一種樣品固定裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種樣品固定裝置,包括基座,其特點是:所述固定裝置還包括壓環(huán)和鎖環(huán);所述基座上設(shè)置激發(fā)孔,樣品放置在基座中心時樣品端面在激發(fā)孔處與基座底持平,所述基座外緣設(shè)置螺紋;所述壓環(huán)放置在基座上部,所述壓環(huán)包括用于放置樣品的樣品孔和用于受力的錐狀斜面,所述樣品孔與基座的中心重合;所述錐狀斜面受力時向中心收攏以固定放置在樣品孔內(nèi)的樣品;所述鎖環(huán)包括與壓環(huán)的錐狀斜面配合的壓環(huán)配合部以及與基座配合的基座配合部;所述基座配合部內(nèi)緣設(shè)置螺紋;所述基座配合部與基座通過螺紋擰緊時壓環(huán)配合部對錐狀斜面施加壓力。本實用新型具有結(jié)構(gòu)設(shè)計合理、分析準確度高、用戶使用舒適度好等優(yōu)點。
【專利說明】—種樣品固定裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種樣品固定裝置,尤其是一種柱狀樣品固定裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]原子發(fā)射直讀光譜儀在使用過程中,電極會產(chǎn)生高壓,穿過激發(fā)孔后對樣品放電。由于電極直徑一般在13_,因此為防止電極對激發(fā)孔意外放電,激發(fā)孔直徑需大于13mm。
[0003]但在實際應(yīng)用中,會有一些直徑小于13mm的小直徑樣品需要進行分析。
[0004]請參閱圖1,目前采用的技術(shù)方案是對小直徑樣品進行單邊壓緊固定。樣品2放置在基座I內(nèi)的孔內(nèi),樣品在基座I內(nèi)的孔內(nèi)靠一側(cè)放置,螺釘3旋轉(zhuǎn)將樣品固定在孔內(nèi)一側(cè);但這樣很難控制樣品中心與電極的對準。
[0005]同時,若樣品直徑小于激發(fā)孔的直徑,則在電極對樣品放電時,火焰處無法形成穩(wěn)定的氬氣保護環(huán)境,分析準確度會大幅下降,放電噪聲也會沿樣品與孔的縫隙傳遞出來,客戶使用舒適度很差。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0006]本實用新型為了解決上述技術(shù)問題,提供了一種結(jié)構(gòu)設(shè)計合理、分析準確度高、用戶使用舒適度好的樣品固定裝置。
[0007]本實用新型解決上述技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:
[0008]一種樣品固定裝置,包括基座,其特點是:所述固定裝置還包括壓環(huán)和鎖環(huán);
[0009]所述基座上設(shè)置激發(fā)孔,樣品放置在基座中心時樣品端面在激發(fā)孔處與基座底持平,所述基座外緣設(shè)置螺紋;
[0010]所述壓環(huán)放置在基座上部,所述壓環(huán)包括用于放置樣品的樣品孔和用于受力的錐狀斜面,所述樣品孔與基座的中心重合;所述錐狀斜面受力時向中心收攏以固定放置在樣品孔內(nèi)的樣品;
[0011]所述鎖環(huán)包括與壓環(huán)的錐狀斜面配合的壓環(huán)配合部以及與基座配合的基座配合部;所述基座配合部內(nèi)緣設(shè)置螺紋;
[0012]所述基座配合部與基座通過螺紋擰緊時壓環(huán)配合部對錐狀斜面施加壓力。
[0013]所述壓環(huán)配合部擠壓壓環(huán)的錐狀斜面,使得壓環(huán)向中心收攏,以固定放置在壓環(huán)樣品孔的樣品。
[0014]進一步,所述基座還包括設(shè)置在激發(fā)孔外的密封片,用以密封樣品端面。
[0015]作為優(yōu)選,所述密封片為陶瓷墊片。
[0016]進一步,所述樣品固定裝置還包括與電極位置相對固定的基準板,所述基準板將基座限定在一定位置,以使固定在基座上的樣品中心與電極中心對準。
[0017]作為優(yōu)選,所述基準板與安裝平面之間設(shè)置定位槽,所述基座底板插入所述定位槽,實現(xiàn)基座上的樣品中心與電極中心的對準。
[0018]進一步,所述樣品直徑大于6mm。[0019]進一步,所述樣品為柱狀樣品。
[0020]進一步,所述樣品固定裝置還包括設(shè)置在壓環(huán)上用以密封電極的罩子。
[0021 ] 進一步,所述樣品固定裝置用于原子發(fā)射直讀光譜儀。
[0022]本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有以下優(yōu)點和有益效果:
[0023]1、實現(xiàn)了樣品與電極的自動對準功能,降低了用戶操作難度,大幅度提高了線形樣品的分析速度;
[0024]2、解決了線形樣品夾具漏氣問題,在樣品激發(fā)端面形成了氬氣保護環(huán)境,有效的減少了干擾,提高了分析準確度;同時封閉的激發(fā)環(huán)境有利于降低激發(fā)噪聲,提高用戶使用舒適度;
[0025]3、能夠適用直徑大于6_,小于13mm的任意線形樣品的元素分析,具有廣泛的樣品通用性;
【專利附圖】
【附圖說明】
[0026]圖1為實施例2中樣品固定裝置結(jié)構(gòu)示意圖;
[0027]圖2為實施例2中樣品固定裝置分解之后的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0028]圖3為實施例3中樣品固定裝置分解之后的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0029]圖4為實施例4中樣品固定裝置結(jié)構(gòu)示意圖;
[0030]圖5為實施例5中樣品固定裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0031]以下實施例對本實用新型的結(jié)構(gòu)、功能和應(yīng)用等情況做了進一步的說明,是本實用新型幾種比較好的應(yīng)用形式,但是本實用新型的范圍并不局限在以下的實施例。
[0032]實施例1
[0033]一種樣品固定裝直,包括基座、壓環(huán)和鎖環(huán);
[0034]所述基座上設(shè)置激發(fā)孔,樣品放置在基座中心時樣品端面在激發(fā)孔處與基座底持平,所述基座外緣設(shè)置螺紋;
[0035]所述壓環(huán)放置在基座上部,所述壓環(huán)包括用于放置樣品的樣品孔和用于受力的錐狀斜面,所述樣品孔與基座的中心重合;所述錐狀斜面受力時向中心收攏以固定放置在樣品孔內(nèi)的樣品;
[0036]所述鎖環(huán)包括與壓環(huán)的錐狀斜面配合的壓環(huán)配合部以及與基座配合的基座配合部;所述基座配合部內(nèi)緣設(shè)置螺紋;
[0037]所述基座配合部與基座通過螺紋擰緊時壓環(huán)配合部對錐狀斜面施加壓力。
[0038]所述壓環(huán)配合部擠壓壓環(huán)的錐狀斜面,使得壓環(huán)向中心收攏,以固定放置在壓環(huán)樣品孔的樣品。
[0039]由于樣品中心各成分分布比較均勻,對樣品性質(zhì)更具有代表性,電極對樣品放電時最好對準樣品中心。本實用新型采用在壓環(huán)的錐狀斜面受力時向中心收攏來固定電極,能夠始終保持樣品中心位置不變,可輕松實現(xiàn)樣品端面與電極的同軸對準需求。
[0040]在電極對樣品放電時,為了防止樣品/電極氧化,在樣品端面處通入氬氣形成穩(wěn)定保護環(huán)境。若樣品直徑大于激發(fā)孔的直徑,則氬氣在樣品斷面處可以形成穩(wěn)定保護環(huán)境,但樣品直徑小于激發(fā)孔的直徑,會存在電極對激發(fā)孔意外放電的機會,同時,IS氣可從激發(fā)孔進入樣品與樣品孔之見的空隙,使得氬氣保護環(huán)境不再穩(wěn)定。為了克服上述問題,進一步,所述基座還包括設(shè)置在激發(fā)孔外的密封片,用以密封樣品端面。
[0041]作為優(yōu)選,所述密封片為陶瓷墊片。
[0042]由于激發(fā)光斑直徑在5mm,則樣品直徑只要大于5mm即可實現(xiàn)自動實現(xiàn)端面密封;
[0043]進一步,所述樣品直徑大于6mm。
[0044]進一步,所述樣品固定裝置還包括與電極位置相對固定的基準板,所述基準板將基座限定在一定位置,以使固定在基座上的樣品中心與電極中心對準。
[0045]作為優(yōu)選,所述基準板與安裝平面之間設(shè)置定位槽,所述基座底板插入所述定位槽,實現(xiàn)基座上的樣品中心與電極中心的對準。
[0046]進一步,所述樣品固定裝置用于原子發(fā)射直讀光譜儀。
[0047]進一步,所述樣品為柱狀樣品。
[0048]進一步,所述樣品固定裝置還包括設(shè)置在壓環(huán)上用以密封電極的罩子,以減少外界氣流對電極放電的影響。
[0049]實施例2
[0050]請參閱圖1和圖2,一種樣品固定裝直,包括基座1、壓環(huán)2和鎖環(huán)3 ;
[0051]所述基座I上設(shè)置激發(fā)孔10,樣品100放置在基座I中心時樣品100端面在激發(fā)孔10處與基座I上底面持平,所述基座I外緣設(shè)置螺紋11 ;
[0052]所述壓環(huán)2放置在基座I上部,所述壓環(huán)2包括用于放置樣品的樣品孔21和用于受力的錐狀斜面22,所述樣品孔21與基座I的中心重合;所述錐狀斜面22受力時向中心收攏以固定放置在樣品孔21內(nèi)的樣品100 ;
[0053]所述鎖環(huán)3包括與壓環(huán)2的錐狀斜面22配合的壓環(huán)配合部31以及與基座I配合的基座配合部32 ;所述基座配合部32內(nèi)緣設(shè)置螺紋33 ;
[0054]所述基座配合部32與基座I通過螺紋33和螺紋11擰緊時壓環(huán)配合部31對錐狀斜面22施加壓力,所述壓環(huán)配合部31擠壓壓環(huán)的錐狀斜面22,使得壓環(huán)2向中心收攏,以固定放置在壓環(huán)2樣品孔21內(nèi)的樣品100。
[0055]由于樣品放置在樣品孔內(nèi),壓環(huán)受力時向中心收攏,使得樣品在樣品孔內(nèi)被固定時能夠處于樣品孔的中心。由于樣品孔與基座的中心重合,則經(jīng)過壓環(huán)固定之后的樣品中心也與基座的中心重合。電極與基座中心是對準的,這樣通過壓環(huán)固定樣品就實現(xiàn)了樣品中心與電極中心的自動對準,降低了操作人員的操作難度,提高了樣品的分析速度,提高了工作效率。
[0056]實施例3
[0057]請參閱圖3,一種樣品固定裝置,與實施例2所述的樣品固定裝置不同的是:所述基座I還包括設(shè)置在激發(fā)孔10外的密封片4,用以密封樣品100端面。
[0058]作為優(yōu)選,所述密封片為陶瓷墊片。
[0059]進一步,所述樣品直徑大于6mm。
[0060]實施例4
[0061]請參閱圖4,一種樣品固定裝置,與實施例2所述的樣品固定裝置不同的是:所述樣品固定裝置還包括設(shè)置在壓環(huán)上用以密封電極的罩子7。[0062]實施例5
[0063]請參閱圖5,一種樣品固定裝置,與實施例3所述的樣品固定裝置不同的是:所述樣品固定裝置還包括與電極位置相對固定的基準板5,所述基準板5將基座I限定在一定位直,使得基座中心與電極中心對準,以進一步使固定在基座I上的樣品中心與電極中心對準。
[0064]進一步,所述基準板5與安裝平面之間設(shè)置定位槽6,所述基座I底板插入所述定位槽6,實現(xiàn)基座的安裝固定,并進一步實現(xiàn)基座I上的樣品中心與電極中心的對準。
[0065]實施例6
[0066]一種樣品固定裝置在原子發(fā)射直讀光譜儀中的應(yīng)用,樣品為圓柱狀,將樣品放入壓環(huán)中心并進一步放入基座中心,使得樣品端面在基座上的激發(fā)孔處并與基座上底面持平,將鎖環(huán)扣在基座上,使得鎖環(huán)的壓環(huán)配合部與壓環(huán)的錐狀斜面相貼緊,基座配合部的螺紋與基座外緣的螺紋相接觸,旋轉(zhuǎn)鎖環(huán),基座配合部與基座外緣的螺紋相互擰緊,使得壓環(huán)配合部向中心收攏,使得樣品也向樣品孔中心移動,最后被固定在樣品孔中心處,即固定后的樣品中心與基座中心重合。將固定好樣品后的基座I的底板放置在基準板處并固定,實現(xiàn)基座與電極的相對固定,進一步實現(xiàn)樣品與電極的中心對準。
[0067]實施例7
[0068]一種樣品固定裝置在原子發(fā)射直讀光譜儀中的應(yīng)用,與實施例6不同的是:
[0069]1、將固定好樣品后的底板放置在定位槽內(nèi),實現(xiàn)基座的安裝固定,并進一步實現(xiàn)基座上的樣品中心與電極中心的對準;
[0070]2、所述基座還包括設(shè)置在激發(fā)孔外的陶瓷密封片,用以密封樣品端面。
[0071]實施例8
[0072]—種樣品固定裝置在原子發(fā)射直讀光譜儀中的應(yīng)用,與實施例7不同的是:
[0073]樣品固定后將罩子罩在壓環(huán)上以密封電極,免受外界對電極放電的影響。
[0074]上述實施方式不應(yīng)理解為對本實用新型保護范圍的限制。本實用新型的關(guān)鍵是:通過壓環(huán)受力時向中心收攏實現(xiàn)小直徑樣品的中心固定。在不脫離本實用新型精神的情況下,對本實用新型做出的任何形式的改變均應(yīng)落入本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種樣品固定裝置,包括基座,其特征在于:所述固定裝置還包括壓環(huán)和鎖環(huán); 所述基座上設(shè)置激發(fā)孔,樣品放置在基座中心時樣品端面在激發(fā)孔處與基座底持平,所述基座外緣設(shè)置螺紋; 所述壓環(huán)放置在基座上部,所述壓環(huán)包括用于放置樣品的樣品孔和用于受力的錐狀斜面,所述樣品孔與基座的中心重合;所述錐狀斜面受力時向中心收攏以固定放置在樣品孔內(nèi)的樣品; 所述鎖環(huán)包括與壓環(huán)的錐狀斜面配合的壓環(huán)配合部以及與基座配合的基座配合部;所述基座配合部內(nèi)緣設(shè)置螺紋; 所述基座配合部與基座通過螺紋擰緊時壓環(huán)配合部對錐狀斜面施加壓力。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣品固定裝置,其特征在于:所述基座還包括設(shè)置在激發(fā)孔外的密封片,用以密封樣品端面。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的樣品固定裝置,其特征在于:所述密封片為陶瓷墊片。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣品固定裝置,其特征在于:所述樣品固定裝置還包括與電極位置相對固定的基準板,所述基準板將基座限定在一定位置,以使基座中心與電極中心對準。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的樣品固定裝置,其特征在于:所述基準板與安裝平面之間設(shè)置定位槽,所述基座底板插入所述定位槽,實現(xiàn)基座中心與電極中心的對準。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣品固定裝置,其特征在于:所述樣品固定裝置還包括設(shè)置在壓環(huán)上用以密封電極的罩子。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣品固定裝置,其特征在于:所述樣品固定裝置用于原子發(fā)射直讀光譜儀。
【文檔編號】G01N21/67GK203672789SQ201320894340
【公開日】2014年6月25日 申請日期:2013年12月23日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月23日
【發(fā)明者】丁海波, 韓雙來, 陳斌, 楊凱, 胡建坤, 邱明, 吳峰明, 張斌, 李文, 尚艷麗 申請人:聚光科技(杭州)股份有限公司