毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置及其校準方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，包括：常溫校準機構，所述常溫校準機構的校準溫度等于當前環(huán)境溫度，用于校準輻射計的初值；和高溫校準機構，所述高溫校準機構的校準溫度高于當前環(huán)境溫度，用于與常溫校準機構一起校準輻射計的增益。與現有技術相比，在本發(fā)明的上述各個實施例中，由于為輻射計設置了專門的高低溫校準裝置，因此能夠對輻射計的初值和增益實時地校準，從而避免了環(huán)境溫度變化和輻射計自身溫度變化所帶來的不利影響，從而提高了輻射計的檢測精度。
【專利說明】毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置及其校準方法

【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種用于毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置及其校準方法。

【背景技術】
[0002]所公知的是，毫米波檢查設備的輻射計容易受到溫度變化的影響，一種是工作環(huán)境的溫度變化，例如早晨的工作環(huán)境溫度與中午的工作環(huán)境溫度可能不同，另一種是輻射計自身的溫度變化，例如長時間工作后輻射計自身的溫度會升高。這些溫度變化對輻射計的測量精度影響很大，會造成輻射計初值的漂移和增益的變化。
[0003]但是，遺憾的是，在現有的毫米波檢查設備中，沒有為輻射計設計任何溫度校準裝置，導致輻射計的檢測精度不高。


【發(fā)明內容】

[0004]本發(fā)明的目的旨在解決現有技術中存在的上述問題和缺陷的至少一個方面。
[0005]相應地，本發(fā)明的目的之一在于提供一種能夠提高輻射計檢測精度的輻射計溫度校準裝置。
[0006]本發(fā)明的另一個目的在于提供一種結構簡單的輻射計溫度校準裝置。
[0007]本發(fā)明的再一個目的在于提供一種結構緊湊且體積小的輻射計溫度校準裝置。
[0008]根據本發(fā)明的一方面，其提供一種毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，包括:常溫校準機構，所述常溫校準機構的校準溫度等于當前環(huán)境溫度，用于校準輻射計的初值；和高溫校準機構，所述高溫校準機構的校準溫度高于當前環(huán)境溫度，用于與常溫校準機構一起校準輻射計的增益。
[0009]根據本發(fā)明的一個優(yōu)選實施例，所述常溫校準機構包括:可轉動的常溫校準鏤空轉筒組件；和第一驅動電機，所述第一驅動電機安裝在支架上，用于驅動常溫校準鏤空轉筒組件圍繞所述輻射計連續(xù)轉動。
[0010]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述高溫校準機構包括:高溫校準半圓板組件；和第二驅動電機，所述第二驅動電機安裝在支架上，用于驅動高溫校準半圓板組件圍繞所述福射計擺動。
[0011]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述常溫校準鏤空轉筒組件和所述高溫校準半圓板組件繞同一軸線運動。
[0012]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述支架為U形支架，其具有前壁和與前壁相對的后壁。
[0013]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述常溫校準鏤空轉筒組件的一端與轉軸連接，所述轉軸與所述第一驅動電機的輸出軸連接。
[0014]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述轉軸的軸端鉆有帶鍵的軸孔，所述第一驅動電機的輸出軸插入所述轉軸的軸孔中，從而實現兩者之間的直接對接。
[0015]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述支架的前壁a上形成有軸承座，所述轉軸通過軸承轉動地支撐在軸承座的通孔中。
[0016]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述支架的后壁上分別形成有:用于安裝第一驅動電機的第一電機定位孔；和用于安裝第二驅動電機的第二電機定位孔。
[0017]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述第一電機定位孔a與所述軸承座的通孔同心。
[0018]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述常溫校準機構還包括溫度傳感器，用于檢測所述常溫校準鏤空轉筒組件的溫度。
[0019]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述常溫校準機構還包括位置傳感器，用于檢測所述常溫校準鏤空轉筒組件的初始位置。
[0020]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述位置傳感器為接近開關，并安裝在支架上；并且在所述常溫校準鏤空轉筒組件上設置有與所述位置傳感器相對應的凸起，當所述常溫校準鏤空轉筒組件位于初始位置時，所述位置傳感器與所述凸起直接相對。
[0021]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述常溫校準鏤空轉筒組件包括:鏤空轉筒；和設置在鏤空轉筒內側的吸波材料。
[0022]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述常溫校準機構還包括:隔熱器件，所述隔熱器件、設置在所述轉軸與常溫校準鏤空轉筒組件之間，用于防止第一驅動電機產生的熱量經所述轉軸傳導到常溫校準鏤空轉筒組件。
[0023]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述高溫校準半圓板組件的一端通過扇形支架固定在第一同步齒形帶輪上，所述第一同步齒形帶輪通過軸承轉動地支撐在所述轉軸上，所述第一同步齒形帶輪通過同步齒形帶與第二驅動電機的輸出軸上的第二同步齒形帶輪相聯。
[0024]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述高溫校準半圓板組件從內向外依次包括:隔熱套、吸波材料、導熱板、電阻加熱膜、保溫材料和隔熱板。
[0025]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述高溫校準機構還包括:溫度傳感器，所述溫度傳感器設置在所述高溫校準半圓板組件的內部，與電阻加熱膜接觸，用于檢測所述高溫校準半圓板組件的溫度。
[0026]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述高溫校準機構還包括:兩個限位檢測器，用來限制所述高溫校準半圓板組件的擺動范圍。
[0027]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述高溫校準機構還包括:張緊輪，用于調節(jié)所述同步齒形帶的張力。
[0028]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述常溫校準機構和所述高溫校準機構相互熱隔離。
[0029]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述常溫校準機構和所述高溫校準機構通過絕熱材料相互熱隔離。
[0030]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述常溫校準機構和所述高溫校準機構通過空氣間隙相互熱隔離。
[0031]根據本發(fā)明的另一方面，提供一種毫米波檢查設備的輻射計的校準方法，包括步驟:用輻射計接收溫度等于當前環(huán)境溫度的常溫校準機構輻射的毫米波能量，從而獲得與當前環(huán)境溫度相對應的常溫毫米波能量，并用當前環(huán)境溫度和獲得的常溫毫米波能量來標定所述輻射計的初值。
[0032]根據本發(fā)明的一個優(yōu)選實施例，所述校準方法還包括步驟:用輻射計接收具有高于當前環(huán)境溫度的預定高溫的高溫校準機構輻射的毫米波能量，從而得到與預定高溫相對應的高溫毫米波能量，并用下面的公式來標定所述輻射計的增益:高溫毫米波能量-常溫毫米波能量/預定高溫-當前環(huán)境溫度。
[0033]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述常溫校準機構圍繞輻射計連續(xù)轉動，以便對所述輻射計的初值連續(xù)地進行校準。
[0034]根據本發(fā)明的另一個優(yōu)選實施例，所述高溫校準機構圍繞輻射計往復擺動，以便與所述常溫校準機構一起，對所述輻射計的增益進行校準。
[0035]與現有技術相比，在本發(fā)明的上述各個實施例中，由于為輻射計設置了專門的高低溫校準裝置，因此能夠對輻射計的初值和增益實時地校準，從而避免了環(huán)境溫度變化和輻射計自身溫度變化所帶來的不利影響，從而提高了輻射計的檢測精度。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0036]本發(fā)明的這些和/或其他方面和優(yōu)點從下面結合附圖對優(yōu)選實施例的描述中將變得明顯和容易理解，其中:
[0037]圖1顯示根據本發(fā)明的一個示例性的實施例的輻射計溫度校準裝置的立體結構示意圖；
[0038]圖2顯示圖1所示的輻射計溫度校準裝置的剖視圖；
[0039]圖3顯示根據本發(fā)明的一個示例性的實施例的常溫校準鏤空轉筒組件的立體結構示意圖；
[0040]圖4顯示根據本發(fā)明的一個示例性的實施例的高溫校準半圓板組件的立體結構示意圖；
[0041]圖5顯示沿圖4中的B-B線的高溫校準半圓板組件的剖視圖；和
[0042]圖6顯示根據本發(fā)明的一個示例性的實施例的支架的立體結構示意圖。

【具體實施方式】
[0043]下面結合實施例進一步說明本發(fā)明的【具體實施方式】。圖1至圖6顯示根據本發(fā)明的輻射計溫度校準裝置的一個示例性的實施例。
[0044]在本發(fā)明中，圖示的輻射計溫度校準裝置用于毫米波檢查設備。但是，需要說明的是，該輻射計溫度校準裝置還能夠適用于其它設備或其它用途。
[0045]圖1顯示根據本發(fā)明的一個示例性的實施例的輻射計溫度校準裝置的立體結構示意圖；圖2顯示圖1所示的輻射計溫度校準裝置的剖視圖。
[0046]如圖1和圖2所示，在圖示優(yōu)選實施例中，輻射計溫度校準裝置包括常溫校準機構和高溫校準機構。因此，在本文中，也可以將這種輻射計溫度校準裝置稱之為高低溫校準裝置。具體地，常溫校準機構具有等于當前環(huán)境溫度的校準溫度，用于校準輻射計的初值。高溫校準機構具有高于當前環(huán)境溫度的校準溫度，用于與常溫校準機構一起校準輻射計的增.、/■
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[0047]如圖1和圖2所示，在一個實例性的優(yōu)選實施例中，常溫校準機構主要包括可轉動的常溫校準鏤空轉筒組件111和第一驅動電機118。
[0048]如圖2所示，第一驅動電機118安裝在支架129上，用于驅動常溫校準鏤空轉筒組件111圍繞輻射計(未圖示)連續(xù)轉動。
[0049]繼續(xù)參見圖1和圖2，高溫校準機構主要包括高溫校準半圓板組件130和第二驅動電機142。
[0050]如圖2所示，第二驅動電機142也安裝在支架129上，用于驅動高溫校準半圓板組件130圍繞福射計(未圖示)擺動。
[0051]如圖1和圖2所示，高溫校準半圓板組件130設置在常溫校準鏤空轉筒組件111的外側，并與常溫校準鏤空轉筒組件111之間具有預定的空氣間隔，用于防止相互之間的熱傳導。當然，也可以在常溫校準機構和高溫校準機構之間也可以通過絕熱材料相互熱隔離。
[0052]如圖2所示，在另一個優(yōu)選實施例中，常溫校準鏤空轉筒組件111和高溫校準半圓板組件130繞同一軸線I運動。
[0053]圖6顯示根據本發(fā)明的一個示例性的實施例的支架的立體結構示意圖。
[0054]如圖2和圖6所示，在圖示的優(yōu)選實施例中，支架129具有前壁129a和與前壁129a相對的后壁129b。前壁129a與后壁129b的一端相互連接，從而形成U形支架。
[0055]圖3顯示根據本發(fā)明的一個示例性的實施例的常溫校準鏤空轉筒組件的立體結構示意圖。
[0056]如圖3所示，在圖示的優(yōu)選實施例中，常溫校準鏤空轉筒組件111的一端與一個帶有法蘭盤的轉軸116連接。如圖2所示，該轉軸116與第一驅動電機118的輸出軸連接。優(yōu)選地，如圖2和圖3所示，轉軸116的軸端鉆有帶鍵的軸孔，第一驅動電機118的輸出軸插入轉軸116的軸孔中，從而實現兩者之間的直接對接。
[0057]請繼續(xù)參見圖2和圖6，支架129的前壁129a上形成有軸承座128，轉軸116通過軸承117轉動地支撐在軸承座128的通孔119中。
[0058]請繼續(xù)參見圖2和圖6，支架129的后壁129b上分別形成有:用于安裝第一驅動電機118的第一電機定位孔127a ;和用于安裝第二驅動電機142的第二電機定位孔127b。
[0059]請繼續(xù)參見圖2和圖6，第一電機定位孔127a與軸承座128的通孔119的軸線均為軸線I，即第一電機定位孔127a與軸承座128的通孔119同心。
[0060]如圖1所示，在一個優(yōu)選實施例中，常溫校準機構還包括溫度傳感器120，用于檢測常溫校準鏤空轉筒組件111的溫度。優(yōu)選地，該溫度傳感器120固定在支架129的頂部上。更優(yōu)選地，該溫度傳感器120為紅外溫度傳感器，當然，也可以為適用于本發(fā)明的其它類型的溫度傳感器。
[0061]如圖1所示，常溫校準機構還包括位置傳感器121，用于檢測常溫校準鏤空轉筒組件111的初始位置。優(yōu)選地，該位置傳感器121為接近開關，并安裝在支架129上。同時，在常溫校準鏤空轉筒組件111上設置有與位置傳感器121相對應的凸起119。當常溫校準鏤空轉筒組件111位于初始位置時，位置傳感器121與所述凸起119直接相對，從而來檢測常溫校準鏤空轉筒組件111的初始位置。
[0062]如圖3所示，常溫校準鏤空轉筒組件111主要包括鏤空轉筒112和設置在鏤空轉筒112內側的吸波材料113。
[0063]如圖2所示，在一個優(yōu)選實施例中，常溫校準機構還包括隔熱器件114、115。該隔熱器件114、115設置在轉軸116與常溫校準鏤空轉筒組件111之間，用于防止第一驅動電機118產生的熱量經轉軸116傳導到常溫校準鏤空轉筒組件111。
[0064]圖4顯示根據本發(fā)明的一個示例性的實施例的高溫校準半圓板組件的立體結構示意圖。
[0065]如圖1、圖2和圖4所示,高溫校準半圓板組件130的一端通過扇形支架137固定在第一同步齒形帶輪138上，第一同步齒形帶輪138通過軸承轉動地支撐在轉軸116上，第一同步齒形帶輪138通過同步齒形帶140與第二驅動電機142的輸出軸上的第二同步齒形帶輪141相聯。
[0066]圖5顯示沿圖4中的B-B線的高溫校準半圓板組件的剖視圖。
[0067]如圖2和圖5所示，在一個優(yōu)選實施例中，高溫校準半圓板組件130從內向外依次包括:隔熱套131、吸波材料113、導熱板133、電阻加熱膜134、保溫材料135和隔熱板136。
[0068]如圖2和圖5所示，在一個優(yōu)選實施例中，高溫校準機構還包括溫度傳感器132。該溫度傳感器132設置在所述高溫校準半圓板組件130的內部，與電阻加熱膜134接觸，用于檢測所述高溫校準半圓板組件130的溫度。
[0069]如圖2所示，在一個優(yōu)選實施例中，高溫校準機構還包括兩個限位檢測器122，用來限制高溫校準半圓板組件130的擺動范圍，使高溫校準半圓板組件130在一對限位檢測器122所限定的范圍內擺動。優(yōu)選地，限位檢測器122為限位接近開關。
[0070]如圖1所示，在一個優(yōu)選實施例中，高溫校準機構還包括張緊輪143，用于調節(jié)同步齒形帶140的張力。如圖1所示，張緊輪143固定在支架129上，并壓在同步齒形帶140上，使同步齒形帶140保持繃緊的狀態(tài)。
[0071]雖然結合附圖對本發(fā)明進行了說明，但是附圖中公開的實施例旨在對本發(fā)明優(yōu)選實施方式進行示例性說明，而不能理解為對本發(fā)明的一種限制。
[0072]雖然本總體發(fā)明構思的一些實施例已被顯示和說明，本領域普通技術人員將理解，在不背離本總體發(fā)明構思的原則和精神的情況下，可對這些實施例做出改變，本發(fā)明的范圍以權利要求和它們的等同物限定。
【權利要求】
1.一種毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，包括: 常溫校準機構，所述常溫校準機構的校準溫度等于當前環(huán)境溫度，用于校準輻射計的初值；和 高溫校準機構，所述高溫校準機構的校準溫度高于當前環(huán)境溫度，用于與常溫校準機構一起校準輻射計的增益。
2.根據權利要求1所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中，所述常溫校準機構包括: 可轉動的常溫校準鏤空轉筒組件(111);和 第一驅動電機(118)，所述第一驅動電機(118)安裝在支架(129)上，用于驅動常溫校準鏤空轉筒組件(111)圍繞所述輻射計連續(xù)轉動。
3.根據權利要求2所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中，所述高溫校準機構包括: 高溫校準半圓板組件(130);和 第二驅動電機(142)，所述第二驅動電機(142)安裝在支架(129)上，用于驅動高溫校準半圓板組件(130)圍繞所述輻射計擺動。
4.根據權利要求2或3所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中， 所述常溫校準鏤空轉筒組件(111)和所述高溫校準半圓板組件(130)繞同一軸線運動。
5.根據權利要求4所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中，所述支架(129)為U形支架，其具有前壁(129a)和與前壁(129a)相對的后壁(129b)。
6.根據權利要求5所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中， 所述常溫校準鏤空轉筒組件(111)的一端與轉軸(116)連接，所述轉軸(116)與所述第一驅動電機(118)的輸出軸連接。
7.根據權利要求6所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中， 所述轉軸(116)的軸端鉆有帶鍵的軸孔，所述第一驅動電機(118)的輸出軸插入所述轉軸(116)的軸孔中，從而實現兩者之間的直接對接。
8.根據權利要求7所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中， 所述支架(129)的前壁(129a)上形成有軸承座(128)，所述轉軸(116)通過軸承(117)轉動地支撐在軸承座(128)的通孔(119)中。
9.根據權利要求8所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中，所述支架(129)的后壁(129b)上分別形成有: 用于安裝第一驅動電機(118)的第一電機定位孔(127a);和 用于安裝第二驅動電機(142)的第二電機定位孔(127b)。
10.根據權利要求9所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中， 所述第一電機定位孔(127a)與所述軸承座(128)的通孔(119)同心。
11.根據權利要求10所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中， 所述常溫校準機構還包括溫度傳感器(120)，用于檢測所述常溫校準鏤空轉筒組件(111)的溫度。
12.根據權利要求10所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中， 所述常溫校準機構還包括位置傳感器(121)，用于檢測所述常溫校準鏤空轉筒組件(111)的初始位置。
13.根據權利要求12所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中， 所述位置傳感器(121)為接近開關，并安裝在支架(129)上；并且 在所述常溫校準鏤空轉筒組件(111)上設置有與所述位置傳感器(121)相對應的凸起(119)， 當所述常溫校準鏤空轉筒組件(111)位于初始位置時，所述位置傳感器(121)與所述凸起(119)直接相對。
14.根據權利要求10所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中，所述常溫校準鏤空轉筒組件(111)包括: 鏤空轉筒(112);和 設置在鏤空轉筒(112)內側的吸波材料(113)。
15.根據權利要求10所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中，所述常溫校準機構還包括: 隔熱器件(114、115)，所述隔熱器件(114、115)設置在所述轉軸(116)與常溫校準鏤空轉筒組件(111)之間，用于防止第一驅動電機(118)產生的熱量經所述轉軸(116)傳導到常溫校準鏤空轉筒組件(111)。
16.根據權利要求10所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中，所述高溫校準半圓板組件(130)的一端通過扇形支架(137)固定在第一同步齒形帶輪(138)上，所述第一同步齒形帶輪(138)通過軸承轉動地支撐在所述轉軸(116)上，所述第一同步齒形帶輪(138)通過同步齒形帶(140)與第二驅動電機(142)的輸出軸上的第二同步齒形帶輪(141)相聯。
17.根據權利要求16所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中，所述高溫校準半圓板組件(130)從內向外依次包括:隔熱套(131)、吸波材料(113)、導熱板(133)、電阻加熱膜(134)、保溫材料(135)和隔熱板(136)。
18.根據權利要求17所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中，所述高溫校準機構還包括: 溫度傳感器(132)，所述溫度傳感器(132)設置在所述高溫校準半圓板組件(130)的內部，與電阻加熱膜(134)接觸，用于檢測所述高溫校準半圓板組件(130)的溫度。
19.根據權利要求16所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中，所述高溫校準機構還包括: 兩個限位檢測器(122)，用來限制所述高溫校準半圓板組件(130)的擺動范圍。
20.根據權利要求16所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中，所述高溫校準機構還包括: 張緊輪(143)，用于調節(jié)所述同步齒形帶(140)的張力。
21.根據權利要求1所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中， 所述常溫校準機構和所述高溫校準機構相互熱隔離。
22.根據權利要求21所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中， 所述常溫校準機構和所述高溫校準機構通過絕熱材料相互熱隔離。
23.根據權利要求21所述的毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置，其中， 所述常溫校準機構和所述高溫校準機構通過空氣間隙相互熱隔離。
24.一種毫米波檢查設備的輻射計的校準方法，包括步驟: 用輻射計接收溫度等于當前環(huán)境溫度的常溫校準機構輻射的毫米波能量，從而獲得與當前環(huán)境溫度相對應的常溫毫米波能量，并用當前環(huán)境溫度和獲得的常溫毫米波能量來標定所述輻射計的初值。
25.根據權利要求24所述的毫米波檢查設備的輻射計的校準方法，還包括步驟: 用輻射計接收具有高于當前環(huán)境溫度的預定高溫的高溫校準機構輻射的毫米波能量，從而得到與預定高溫相對應的高溫毫米波能量，并用下面的公式來標定所述輻射計的增.、M: (高溫毫米波能量-常溫毫米波能量)/ (預定高溫-當前環(huán)境溫度)。
26.根據權利要求24所述的毫米波檢查設備的輻射計的校準方法，其特征在于: 所述常溫校準機構圍繞輻射計連續(xù)轉動，以便對所述輻射計的初值連續(xù)地進行校準。
27.根據權利要求25所述的毫米波檢查設備的輻射計的校準方法，其特征在于: 所述高溫校準機構圍繞輻射計往復擺動，以便與所述常溫校準機構一起，對所述輻射計的增益進行校準。
【文檔編號】G01S7/40GK104316910SQ201410534830
【公開日】2015年1月28日 申請日期:2010年6月30日 優(yōu)先權日:2010年6月30日
【發(fā)明者】陳志強, 李元景, 趙自然, 劉以農, 吳萬龍, 張麗, 林東, 沈宗俊, 羅希雷, 鄭志敏, 桑斌, 曹碩, 金穎康 申請人:清華大學, 同方威視技術股份有限公司