球面孔半徑的測量工具的制作方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種球面孔半徑的測量工具，包括測砧、百分表、測頭以及測桿，所述測砧上設(shè)有通孔，該通孔沿著測砧的軸向布置，測砧的一端與百分表連接，測砧的另一端凸緣，該凸緣向測砧的徑向延伸，百分表的測頭伸入到測砧上的通孔中，測桿的一端伸入到測砧的通孔中并與測頭連接，位于通孔外部的測桿的另一端設(shè)有徑向凸起，該徑向凸緣的半徑小于測砧上凸緣的半徑。本實用新型具有可以在工件加工后迅速地測量出球面的半徑和偏差，從而判定工件是否合格。
【專利說明】球面孔半徑的測量工具
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種球面孔半徑的測量工具。
【背景技術(shù)】
[0002]目前對損壞的殘缺零件內(nèi)、外圓弧及球面的半徑尺寸的測量，通常采用測量弧的弦長、弦高值再通過計算得出。由于受測量工具和測量手段所限，測得的弦長、弦高數(shù)據(jù)和實際尺寸往往出現(xiàn)偏差，影響最終半徑計算結(jié)果的準確性，影響零件測繪。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實用新型的主要目的是提供一種球面孔半徑的測量工具，本實用新型具有可以在工件加工后迅速地測量出球面的半徑和偏差，從而判定工件是否合格。
[0004]球面孔半徑的測量工具，包括測砧、百分表、測頭以及測桿，所述測砧上設(shè)有通孔，該通孔沿著測砧的軸向布置，測砧的一端與百分表連接，測砧的另一端凸緣，該凸緣向測砧的徑向延伸，百分表的測頭伸入到測砧上的通孔中，測桿的一端伸入到測砧的通孔中并與測頭連接，位于通孔外部的測桿的另一端設(shè)有徑向凸起，該徑向凸緣的半徑小于測砧上凸緣的半徑。
[0005]所述測砧的通孔中設(shè)有套筒，所述測桿與套筒滑動配合。
[0006]所述測砧的圓周面上設(shè)有螺紋孔，一個緊定螺釘?shù)囊欢伺c螺紋孔螺紋連接后鎖定測桿的軸向位置。
[0007]采用了上述方案， 按球面半徑的基本尺寸計算t值，并用量塊對好t值，保證百分表有一定壓縮量，記下百分表的示值h。測量時，將測砧伸入到球面孔中并與球面孔的壁面接觸，將測桿的徑向凸起伸入到球面孔中并與球面孔的壁面接觸(由于徑向凸緣的半徑小于測砧上凸緣的半徑，因此，徑向凸緣接接到的部位的直徑小于凸緣接觸到的部位的直徑)，百分表的示值為t2，則百分表尺寸變化為，根據(jù)以下公式計算球面半徑R:
【權(quán)利要求】
1.球面孔半徑的測量工具，其特征在于:包括測砧、百分表、測頭以及測桿，所述測砧上設(shè)有通孔，該通孔沿著測砧的軸向布置，測砧的一端與百分表連接，測砧的另一端凸緣，該凸緣向測砧的徑向延伸，百分表的測頭伸入到測砧上的通孔中，測桿的一端伸入到測砧的通孔中并與測頭連接，位于通孔外部的測桿的另一端設(shè)有徑向凸起，該徑向凸緣的半徑小于測砧上凸緣的半徑。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的球面孔半徑的測量工具，其特征在于:所述測砧的通孔中設(shè)有套筒，所述測桿與套筒滑動配合。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的球面孔半徑的測量工具，其特征在于:所述測砧的圓周面上設(shè)有螺紋孔，一個緊定螺釘?shù)囊欢伺c螺紋孔螺紋連接后鎖定測桿的軸向位置。
【文檔編號】G01B5/08GK203479225SQ201320529202
【公開日】2014年3月12日 申請日期:2013年8月28日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月28日
【發(fā)明者】霍理 申請人:常州西利合金工具有限公司