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      一種便攜式大面積α、β表面沾污檢定源盒的制作方法

      文檔序號:6246800閱讀:294來源:國知局
      一種便攜式大面積α、β表面沾污檢定源盒的制作方法
      【專利摘要】本發(fā)明提供了一種便攜式大面積α、β表面沾污檢定源盒,用于電離輻射計量檢定、校準(zhǔn)α、β表面沾污儀。本發(fā)明含有置換式探頭托放面板、底端嵌卡窗口、后端有機玻璃面板、弧形嵌取端片板、檢定源盒蓋。本發(fā)明中的方形托放框與待檢儀器的探測探頭對應(yīng)設(shè)置,固定探頭幾何中心位置,防止被檢探頭位移。在檢定、校準(zhǔn)α、β表面沾污儀的過程中,根據(jù)不同探頭保護柵網(wǎng)與標(biāo)準(zhǔn)放射源表面之間距離的要求來選擇不同規(guī)格的便攜式大面積α、β表面沾污檢定源盒。本發(fā)明能夠安全快捷避免直接碰觸檢定用源,操作簡單有效保護檢定用源由于誤操作造成放射性污染。本發(fā)明制作輕巧便于攜帶,能夠提高檢定、校準(zhǔn)大面積α、β表面沾污儀的工作效率。
      【專利說明】一種便攜式大面積α、β表面沾污檢定源盒

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明屬于電離輻射計量領(lǐng)域,具體涉及一種便攜式大面積α、β表面沾污檢定源盒,用于檢定、校準(zhǔn)α、β表面沾污儀和放置大面積α、β標(biāo)準(zhǔn)放射源。

      【背景技術(shù)】
      [0002]目前,在輻射測量或輻射防護過程中需使用大量的α、β表面沾污儀。由于計量檢定規(guī)程JJG478-96規(guī)定,對α、β表面沾污儀進行檢定、校準(zhǔn)時需有嚴(yán)格的實驗操作平臺。以往對α、β表面沾污儀檢定、校準(zhǔn)時,先把大面積α、β標(biāo)準(zhǔn)放射源從源盒中取出,再置入檢定架上進行檢定、校準(zhǔn),反復(fù)操作易對標(biāo)準(zhǔn)放射源的活性區(qū)造成損壞,引起不必要的放射性污染。同時其工作效率不高,檢定架操作相對繁瑣。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0003]為了克服已有技術(shù)中反復(fù)操作引起不必要的污染,工作效率較低的不足,本發(fā)明提供一種便攜式大面積α、β表面沾污檢定源盒。
      [0004]本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:本發(fā)明的便攜式大面積α、β表面沾污檢定源盒,其特點是,所述的檢定源盒包括置換式探頭托放面板、嵌卡窗口、有機玻璃面板、弧形嵌取端片板、檢定源盒蓋。其中,所述的置換式探頭托放面板含有方形托放框、圓弧轉(zhuǎn)角、傾斜面、控制面板、方形探測孔,所述的弧形嵌取端片板的前端為矩形,后端為弧形,所述的嵌卡窗口含有弧形嵌取端片板卡點、條形標(biāo)準(zhǔn)源嵌端。其連接關(guān)系是,所述的置換式探頭托放面板中心設(shè)置有方形托放框,控制面板位于方形托放框內(nèi),方形托放框、控制面板的四個端角均為圓弧轉(zhuǎn)角,在方形托放框和控制面板之間有傾斜面,控制面板中心設(shè)置有方形探測孔,置換式探頭托放面板前端設(shè)置有置入式半圓弧。所述的嵌卡窗口的前端設(shè)有弧形凹槽,弧形嵌取端片板卡點設(shè)置在弧形凹槽左右兩端處,弧形嵌取端片板嵌入嵌卡窗口的弧形凹槽內(nèi),在嵌卡窗口的前端還設(shè)置有條形標(biāo)準(zhǔn)源嵌端。所述的嵌卡窗口的后端通過固定螺鈕與有機玻璃面板固定連接,置換式探頭托放面板通過固定螺鈕與其下方的嵌卡窗口固定連接。檢定源盒蓋設(shè)置于置換式探頭托放面板上。
      [0005]所述的置換式探頭托放面板、方形托放框、置入式半圓弧均設(shè)置在同一軸心線上,所述的弧形嵌取端片板后端的弧形與嵌卡窗口中的弧形凹槽對應(yīng)設(shè)置。
      [0006]所述的方形托放框、傾斜面、控制面板、方形探測孔與待檢儀器的探測探頭對應(yīng)設(shè)置,固定探頭幾何中心位置,防止被檢探頭位移。
      [0007]所述的置入式半圓弧、弧形嵌取端片板卡點、條形標(biāo)準(zhǔn)源嵌端以便于標(biāo)準(zhǔn)放射源的置入和取出,同時固定控制檢定用源表面距探測探頭保護柵網(wǎng)之間的距離,檢定源盒起到保護標(biāo)準(zhǔn)放射源裸露部分和防塵的作用。
      [0008]根據(jù)電離輻射計量檢定規(guī)程JJG478-96規(guī)定,在檢定、校準(zhǔn)大面積α、β表面沾污儀的過程中,不同探頭的保護柵網(wǎng)與標(biāo)準(zhǔn)放射源表面之間距離有不同要求,需選擇不同規(guī)格的便攜式大面積α、β表面沾污檢定源盒。其中,放置α標(biāo)準(zhǔn)平面源時,其源表面與探測窗口的距離為5_,用于檢定、校準(zhǔn)α、β表面沾污儀的α探頭。放置β標(biāo)準(zhǔn)平面源時,其源表面與探測窗口的距離為10mm,用于檢定、校準(zhǔn)α、β表面沾污儀的β探頭。本發(fā)明能夠安全快捷避免直接碰觸檢定用源,操作簡單有效保護檢定用源由于誤操作造成放射性污染。本發(fā)明制作輕巧便于攜帶,能夠提高檢定、校準(zhǔn)大面積α、β表面沾污儀的工作效率。
      [0009]本發(fā)明的有益效果是,避免反復(fù)將標(biāo)準(zhǔn)放射源從源盒中取出、置入檢定架上的操作,從而造成檢定用源活性區(qū)破損,引起放射性污染;避免因調(diào)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)放射源表面與探頭保護柵網(wǎng)間距的操作,給檢定用源造成損壞;保證電離輻射計量檢定、校準(zhǔn)量值傳遞的準(zhǔn)確可靠性。本發(fā)明的結(jié)構(gòu)簡單、操作快捷,有效提高檢定、校準(zhǔn)α、β表面沾污儀的工作效率,重量輕巧便于外出檢定、校準(zhǔn)攜帶。

      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0010]圖1為本發(fā)明的便攜式大面積α、β表面沾污檢定源盒的結(jié)構(gòu)剖析分解圖;
      圖2a為本發(fā)明的俯視圖;
      圖2b為本發(fā)明中的弧形嵌取端片板結(jié)構(gòu)示意圖;
      圖中,1.置換式探頭托放面板 2.嵌卡窗口3.有機玻璃面板 4.弧形嵌取端片板 5.固定螺鈕 6.方形托放框 7.圓弧轉(zhuǎn)角 8.傾斜面9.控制面板 10.方形探測孔 11.置入式半圓弧 12.弧形嵌取端片板卡點13.條形標(biāo)準(zhǔn)源嵌端。

      【具體實施方式】
      [0011]下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明進行詳細(xì)描述實施例1
      圖1為本發(fā)明的便攜式大面積α、β表面沾污檢定源盒的結(jié)構(gòu)剖析分解圖,圖2a為本發(fā)明的俯視圖,圖2a中去除了檢定源盒蓋,圖2b為本發(fā)明中的弧形嵌取端片板結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0012]在圖1 一圖2中,本發(fā)明的便攜式大面積α、β表面沾污檢定源盒,包括置換式探頭托放面板1、嵌卡窗口 2、有機玻璃面板3、弧形嵌取端片板4、檢定源盒蓋,其中,所述的置換式探頭托放面板I含有方形托放框6、圓弧轉(zhuǎn)角7、傾斜面8、控制面板9、方形探測孔10,所述的弧形嵌取端片板4的前端為矩形,后端為弧形,所述的嵌卡窗口 2含有弧形嵌取端片板卡點12、條形標(biāo)準(zhǔn)源嵌端13。其連接關(guān)系是,所述的置換式探頭托放面板I中心設(shè)置有方形托放框6,控制面板9位于方形托放框6內(nèi),方形托放框6、控制面板9的四個端角均為圓弧轉(zhuǎn)角,在方形托放框6和控制面板9之間有傾斜面8,控制面板9中心設(shè)置有方形探測孔10,置換式探頭托放面板I前端設(shè)置有置入式半圓弧11。所述的嵌卡窗口 2的前端設(shè)有弧形凹槽,弧形嵌取端片板卡點12設(shè)置在弧形凹槽左右兩端處,弧形嵌取端片板4嵌入嵌卡窗口 2的弧形凹槽內(nèi),在嵌卡窗口 2的前端還設(shè)置有條形標(biāo)準(zhǔn)源嵌端13,所述的嵌卡窗口2的后端通過固定螺鈕與有機玻璃面板3固定連接,置換式探頭托放面板I通過固定螺鈕5與其下方的嵌卡窗口 2固定連接。檢定源盒蓋設(shè)置于置換式探頭托放面板I上。
      [0013]所述的置換式探頭托放面板1、方形托放框6、置入式半圓弧11均設(shè)置在同一軸心線上,所述的弧形嵌取端片板4后端的弧形與嵌卡窗口 2中的弧形凹槽對應(yīng)設(shè)置。
      [0014]所述的方形托放框6、傾斜面8、控制面板9、方形探測孔10與待檢儀器的探測探頭對應(yīng)設(shè)置,固定探頭幾何中心位置,防止被檢探頭位移。
      [0015]本實施例中,所述的固定螺鈕5為數(shù)個固定螺鈕中的一個;所述的方形托放框6、控制面板9的四個端角均為圓弧轉(zhuǎn)角,圓弧轉(zhuǎn)角7為數(shù)個圓弧轉(zhuǎn)角中的一個;所述的弧形嵌取端片板卡點12為兩個弧形嵌取端片板卡點中的一個;所述的條形標(biāo)準(zhǔn)源嵌端13為兩個條形標(biāo)準(zhǔn)源嵌端中的一個。
      [0016]根據(jù)電離輻射計量檢定規(guī)程JJG478-96規(guī)定,在檢定、校準(zhǔn)大面積α、β表面沾污儀的過程中,不同探頭的保護柵網(wǎng)與標(biāo)準(zhǔn)放射源表面之間距離有不同要求,需選擇不同規(guī)格的便攜式大面積α、β表面沾污檢定源盒。其中,放置α標(biāo)準(zhǔn)平面源時,其源表面與探測窗口的距離為5_,用于檢定、校準(zhǔn)α、β表面沾污儀的α探頭。放置β標(biāo)準(zhǔn)平面源時,其源表面與探測窗口的距離為10mm,用于檢定、校準(zhǔn)α、β表面沾污儀的β探頭。本發(fā)明能夠安全快捷避免直接碰觸檢定用源,操作簡單有效保護檢定用源由于誤操作造成放射性污染。本發(fā)明制作輕巧便于攜帶,能夠提高檢定、校準(zhǔn)大面積α、β表面沾污儀的工作效率。
      [0017]本實施例中,本發(fā)明的便攜式大面積α、β表面沾污檢定源盒為195mm(長)X 140mm (寬)X 30mm (高)的一個長方體,其中,方形托放框6、圓弧轉(zhuǎn)角7構(gòu)成一個97mm (長)X 97mm (寬)的具有圓弧形端角的正方形,傾斜面8寬度為4mm、控制面板9寬度為8.5mm,方形探測孔10為一個75mm (長)X 75mm (寬)X 2mm (高)的具有圓弧形端角的正方體,以便利用150mm (長)X 10mm (寬)X 3mm (厚)的標(biāo)準(zhǔn)放射源對α、β表面沾污儀進行檢定、校準(zhǔn),條形標(biāo)準(zhǔn)源嵌端13用于穩(wěn)固150mm (長)XlOOmm (寬)X 3mm (高)的大面積α、β標(biāo)準(zhǔn)源,條形標(biāo)準(zhǔn)源嵌端13上表面與方形探測孔10底端表面相距2mm,從而固定標(biāo)準(zhǔn)放射源表面與探頭保護柵網(wǎng)的距離,檢定源盒蓋為210mm (長)X750mm (?) X 1mm (高)的一個長方體,能緊密封閉方形探測孔10中裸露的標(biāo)準(zhǔn)放射源,起到保護標(biāo)準(zhǔn)放射源裸露部分和防塵的作用。
      [0018]本發(fā)明的便攜式大面積α、β表面沾污檢定源盒在檢定、校準(zhǔn)α、β表面沾污儀時,把檢定源盒蓋打開,把待檢儀器的探測探頭放在方形探測孔10上完全貼合,即可開始檢定、校準(zhǔn)工作。
      【權(quán)利要求】
      1.一種便攜式大面積α、β表面沾污檢定源盒,其特征在于:所述的檢定源盒包括置換式探頭托放面板(I)、嵌卡窗口(2)、有機玻璃面板(3)、弧形嵌取端片板(4)、檢定源盒蓋,其中,所述的置換式探頭托放面板(I)含有方形托放框(6)、圓弧轉(zhuǎn)角(7)、傾斜面(8)、控制面板(9)、方形探測孔(10);所述的弧形嵌取端片板(4)的前端為矩形,后端為弧形;所述的嵌卡窗口(2)含有弧形嵌取端片板卡點(12)、條形標(biāo)準(zhǔn)源嵌端(13);其連接關(guān)系是,所述的置換式探頭托放面板(I)中心設(shè)置有方形托放框(6),控制面板(9)位于方形托放框(6)內(nèi),方形托放框(6)、控制面板(9)的四個端角均為圓弧轉(zhuǎn)角,在方形托放框(6)和控制面板(9)之間有傾斜面(8),控制面板(9)中心設(shè)置有方形探測孔(10),置換式探頭托放面板(I)前端設(shè)置有置入式半圓弧(11);所述的嵌卡窗口(2)的前端設(shè)有弧形凹槽,弧形嵌取端片板卡點(12)設(shè)置在弧形凹槽左右兩端處,弧形嵌取端片板(4)嵌入嵌卡窗口(2)的弧形凹槽內(nèi),在嵌卡窗口(2)的前端還設(shè)置有條形標(biāo)準(zhǔn)源嵌端(13),所述的嵌卡窗口(2)的后端通過固定螺鈕與有機玻璃面板(3)固定連接,置換式探頭托放面板(I)通過固定螺鈕(5)與其下方的嵌卡窗口(2)固定連接;檢定源盒蓋設(shè)置于置換式探頭托放面板(I)上。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的便攜式大面積α、β表面沾污檢定源盒,其特征在于:所述的置換式探頭托放面板(I)、方形托放框(6)、置入式半圓弧(11)均設(shè)置在同一軸心線上,所述的弧形嵌取端片板(4)后端的弧形與嵌卡窗口(2)中的弧形凹槽對應(yīng)設(shè)置。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的便攜式大面積α、β表面沾污檢定源盒,其特征在于:所述的方形托放框(6)、傾斜面(8)、控制面板(9)、方形探測孔(10)與待檢儀器的探測探頭對應(yīng)設(shè)置。
      【文檔編號】G01T1/16GK104316951SQ201410612008
      【公開日】2015年1月28日 申請日期:2014年11月5日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月5日
      【發(fā)明者】楊小艷, 鄭慧, 涂俊, 卓仁鴻, 文德智, 毛本將, 成晶, 丁大杰, 呂己祿 申請人:中國工程物理研究院核物理與化學(xué)研究所
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