晶體管掃描測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實用新型提供一種晶體管掃描測試系統(tǒng)，包括用于測試晶體管或二極管的測試儀，其特征在于：還包括繼電器組以及繼電器控制單元；所述繼電器控制單元用于控制每個繼電器的通斷，所述繼電器控制單元設置在測試儀內；測試儀可以同時與多個晶體管器件進行連接，利用繼電器的開合來選擇所要測試晶體管，配型單片機等可編程器件能夠實現(xiàn)自動測試，提高測試效率。
【專利說明】晶體管掃描測試系統(tǒng)

【技術領域】
[0001] 本實用新型屬于測試【技術領域】，涉及一種晶體管測試系統(tǒng)。

【背景技術】
[0002] 現(xiàn)有晶體管的測試是利用測試儀一次測試一個晶體管，進行下個晶體管測試時， 需要將前次晶體管取下，再將待測晶體管與測試儀連接進行測試。因此，現(xiàn)有晶體管測試方 法的測試效率低，自動化程度低。
[0003] 現(xiàn)有晶體管的測試對于多封裝的測試不能一次測完，必須一個單元一個單元測 試。因此，現(xiàn)有晶體管測試方法的測試效率低，自動化程度低。


【發(fā)明內容】

[0004] 為解決現(xiàn)有晶體管測試效率低下的技術問題，本實用新型提供一種晶體管掃描測 試系統(tǒng)。
[0005] 本實用新型的技術解決方案如下：
[0006] -種晶體管掃描測試系統(tǒng)，包括用于測試晶體管的測試儀，其特殊之處在于：
[0007] 還包括繼電器組以及繼電器控制單元；
[0008] 所述繼電器組中三分之一的繼電器一端與測試儀的c測試端相連，另一端分別與 每個被測晶體管的c端相連；還有三分之一的繼電器一端與測試儀的b測試端相連，另一端 分別與每個被測晶體管的b端相連；最后三分之一的繼電器一端與測試儀的e測試端相連， 另一端分別與每個被測晶體管的e端相連；
[0009] 所述繼電器控制單元用于控制每個繼電器的通斷。
[0010] 另一種晶體管掃描測試系統(tǒng)，包括用于測試晶體管的測試儀，其特殊之處在于：
[0011] 還包括繼電器組以及繼電器控制單元；
[0012] 所述被測晶體管排列成MXN的矩陣；
[0013] 所述繼電器組包括N個c端繼電器、MXN個b端繼電器和Μ個e端繼電器；
[0014] 每個c端繼電器的一端與相應1列晶體管的所有c端相連，另一端與測試儀的c 測試端相連；
[0015] 每個晶體管的b端對應連接一個b端繼電器，所述b端繼電器的另一端與測試儀 的b測試端相連；
[0016] 每個e端繼電器的一端與相應1行晶體管的所有e端相連，另一端與測試儀的e 測試端相連，
[0017] 所述繼電器控制單元用于控制每個繼電器的通斷。
[0018] 第三種晶體管掃描測試系統(tǒng)，包括用于測試晶體管的測試儀，其特殊之處在于：
[0019] 還包括繼電器組以及繼電器控制單元；
[0020] 所述繼電器組中二分之一的繼電器一端與測試儀的c測試端相連，另一端分別與 每個被測晶體管的c端相連；還有二分之一的繼電器一端與測試儀的b測試端相連，另一端 分別與每個被測晶體管的b端相連；所有晶體管的e端與測試儀的e測試端相連，
[0021] 所述繼電器控制單元用于控制每個繼電器的通斷。
[0022] -種二極管掃描測試系統(tǒng)，包括用于測試二極管的測試儀，其特殊之處在于：
[0023] 還包括繼電器組以及繼電器控制單元；
[0024] 所述繼電器組中二分之一的繼電器的一端與測試儀的正測試端相連，另一端分別 與每個被測二極管的正端相連；還有二分之一的繼電器一端與測試儀的負測試端相連，另 一端分別與每個被測二極管的負端相連；所述繼電器控制單元用于控制每個繼電器的通 斷。
[0025] 另一種二極管掃描測試系統(tǒng)，包括用于測試二極管的測試儀，其特征在于：
[0026] 還包括繼電器組以及繼電器控制單元；所述繼電器組包括與被測二極管一一對應 的多個繼電器，所述繼電器的一端與測試儀的一個測試端相連，另一端與對應的被測二極 管相應端連接；所述二極管的另一端與測試儀的相應測試端連接，所述繼電器控制單元用 于控制每個繼電器的通斷。
[0027] 在以上技術方案中，繼電器控制單元可設置在測試儀內。
[0028] 本實用新型與現(xiàn)有技術相比，優(yōu)點是：
[0029] 本實用新型晶體管掃描測試系統(tǒng)，測試儀可以同時與多個晶體管器件進行連接， 利用繼電器的開合來選擇所要測試的晶體管，配和單片機等可編程器件能夠實現(xiàn)自動測 試，提高測試效率。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0030] 圖1為現(xiàn)有晶體管測試系統(tǒng)；
[0031] 圖2為本實用新型晶體管掃描測試系統(tǒng)的第一種技術方案；
[0032] 圖3為本實用新型晶體管掃描測試系統(tǒng)的第二種技術方案；
[0033] 圖4為本實用新型晶體管掃描測試系統(tǒng)的第三種技術方案；
[0034] 圖5所示為本實用新型的二極管測試的一種方案；
[0035] 圖6所示為本實用新型的二極管測試的另一種方案。

【具體實施方式】
[0036] 以下結合附圖對本實用新型進行詳細說明，但是本實用新型的【具體實施方式】不限 于此。
[0037] 圖2所示為本實用新型的一種技術方案，晶體管掃描測試系統(tǒng)，包括用于測試晶 體管的測試儀1、繼電器組以及繼電器控制單元；其中三分之一的繼電器一端與測試儀的c 測試端相連，另一端分別與每個被測晶體管3的c端相連；還有三分之一的繼電器一端與測 試儀的b測試端相連，另一端分別與每個被測晶體管的b端相連；最后三分之一的繼電器一 端與測試儀的e測試端相連，另一端分別與每個被測晶體管的e端相連；繼電器控制單元 10用于控制每個繼電器的通斷。繼電器控制單元10設置在測試儀。
[0038] 圖3所示為本實用新型的第二種技術方案，包括用于測試晶體管的測試儀1、繼電 器組以及繼電器控制單元10 ;被測晶體管3排列成MXN的矩陣；繼電器組包括N個c端繼 電器5、MXN個b端繼電器7和Μ個e端繼電器6 ;每個c端繼電器的一端與相應1列晶體 管3的所有c端相連，另一端與測試儀的c測試端相連；每個晶體管的b端對應連接一個b 端繼電器，b端繼電器的另一端與測試儀的b測試端相連；每個e端繼電器的一端與相應1 行晶體管的所有e端相連，另一端與測試儀的e測試端相連，繼電器控制單元用于控制每個 繼電器的通斷。。
[0039] 圖4所示為本實用新型的第三種技術方案，晶體管掃描測試系統(tǒng)，包括用于測試 晶體管的測試儀1，還包括繼電器組4以及繼電器控制單元10 ;其中二分之一的繼電器一端 與測試儀的c測試端相連，另一端分別與每個被測晶體管的c端相連；還有二分之一的繼電 器一端與測試儀的b測試端相連，另一端分別與每個被測晶體管的b端相連；所有晶體管的 e端與測試儀的e測試端相連。繼電器控制單元設置在測試儀。
[0040] 圖5所示為本實用新型的二極管測試的一種方案，包括用于測試二極管的測試儀 8、繼電器組4以及繼電器控制單元10 ;繼電器組中二分之一的繼電器的一端與測試儀的正 測試端相連，另一端分別與每個被測二極管9的正端相連；還有二分之一的繼電器一端與 測試儀的負測試端相連，另一端分別與每個被測二極管的負端相連；繼電器控制單元用于 控制每個繼電器的通斷，繼電器控制單元設置在測試儀內。
[0041] 圖6所示為本實用新型的二極管測試的另一種方案，包括用于測試二極管的測試 儀8、繼電器組4以及繼電器控制單元10 ;繼電器組包括與被測二極管一一對應的多個繼電 器，繼電器的一端與測試儀的一個測試端相連，另一端與對應的被測二極管9的相應測試 端連接；二極管的另一端與測試儀的相應測試端連接，繼電器控制單元用于控制每個繼電 器的通斷，繼電器控制單元設置在測試儀內。
【權利要求】
1. 一種晶體管掃描測試系統(tǒng)，包括用于測試晶體管的測試儀，其特征在于： 還包括繼電器組以及繼電器控制單元； 所述繼電器組中繼電器的數(shù)量是晶體管的三倍，其中三分之一的繼電器一端與測試儀 的C測試端相連，另一端分別與每個被測晶體管的C端相連；還有三分之一的繼電器一端與 測試儀的b測試端相連，另一端分別與每個被測晶體管的b端相連；最后三分之一的繼電器 一端與測試儀的e測試端相連，另一端分別與每個被測晶體管的e端相連； 所述繼電器控制單元用于控制每個繼電器的通斷。
2. 根據(jù)權利要求1所述的晶體管掃描測試系統(tǒng)，其特征在于： 所述繼電器控制單元設置在測試儀內。
3. -種晶體管掃描測試系統(tǒng)，包括用于測試晶體管的測試儀，其特征在于： 還包括繼電器組以及繼電器控制單元； 所述被測晶體管排列成MXN的矩陣； 所述繼電器組包括N個c端繼電器、ΜX N個b端繼電器和Μ個e端繼電器； 每個c端繼電器的一端與相應1列晶體管的所有c端相連，另一端與測試儀的c測試 端相連； 每個晶體管的b端對應連接一個b端繼電器，所述b端繼電器的另一端與測試儀的b 測試端相連； 每個e端繼電器的一端與相應1行晶體管的所有e端相連，另一端與測試儀的e測試 端相連， 所述繼電器控制單元用于控制每個繼電器的通斷。
4. 根據(jù)權利要求3所述的晶體管掃描測試系統(tǒng)，其特征在于： 所述繼電器控制單元設置在測試儀內。
5. -種晶體管掃描測試系統(tǒng)，包括用于測試晶體管的測試儀，其特征在于： 還包括繼電器組以及繼電器控制單元； 所述繼電器組中二分之一的繼電器一端與測試儀的c測試端相連，另一端分別與每個 被測晶體管的c端相連；還有二分之一的繼電器一端與測試儀的b測試端相連，另一端分別 與每個被測晶體管的b端相連；所有晶體管的e端與測試儀的e測試端相連， 所述繼電器控制單元用于控制每個繼電器的通斷。
6. 根據(jù)權利要求5所述的晶體管掃描測試系統(tǒng)，其特征在于： 所述繼電器控制單元設置在測試儀內。
7. -種晶體管掃描測試系統(tǒng)，包括用于測試二極管的測試儀，其特征在于： 還包括繼電器組以及繼電器控制單元； 所述繼電器組中二分之一的繼電器的一端與測試儀的正測試端相連，另一端分別與每 個被測二極管的正端相連；還有二分之一的繼電器一端與測試儀的負測試端相連，另一端 分別與每個被測二極管的負端相連；所述繼電器控制單元用于控制每個繼電器的通斷。
8. 根據(jù)權利要求7所述的晶體管掃描測試系統(tǒng)，其特征在于： 所述繼電器控制單元設置在測試儀內。
9. 一種晶體管掃描測試系統(tǒng)，包括用于測試二極管的測試儀，其特征在于： 還包括繼電器組以及繼電器控制單元；所述繼電器組包括與被測二極管一一對應的多 個繼電器，所述繼電器的一端與測試儀的一個測試端相連，另一端與對應的被測二極管相 應端連接；所述二極管的另一端與測試儀的相應測試端連接，所述繼電器控制單元用于控 制每個繼電器的通斷。
10.根據(jù)權利要求9所述的晶體管掃描測試系統(tǒng)，其特征在于： 所述繼電器控制單元設置在測試儀內。
【文檔編號】G01R31/26GK203838298SQ201420108950
【公開日】2014年9月17日 申請日期:2014年3月11日 優(yōu)先權日:2014年3月11日
【發(fā)明者】郭勝巖, 馮麗平 申請人:陜西開爾文測控技術有限公司