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      檢測(cè)托盤是否搭邊的方法與流程

      文檔序號(hào):11101348閱讀:337來源:國知局
      檢測(cè)托盤是否搭邊的方法與制造工藝

      本發(fā)明涉及半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,具體地,涉及一種檢測(cè)托盤是否搭邊的方法。



      背景技術(shù):

      LED刻蝕設(shè)備主要包括托盤、裝載腔、工藝腔和機(jī)械手,其中,托盤用于承載幾片至幾十片的數(shù)目的小尺寸硅片,且多片硅片水平分散地分布。在裝載腔內(nèi)設(shè)置有可升降的基座(VCE)以及設(shè)置在該基座上、用于存放托盤的片盒(Cassette),該片盒沿豎直方向設(shè)置有多個(gè)槽位,用以安放多個(gè)托盤。機(jī)械手用于在裝載腔與工藝腔之間傳輸托盤,在機(jī)械手進(jìn)行取片的過程中,首先基座通過升降將片盒中待取出的托盤所對(duì)應(yīng)的槽位移動(dòng)至適合機(jī)械手取片的高度;然后,機(jī)械手水平伸入裝載腔內(nèi),并取出該槽位上的托盤。

      在機(jī)械手進(jìn)行取放片之前,需要對(duì)片盒進(jìn)行掃描,以確定片盒中的每個(gè)槽位是否有片。具體的掃描方式為:在裝載腔內(nèi),且位于片盒的兩側(cè)分別安裝對(duì)射型傳感器的發(fā)射端和接收端,當(dāng)片盒自下向上運(yùn)動(dòng)時(shí),片盒中的托盤會(huì)逐一經(jīng)過發(fā)射端和接收端之間,并阻擋發(fā)射端朝向接收端發(fā)射的光線。傳感器在其發(fā)射端被遮擋時(shí)向控制系統(tǒng)發(fā)送高電平信號(hào),而在其發(fā)射端未被遮擋時(shí)向控制系統(tǒng)發(fā)送低電平信號(hào)??刂葡到y(tǒng)在捕捉到由傳感器發(fā)送而來的信號(hào)的上升沿(低電平向高電平轉(zhuǎn)換的時(shí)刻)時(shí),讀取此時(shí)控制基座上升的脈沖信號(hào)的脈沖值,并根據(jù)該脈沖值判斷出哪一個(gè)槽位有片。

      上述掃描片盒的方法在實(shí)際應(yīng)用中不可避免地存在以下問題:

      其一,由于控制系統(tǒng)是采用捕捉由傳感器發(fā)送而來的信號(hào)的上升沿來判斷槽位是否有片,若信號(hào)的邊沿存在方波擾動(dòng),則容易導(dǎo)致控制系統(tǒng)出現(xiàn)誤判,從而造成判斷結(jié)果不準(zhǔn)確。

      其二,上述方法能夠判斷片盒中的槽位是否有片,而無法判斷出托盤是否存在搭邊的問題。所謂搭邊,如圖1所示,是指置于片盒中的托盤1未水平地位于槽位2中,而是托盤1的一部分傾斜地伸出槽位2,并搭在槽位2的邊沿上。托盤搭邊容易導(dǎo)致在機(jī)械手抓取托盤時(shí),托盤偏離機(jī)械手上的承載位置,從而在傳送過程中托盤自機(jī)械手上容易滑落。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題之一,提出了一種檢測(cè)托盤是否搭邊的方法,其不僅可以準(zhǔn)確地判斷槽位是否存在托盤,而且還可以判斷出托盤是否存在搭邊的問題。

      為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的目的而提供一種檢測(cè)托盤是否搭邊的方法,所述托盤為多個(gè),且一一對(duì)應(yīng)地放置在可升降的片盒的多個(gè)槽位中,所述多個(gè)槽位沿豎直方向間隔設(shè)置;其特征在于,包括以下步驟:

      在所述片盒上升的過程中,掃描所述片盒的各個(gè)槽位,并發(fā)出方波信號(hào),所述方波信號(hào)在探測(cè)到所述托盤時(shí)為高電平,在未探測(cè)到所述托盤時(shí)為低電平;

      檢測(cè)所述方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng),并判斷該時(shí)長(zhǎng)是否超出預(yù)設(shè)的閾值范圍,若否,則確定所述托盤未搭邊;若大于所述閾值范圍,則確定所述托盤搭邊;若小于所述閾值范圍,則確定為信號(hào)擾動(dòng)。

      優(yōu)選的,利用脈沖信號(hào)控制所述片盒移動(dòng),且每增加一個(gè)脈沖數(shù),所述片盒移動(dòng)預(yù)設(shè)距離。

      優(yōu)選的,檢測(cè)所述方波信號(hào)相鄰的上升沿和下降沿,并分別讀取和保存所述上升沿和下降沿各自發(fā)生的時(shí)刻所對(duì)應(yīng)的脈沖數(shù);

      計(jì)算所述上升沿和下降沿發(fā)生的時(shí)刻所對(duì)應(yīng)的脈沖數(shù)之差的絕對(duì)值,即得出所述方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng)。

      優(yōu)選的,所述預(yù)設(shè)距離為0.01mm。

      優(yōu)選的,發(fā)送所述脈沖信號(hào)的速度為每秒2000個(gè)脈沖數(shù)。

      優(yōu)選的,所述閾值范圍為[380ms,420ms]。

      優(yōu)選的,利用對(duì)射傳感器掃描各個(gè)槽位上的托盤,并發(fā)出方波 信號(hào);所述對(duì)射傳感器包括相對(duì)設(shè)置在所述片盒兩側(cè)的發(fā)射端和接收端,所述發(fā)射端用于向所述接收端發(fā)送光信號(hào);所述接收端用于接收所述光信號(hào)。

      優(yōu)選的,利用伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)所述片盒上升或下降;

      通過向所述伺服電機(jī)發(fā)送脈沖信號(hào)和電機(jī)旋轉(zhuǎn)方向,控制所述伺服電機(jī)旋轉(zhuǎn)一個(gè)固定角度,以驅(qū)動(dòng)所述片盒移動(dòng)所述預(yù)設(shè)距離。

      優(yōu)選的,所述閾值范圍的設(shè)定步驟為:

      僅在所述片盒的其中一個(gè)槽位放置有所述托盤;

      在所述片盒上升的過程中,掃描所述片盒的各個(gè)槽位,并發(fā)出方波信號(hào),所述方波信號(hào)在探測(cè)到所述托盤時(shí)為高電平,在未探測(cè)到所述托盤時(shí)為低電平;

      檢測(cè)所述方波信號(hào)相鄰的上升沿和下降沿,并分別讀取和保存所述上升沿和下降沿各自發(fā)生的時(shí)刻所對(duì)應(yīng)的脈沖數(shù);

      計(jì)算所述上升沿和下降沿發(fā)生的時(shí)刻所對(duì)應(yīng)的脈沖數(shù)之差的絕對(duì)值,所述絕對(duì)值即為所述方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng);

      根據(jù)所述方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng)設(shè)定所述閾值范圍。

      本發(fā)明具有以下有益效果:

      本發(fā)明提供的檢測(cè)托盤是否搭邊的方法,其通過檢測(cè)方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng),并判斷該時(shí)長(zhǎng)是否超出預(yù)設(shè)的閾值范圍來確定托盤是否搭邊,或者為信號(hào)擾動(dòng),即:若未超出預(yù)設(shè)的閾值范圍,則確定托盤未搭邊;若大于閾值范圍,則確定托盤搭邊;若小于閾值范圍,則確定為信號(hào)擾動(dòng)。這樣,不僅可以準(zhǔn)確地判斷槽位是否存在托盤,而不會(huì)受到信號(hào)擾動(dòng)的影響,而且還可以判斷出托盤是否存在搭邊的問題。

      附圖說明

      圖1為托盤搭邊的示意圖;

      圖2為裝載有多個(gè)托盤的片盒的結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖3為利用對(duì)射傳感器掃描片盒的結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖4為本發(fā)明提供的檢測(cè)托盤是否搭邊的方法的流程框圖;

      圖5為利用脈沖信號(hào)控制片盒移動(dòng)的原理框圖;以及

      圖6為本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例提供的檢測(cè)托盤是否搭邊的方法的流程框圖。

      具體實(shí)施方式

      為使本領(lǐng)域的技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明的技術(shù)方案,下面結(jié)合附圖來對(duì)本發(fā)明提供的檢測(cè)托盤是否搭邊的方法進(jìn)行詳細(xì)描述。

      圖2為裝載有多個(gè)托盤的片盒的結(jié)構(gòu)示意圖。請(qǐng)參閱圖2,片盒10通常設(shè)置在裝載腔室中,并固定在裝載腔室內(nèi)的基座上,且在片盒10中設(shè)置有多個(gè)槽位12,用以承載多個(gè)托盤11。該托盤11用于承載多個(gè)基片,基片例如為尺寸較小的硅片或藍(lán)寶石襯底等。此外,在基座下方設(shè)置有伺服電機(jī),用以通過基座驅(qū)動(dòng)片盒10上升或下降,從而在機(jī)械手進(jìn)行取放片時(shí),可以將待取放的托盤所對(duì)應(yīng)的槽位12移動(dòng)至適合機(jī)械手取放片的高度;以及,在利用傳感器掃描片盒10,以確定片盒10中的每個(gè)槽位12是否有片時(shí),可以使所有槽位12自下而上逐一經(jīng)過傳感器的檢測(cè)位置。

      圖3為利用對(duì)射傳感器掃描片盒的結(jié)構(gòu)示意圖。請(qǐng)參閱圖3,利用對(duì)射傳感器掃描各個(gè)槽位12上的托盤11。具體地,對(duì)射傳感器包括發(fā)射端13和接收端14,二者相對(duì)設(shè)置在片盒10的兩側(cè),發(fā)射端13用于朝向接收端14發(fā)射水平的光信號(hào)(例如激光);接收端14用于接收光信號(hào)。當(dāng)片盒10自下而上運(yùn)動(dòng)時(shí),片盒10中的托盤11會(huì)逐一經(jīng)過發(fā)射端13和接收端14之間,并阻擋發(fā)射端13朝向接收端14發(fā)射的光線。

      圖4為本發(fā)明提供的檢測(cè)托盤是否搭邊的方法的流程框圖。請(qǐng)參閱圖4,本發(fā)明提供的檢測(cè)托盤是否搭邊的方法包括以下步驟:

      S1,在片盒10上升的過程中,利用上述對(duì)射傳感器掃描片盒10的各個(gè)槽位12,即,片盒10的所有槽位12均已經(jīng)過發(fā)射端13和接收端14之間,并發(fā)出方波信號(hào)。所謂方波信號(hào),是一種高電平和低電平交替出現(xiàn)的周期性信號(hào),該方波信號(hào)在探測(cè)到托盤11,即接收端14因托盤11的遮擋而無法接收到由發(fā)射端13發(fā)出的激光時(shí)為高 電平;在未探測(cè)到托盤11,即接收端14能夠接收到由發(fā)射端13發(fā)出的激光時(shí)為低電平。

      S2,檢測(cè)方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng),并判斷該時(shí)長(zhǎng)是否超出預(yù)設(shè)的閾值范圍;若該時(shí)長(zhǎng)在閾值范圍內(nèi),則確定托盤未出現(xiàn)搭邊情況;若大于閾值范圍,則說明因存在托盤搭邊的情況導(dǎo)致方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng)過長(zhǎng),由此即確定托盤存在搭邊情況;若小于閾值范圍,則說明方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng)過短,由此即確定方波信號(hào)存在擾動(dòng)。上述閾值范圍可以根據(jù)在托盤正確的處于槽位中時(shí),方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng)以及實(shí)際中的誤差而設(shè)定。

      通過檢測(cè)方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng),不僅可以準(zhǔn)確地判斷槽位是否存在托盤,而不會(huì)受到信號(hào)擾動(dòng)的影響,而且還可以判斷出托盤是否存在搭邊的問題。

      優(yōu)選的,利用脈沖信號(hào)控制片盒移動(dòng),且每增加一個(gè)脈沖數(shù),片盒移動(dòng)預(yù)設(shè)距離,該預(yù)設(shè)距離即為相鄰兩個(gè)槽位之間的豎直間距,從而當(dāng)完成當(dāng)前槽位的掃描之后,片盒通過移動(dòng)一個(gè)預(yù)設(shè)距離,使下一個(gè)槽位到達(dá)傳感器的掃描位置。此外,由于脈沖數(shù)與片盒移動(dòng)預(yù)設(shè)距離的個(gè)數(shù)具有對(duì)應(yīng)關(guān)系,因此,若需要將某一槽位移動(dòng)至傳感器的掃描位置,只需計(jì)算出將該槽位移動(dòng)至傳感器的掃描位置的移動(dòng)距離所對(duì)應(yīng)的脈沖數(shù),并根據(jù)該脈沖數(shù)控制片盒移動(dòng)至目標(biāo)位置。

      優(yōu)選的,在利用脈沖信號(hào)控制片盒移動(dòng)的基礎(chǔ)上,可以采用以下方式獲得方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng)。具體地,由于脈沖數(shù)與片盒移動(dòng)預(yù)設(shè)距離的個(gè)數(shù)具有對(duì)應(yīng)關(guān)系,例如,每增加一個(gè)脈沖數(shù),片盒移動(dòng)0.01mm,即預(yù)設(shè)距離為0.01mm。由此,首先捕捉到方波信號(hào)相鄰的上升沿和下降沿,并分別讀取和保存該上升沿和下降沿各自發(fā)生的時(shí)刻所對(duì)應(yīng)的脈沖數(shù)。例如,捕捉到方波信號(hào)相鄰的上升沿和下降沿各自發(fā)生的時(shí)刻分別為T1和T2,并讀取到上升沿的發(fā)生時(shí)刻T1所對(duì)應(yīng)的脈沖數(shù)為N1,下降沿的發(fā)生時(shí)刻T2所對(duì)應(yīng)的脈沖數(shù)為N2。然后,通過計(jì)算上升沿和下降沿發(fā)生的時(shí)刻所對(duì)應(yīng)的脈沖數(shù)之差的絕對(duì)值,即,|N1-N2|,該絕對(duì)值即為方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng)。

      例如,若每增加一個(gè)脈沖數(shù),片盒移動(dòng)0.01mm,并且發(fā)送脈沖信號(hào)的速度為每秒2000個(gè)脈沖數(shù),則片盒的移動(dòng)速度即為預(yù)設(shè)距離(0.01mm)與發(fā)送脈沖信號(hào)的速度(每秒2000個(gè)脈沖數(shù))的乘積,等于每秒20毫米。當(dāng)片盒以每秒20毫米自下而上運(yùn)動(dòng)時(shí),對(duì)于厚度為8mm的托盤,其經(jīng)過發(fā)射端和接收端之間,并阻擋發(fā)射端朝向接收端發(fā)射的光線的時(shí)間(即,方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng))的計(jì)算公式如下:

      T=B/V

      其中,T為方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng);B為托盤的厚度;V為片盒的移動(dòng)速度。若托盤的厚度B為8mm,片盒的移動(dòng)速度為每秒20毫米,則方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng)為400毫秒。該時(shí)長(zhǎng)為托盤正確的處于槽位中時(shí),方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng)。考慮到實(shí)際應(yīng)用中誤差的存在,可以設(shè)定一個(gè)安全的閾值范圍,例如[380ms,420ms],在這種情況下,若方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng)大于等于380ms,且小于等于420ms,則確定托盤未出現(xiàn)搭邊情況。若方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng)大于420ms,則確定托盤存在搭邊情況。若方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng)小于380ms,則確定方波信號(hào)存在擾動(dòng)。

      在正式檢測(cè)托盤是否搭邊之前,可以預(yù)先進(jìn)行一次校準(zhǔn)掃描,并據(jù)此設(shè)定上述閾值范圍。具體步驟為:

      1、僅在片盒的其中一個(gè)槽位放置有托盤,其余槽位均空置。例如,在自下而上第二個(gè)槽位中放置有托盤。

      2、在片盒上升的過程中,掃描片盒的各個(gè)槽位,并發(fā)出方波信號(hào),該方波信號(hào)在探測(cè)到托盤時(shí)為高電平,在未探測(cè)到托盤時(shí)為低電平。由于片盒中僅有一個(gè)槽位放置有托盤,因此,方波信號(hào)僅具有一個(gè)高電平。

      3、捕捉該高電平的上升沿和下降沿,并分別讀取和保存上升沿和下降沿各自發(fā)生的時(shí)刻所對(duì)應(yīng)的脈沖數(shù);

      4、計(jì)算上升沿和下降沿發(fā)生的時(shí)刻所對(duì)應(yīng)的脈沖數(shù)之差的絕對(duì)值,該絕對(duì)值即為=方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng);

      5、根據(jù)方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng)和實(shí)際誤差設(shè)定上述閾值范 圍。另外,可以將上述上升沿和下降沿各自發(fā)生的時(shí)刻所對(duì)應(yīng)的脈沖數(shù)保存,以用作后續(xù)正式掃描時(shí)的校準(zhǔn)值。在進(jìn)行正式掃描時(shí),通過將當(dāng)前脈沖值與該校準(zhǔn)值進(jìn)行比較,來判斷相應(yīng)的槽位是否存在托盤。

      在本實(shí)施例中,利用控制單元發(fā)送脈沖信號(hào)控制伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)片盒上升或下降。具體地,圖5為利用脈沖信號(hào)控制片盒移動(dòng)的原理框圖。請(qǐng)參閱圖5,控制單元包括PLC和伺服驅(qū)動(dòng)器,其中,PLC用于向伺服驅(qū)動(dòng)器發(fā)送脈沖信號(hào)和電機(jī)旋轉(zhuǎn)方向;伺服驅(qū)動(dòng)器每收到由PLC發(fā)送的一個(gè)脈沖數(shù),就會(huì)驅(qū)動(dòng)伺服電機(jī)旋轉(zhuǎn)一個(gè)固定角度,該固定角度與片盒單次移動(dòng)的預(yù)設(shè)距離相對(duì)應(yīng),從而驅(qū)動(dòng)片盒在豎直方向上移動(dòng)一個(gè)預(yù)設(shè)距離。

      下面對(duì)本發(fā)明提供的檢測(cè)托盤是否搭邊的方法的一個(gè)具體實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)描述。圖6為本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例提供的檢測(cè)托盤是否搭邊的方法的流程框圖。請(qǐng)參閱圖6,檢測(cè)托盤是否搭邊的方法包括以下步驟:

      步驟1,PLC向伺服驅(qū)動(dòng)器發(fā)送脈沖信號(hào)和電機(jī)旋轉(zhuǎn)方向;伺服驅(qū)動(dòng)器每收到由PLC發(fā)送的一個(gè)脈沖數(shù),就會(huì)驅(qū)動(dòng)伺服電機(jī)旋轉(zhuǎn)一個(gè)固定角度,從而驅(qū)動(dòng)片盒自下而上移動(dòng)一個(gè)預(yù)設(shè)距離;同時(shí),在片盒上升的過程中,利用對(duì)射傳感器掃描片盒的各個(gè)槽位。

      步驟2,檢測(cè)方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng),并判斷該時(shí)長(zhǎng)是否小于400ms,若是,則返回步驟1;若否,則進(jìn)入步驟3。

      步驟3,判斷方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng)是否大于400ms,若是,則確定托盤存在搭邊問題;若否,則進(jìn)入步驟4。

      步驟4,讀取PLC當(dāng)前發(fā)出的脈沖值。

      步驟5,判斷該脈沖值是否在第n槽位掃描校準(zhǔn)區(qū)間內(nèi),若否,則確定信號(hào)存在干擾;若是,則進(jìn)入步驟6。

      步驟6,確定第n槽位有片,且不存在搭邊問題。

      步驟7,判斷片盒是否運(yùn)動(dòng)至掃描結(jié)束位置,即,所有的槽位均被掃描,若是,則結(jié)束;若否,返回步驟1。

      綜上所述,本發(fā)明提供的檢測(cè)托盤是否搭邊的方法,其通過檢 測(cè)方波信號(hào)高電平持續(xù)的時(shí)長(zhǎng),并判斷該時(shí)長(zhǎng)是否超出預(yù)設(shè)的閾值范圍來確定托盤是否搭邊,或者為信號(hào)擾動(dòng),即:若未超出預(yù)設(shè)的閾值范圍,則確定托盤未搭邊;若大于閾值范圍,則確定托盤搭邊;若小于閾值范圍,則確定為信號(hào)擾動(dòng)。這樣,不僅可以準(zhǔn)確地判斷槽位是否存在托盤,而不會(huì)受到信號(hào)擾動(dòng)的影響,而且還可以判斷出托盤是否存在搭邊的問題。

      可以理解的是,以上實(shí)施方式僅僅是為了說明本發(fā)明的原理而采用的示例性實(shí)施方式,然而本發(fā)明并不局限于此。對(duì)于本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員而言,在不脫離本發(fā)明的精神和實(shí)質(zhì)的情況下,可以做出各種變型和改進(jìn),這些變型和改進(jìn)也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。

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