混響室連續(xù)攪拌模式下提高電子設(shè)備輻射抗擾度測試可重復(fù)性的方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種混響室連續(xù)攪拌模式下提高電子設(shè)備輻射抗擾度測試可重復(fù)性的方法，其如下步驟：1、搭建試驗(yàn)平臺(tái)；2、設(shè)定3~5個(gè)場強(qiáng)計(jì)的采樣時(shí)間段，在受試設(shè)備輻射抗擾度測試中，場強(qiáng)計(jì)記錄受試設(shè)備受到干擾時(shí)分別在3~5個(gè)采樣時(shí)間段的電磁場值；3、分別對(duì)步驟2中3~5個(gè)時(shí)間段內(nèi)采集到的電磁場值統(tǒng)計(jì)平均，對(duì)應(yīng)得到3~5個(gè)統(tǒng)計(jì)平均值；4、分別計(jì)算步驟3中得到的3~5個(gè)統(tǒng)計(jì)平均值的標(biāo)準(zhǔn)偏差，選擇出小于3dB的標(biāo)準(zhǔn)偏差所對(duì)應(yīng)的采樣時(shí)間段，采用小于3dB的標(biāo)準(zhǔn)偏差所對(duì)應(yīng)的采樣時(shí)間段進(jìn)行混響室連續(xù)攪拌模式下提高電子設(shè)備輻射抗擾度測試。本發(fā)明的有益效果是能有效提高混響室連續(xù)攪拌模式下的電子設(shè)備輻射敏感度閾值。
【專利說明】混響室連續(xù)攪拌模式下提高電子設(shè)備輻射抗擾度測試可重復(fù)性的方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種混響室連續(xù)攪拌模式下提高電子設(shè)備輻射抗擾度測試可重復(fù)性的方法，特別適用于電子設(shè)備(系統(tǒng))在混響室工作于連續(xù)模式狀態(tài)下的電磁抗擾度測試。

【背景技術(shù)】
[0002]電子信息系統(tǒng)中，智能化、數(shù)字化以及微型化的大規(guī)模集成芯片有著極為廣泛的應(yīng)用。電子設(shè)備的集成度和靈敏度越來越高，使得其應(yīng)對(duì)各種強(qiáng)電磁脈沖打擊的能力就變得十分脆弱，很小的熱量或過電壓就可以把它們燒毀或擊穿，或者使電路暫時(shí)失靈。這使得武器裝備的電磁敏感度日益提高，而抗電磁毀傷能力下降。研究發(fā)現(xiàn)，無論電子設(shè)備是否具有收發(fā)天線系統(tǒng)，電磁能量都能通過設(shè)備腔體上的孔縫、貫通導(dǎo)線、電源線等進(jìn)入電子設(shè)備，干擾其正常工作。一定強(qiáng)度的電磁能量不僅可對(duì)電子設(shè)備造成嚴(yán)重的干擾和硬損傷，還可以形成潛在性損傷，使電子設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性降低，一些情況下還可能引發(fā)重大安全事故。電子設(shè)備在設(shè)計(jì)初或出廠前都要進(jìn)行嚴(yán)格的電磁兼容方面的考量或測試。人們?cè)O(shè)計(jì)建造的測試場地主要有TEM室、GTEM室、開闊場、電波暗室或半電波暗室等。這些測試場地可以模擬各種電磁環(huán)境，電子設(shè)備或系統(tǒng)在其中進(jìn)行各種電磁兼容性測試，同時(shí)也避免了對(duì)周圍環(huán)境的污染。但這些測試平臺(tái)都有個(gè)共同特點(diǎn)，模擬的都是無限大開闊空間，采用的干擾源都是單一方向的平面波輻照。這與電子設(shè)備實(shí)際工作中所處的電磁環(huán)境不符，如在武器系統(tǒng)的電子任務(wù)艙中存在多種有輻射的電子設(shè)備，由于在艙內(nèi)的多次反射，會(huì)形成傳播方向、極化方向隨機(jī)的復(fù)雜電磁環(huán)境(即所謂的“ 二次污染”)，這種復(fù)雜環(huán)境是傳統(tǒng)電磁兼容測試平臺(tái)無法模擬的，因而近年來出現(xiàn)了替代傳統(tǒng)測試場地的混響室測試平臺(tái)。
[0003]軍事發(fā)達(dá)國家非常重視電子裝備在復(fù)雜電磁環(huán)境條件下的工作可靠性和穩(wěn)定性，因此，十分關(guān)注混響室這一新型電磁兼容測試平臺(tái)的發(fā)展。國際電工委員會(huì)和有關(guān)國家先后都制定了混響室輻射抗擾度試驗(yàn)方法和試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。目前我國還沒有任何關(guān)于混響室測試方法的國標(biāo)或國軍標(biāo)。
[0004]在實(shí)際應(yīng)用中，國際電工委員會(huì)的IEC61000-4-21混響室電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)存在一定的問題:
(1)未給出混響室連續(xù)模式條件下，腔室電磁環(huán)境表征方法；
(2)同一受試設(shè)備在不同攪拌速度下，會(huì)得出不同的結(jié)果；
(3)標(biāo)準(zhǔn)只對(duì)步進(jìn)模式時(shí)的抗擾度測試方法給出了詳細(xì)規(guī)定，而測試效率較高的連續(xù)模式由于邊界條件變化快、電磁場穩(wěn)定性差等原因未能做出具體規(guī)定；
(4)標(biāo)準(zhǔn)只規(guī)定了電磁輻射抗擾度的通過性測試方法，測試評(píng)價(jià)結(jié)果只有“通過”，“不通過”兩種，不能定量的給出受試設(shè)備準(zhǔn)確的敏感度閾值。這樣，受試設(shè)備設(shè)計(jì)者和研制部門只能比較盲目地反復(fù)進(jìn)行試探，來修改設(shè)備在復(fù)雜電磁環(huán)境下的防護(hù)措施。
[0005]由此看出，現(xiàn)有的基于混響室測試平臺(tái)的抗擾度試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)不能滿足電子工業(yè)和信息化設(shè)備迅速發(fā)展的要求，而我國目前還沒有一套混響室電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種簡單高效、實(shí)用性強(qiáng)、成本低的混響室連續(xù)攪拌模式下提高電子設(shè)備輻射抗擾度測試可重復(fù)性的方法。
[0007]本發(fā)明所采用的技術(shù)方案如下:
一種混響室連續(xù)攪拌模式下提高電子設(shè)備輻射抗擾度測試可重復(fù)性的方法，具體步驟如下:
步驟1:搭建混響室連續(xù)工作模式下電磁福射抗擾度試驗(yàn)平臺(tái):
所述平臺(tái)包括主控計(jì)算機(jī)、混響室殼體、混響室內(nèi)部測試區(qū)域、輻射發(fā)射分系統(tǒng)、受試設(shè)備分系統(tǒng)、檢測和接收分系統(tǒng)以及機(jī)械控制分系統(tǒng)；所述主控計(jì)算機(jī)位于混響室殼體外部;
所述輻射發(fā)射分系統(tǒng)由信號(hào)發(fā)生器、功率放大器、定向耦合器、功率計(jì)、發(fā)射天線和光纖組成；所述主控計(jì)算機(jī)的指令輸出端接信號(hào)發(fā)生器的信號(hào)輸入端，所述信號(hào)發(fā)生器的信號(hào)輸出端依次通過光纖連接功率放大器、定向耦合器和發(fā)射天線，所述功率計(jì)與定向耦合器的監(jiān)測端相連接，所述發(fā)射天線位于混響室殼體和混響室內(nèi)部測試區(qū)域之間，所述信號(hào)發(fā)生器、功率放大器、定向耦合器和功率計(jì)位于混響室殼體外部；
所述受試設(shè)備分系統(tǒng)位于混響室內(nèi)部測試區(qū)域的正中央，其包括受試設(shè)備和試驗(yàn)臺(tái)；所述受試設(shè)備在試驗(yàn)開始前即置于試驗(yàn)臺(tái)上，且所述受試設(shè)備距混響室殼體的距離大于1/4個(gè)測試頻率波長；
所述檢測和接收分系統(tǒng)由場強(qiáng)計(jì)、攝像頭、監(jiān)控系統(tǒng)組成；所述監(jiān)控系統(tǒng)為能抗高場強(qiáng)輻射的攝像頭；所述主控計(jì)算機(jī)的相應(yīng)端口經(jīng)光纖連接場強(qiáng)計(jì)的信號(hào)端，所述主控計(jì)算機(jī)的相應(yīng)端口經(jīng)監(jiān)控系統(tǒng)接攝像頭的信號(hào)端；所述場強(qiáng)計(jì)和攝像頭位于混響室內(nèi)部測試區(qū)域內(nèi)，所述監(jiān)控系統(tǒng)位于混響室殼體外部；
所述機(jī)械控制分系統(tǒng)包括控制電機(jī)、主攪拌器和副攪拌器；所述主控計(jì)算機(jī)的輸出控制端與控制電機(jī)的輸入控制端連接，所述控制電機(jī)的輸出控制端分別連接主攪拌器和副攪拌器的控制端；所述主攪拌器和副攪拌器位于混響室殼體和混響室內(nèi)部測試區(qū)域之間，所述控制電機(jī)位于混響室殼體外部；
步驟2:設(shè)定3飛個(gè)場強(qiáng)計(jì)的采樣時(shí)間段，在受試設(shè)備輻射抗擾度測試中，利用場強(qiáng)計(jì)記錄受試設(shè)備受到干擾時(shí)，分別在3飛個(gè)所述時(shí)間段內(nèi)的電磁場值；
步驟3:分別對(duì)步驟2中3飛個(gè)所述時(shí)間段內(nèi)采集到的電磁場值進(jìn)行統(tǒng)計(jì)平均，對(duì)應(yīng)得到3飛個(gè)統(tǒng)計(jì)平均值；
步驟4:分別計(jì)算步驟3中得到的3飛個(gè)所述統(tǒng)計(jì)平均值的標(biāo)準(zhǔn)偏差，并將3飛個(gè)所述統(tǒng)計(jì)平均值的標(biāo)準(zhǔn)偏差與3dB比較，選擇出小于3dB的標(biāo)準(zhǔn)偏差所對(duì)應(yīng)的采樣時(shí)間段，采用所述小于3dB的標(biāo)準(zhǔn)偏差所對(duì)應(yīng)的采樣時(shí)間段進(jìn)行混響室連續(xù)攪拌模式下提高電子設(shè)備輻射抗擾度測試。
[0008]進(jìn)一步的，所述步驟2中場強(qiáng)計(jì)記錄的每個(gè)所述時(shí)間段中的電磁場值為離散值。
[0009]進(jìn)一步的，所述信號(hào)發(fā)生器、功率放大器、定向耦合器和發(fā)射天線之間依次通過同軸線相連接，所述同軸線通過微波轉(zhuǎn)接頭穿過混響室殼體。
[0010]本發(fā)明的有益效果是: (1)通過設(shè)定采樣時(shí)間段可平穩(wěn)提取混響室連續(xù)攪拌模式下的電場強(qiáng)度；
(2)利用該方法可有效提高混響室連續(xù)攪拌模式下的電子設(shè)備輻射敏感度閾值。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0011]附圖1為本發(fā)明中試驗(yàn)平臺(tái)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0012]附圖2為本發(fā)明在某敏感頻率處，直接提取測試區(qū)域場強(qiáng)50次測試結(jié)果示意圖。
[0013]附圖3為本發(fā)明在某敏感頻率處，采樣時(shí)間段為Is時(shí)，提取測試區(qū)域場強(qiáng)50次測試結(jié)果示意圖。
[0014]附圖4為本發(fā)明在某敏感頻率處，采樣時(shí)間段為4s時(shí)，提取測試區(qū)域場強(qiáng)50次測試結(jié)果示意圖。
[0015]其中，I混響室殼體、2混響室內(nèi)部測試區(qū)域、A主控計(jì)算機(jī)、B控制電機(jī)、C信號(hào)發(fā)生器、D功率放大器、E定向耦合器、F功率計(jì)、G監(jiān)控系統(tǒng)、H主攪拌器、I副攪拌器、J發(fā)射天線、K場強(qiáng)計(jì)、L試驗(yàn)臺(tái)、M攝像頭。

【具體實(shí)施方式】
[0016]下面結(jié)合附圖Γ4和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步說明:
本實(shí)施例包括如下步驟:
步驟1:搭建混響室連續(xù)工作模式下電磁輻射抗擾度試驗(yàn)平臺(tái)，如附圖1所示:
所述平臺(tái)包括主控計(jì)算機(jī)A、混響室殼體1、混響室內(nèi)部測試區(qū)域2、輻射發(fā)射分系統(tǒng)、受試設(shè)備分系統(tǒng)、檢測和接收分系統(tǒng)以及機(jī)械控制分系統(tǒng)；
所述主控計(jì)算機(jī)A位于混響室殼體I外部；
所述輻射發(fā)射分系統(tǒng)由信號(hào)發(fā)生器C、功率放大器D、定向耦合器E、功率計(jì)F、發(fā)射天線J和光纖組成；所述主控計(jì)算機(jī)A的指令輸出端接信號(hào)發(fā)生器C的信號(hào)輸入端，所述信號(hào)發(fā)生器C的信號(hào)輸出端依次通過光纖連接功率放大器D、定向耦合器E和發(fā)射天線J，所述功率計(jì)F與定向耦合器E的監(jiān)測端相連接，所述發(fā)射天線J位于混響室殼體I和混響室內(nèi)部測試區(qū)域2之間，所述信號(hào)發(fā)生器C、功率放大器D、定向耦合器E和功率計(jì)F位于混響室殼體I外部；
所述受試設(shè)備分系統(tǒng)位于混響室內(nèi)部測試區(qū)域2的正中央，其包括受試設(shè)備和試驗(yàn)臺(tái)L ;所述受試設(shè)備在試驗(yàn)開始前即置于試驗(yàn)臺(tái)L上，且所述受試設(shè)備距混響室殼體I的距離大于1/4個(gè)測試頻率波長；
所述檢測和接收分系統(tǒng)由場強(qiáng)計(jì)K、攝像頭M、監(jiān)控系統(tǒng)G組成；所述監(jiān)控系統(tǒng)G為能抗高場強(qiáng)輻射的攝像頭；所述主控計(jì)算機(jī)A的相應(yīng)端口經(jīng)光纖連接場強(qiáng)計(jì)K的信號(hào)端，所述主控計(jì)算機(jī)A的相應(yīng)端口經(jīng)監(jiān)控系統(tǒng)G接攝像頭M的信號(hào)端；所述場強(qiáng)計(jì)K和攝像頭M位于混響室內(nèi)部測試區(qū)域2內(nèi)，所述監(jiān)控系統(tǒng)G位于混響室殼體I外部；
所述機(jī)械控制分系統(tǒng)包括控制電機(jī)B、主攪拌器H和副攪拌器I ;所述主控計(jì)算機(jī)A的輸出控制端與控制電機(jī)B的輸入控制端連接，所述控制電機(jī)B的輸出控制端分別連接主攪拌器H和副攪拌器I的控制端；所述主攪拌器H和副攪拌器I位于混響室殼體I和混響室內(nèi)部測試區(qū)域2之間，所述控制電機(jī)B位于混響室殼體I外部；
步驟2:進(jìn)行電子設(shè)備輻射抗擾度測試: 選用某型心電圖機(jī)為受試設(shè)備，在混響室中進(jìn)行輻射抗擾度測試。附圖2給出了該心電圖機(jī)的某敏感頻率處，直接提取混響室內(nèi)部測試區(qū)域2內(nèi)場強(qiáng)50次的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。由附圖2可以看出，數(shù)據(jù)波動(dòng)非常大，50次測試結(jié)果幾乎沒有任何重復(fù)性。顯然，直接提取混響室內(nèi)部測試區(qū)域2內(nèi)的場強(qiáng)很難作為連續(xù)模式條件下輻射敏感度的測試結(jié)果。
[0017]附圖3、附圖4為利用本專利中所述方法，分別給出了采樣時(shí)間段為Is和4s時(shí)的測試結(jié)果。通過對(duì)比可以看出其波動(dòng)性要小于附圖2直接提取場強(qiáng)的結(jié)果，且采樣時(shí)間段為4s時(shí)的測試結(jié)果的重復(fù)性比Is時(shí)好。但在實(shí)際測試中，并不是采樣時(shí)間段越長越好，在考慮到重復(fù)性的同時(shí)還應(yīng)考慮到由于選擇較長采樣時(shí)間段帶來的場的滯后性。
[0018]選擇較長的采樣時(shí)間段盡管可以得到較好的測試可重復(fù)性，但也會(huì)使得場強(qiáng)計(jì)K采集到的場強(qiáng)值會(huì)滯后于被測設(shè)備受到干擾時(shí)的電場，此時(shí)場強(qiáng)計(jì)K所輸出的場強(qiáng)值并不是受試設(shè)備產(chǎn)生效應(yīng)時(shí)所處的電磁場。這說明選擇合適的采樣時(shí)間段可以得到重復(fù)性良好的測試結(jié)果。針對(duì)不同的受試設(shè)備，需要選擇不同的采樣時(shí)間段。對(duì)受試設(shè)備進(jìn)行敏感度測試時(shí)，對(duì)多個(gè)采樣時(shí)間段的測試結(jié)果進(jìn)行提取。再計(jì)算多個(gè)采樣時(shí)間段測試結(jié)果的標(biāo)準(zhǔn)偏差，隨著統(tǒng)計(jì)平均時(shí)間參數(shù)的增大，其測試標(biāo)準(zhǔn)偏差逐漸減小。選擇出小于3dB的標(biāo)準(zhǔn)偏差所對(duì)應(yīng)的采樣時(shí)間段，采用所述小于3dB的標(biāo)準(zhǔn)偏差所對(duì)應(yīng)的采樣時(shí)間段進(jìn)行混響室連續(xù)攪拌模式下提高電子設(shè)備輻射抗擾度測試。
[0019]本發(fā)明的工作過程如下:
當(dāng)利用混響室連續(xù)攪拌模式下進(jìn)行輻射抗擾度測試試驗(yàn)時(shí)，首先選定攪拌速度。在選定的攪拌速度的前提下，開始進(jìn)行測試試驗(yàn)。設(shè)定好測試試驗(yàn)頻率，將信號(hào)發(fā)生器C的信號(hào)源電平設(shè)置在較低的輸出水平上(一般設(shè)為-20dB即可)。首先初始化各儀器(指的步驟I中平臺(tái)上的各種儀器)，待各儀器初始化結(jié)束后，各儀器開始工作，輻射抗擾度測試開始。測試過程中，不斷升高信號(hào)發(fā)生器C的信號(hào)源電平，仔細(xì)觀察受試設(shè)備狀態(tài)。當(dāng)發(fā)現(xiàn)受試設(shè)備工作狀態(tài)發(fā)生改變，被認(rèn)定是受到干擾而產(chǎn)生的一種輻照效應(yīng)時(shí)，不同采樣時(shí)間段條件下的測試結(jié)果將會(huì)保存在數(shù)據(jù)記錄表中。該數(shù)據(jù)將會(huì)保存到文本當(dāng)中。
[0020]本發(fā)明既能有效提高輻射抗擾度的可重復(fù)性，又能與其它傳統(tǒng)測試場地的測試結(jié)果保持良好的一致性，具有廣闊的應(yīng)用前景。
[0021]以上所述實(shí)施方式僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，而并非本發(fā)明可行實(shí)施的窮舉。對(duì)于本領(lǐng)域一般技術(shù)人員而言，在不背離本發(fā)明原理和精神的前提下對(duì)其所作出的任何顯而易見的改動(dòng)，都應(yīng)當(dāng)被認(rèn)為包含在本發(fā)明的權(quán)利要求保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種混響室連續(xù)攪拌模式下提高電子設(shè)備輻射抗擾度測試可重復(fù)性的方法，其特征在于:通過對(duì)采集的場強(qiáng)值計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)偏差，經(jīng)過比較得到采集場強(qiáng)值的采樣時(shí)間段，在電子設(shè)備輻射抗擾度測試中使用所述采樣時(shí)間段進(jìn)行采樣，其具體步驟如下: 步驟1:搭建混響室連續(xù)工作模式下電磁福射抗擾度試驗(yàn)平臺(tái): 所述平臺(tái)包括主控計(jì)算機(jī)(A)、混響室殼體(I)、混響室內(nèi)部測試區(qū)域(2)、輻射發(fā)射分系統(tǒng)、受試設(shè)備分系統(tǒng)、檢測和接收分系統(tǒng)以及機(jī)械控制分系統(tǒng)； 所述主控計(jì)算機(jī)(A)位于混響室殼體(I)外部； 所述輻射發(fā)射分系統(tǒng)由信號(hào)發(fā)生器(C)、功率放大器(D)、定向耦合器(E)、功率計(jì)(F)、發(fā)射天線(J)和光纖組成；所述主控計(jì)算機(jī)(A)的指令輸出端接信號(hào)發(fā)生器(C)的信號(hào)輸入端，所述信號(hào)發(fā)生器(C)的信號(hào)輸出端依次通過光纖連接功率放大器(D)、定向耦合器(E)和發(fā)射天線(J)，所述功率計(jì)(F)與定向耦合器(E)的監(jiān)測端相連接，所述發(fā)射天線(J)位于混響室殼體(I)和混響室內(nèi)部測試區(qū)域(2)之間，所述信號(hào)發(fā)生器(C)、功率放大器(D)、定向耦合器(E)和功率計(jì)(F)位于混響室殼體(I)外部； 所述受試設(shè)備分系統(tǒng)位于混響室內(nèi)部測試區(qū)域(2)的正中央，其包括受試設(shè)備和試驗(yàn)臺(tái)(L);所述受試設(shè)備在試驗(yàn)開始前即置于試驗(yàn)臺(tái)(L)上，且所述受試設(shè)備距混響室殼體(O的距離大于1/4個(gè)測試頻率波長； 所述檢測和接收分系統(tǒng)由場強(qiáng)計(jì)(K)、攝像頭(M)、監(jiān)控系統(tǒng)(G)組成；所述監(jiān)控系統(tǒng)(G)為能抗高場強(qiáng)輻射的攝像頭；所述主控計(jì)算機(jī)(A)的相應(yīng)端口經(jīng)光纖連接場強(qiáng)計(jì)(K)的信號(hào)端，所述主控計(jì)算機(jī)(A)的相應(yīng)端口經(jīng)監(jiān)控系統(tǒng)(G)接攝像頭(M)的信號(hào)端；所述場強(qiáng)計(jì)(K)和攝像頭(M)位于混響室內(nèi)部測試區(qū)域(2)內(nèi)，所述監(jiān)控系統(tǒng)(G)位于混響室殼體(I)外部； 所述機(jī)械控制分系統(tǒng)包括控制電機(jī)(B)、主攪拌器(H)和副攪拌器(I);所述主控計(jì)算機(jī)(A)的輸出控制端與控制電機(jī)(B)的輸入控制端連接,所述控制電機(jī)(B)的輸出控制端分別連接主攪拌器(H)和副攪拌器(I)的控制端；所述主攪拌器(H)和副攪拌器(I)位于混響室殼體(I)和混響室內(nèi)部測試區(qū)域(2)之間，所述控制電機(jī)(B)位于混響室殼體(I)外部；步驟2:設(shè)定3飛個(gè)場強(qiáng)計(jì)(K)的采樣時(shí)間段，在受試設(shè)備輻射抗擾度測試中，利用場強(qiáng)計(jì)(K)記錄受試設(shè)備受到干擾時(shí)，分別在3飛個(gè)所述時(shí)間段內(nèi)的電磁場值； 步驟3:分別對(duì)步驟2中3飛個(gè)所述時(shí)間段內(nèi)采集到的電磁場值進(jìn)行統(tǒng)計(jì)平均，對(duì)應(yīng)得到3飛個(gè)統(tǒng)計(jì)平均值； 步驟4:分別計(jì)算步驟3中得到的3飛個(gè)所述統(tǒng)計(jì)平均值的標(biāo)準(zhǔn)偏差，并將3飛個(gè)所述統(tǒng)計(jì)平均值的標(biāo)準(zhǔn)偏差與3dB比較，選擇出小于3dB的標(biāo)準(zhǔn)偏差所對(duì)應(yīng)的采樣時(shí)間段，采用所述小于3dB的標(biāo)準(zhǔn)偏差所對(duì)應(yīng)的采樣時(shí)間段進(jìn)行混響室連續(xù)攪拌模式下提高電子設(shè)備輻射抗擾度測試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的混響室連續(xù)攪拌模式下提高電子設(shè)備輻射抗擾度測試可重復(fù)性的方法，其特征在于:所述步驟2中場強(qiáng)計(jì)(K)記錄的每個(gè)所述時(shí)間段中的電磁場值為離散值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的混響室連續(xù)攪拌模式下提高電子設(shè)備輻射抗擾度測試可重復(fù)性的方法，其特征在于:所述信號(hào)發(fā)生器(C)、功率放大器(D)、定向耦合器(E)和發(fā)射天線(J)之間依次通過同軸線相連接，所述同軸線通過微波轉(zhuǎn)接頭穿過混響室殼體(I )。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK104297595SQ201410548515
【公開日】2015年1月21日 申請(qǐng)日期:2014年10月16日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月16日
【發(fā)明者】王慶國, 賈銳, 曲兆明, 程二威, 姜林, 官建國, 雷憶三, 范麗思, 周星 申請(qǐng)人:中國人民解放軍軍械工程學(xué)院