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      完整成像無畸變精密測量x光機(jī)系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號:6201224閱讀:206來源:國知局
      完整成像無畸變精密測量x光機(jī)系統(tǒng)的制作方法
      【專利摘要】本實用新型公開了一種完整成像無畸變精密測量X光機(jī)系統(tǒng),包括探測器、載有電池測試樣品的載物臺、X光源,所述探測器設(shè)于載物臺上方,所述X光源設(shè)于載物臺下方,所述載物臺的兩邊設(shè)有光電感應(yīng)器,所述載物臺為傳輸式載物結(jié)構(gòu),所述探測器為線掃描圖像探測器,且與X光源在同一個垂直方向上,避免了面板探測器造成的圖像錯切畸變問題,通過水平傳輸式的載物臺控制電池測試樣品移動進(jìn)行被測物的完整成形,能夠得到與被測物接近的原始圖像,大大提高了X光機(jī)的檢測效果與測量的準(zhǔn)確性。
      【專利說明】完整成像無畸變精密測量X光機(jī)系統(tǒng)
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001 ] 本實用新型涉及一種X光機(jī),特別涉及一種完整成像無畸變精密測量X光機(jī)系統(tǒng)?!颈尘凹夹g(shù)】
      [0002]X光機(jī)作為診斷和檢測手段,是一門應(yīng)用十分廣泛的實用技術(shù),在今天,X光機(jī)檢測結(jié)構(gòu)的獲取和處理技術(shù)已經(jīng)成為X光機(jī)發(fā)展的核心和關(guān)鍵,也是區(qū)分X光機(jī)類別的重要技術(shù)特征,傳統(tǒng)的X光機(jī)采用的是面板探測器,面板探測器具有一定的局限性,探測器成像后只能看到樣品的局部圖像,無法將被檢測的物品完整地呈現(xiàn)出來,這樣嚴(yán)重影響了 X光機(jī)檢測的效率和測量精度,同時對有較高厚度和多層結(jié)構(gòu)的物體成像會導(dǎo)致不同高度的圖像錯切畸變,離X光中心越遠(yuǎn),畸變越嚴(yán)重,測量誤差越大,導(dǎo)致誤判,這是因為通常采用的X光源大都是錐束形的X光源,探測面板是矩陣面板,這使得在矩陣面板內(nèi),被測物離錐束中心越遠(yuǎn),圖像錯切畸變就會越嚴(yán)重,測量誤差越大。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0003]為了克服上述缺陷,本實用新型提供了一種改善圖像錯切畸變和完整成像的完整成像無畸變精密測量X光機(jī)系統(tǒng)。
      [0004]本實用新型為了解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:一種完整成像無畸變精密測量X光機(jī)系統(tǒng),包括探測器、載有電池測試樣品的載物臺、X光源,所述探測器設(shè)于載物臺上方,所述X光源設(shè)于載物臺下方,所述載物臺的兩邊設(shè)有光電感應(yīng)器,所述載物臺為傳輸式載物結(jié)構(gòu),所述探測器為線掃描圖像探測器,且與X光源在同一個垂直方向上,載物臺將測試樣品傳送到光電感應(yīng)器處,啟動探測器開始截取電池測試樣品當(dāng)前截面圖像。
      [0005]作為本實用新型的進(jìn)一步改進(jìn),所述載物臺為水平傳輸?shù)妮斔蛶А?br> [0006]本實用新型的有益效果是:本實用新型的X光機(jī)將圖像面板探測器改為線掃描探測器,當(dāng)X光源發(fā)出的射線穿透電池測試樣品后,由線掃描探測器接收高低、多層測試樣品的一個截面的圖像,避免了面板探測器造成的圖像錯切畸變問題,通過水平傳輸式的載物臺控制測試樣品移動進(jìn)行被測物的完整成形,能夠得到與被測物接近的原始圖像,提高X光機(jī)的檢測效果與測量的準(zhǔn)確性。
      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0007]圖1為本實用新型結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0008]圖中標(biāo)示:1-探測器;2_載物臺;3-X光源,4-測試樣品,5-光電感應(yīng)器。
      【具體實施方式】
      [0009]為了加深對本實用新型的理解,下面將結(jié)合實施例和附圖對本實用新型作進(jìn)一步詳述,該實施例僅用于解釋本實用新型,并不構(gòu)成對本實用新型保護(hù)范圍的限定。
      [0010]圖1出示了本實用新型一種完整成像無畸變精密測量X光機(jī)系統(tǒng)的一種實施方式,包括探測器1、載有電池測試樣品4的載物臺2、X光源3,所述探測器1設(shè)于載物臺2上方,所述X光源3設(shè)于載物臺2下方,所述載物臺2的兩邊設(shè)有光電感應(yīng)器5,所述載物臺2為水平傳輸?shù)妮斔蛶?,所述探測器1為線掃描圖像探測器,且與X光源3在同一個垂直方向上,載物臺2將電池測試樣品4傳送到光電感應(yīng)器5處,啟動探測器1開始截取電池測試樣品4當(dāng)前截面圖像,,因X光源與線掃描探測器在同一垂直方向,電池測試樣品4通過時與X光源3和探測器1也在同一垂直方向,所以當(dāng)前的截面圖像沒有任何的錯切與畸變,當(dāng)電池測試樣品4完全通過光電感應(yīng)器5后,探測器1停止取像,生成一個電池測試樣品4的無任何錯切與畸變的完整圖像,大大改善了 X光機(jī)照射的檢測質(zhì)量與測量的準(zhǔn)確度。
      【權(quán)利要求】
      1.一種完整成像無畸變精密測量X光機(jī)系統(tǒng),包括探測器(1)、載有電池測試樣品(4)的載物臺(2)、X光源(3),所述探測器(1)設(shè)于載物臺(2)上方,所述X光源(3)設(shè)于載物臺(2)下方,其特征在于:所述載物臺(2)的兩邊設(shè)有光電感應(yīng)器(5),所述載物臺(2)為傳輸式載物結(jié)構(gòu),所述探測器(1)為線掃描圖像探測器,且與X光源(3)在同一個垂直方向上,載物臺(2)將電池測試樣品(4)傳送到光電感應(yīng)器(5)處,啟動探測器(1)開始截取電池測試樣品(4)當(dāng)前截面圖像。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的完整成像無畸變精密測量X光機(jī)系統(tǒng),其特征在于:所述載物臺(2)為水平傳輸?shù)妮斔蛶А?br> 【文檔編號】G01N23/083GK203519518SQ201320618986
      【公開日】2014年4月2日 申請日期:2013年10月9日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月9日
      【發(fā)明者】林毅寧 申請人:昆山善思光電科技有限公司
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