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      基于感性線圈的絕緣老化判斷系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號(hào):6060711閱讀:164來源:國知局
      基于感性線圈的絕緣老化判斷系統(tǒng)的制作方法
      【專利摘要】本實(shí)用新型提供一種基于感性線圈的絕緣老化判斷系統(tǒng),包括遠(yuǎn)程控制機(jī)箱、電源、充電電阻、儲(chǔ)能電容、高壓電子開關(guān)裝置、測試分壓器和局放測試阻抗器,電源、充電電阻、儲(chǔ)能電容和待測感性線圈裝置串聯(lián)組成閉合回路,測試分壓器和局放測試阻抗器組成的串聯(lián)支路與待測感性線圈裝置并聯(lián),高壓電子開關(guān)裝置并聯(lián)于儲(chǔ)能電容和待測感性線圈裝置組成的串聯(lián)支路,遠(yuǎn)程控制機(jī)箱通過主回路接線與電源相連,遠(yuǎn)程控制機(jī)箱還同過通訊接線與高壓電子開關(guān)裝置相連,遠(yuǎn)程控制機(jī)箱通過測試接線與示波器相連,所述測試分壓器和局放測試阻抗器都通過通訊接線與示波器相連。本實(shí)用新型有效降低起始電壓保證感性線圈的絕緣不被損壞。
      【專利說明】基于感性線圈的絕緣老化判斷系統(tǒng)

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001] 本實(shí)用新型涉及一種基于感性線圈的絕緣老化判斷系統(tǒng)。

      【背景技術(shù)】
      [0002] 電力系統(tǒng)內(nèi)的串聯(lián)空心電抗器和并聯(lián)電抗器的絕緣缺陷檢測,電抗器的匝間絕緣 狀態(tài)在整個(gè)運(yùn)行期間都是無法進(jìn)行監(jiān)測,其運(yùn)行的可靠性主要取決于產(chǎn)品本身的質(zhì)量(運(yùn) 行風(fēng)險(xiǎn)高)電網(wǎng)多次出現(xiàn)著火燃燒,尤其是在無人值守的變電站,后果更嚴(yán)重。尤其是還在 運(yùn)行狀態(tài)下的電抗器年限有幾年到十幾年的,其中部分存在大的安全隱患。
      [0003] 現(xiàn)有的檢測手段是采用DC升壓對(duì)電容C充電,然后閉合開關(guān),使得電容C和電抗 器LX之間產(chǎn)生LC阻尼振蕩,測得振蕩頻率為Π ,為單次振蕩,同時(shí)計(jì)算出衰減率delt 1, 作為傳遞函數(shù)的Y(t);
      [0004] 接著周期性的斷開閉合開關(guān),使得阻尼振蕩持續(xù)發(fā)生,升高DC電壓,得到阻尼振 蕩的頻率為f2,計(jì)算出衰減率delt 2,作為傳遞函數(shù)的X(t);
      [0005] 通過比較Π 和f2,比較衰減率deltl和delt2,及W(t)=Y(t)/X(t)系統(tǒng)的傳遞函 數(shù),即可判別試品的絕緣缺陷;
      [0006] 但采用已有技術(shù)(干式電抗器過電壓試驗(yàn)):諧振電容為3000pF連續(xù)放電后得出下 表1 :
      [0007] 表 1
      [0008] __東.騰運(yùn)電g器 1 己杈運(yùn)名犖_ 趣纖電囉dc 瞻 振_1幸mz ISkV__4IJ_ 42?_ 2SScV___ 42 %_^ 30kV 41 9 42:i 35kV 41 9 42S AQKV 41 9 丨 42.$ 45feV__4I_£_ 43 %_ 50 kV 4t P 46 Z SSkV__4L9_I SD 1_
      [0009] 對(duì)照兩個(gè)試驗(yàn)方案都能檢測到已投運(yùn)8年的電抗器有絕緣隱患,但是現(xiàn)有技術(shù)能 有效識(shí)別需要起始放電電壓增加到直流50kV和55KV時(shí),才能有效的檢測電抗器有絕緣問 題。
      [0010] 雖然此試驗(yàn)方案和檢測方式(匝間過電壓試驗(yàn)),采用直流對(duì)電容充電,用球隙對(duì) 空心電抗器瞬間放電,形成衰減振蕩波,用頻率判斷是否有缺陷;但存在不足:由于球隙放 電受天氣和濕度的影響,每次的放電電壓不一致;采用工頻倍壓整流對(duì)電容充電,體積龐 大,不利于現(xiàn)場試驗(yàn);試驗(yàn)方案對(duì)電抗器試驗(yàn)時(shí),隨著電壓升高,會(huì)導(dǎo)致電抗器由于試驗(yàn)造 成絕緣損壞。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0011] 本實(shí)用新型的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)存在的不足,提供一種基于感性線圈的絕緣老 化判斷系統(tǒng),有效降低起始電壓保證感性線圈的絕緣不被損壞。
      [0012] 本實(shí)用新型的目的通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn):
      [0013] 基于感性線圈的絕緣老化判斷系統(tǒng),包括遠(yuǎn)程控制機(jī)箱、電源、充電電阻、儲(chǔ)能電 容、高壓電子開關(guān)裝置、測試分壓器和局放測試阻抗器,所述電源、充電電阻、儲(chǔ)能電容和待 測感性線圈裝置串聯(lián)組成閉合回路,所述測試分壓器和局放測試阻抗器組成的串聯(lián)支路與 待測感性線圈裝置并聯(lián),所述高壓電子開關(guān)裝置并聯(lián)于儲(chǔ)能電容和待測感性線圈裝置組成 的串聯(lián)支路,所述遠(yuǎn)程控制機(jī)箱通過主回路接線與電源相連,所述遠(yuǎn)程控制機(jī)箱還同過通 訊接線與高壓電子開關(guān)裝置相連,所述遠(yuǎn)程控制機(jī)箱通過測試接線與示波器相連,所述測 試分壓器和局放測試阻抗器都通過通訊接線與示波器相連。
      [0014] 進(jìn)一步地,所述的基于感性線圈的絕緣老化判斷系統(tǒng),所述電源為中頻倍壓方式 輸出的直流高壓發(fā)生器,其輸出可調(diào)范圍在(T60KV。
      [0015] 更進(jìn)一步地,所述的基于感性線圈的絕緣老化判斷系統(tǒng),所述高壓電子開關(guān)裝置 由若干層串聯(lián)的高壓電子開關(guān)疊加組成,其中,高壓電子開關(guān)由可控硅、續(xù)流二極管、均壓 電阻組成,所述可控硅、續(xù)流二極管、均壓電阻相并聯(lián),可控硅與續(xù)流二極管反向連接。
      [0016] 再更進(jìn)一步地,所述的基于感性線圈的絕緣老化判斷系統(tǒng),所述高壓電子開關(guān)與 高壓電子開關(guān)之間通過金屬隔板分隔。
      [0017] 再更進(jìn)一步地,所述的基于感性線圈的絕緣老化判斷系統(tǒng),所述通訊接線為光線 接線。
      [0018] 本實(shí)用新型技術(shù)方案的實(shí)質(zhì)性特點(diǎn)和進(jìn)步主要體現(xiàn)在:
      [0019] 本實(shí)用新型利用高壓電子開關(guān)裝置來完成試驗(yàn)回路的接通和斷開,以產(chǎn)生感性線 圈進(jìn)行脈沖震蕩電壓,高壓電子開關(guān)裝置具有精確控制性,有利用提高可控范圍,通過高壓 電子開關(guān)裝置對(duì)儲(chǔ)能電容的充放電來實(shí)現(xiàn)對(duì)待測感性線圈裝置的充放電,同時(shí)采用測試分 壓器和局放測試阻抗器來對(duì)待測感性線圈裝置進(jìn)行檢測局放量來判別待測感性線圈裝置 是否損壞,通過該裝置能有效降低起始電壓保證感性線圈的絕緣不被損壞。

      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0020] 下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型技術(shù)方案作進(jìn)一步說明:
      [0021] 圖1 :本實(shí)用新型的電路結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0022] 圖2 :商壓電子開關(guān)原理結(jié)構(gòu)電路圖。

      【具體實(shí)施方式】
      [0023] 如圖1所示,本實(shí)用新型的基于感性線圈的絕緣老化判斷系統(tǒng),包括遠(yuǎn)程控制機(jī) 箱1、電源3、充電電阻4、儲(chǔ)能電容5、高壓電子開關(guān)裝置9、測試分壓器7和局放測試阻抗器 8,電源3、充電電阻4、儲(chǔ)能電容5和待測感性線圈裝置6串聯(lián)組成閉合回路,測試分壓器7 和局放測試阻抗器8組成的串聯(lián)支路與待測感性線圈裝置6并聯(lián),高壓電子開關(guān)裝置9并 聯(lián)于儲(chǔ)能電容5和待測感性線圈裝置6組成的串聯(lián)支路,遠(yuǎn)程控制機(jī)箱1通過主回路接線 與電源3相連,遠(yuǎn)程控制機(jī)箱1還同過通訊接線與高壓電子開關(guān)裝置9相連,遠(yuǎn)程控制機(jī)箱 1通過測試接線與示波器2相連,測試分壓器7和局放測試阻抗器8都通過通訊接線與示波 器2相連。
      [0024] 高壓電子開關(guān)裝置9中有一高壓電子開關(guān)(未畫出),高壓電子開關(guān)與高壓電子開 關(guān)裝置9相連,且高壓電子開關(guān)控制高壓電子開關(guān)裝置9的通斷,在高壓電子開關(guān)斷開時(shí), 電源3的電壓通過充電電阻4直接對(duì)儲(chǔ)能電容5進(jìn)行充電,在高壓電子開關(guān)閉合后,儲(chǔ)能滿 的儲(chǔ)能電容5對(duì)待測感性線圈裝置6進(jìn)行放電,由測試分壓器7和局放測試阻抗器8對(duì)待 測感性線圈裝置6進(jìn)行檢測,并由示波器2顯示。
      [0025] 如圖2所示,高壓電子開關(guān)裝置9由若干層串聯(lián)的高壓電子開關(guān)疊加組成,其中, 高壓電子開關(guān)由可控硅、續(xù)流二極管、均壓電阻組成,所可控硅、續(xù)流二極管、均壓電阻相并 聯(lián),可控硅與續(xù)流二極管反向連接。
      [0026] 其中,可控硅和續(xù)流二極管的參數(shù)選取如下:
      [0027] 可控硅的選擇條件:門極驅(qū)動(dòng)電流IeT小,門極觸發(fā)電壓VeT,通態(tài)峰值電壓VTM ;而 且相對(duì)誤差小于5%,比如驅(qū)動(dòng)電流ICT為105mA時(shí),則盡量保證每級(jí)可控硅1的驅(qū)動(dòng)電流在 10(Tll0mA以內(nèi),選擇相同批次為最佳。續(xù)流二極管的選擇條件:正向峰值壓降,反向重復(fù) 峰值電流等參數(shù)基本一致;在安裝過程中因注意可控硅和續(xù)流二極管的高度保持一致。
      [0028] 通訊接線為光線接線,其中,光纖的選?。焊鶕?jù)發(fā)射管和接收管的感光曲線要求 (波長)選取光纖,而且光纖的長度一致,再整體調(diào)試時(shí),每級(jí)的門級(jí)驅(qū)動(dòng)延遲時(shí)間相對(duì)誤差 小于100nS ;來保證每級(jí)導(dǎo)通的一致性。
      [0029] 高壓電子開關(guān)與高壓電子開關(guān)之間通過金屬隔板分隔,可以有效提高該高壓電子 開關(guān)的散熱效果,有效保證該裝置能正常工作,并且還能降低高壓電子開關(guān)的損壞。
      [0030] 電源為中頻倍壓方式輸出的直流高壓發(fā)生器,其輸出可調(diào)范圍在(T60KV,使其起 始放電電壓能根據(jù)需要進(jìn)行調(diào)節(jié)。
      [0031] 具體工作過程如下:
      [0032] 1)、按照附圖1中的回路校準(zhǔn)視在放電量(局放標(biāo)定);
      [0033] 2)、直流升壓:根據(jù)規(guī)程首先升壓到所需試驗(yàn)電壓,通過充電電阻4對(duì)儲(chǔ)能電容5 進(jìn)行充電(升壓過程中儲(chǔ)能電容5作用是儲(chǔ)能);
      [0034] 3)、啟動(dòng)高壓放電,啟動(dòng)局放測試:首先關(guān)斷高壓輸出即電源3 (目的是直流升壓 的開關(guān)信號(hào)有自生局放需要屏蔽),然后啟動(dòng)高壓放電即儲(chǔ)能電容5 (通過高壓電子開關(guān)閉 合),則儲(chǔ)能電容5放電時(shí)為諧振電容,此時(shí)儲(chǔ)能電容5和感性線圈組成LC振蕩,通過儲(chǔ)能 電容5與感性線圈組成LC諧振回路,形成衰減振蕩波,并測量感性線圈的局部放電量;隨著 試驗(yàn)電壓的提高,局部放電量的大小隨之變化,即可以判斷出感性線圈的絕緣水平,然后按 照國家標(biāo)準(zhǔn)判斷感性線圈是否可以繼續(xù)運(yùn)行或者更換;
      [0035] 4)、重復(fù)第二步和第三步,隨著試驗(yàn)電壓的升高,局放量隨之放大,通過判斷局放 量變化,來判斷感性線圈的絕緣水平。
      [0036] 實(shí)施例1
      [0037] 在對(duì)同樣兩臺(tái)空心電抗器運(yùn)用不同的試驗(yàn)方案做的試驗(yàn)結(jié)果比較:
      [0038] 一臺(tái)為未投運(yùn)的空心電抗器(10kV串聯(lián)電抗器,4. 8mH);-臺(tái)為已投運(yùn)8年的空心 電抗器(lOkV串聯(lián)電抗器,4. 6mH);局放測試:采用本專利提供方案,諧振電容為無局放電 容即儲(chǔ)能電容5 (容量l.OluF),其中,背景局放85pC,如表2 :
      [0039] 表 2
      [0040] __ emisf- 起始歧_龜Sec觀蕩變幸 S敏靈PC "mm | 簠 pc 5k¥__I620H2__8gpC IftSgfe | S9aC lQkV 1.62! Hz 〇2pC ItlSSHz [ 95pC 15W 1621Hz 95pC MSSHz | 12?pC 20kV 1621Hs IH3pC U5?Mz \ 236pC 25W__162iHz__145pC__臓 Hz | 617pC 30kV__1621Hz____K58Hz | I83%C
      [0041] 對(duì)照兩個(gè)試驗(yàn)方案都能檢測到已投運(yùn)8年的電抗器有絕緣隱患,采用局放方式檢 測在直流25kV處就已經(jīng)有明顯增大,所以局放試驗(yàn)可以提前預(yù)判,而且不會(huì)因?yàn)樵囼?yàn)損壞 電抗器的本體。對(duì)比表1需要起始放電電壓增加到直流50kV和55KV時(shí),才能有效的檢測 電抗器有絕緣問題,該該裝置有效降低起始放電壓DC的電壓,能有效保護(hù)裝置不受損壞。 [0042] 本實(shí)用新型利用高壓電子開關(guān)裝置來完成試驗(yàn)回路的接通和斷開,以產(chǎn)生感性線 圈進(jìn)行脈沖震蕩電壓,高壓電子開關(guān)裝置具有精確控制性,有利用提高可控范圍,通過高壓 電子開關(guān)裝置對(duì)儲(chǔ)能電容的充放電來實(shí)現(xiàn)對(duì)待測感性線圈裝置的充放電,同時(shí)采用測試分 壓器和局放測試阻抗器來對(duì)待測感性線圈裝置進(jìn)行檢測局放量來判別待測感性線圈裝置 是否損壞,通過該裝置能有效降低起始電壓保證感性線圈的絕緣不被損壞。
      [〇〇43] 需要理解到的是:以上所述僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式,對(duì)于本【技術(shù)領(lǐng)域】的 普通技術(shù)人員來說,在不脫離本實(shí)用新型原理的前提下,還可以作出若干改進(jìn)和潤飾,這些 改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
      【權(quán)利要求】
      1. 基于感性線圈的絕緣老化判斷系統(tǒng),其特征在于:包括遠(yuǎn)程控制機(jī)箱、電源、充電電 阻、儲(chǔ)能電容、高壓電子開關(guān)裝置、測試分壓器和局放測試阻抗器,所述電源、充電電阻、儲(chǔ) 能電容和待測感性線圈裝置串聯(lián)組成閉合回路,所述測試分壓器和局放測試阻抗器組成的 串聯(lián)支路與待測感性線圈裝置并聯(lián),所述高壓電子開關(guān)裝置并聯(lián)于儲(chǔ)能電容和待測感性線 圈裝置組成的串聯(lián)支路,所述遠(yuǎn)程控制機(jī)箱通過主回路接線與電源相連,所述遠(yuǎn)程控制機(jī) 箱還同過通訊接線與高壓電子開關(guān)裝置相連,所述遠(yuǎn)程控制機(jī)箱通過測試接線與示波器相 連,所述測試分壓器和局放測試阻抗器都通過通訊接線與示波器相連。
      2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于感性線圈的絕緣老化判斷系統(tǒng),其特征在于:所述電源 為中頻倍壓方式輸出的直流高壓發(fā)生器,其輸出可調(diào)范圍在(T60KV。
      3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于感性線圈的絕緣老化判斷系統(tǒng),其特征在于:所述高壓 電子開關(guān)裝置由若干層串聯(lián)的高壓電子開關(guān)疊加組成,其中,高壓電子開關(guān)由可控硅、續(xù)流 二極管、均壓電阻組成,所述可控硅、續(xù)流二極管、均壓電阻相并聯(lián),可控硅與續(xù)流二極管反 向連接。
      4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于感性線圈的絕緣老化判斷系統(tǒng),其特征在于:所述高壓 電子開關(guān)與高壓電子開關(guān)之間通過金屬隔板分隔。
      5. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于感性線圈的絕緣老化判斷系統(tǒng),其特征在于:所述通訊 接線為光線接線。
      【文檔編號(hào)】G01R31/12GK203894373SQ201420340928
      【公開日】2014年10月22日 申請(qǐng)日期:2014年6月24日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月24日
      【發(fā)明者】李曉軍 申請(qǐng)人:蘇州工業(yè)園區(qū)海沃科技有限公司
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