本發(fā)明涉及熒光膠領(lǐng)域，具體而言，涉及一種熒光膠的性能測量裝置和方法。
背景技術(shù)：
：作為一種常用的LED光源，白光LED一般發(fā)出由藍光(或近紫外光)與受藍光(或近紫外光)激發(fā)熒光體所發(fā)光(以黃光為主)混合而成的復(fù)色白光。該器件通常是由LED藍光芯片、熒光粉、密封材料、光學(xué)材料以及封裝材料等組成。因此，從封裝的角度，白光LED失效可能發(fā)生的位置主要在激發(fā)光源、熒光體、硅膠等密封材料、內(nèi)互聯(lián)材料、透鏡和反光層等光學(xué)部件以及封裝材料等等。LED的大多數(shù)光學(xué)性能參數(shù)(如，光通量、色坐標(biāo)、色溫等)都是由光譜功率分布決定的。熒光膠通常是一種由熒光粉和高分子聚合物膠(如，硅膠等)組成的復(fù)合材料，它在白光LED封裝中起著配光和配色的關(guān)鍵作用。根據(jù)LED封裝工藝的不同，熒光膠一般可以分為和激發(fā)光源直接接觸或不接觸(遠程熒光粉)兩種形式。當(dāng)白光LED點亮后，激發(fā)光源產(chǎn)生的熱量都會以各種方式傳輸?shù)綗晒饽z上，使其長期處于高溫條件下。通常高溫會加速熒光膠的老化，具體表現(xiàn)為熒光粉英光轉(zhuǎn)換效率降低，高分子聚合物膠黃化等。因此，研究白光LED用熒光膠的激發(fā)光譜性能隨溫度變化的規(guī)律是必要的，可以用于分析其熱失效機理?，F(xiàn)有熒光膠性能測試的方法在測試熒光膠的性能時，無法加入溫度條件來測量，導(dǎo)致無法測量熒光膠的激發(fā)光譜性能隨溫度變化的規(guī)律。針對上述的問題，目前尚未提出有效的解決方案。技術(shù)實現(xiàn)要素：本發(fā)明實施例提供了一種熒光膠的性能測量裝置和方法，以至少解決現(xiàn)有技術(shù)中無法測量熒光膠的激發(fā)光譜性能隨溫度變化的規(guī)律的技術(shù)問題。根據(jù)本發(fā)明實施例的一個方面，提供了一種熒光膠的性能測量裝置，包括：控溫裝置，設(shè)置有熒光膠，用于調(diào)節(jié)所述熒光膠的溫度；積分球，與所述控溫裝置相連接，用于收集所述熒光膠受激發(fā)產(chǎn)生的光；光譜輻射計，與所述積分球相連接，用于測量 所述積分球收集的光。進一步地，所述控溫裝置包括：控溫裝置本體；帶孔的導(dǎo)熱板，固定在所述控溫裝置本體上；激發(fā)光源，設(shè)置在所述導(dǎo)熱板的孔內(nèi)，用于激發(fā)所述熒光膠發(fā)光，所述熒光膠覆蓋在所述孔上，以阻止所述激發(fā)光源的光從所述孔中射出；加熱裝置，設(shè)置在所述導(dǎo)熱板的表面，與外接電源連接，用于對所述導(dǎo)熱板加熱。進一步地，所述控溫裝置本體包括凸臺和基座，所述控溫裝置還包括：冷卻機臺，設(shè)置在所述凸臺上，所述導(dǎo)熱板固定在所述冷卻機臺上，所述激發(fā)光源的基板與所述冷卻機臺接觸。進一步地，所述控溫裝置還包括：夾具，用于將所述導(dǎo)熱板固定在所述冷卻機臺上。進一步地，所述積分球設(shè)置有進光孔，所述凸臺通過所述進光孔裝入所述積分球中。進一步地，所述加熱裝置為設(shè)置在所述導(dǎo)熱板上的至少一個加熱陶瓷片。進一步地，所述外接電源為橫流穩(wěn)壓電源。進一步地，所述熒光膠的性能測量裝置還包括熱電偶測溫儀，貼在所述熒光膠上，用于測量所述熒光膠的表面溫度。根據(jù)本發(fā)明實施例的一個方面，提供了一種熒光膠的性能測量裝置的測量方法，包括：利用控溫裝置調(diào)節(jié)熒光膠的溫度；采用激發(fā)光源照射所述熒光膠以激發(fā)所述熒光膠發(fā)光；利用積分球收集所述熒光膠發(fā)出的光；對所述積分球收集的光進行測量。進一步地，所述熒光膠設(shè)置在所述控溫裝置的導(dǎo)熱板上，利用控溫裝置調(diào)節(jié)熒光膠的溫度包括：通過調(diào)節(jié)所述導(dǎo)熱板的溫度來調(diào)節(jié)所述熒光膠的溫度。在本發(fā)明實施例中，采用控溫裝置，設(shè)置有熒光膠，用于調(diào)節(jié)熒光膠的溫度；積分球，與控溫裝置相連接，用于收集熒光膠受激發(fā)產(chǎn)生的光；光譜輻射計，與積分球相連接，用于測量積分球收集的光，熒光膠受激發(fā)發(fā)光，由于熒光膠的溫度會影響熒光膠的熒光轉(zhuǎn)換效率，比如在高溫下熒光膠會老化導(dǎo)致熒光轉(zhuǎn)換效率比較低，因此，熒光膠在不同的溫度下因轉(zhuǎn)換效率的不同而發(fā)出不同的光。在測量過程中，控溫裝置調(diào)節(jié)熒光膠的溫度來得到不同溫度下的受激光。熒光膠發(fā)出的受激光由積分球收集，且由光譜輻射計測量受激光的參數(shù)。通過分析熒光膠激發(fā)光的參數(shù)和相應(yīng)的溫度來分析受激光的激發(fā)光譜性能隨溫度變化的規(guī)律，達到了分析激發(fā)光譜性能隨溫度變化的規(guī)律的技術(shù)效果，進而解決了現(xiàn)有技術(shù)中無法測量熒光膠的激發(fā)光譜性能隨溫度變化 的規(guī)律的技術(shù)問題。附圖說明此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，構(gòu)成本申請的一部分，本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中：圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的熒光膠的性能測量裝置的示意圖；圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種可選的熒光膠的性能測量裝置的示意圖；圖3是根據(jù)本發(fā)明實施例的控溫裝置的示意圖；圖4是圖3所示的控溫裝置的局部放大圖；以及圖5是根據(jù)本發(fā)明實施例的熒光膠的性能測量方法的流程圖。具體實施方式為了使本
技術(shù)領(lǐng)域：
的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分的實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都應(yīng)當(dāng)屬于本發(fā)明保護的范圍。需要說明的是，本發(fā)明的說明書和權(quán)利要求書及上述附圖中的術(shù)語“第一”、“第二”等是用于區(qū)別類似的對象，而不必用于描述特定的順序或先后次序。應(yīng)該理解這樣使用的數(shù)據(jù)在適當(dāng)情況下可以互換，以便這里描述的本發(fā)明的實施例能夠以除了在這里圖示或描述的那些以外的順序?qū)嵤４送?，術(shù)語“包括”和“具有”以及他們的任何變形，意圖在于覆蓋不排他的包含，例如，包含了一系列步驟或單元的過程、方法、系統(tǒng)、產(chǎn)品或設(shè)備不必限于清楚地列出的那些步驟或單元，而是可包括沒有清楚地列出的或?qū)τ谶@些過程、方法、產(chǎn)品或設(shè)備固有的其它步驟或單元。根據(jù)本發(fā)明實施例，提供了一種熒光膠的性能測量裝置的實施例。圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的熒光膠的性能測量裝置的示意圖，如圖1所示，該熒光膠的性能測量裝置包括：控溫裝置100、積分球200和光譜輻射計300。其中，控溫裝置100設(shè)置有熒光膠，用于調(diào)節(jié)熒光膠的溫度。積分球200與控溫裝置相連接，用于收集熒光膠受激發(fā)產(chǎn)生的光。光譜輻射計300與積分球200相連接，用于測量積分 球收集的光。熒光膠受激發(fā)發(fā)光，由于熒光膠的溫度會影響熒光膠的熒光轉(zhuǎn)換效率，比如在高溫下熒光膠會老化導(dǎo)致熒光轉(zhuǎn)換效率比較低，因此，熒光膠在不同的溫度下因轉(zhuǎn)換效率的不同而發(fā)出不同的光。在測量過程中，控溫裝置100調(diào)節(jié)熒光膠的溫度來得到不同溫度下的受激光。熒光膠發(fā)出的受激光由積分球200收集，且由光譜輻射計300測量受激光的參數(shù)。通過分析熒光膠激發(fā)光的參數(shù)和相應(yīng)的溫度來分析受激光的激發(fā)光譜性能隨溫度變化的規(guī)律，從而解決了現(xiàn)有技術(shù)中無法分析受激光的激發(fā)光譜性能隨溫度變化的規(guī)律的技術(shù)問題，達到了分析激發(fā)光譜性能隨溫度變化的規(guī)律的技術(shù)效果。分析激發(fā)光的激發(fā)光譜性能時，可以采用將光譜輻射計300測量的數(shù)據(jù)發(fā)送給計算機400，由計算機400來分析光譜性能。積分球200是內(nèi)壁涂有白色漫反射材料的空腔球體，又稱光度球，光通球等。球壁上開一個或幾個窗孔，用作進光孔和放置光接收器件的接收孔。上述控制裝置100通過球壁上的進光孔與積分球200相連接，如圖2所示。進入積分球的光經(jīng)過內(nèi)壁涂層的多次反射，在內(nèi)壁形成均勻照度，從而獲得比較高的測量準確度。該實施例中的積分球200可以采用直徑為0.5米的積分球。該光譜輻射計300可以為高精度快速光譜輻射計。如圖1所示，該控溫裝置100包括：控溫裝置本體102；激發(fā)光源104和加熱裝置108。加熱裝置108連接有恒流穩(wěn)壓源500，在恒流穩(wěn)壓源500為加熱裝置108通電時，調(diào)節(jié)加熱裝置108的溫度。加熱裝置108為熒光膠106提供熱量，在熒光膠106上貼有熱電偶測量儀600，用來測量熒光膠106的溫度。其中，激發(fā)光源104可以是測量所需波長的LED藍光芯片，或者LED近紫外光芯片。具體地，如圖3所示，在控溫裝置本體102上固定有帶孔的導(dǎo)熱板110，該導(dǎo)熱板110的孔上覆蓋有熒光膠106?？販匮b置本體102包括凸臺1022和基座1024，在凸臺1022上設(shè)置有冷卻機臺112，夾具114，凸臺1022可以通過積分球200的進光孔置于積分球200中。其中，帶孔的導(dǎo)熱板110被夾具114固定在凸臺1022上。導(dǎo)熱板110的孔內(nèi)放置激發(fā)光源104(如圖4所示)，在導(dǎo)熱板110的表面、孔的上方覆蓋有熒光膠106，熒光膠106將導(dǎo)熱板110的孔完全覆蓋住，阻止激發(fā)光源的光從孔中射出。在導(dǎo)熱板110的表面設(shè)置有加熱裝置108，該加熱裝置108可以是陶瓷片，在導(dǎo)熱板110的表面可以設(shè)置一個或者多個陶瓷片。加熱裝置108向?qū)岚?10提供熱量，導(dǎo)熱板110可以是不銹鋼導(dǎo)熱板，具有較好的熱傳導(dǎo)特性，可以將熱量傳導(dǎo)至熒光膠106以調(diào)節(jié)熒光膠106的溫度?；?024上設(shè)置有電極1026和風(fēng)扇1028。在該實施例中，帶孔的導(dǎo)熱板可以讓激發(fā)光源發(fā)出的光線激發(fā)熒光膠，使得熒光 膠受激發(fā)產(chǎn)生受激光。并且利用導(dǎo)熱板良好的熱傳導(dǎo)特性，將加熱裝置提供的熱量傳導(dǎo)給熒光膠，使得熒光膠的溫度產(chǎn)生變化，以便于測量熒光膠發(fā)出的受激光隨溫度變化的參數(shù)。同時，熒光膠覆蓋導(dǎo)熱板的孔，阻止激發(fā)光源的光從孔中射出，使得積分球收集的光不受激發(fā)光源的干擾。另外，激發(fā)光源104設(shè)置在導(dǎo)熱板110的孔內(nèi)，其基板與冷卻機臺112的表面接觸，冷卻機臺112可以是銅質(zhì)冷卻機臺，能夠控制激發(fā)光源104的基板的溫度，以保證激發(fā)光源104穩(wěn)定的發(fā)出激發(fā)光。如圖4所示，激發(fā)光源104的陶瓷基板1041絕熱，不會受到導(dǎo)熱板的溫度的影響，同時，激發(fā)光源104發(fā)出的光還能從導(dǎo)熱板的孔中照射到熒光膠上，熒光膠被激發(fā)發(fā)光。熒光膠將導(dǎo)熱板的孔完全覆蓋，阻止激發(fā)光源的光從孔中發(fā)出，避免激發(fā)光源發(fā)出的光對測量的受激光的參數(shù)的影響，使得測量熒光膠的激發(fā)光譜性能隨溫度變化的規(guī)律更加準確。根據(jù)本發(fā)明實施例，還提供了一種熒光膠的性能測量方法的實施例，該熒光膠的性能測量方法可以利用上述的熒光膠的性能測量裝置進行測量。需要說明的是，在附圖的流程圖示出的步驟可以在諸如一組計算機可執(zhí)行指令的計算機系統(tǒng)中執(zhí)行，并且，雖然在流程圖中示出了邏輯順序，但是在某些情況下，可以以不同于此處的順序執(zhí)行所示出或描述的步驟。如圖5所示，該熒光膠的性能測量方法包括如下步驟：步驟S502，利用控溫裝置調(diào)節(jié)熒光膠的溫度。步驟S504，采用激發(fā)光源照射熒光膠以激發(fā)熒光膠發(fā)光。步驟S506，利用積分球收集熒光膠發(fā)出的光。步驟S508，對積分球收集的光進行測量。在測量熒光膠的性能隨溫度的變化規(guī)律時，利用控溫裝置調(diào)節(jié)熒光膠處于不同溫度，該熒光膠的溫度變化范圍可以在25℃至100℃，可以按照一定的步長調(diào)節(jié)熒光膠的溫度，并測量積分球收集的受激光。例如，收集的數(shù)據(jù)如表1所示：表1溫度(℃)25303540……95光參數(shù)AA1A2A3A4……An光參數(shù)BB1B2B3B4……Bm在不同的溫度下對應(yīng)不同的光參數(shù)數(shù)據(jù)，光參數(shù)數(shù)據(jù)能夠反映激發(fā)光譜性能，如 表1所示，可以分析在不同溫度下光參數(shù)A的變化規(guī)律，在不同溫度下光參數(shù)B的變化規(guī)律，還可以結(jié)合光參數(shù)A和光參數(shù)B分析溫度對激發(fā)光譜性能的影響。因此，通過在測量過程中模擬熒光膠在實際應(yīng)用過程中的環(huán)境溫度的變化來測量熒光膠的受激光譜性能參數(shù)，從而解決了現(xiàn)有技術(shù)中無法測量熒光膠的激發(fā)光譜性能隨溫度變化的規(guī)律的技術(shù)問題，達到了測量熒光膠的激發(fā)光譜性能隨溫度變化的規(guī)律的技術(shù)效果。需要說明的是，表1只是示意性的說明一種采集到的數(shù)據(jù)，表1中示出的溫度可以以不同于上述溫度間隔的數(shù)據(jù)進行調(diào)節(jié)，上述測量的參數(shù)也不局限與兩個光參數(shù)，此處僅作為舉例，并不限定本實施例的可測量參數(shù)。可選地，熒光膠設(shè)置在控溫裝置的導(dǎo)熱板上，利用控溫裝置調(diào)節(jié)熒光膠的溫度包括：通過調(diào)節(jié)導(dǎo)熱板的溫度來調(diào)節(jié)熒光膠的溫度。由于在測量的過程中采用控制導(dǎo)熱板的溫度來調(diào)節(jié)熒光膠的溫度，而激發(fā)光源設(shè)置在導(dǎo)熱板的孔中并且與冷卻機臺接觸，保證了在調(diào)節(jié)熒光膠的溫度的同時，不干擾激發(fā)光源的溫度，從而保證了激發(fā)光源能夠穩(wěn)定的輸出激發(fā)光。通過上述實施例，在測量熒光膠的激發(fā)光譜性能時，加入溫度的條件，從而實現(xiàn)了測量熒光膠的激發(fā)光譜性能隨溫度變化的規(guī)律，從而解決了現(xiàn)有技術(shù)中無法測量熒光膠的激發(fā)光譜性能隨溫度變化的規(guī)律的技術(shù)問題，達到了測量熒光膠的激發(fā)光譜性能隨溫度變化的規(guī)律的技術(shù)效果。上述本發(fā)明實施例序號僅僅為了描述，不代表實施例的優(yōu)劣。在本發(fā)明的上述實施例中，對各個實施例的描述都各有側(cè)重，某個實施例中沒有詳述的部分，可以參見其他實施例的相關(guān)描述。在本申請所提供的幾個實施例中，應(yīng)該理解到，所揭露的技術(shù)內(nèi)容，可通過其它的方式實現(xiàn)。其中，以上所描述的裝置實施例僅僅是示意性的，例如所述單元的劃分，可以為一種邏輯功能劃分，實際實現(xiàn)時可以有另外的劃分方式，例如多個單元或組件可以結(jié)合或者可以集成到另一個系統(tǒng)，或一些特征可以忽略，或不執(zhí)行。另一點，所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些接口，單元或模塊的間接耦合或通信連接，可以是電性或其它的形式。所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個地方，或者也可以分布到多個單元上?？梢愿鶕?jù)實際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實現(xiàn)本實施例方案的目的。另外，在本發(fā)明各個實施例中的各功能單元可以集成在一個處理單元中，也可以 是各個單元單獨物理存在，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個單元中。上述集成的單元既可以采用硬件的形式實現(xiàn)，也可以采用軟件功能單元的形式實現(xiàn)。所述集成的單元如果以軟件功能單元的形式實現(xiàn)并作為獨立的產(chǎn)品銷售或使用時，可以存儲在一個計算機可讀取存儲介質(zhì)中。基于這樣的理解，本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻的部分或者該技術(shù)方案的全部或部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計算機軟件產(chǎn)品存儲在一個存儲介質(zhì)中，包括若干指令用以使得一臺計算機設(shè)備(可為個人計算機、服務(wù)器或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個實施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲介質(zhì)包括：U盤、只讀存儲器(ROM，Read-OnlyMemory)、隨機存取存儲器(RAM，RandomAccessMemory)、移動硬盤、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本
技術(shù)領(lǐng)域：
的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護范圍。當(dāng)前第1頁1 2 3