層發(fā)育、尖滅頻繁、薄互 層分布的復(fù)雜地質(zhì)條件下，斷層邊界效應(yīng)的影響使得斷層附近的反演精度受到影響，反演 建模受到限制、效率降低。
[0006] 三維可視化解釋主要是面塊切片的快速掃描、透視、雕刻，主要是以地震剖面上的 波形變化點(diǎn)作為砂體的邊界，其優(yōu)點(diǎn)是快速、直觀，但是種子點(diǎn)追蹤時(shí)易串層，厚度預(yù)測精 度偏低。
[0007] 專利申請(qǐng)?zhí)?01310088179. 6公開了"一種基于地震基準(zhǔn)弧長對(duì)數(shù)屬性的砂巖厚 度預(yù)測方法"，其優(yōu)點(diǎn)是快捷、準(zhǔn)確預(yù)測砂巖厚度，但是僅適用于少井地區(qū)的油氣勘探中，對(duì) 復(fù)雜斷塊密集井網(wǎng)區(qū)的薄單砂層不適用。申請(qǐng)?zhí)?00610126807. 5公開了"基于地震屬性的 煤層厚度分析方法"，該方法優(yōu)點(diǎn)是考慮了多屬性參數(shù)，更接近實(shí)際，反映地震屬性預(yù)測煤 層厚度效果較好。但是它不是針對(duì)的單砂層，且工序步驟較多。
[0008] 綜上所述，目前針對(duì)復(fù)雜斷塊密集井網(wǎng)區(qū)的薄單砂層預(yù)測研究甚少，存在由于斷 塊破碎，砂層地震反射特征及其位置難以確定；受地震分辨率限制，儲(chǔ)層界面難以分辨；由 于斷層多，建模難度大、斷層邊界效應(yīng)影響大，地震反演技術(shù)應(yīng)用受到限制、效果不好的問 題。為解決上述問題及現(xiàn)有技術(shù)的不足，我們發(fā)明一種利用高精度三維地震資料快捷、簡 單、有效的預(yù)測復(fù)雜斷塊密集井網(wǎng)區(qū)薄單砂層的方法。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0009] 本發(fā)明在于克服現(xiàn)有技術(shù)存在的由于斷塊破碎，砂層地震反射特征及其位置難以 確定；受地震分辨率限制，儲(chǔ)層界面難以分辨；由于斷層多，建模難度大、斷層邊界效應(yīng)影 響大，地震反演技術(shù)應(yīng)用受到限制、效果不好的問題。建立一種利用利用高精度三維地震資 料中提取的平均反射強(qiáng)度預(yù)測單砂層厚度，為復(fù)雜斷塊密集井網(wǎng)區(qū)井間單砂層的變化提供 一種簡便可行、快捷有效的方法，解決開發(fā)區(qū)井間注采矛盾。
[0010] 本發(fā)明通過以下步驟實(shí)現(xiàn)：利用高精度三維地震信息的空間連續(xù)性，在復(fù)雜斷塊 油藏密集井網(wǎng)區(qū)通過平均反射強(qiáng)度屬性簡單快速有效的對(duì)薄單砂體的厚度及平面展布進(jìn) 行定量描述，包括以下步驟：
[0011] ①地震屬性的優(yōu)選：通過優(yōu)選確定平均反射強(qiáng)度屬性為對(duì)砂巖變化最敏感的地震 屬性；
[0012] ②確定提取時(shí)窗范圍：根據(jù)步驟①確定平均反射強(qiáng)度屬性，結(jié)合統(tǒng)計(jì)的已鉆井同 一沉積旋回的單砂層厚度范圍，確定提取平均反射強(qiáng)度的時(shí)窗范圍；
[0013] ③提取平均反射強(qiáng)度屬性并歸一化處理：沿追蹤的目標(biāo)單砂層頂或底在確定的時(shí) 窗范圍內(nèi)提取平均反射強(qiáng)度，并對(duì)平均反射強(qiáng)度進(jìn)行歸一化處理。
[0014] ④建立平均反射強(qiáng)度值與單砂層厚度的關(guān)系式：根據(jù)單砂層厚度值與對(duì)應(yīng)的平均 反射強(qiáng)度值數(shù)據(jù)表形成交匯圖，并擬合線性關(guān)系，即y=kx+b其中：y為平均反射強(qiáng)度，X為單 砂層厚度，k為隨不同沉積時(shí)期的單砂層而變化的可變常數(shù)，b為單砂層厚度為0時(shí)的平均 反射強(qiáng)度值。
[0015] ⑤單砂層厚度計(jì)算與極值矯正：利用步驟④的線性關(guān)系式將平均反射強(qiáng)度值換算 出單砂層厚度值；再利用經(jīng)驗(yàn)公式低值區(qū)的經(jīng)驗(yàn)公式為
[0016] Dn= (Cn-Cfflin)/P
[0017] 其中：Dn為校正量，（；為低值區(qū)高限點(diǎn)A向最小值方向的第η個(gè)數(shù)的厚度值，C min 為最小厚度值，P為依據(jù)換算后厚度保留兩位小數(shù)情況下的相鄰兩個(gè)數(shù)的差為0. 01，η為正 整數(shù)。
[0018] En=Cn-DnX Δ h
[0019] 其中：En為校后的單砂層厚度值，Λ h為厚度校正增量。
[0020]

【權(quán)利要求】
1. 一種薄單砂層厚度預(yù)測方法，其特征包括以下步驟： ① 地震屬性的優(yōu)選：通過優(yōu)選確定平均反射強(qiáng)度屬性為對(duì)砂巖變化最敏感的地震屬 性； ② 確定提取時(shí)窗范圍：根據(jù)步驟①確定平均反射強(qiáng)度屬性，參考已鉆井同一沉積旋回 的單砂層厚度變化范圍，確定提取平均反射強(qiáng)度的時(shí)窗范圍； ③ 提取平均反射強(qiáng)度屬性并歸一化處理：沿追蹤的目標(biāo)單砂層頂或底在確定的時(shí)窗范 圍內(nèi)提取平均反射強(qiáng)度，并對(duì)平均反射強(qiáng)度進(jìn)行歸一化處理； ④ 建立平均反射強(qiáng)度值與單砂層厚度的關(guān)系式：根據(jù)單砂層厚度值與對(duì)應(yīng)的平均反射 強(qiáng)度值數(shù)據(jù)表形成交匯圖，并擬合線性關(guān)系； ⑤ 單砂層厚度計(jì)算與極值矯正：利用步驟④的線性關(guān)系式將平均反射強(qiáng)度值換算出單 砂層厚度值，對(duì)低值區(qū)和高值區(qū)單砂層厚度值進(jìn)行校正； ⑥ 編制單砂層厚度圖：將步驟⑤所得的一組數(shù)據(jù)在作圖軟件里形成平面等值線圖并填 充顏色，形成單砂層的平面展布圖。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種薄單砂層厚度預(yù)測方法，其特征是：上述權(quán)利要求1中 步驟②所述的時(shí)窗選取原則是：采用包含單砂層厚度在內(nèi)的合適時(shí)窗提取平均反射強(qiáng)度對(duì) 薄單砂層進(jìn)行預(yù)測，在提取平均反射強(qiáng)度時(shí)，單砂層的位置必須與參考標(biāo)準(zhǔn)層在一個(gè)沉積 旋回內(nèi)；確定時(shí)窗選取范圍要大于最厚單砂層厚度；保證采樣間隔小于最薄目標(biāo)單砂層的 厚度。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種薄單砂層厚度預(yù)測方法，其特征是：所述的提取平 均反射強(qiáng)度屬性并歸一化處理的方法是：通過平均反射強(qiáng)度與單砂層厚度統(tǒng)計(jì)表，按照不 同砂層厚度的變化范圍將地震屬性歸一化到〇- h的量綱范圍內(nèi)進(jìn)行加權(quán)運(yùn)算，保證屬性 最大值與砂層厚度關(guān)系最大限度的符合實(shí)際，其中，h為一個(gè)旋回內(nèi)最厚單砂體厚度值。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種薄單砂層厚度預(yù)測方法，其特征是：建立平均反射 強(qiáng)度值與單砂層厚度的關(guān)系式為y=kx+b，其中：y為平均反射強(qiáng)度，X為單砂層厚度，k為隨 不同沉積時(shí)期的單砂層而變化的可變常數(shù)，b為單砂層厚度為0時(shí)的平均反射強(qiáng)度值。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種薄單砂層厚度預(yù)測方法，其特征是：所述的單砂層 厚度計(jì)算與極值矯正中，低值區(qū)的校正經(jīng)驗(yàn)公式為：D n=(Cn-Cmin)/P，其中：Dn為校正量，(；為 低值區(qū)高限點(diǎn)A向最小值方向的第η個(gè)數(shù)的厚度值，C min為最小厚度值，P為步長，η為正整 數(shù)； En=Cn-DnX Δ h 其中：En為校后的單砂層厚度值，Λ h為厚度校正增量； 高值區(qū)的校正經(jīng)驗(yàn)公式：Dn= (Cmax-Cn)/P 其中：Dn為校正量，Cn為高值區(qū)低限點(diǎn)B向最大值方向的第η個(gè)數(shù)的厚度值，Cmax為高 值區(qū)最大厚度值，P為步長，η為正整數(shù)； En=Cn-DnX Δ h 其中：En為校后的砂層厚度值，Λ h為厚度校正增量。
【文檔編號(hào)】G01V1/30GK104142516SQ201310517846
【公開日】2014年11月12日 申請(qǐng)日期:2013年10月28日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月28日
【發(fā)明者】劉忠亮, 李勤英, 蔡其新, 郝加良, 苗翠芝, 王同錘, 陳喜萍, 李清辰 申請(qǐng)人:中國石油化工股份有限公司, 中國石油化工股份有限公司中原油田分公司物探研究院