專利名稱：低阻測試探針的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及低阻測試探針。
背景技術：
現(xiàn)有的低阻測試探針是帶彈力的，其與彈簧是一體的，能生產(chǎn)最大的彈簧是80#，從而使生產(chǎn)成本提高，而且現(xiàn)有的低阻測試探針的電阻值大，從而使其導電性能減弱。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型要解決的技術問題是提供一種生產(chǎn)成本低，導電性能強的低阻測試探針。為解決上述技術問題，本實用新型采用如下技術方案:低阻測試探針，包括針身，及與針身連接的針頭；所述針頭延伸出的一端為尖頭。進一步地，所述針身的長度為8.14毫米，針身的直徑為0.28毫米。進一步地，所述針頭的長度為I毫米，針頭的直徑為0.11毫米。進一步地，所述探針與探針之間設置有A距離和B距離，A距離為0.3毫米，B距離為0.3暈米。進一步地，所述探針測試的金手指與金手指之間設置有C距離和D距離，C距離為
0.1毫米，D距離為0.06毫·米。本實用新型的低阻測試探針，由于所述針頭延伸出的一端為尖頭，不需要彈力，這樣探針不需要和彈簧設置成一體，從而使探針的生產(chǎn)成本降低；而且針頭延伸出的一端為尖頭時，探針的電阻力小，從而使探針的導電性能加強。

圖1為本實用新型低阻測試探針的立體圖；圖2為本實用新型低阻測試探針的分布圖。
具體實施方式
本實施例中，參照圖1和圖2所示，低阻測試探針，包括針身1，及與針身I連接的針頭2 ;所述針頭I延伸出的一端為尖頭，由于針頭I延伸出的一端為尖頭，不需要彈力，這樣探針不需要和彈簧設置成一體，從而使探針的生產(chǎn)成本降低；而且針頭延伸出的一端為尖頭時，探針的電阻力小，從而使探針的導電性能加強；所述針身I的長度為8.14毫米，針身I的直徑為0.28毫米；所述針頭2的長度為I毫米，針頭2的直徑為0.11毫米；所述探針與探針之間設置有A距離和B距離，A距離為0.3毫米，B距離為0.3毫米，；所述探針測試的金手指與金手指之間設置有C距離和D距離，C距離為0.1毫米，D距離為0.06毫米，這樣探針與探針就不會相互接觸，不會干擾到低阻測試。本實用新型的低阻測試探針，由于所述針頭延伸出的一端為尖頭，不需要彈力，這樣探針不需要和彈簧設置成一體，從而使探針的生產(chǎn)成本降低；而且針頭延伸出的一端為尖頭時，探針的電阻力小，從而使探針的導電性能加強。上述實施例，只是本實用新型的一個實例，并不是用來限制本實用新型的實施與權利范圍，凡與本實用新型權利要求所述內(nèi)容相同或等同的技術方案，均應包括在本實用新型保護范 圍內(nèi)。
權利要求1.低阻測試探針，其特征在于:包括針身，及與針身連接的針頭；所述針頭延伸出的一立而為尖頭。
2.根據(jù)權利要求1所述的低阻測試探針，其特征在于:所述針身的長度為8.14毫米，針身的直徑為0.28毫米。
3.根據(jù)權利要求1所述的低阻測試探針，其特征在于:所述針頭的長度為I毫米，針頭的直徑為0.11毫米。
4.根據(jù)權利要求1所述的低阻測試探針，其特征在于:所述探針與探針之間設置有A距離和B距離，A距離為0.3毫米，B距離為0.3毫米。
5.根據(jù)權 利要求1所述的低阻測試探針，其特征在于:所述探針測試的金手指與金手指之間設置有C距離和D距離，C距離為0.1毫米，D距離為0.06毫米。
專利摘要本實用新型的低阻測試探針，包括針身，及與針身連接的針頭；所述針頭延伸出的一端為尖頭。由于所述針頭延伸出的一端為尖頭，不需要彈力，這樣探針不需要和彈簧設置成一體，從而使探針的生產(chǎn)成本降低；而且針頭延伸出的一端為尖頭時，探針的電阻力小，從而使探針的導電性能加強。
文檔編號G01R1/067GK203101441SQ20132008048
公開日2013年7月31日 申請日期2013年2月21日 優(yōu)先權日2013年2月21日
發(fā)明者蘇寶軍 申請人:東莞市連威電子有限公司