一種金屬納米粉末刮漿工具的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種金屬納米粉末刮漿工具，包括刮漿金屬柱（1），所述的刮漿金屬柱（1）為長方體或正方體，在刮漿金屬柱（1）的上表面設(shè)有第一刮漿口（2），在所述刮漿口內(nèi)設(shè)有通孔（3），所述通孔（3）通至柱體下表面。本發(fā)明的有益效果是：使用此工具將納米粉末漿料進(jìn)行刮漿后，可使金屬納米粉末漿料形成一均勻平整的平面，方便通過電子掃描顯微鏡觀察漿料平面的平整性，從而直觀地判斷該金屬納米粉末的分散性效果。
【專利說明】—種金屬納米粉末刮漿工具
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及化工制造領(lǐng)域，具體是一種金屬納米粉末刮漿工具。
【背景技術(shù)】
[0002]金屬納米材料是納米材料的一個(gè)重要分支，金屬納米粉體屬零維納米材料，其原子和電子結(jié)構(gòu)不同于化學(xué)成分相同的金屬粒子。它具有不同宏觀物體和單個(gè)原子的磁、光、電、聲、熱、力及化學(xué)等方面的奇異特性。金屬納米粒子已在冶金、機(jī)械、化工、電子、國防、核技術(shù)、航空航天等研究領(lǐng)域呈現(xiàn)出極其重要的應(yīng)用價(jià)值。
[0003]金屬納米材料在電子產(chǎn)品領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，作為新世界產(chǎn)業(yè)的必備原料，對(duì)其的要求也與日俱增。金屬納米粉末中雜質(zhì)元素的含量、粒徑的篩選技術(shù)都已經(jīng)相對(duì)成熟，分散性的好壞嚴(yán)重影響產(chǎn)品中間體以及成品的質(zhì)量，因此，作為金屬納米粉末的本質(zhì)屬性——粒子的分散性則成為了行業(yè)人員關(guān)注的要點(diǎn)。
[0004]金屬納米粉在體積形態(tài)上處于納米級(jí)別，在其粉末狀態(tài)時(shí)，顆粒之間的間隙很容易形成“毛細(xì)管”而形成虹吸現(xiàn)象，能快速吸收空氣中的水分，使得局部粉末吸水團(tuán)聚，形成粉團(tuán)，嚴(yán)重降低了粉末的分散效果。目前檢驗(yàn)金屬納米粉的分散性好壞主要從分散性實(shí)驗(yàn)、激光粒度分布、比表面積測(cè)試等技術(shù)測(cè)試，但是，這些檢測(cè)方法都具有抽象性，不能直觀的描述粉體的好壞。
[0005]對(duì)于大部分客戶來說，在使用金屬納米粉末作為原材料時(shí)，都需要將粉末制成漿料狀，因此金屬納米粉末在溶劑中的分散性的檢測(cè)很重要。然而目前，缺少將金屬納米粉末漿料處理到能直接應(yīng)用于進(jìn)行直觀檢測(cè)的工具。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供了一種金屬納米粉末刮漿工具，使用此工具將納米粉末漿料進(jìn)行刮漿后，可使金屬納米粉末漿料形成一均勻平整的平面。
[0007]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:一種金屬納米粉末刮漿工具，包括刮漿金屬柱，所述的刮漿金屬柱為長方體或正方體，在刮漿金屬柱的上表面設(shè)有第一刮漿口，在所述刮漿口內(nèi)設(shè)有通孔，所述通孔通至柱體下表面。
[0008]進(jìn)一步的，在刮漿金屬柱的下表面設(shè)有第二刮漿口，所述第二刮漿口的深度小于柱體上表面的第一刮漿口的深度。
[0009]進(jìn)一步的，所述刮漿金屬柱的材質(zhì)為不銹鋼。
[0010]本發(fā)明的有益效果是:使用此工具將納米粉末漿料進(jìn)行刮漿后，可使金屬納米粉末漿料形成一均勻平整的平面，方便通過電子掃描顯微鏡觀察平面的平整性，從而直觀地判斷該金屬納米粉末的分散性效果。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0011]圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖中:1、刮漿金屬柱，2、第一刮漿口，3、通孔，4、第二刮漿口。
【具體實(shí)施方式】
[0012]下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
[0013]刮漿的主要目的是:在金屬納米粉末形成漿料后，將漿料制作成漿料平面，通過電子掃描顯微鏡觀察平面的平整性，從而直觀的判斷該金屬納米粉末的分散性效果。刮漿工具則是在模擬客戶在實(shí)用產(chǎn)品的條件下，將納米粉末制成漿料，從而檢驗(yàn)漿料的分散性效果的工具。如圖1所示，本發(fā)明提供一種金屬納米粉末刮漿工具，包括刮漿金屬柱1，所述的刮漿金屬柱I為長方體或正方體，在刮漿金屬柱I的上表面設(shè)有第一刮漿口 2，在所述刮漿口內(nèi)設(shè)有通孔3，所述通孔3通至柱體下表面。刮漿金屬柱I采用了“外方里圓”的模型，設(shè)計(jì)成“外方”主要是使柱體外側(cè)為直線形，以保證漿料刮成一均勻平面，而不會(huì)出現(xiàn)沙丘形；設(shè)計(jì)成“里圓”則是因?yàn)樵诠螡{過程中，如果涂放在玻璃片上的漿料較少，可將刮漿過程中的漿料及時(shí)收回，通過通孔3來填補(bǔ)中間不足的處的漿料，避免脫刮等現(xiàn)象。
[0014]進(jìn)一步的，在刮漿金屬柱I的下表面設(shè)有第二刮漿口 4，所述第二刮漿口 4與柱體上表面的第一刮漿口 2的深度不同，所述第二刮漿口 4的深度小于柱體上表面的第一刮漿口 2的深度。刮漿金屬柱I的刮漿口深度又稱刮漿平面高度。刮漿時(shí)，漿料會(huì)填充刮漿口，而高于刮漿口的漿料會(huì)隨刮漿金屬住I而帶走，從而形成一完整的平面。但刮漿口的深度越深，漿料高度越高，容易形成脫料或漏料，難以形成較平的平面，對(duì)結(jié)果的判定會(huì)造成一定的影響；刮漿口深度越淺，漿料越薄，則容易形成斷料。將上下表面的刮漿口設(shè)計(jì)的深度不同，可滿足不同需要。經(jīng)過反復(fù)試驗(yàn)，普通金屬納米粉末的刮漿金屬柱的刮漿口的深度在0.005-0.015 mm，而超細(xì)粉(平均粒徑在IOOnm及以下)則需要用刮漿口深度為
0.001-0.005mm的刮漿金屬柱。
[0015]使用時(shí)，將納米金屬粉末用酒精乳化，超聲一定時(shí)間，使粉體形成漿料，取適量漿料于玻璃片上后，用本發(fā)明的刮漿金屬柱勻力刮下，即可使納米漿料在玻璃上形成均勻平整的平面，從而方便通過電子掃描顯微鏡觀察漿料平面的平整性，以便直觀地判斷該金屬納米粉末的分散性效果。
【權(quán)利要求】
1.一種金屬納米粉末刮漿工具，其特征在于，包括刮漿金屬柱(I)，所述的刮漿金屬柱(I)為長方體或正方體，刮漿金屬柱(I)的上表面設(shè)有第一刮漿口(2)，所述刮漿口內(nèi)設(shè)有通孔(3 )，所述通孔(3 )通至柱體下表面。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種金屬納米粉末刮漿工具，其特征在于，刮漿金屬柱(I)的下表面設(shè)有第二刮漿口(4)，所述第二刮漿口(4)的深度小于柱體上表面的第一刮漿口(2)的深度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種金屬納米粉末刮漿工具，其特征在于，所述刮漿金屬柱的材質(zhì)為不銹鋼。
【文檔編號(hào)】G01N1/28GK103592164SQ201310551564
【公開日】2014年2月19日 申請(qǐng)日期:2013年11月8日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月8日
【發(fā)明者】彭家斌, 蔣超, 陳世遠(yuǎn) 申請(qǐng)人:江蘇博遷新材料有限公司