本公開內(nèi)容總體上涉及對集成電路進(jìn)行測試的領(lǐng)域。例如，用于汽車應(yīng)用中的集成電路的測試。

背景技術(shù)：

可以在制造過程結(jié)束時對集成電路進(jìn)行測試，以驗證該集成電路的正確操作。例如，可以通過使用集成電路的掃描鏈和位于該集成電路外部的專用機(jī)器，將掃描模式加載到該集成電路的觸發(fā)器中，從而可以驗證該集成電路的輸出。

集成電路還可以由包括該集成電路的裝置測試。例如，計算機(jī)的集成電路可以在該計算機(jī)啟動時被測試?？梢岳缤ㄟ^使用該集成電路的掃描鏈和該計算機(jī)的該集成電路的專用電路裝置，生成掃描模式，并且將掃描模式加載到該集成電路的觸發(fā)器中，并且對該集成電路的輸出進(jìn)行驗證。

集成電路還可以在操作期間發(fā)生故障。例如，單元可以因由于老化、過熱等導(dǎo)致的硬件故障(諸如，晶體管故障、開路/短路、延遲故障)、軟錯誤(諸如，高能粒子)等而發(fā)生故障。因此，集成電路還可以在操作期間周期性地測試。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

在一實施例中，一種裝置包括：數(shù)字電路；掃描鏈，該掃描鏈耦合到該數(shù)字電路；其中在操作中，該掃描鏈將數(shù)據(jù)加載到該數(shù)字電路中、以及將數(shù)據(jù)從該數(shù)字電路卸載；以及校驗電路裝置，該校驗電路裝置耦合到該掃描鏈；其中在操作中，該校驗電路裝置當(dāng)將指示該數(shù)字電路的預(yù)測試狀態(tài)的數(shù)據(jù)經(jīng)由該掃描鏈從該數(shù)字電路卸載時，基于該數(shù)據(jù)，生成第一數(shù)字簽名；當(dāng)將指示該數(shù)字電路的該預(yù)測試狀態(tài)的 該數(shù)據(jù)經(jīng)由該掃描鏈加載到該數(shù)字電路中時，基于該數(shù)據(jù)，生成第二數(shù)字簽名；將該第一數(shù)字簽名與該第二數(shù)字簽名進(jìn)行比較；并且基于該比較，生成控制信號。在一實施例中，該裝置包括存儲器，該存儲器被配置為，存儲指示該數(shù)字電路的該預(yù)測試狀態(tài)的該數(shù)據(jù)。在一實施例中，該裝置包括控制器，該控制器被配置為，對該數(shù)字電路的測試進(jìn)行控制。在一實施例中，在操作中，該校驗電路裝置當(dāng)將指示該數(shù)字電路的該預(yù)測試狀態(tài)的該數(shù)據(jù)卸載時，將特定數(shù)據(jù)模式加載到該掃描鏈中；對該掃描鏈的輸出進(jìn)行掃描，以檢測該特定數(shù)據(jù)模式；并且基于何時檢測到該特定數(shù)據(jù)模式，生成錯誤信號。在一實施例中，該校驗電路裝置包括：第一簽名生成電路，該第一簽名生成電路連接到該掃描鏈的輸出；在操作中，該第一簽名生成電路生成該第一數(shù)字簽名；第二簽名生成電路，該第二簽名生成電路連接到該掃描鏈的輸入；在操作中，該第二簽名生成電路生成該第二數(shù)字簽名；以及比較器，該比較器耦合到該第一簽名生成電路和該第二簽名生成電路；在操作中，該比較器生成該控制信號。在一實施例中，該裝置包括集成電路，該集成電路包括：該數(shù)字電路；該掃描鏈；以及該校驗電路裝置。在一實施例中，該集成電路包括控制器，該控制器被配置為，對該數(shù)字電路的測試進(jìn)行控制。

在一實施例中，一種系統(tǒng)包括：數(shù)字電路裝置，該數(shù)字電路裝置包括：觸發(fā)器；一個或多個掃描鏈；其中在操作中，該一個或多個掃描鏈將數(shù)據(jù)加載到該觸發(fā)器中、以及將數(shù)據(jù)從該觸發(fā)器卸載；以及校驗電路裝置，該校驗電路裝置耦合到該一個或多個掃描鏈；其中在操作中，該校驗電路裝置當(dāng)將指示該觸發(fā)器的預(yù)測試狀態(tài)的數(shù)據(jù)經(jīng)由該一個或多個掃描鏈從該觸發(fā)器卸載時，基于該數(shù)據(jù)，生成第一數(shù)字簽名；當(dāng)將指示該觸發(fā)器的該預(yù)測試狀態(tài)的該數(shù)據(jù)經(jīng)由該一個或多個掃描鏈加載到該數(shù)字電路中時，基于該數(shù)據(jù)，生成第二數(shù)字簽名；將該第一數(shù)字簽名與該第二數(shù)字簽名進(jìn)行比較；以及基于該比較，生成控制信號；以及控制器，該控制器被配置為控制該數(shù)字電路裝置的測試。在一實施例中，該系統(tǒng)包括包括存儲器，該存儲器被配置為，存儲指 示該觸發(fā)器的該預(yù)測試狀態(tài)的該數(shù)據(jù)。在一實施例中，在操作中，該校驗電路裝置當(dāng)將指示該觸發(fā)器的該預(yù)測試狀態(tài)的該數(shù)據(jù)卸載時，將特定數(shù)據(jù)模式加載到該一個或多個掃描鏈中的掃描鏈中；對該一個或多個掃描鏈中的該掃描鏈的輸出進(jìn)行掃描，以檢測該特定數(shù)據(jù)模式；并且基于何時檢測到該特定數(shù)據(jù)模式，生成錯誤信號。在一實施例中，該校驗電路裝置包括：第一簽名生成電路，該第一簽名生成電路連接到該一個或多個掃描鏈的輸出；在操作中，該第一簽名生成電路生成該第一數(shù)字簽名；第二簽名生成電路，該第二簽名生成電路連接到該一個或多個掃描鏈的輸入；在操作中，該第二簽名生成電路生成該第二數(shù)字簽名；以及比較器，該比較器耦合到該第一簽名生成電路和該第二簽名生成電路；在操作中，該比較器生成該控制信號。在一實施例中，該系統(tǒng)包括集成電路，該集成電路包括：該數(shù)字電路裝置；以及該控制器。

在一實施例中，一種系統(tǒng)包括：數(shù)字電路裝置；用于將數(shù)據(jù)加載到該數(shù)字電路裝置中以及將數(shù)據(jù)從該數(shù)字電路裝置卸載的裝置；用于當(dāng)通過用于加載和卸載數(shù)據(jù)的該裝置將指示該數(shù)字電路裝置的預(yù)測試狀態(tài)的數(shù)據(jù)從該數(shù)字電路裝置卸載時、基于該數(shù)據(jù)、生成第一數(shù)字簽名的裝置；用于當(dāng)通過用于加載和卸載數(shù)據(jù)的該裝置將指示該數(shù)字電路裝置的預(yù)測試狀態(tài)的數(shù)據(jù)加載到該數(shù)字電路裝置中時、基于該數(shù)據(jù)、生成第二數(shù)字簽名的裝置；以及用于基于該第一簽名和該第二簽名、生成控制信號的裝置。在一實施例中，該系統(tǒng)包括用于存儲指示該數(shù)字電路裝置的該預(yù)測試狀態(tài)的該數(shù)據(jù)的裝置。在一實施例中，該系統(tǒng)包括：用于當(dāng)將指示該數(shù)字電路裝置的該預(yù)測試狀態(tài)的該數(shù)據(jù)卸載時、將特定數(shù)據(jù)模式加載到用于加載和卸載數(shù)據(jù)的該裝置中的裝置；用于檢測該特定數(shù)據(jù)模式的裝置；以及用于基于何時檢測到該特定數(shù)據(jù)模式、生成錯誤信號的裝置。

在一實施例中，一種方法包括：通過使用掃描鏈，將指示該數(shù)字電路的預(yù)測試狀態(tài)的數(shù)據(jù)從數(shù)字電路卸載；當(dāng)將指示該數(shù)字電路的該預(yù)測試狀態(tài)的該數(shù)據(jù)從該數(shù)字電路卸載時，基于該數(shù)據(jù)，通過使用耦 合到該掃描鏈的輸出的第一簽名生成電路，生成第一數(shù)字簽名；測試該數(shù)字電路；通過使用該掃描鏈，將指示數(shù)字電路的該預(yù)測試狀態(tài)的該數(shù)據(jù)加載到該數(shù)字電路中；當(dāng)將指示該數(shù)字電路的該預(yù)測試狀態(tài)的該數(shù)據(jù)加載到該數(shù)字電路中時，基于該數(shù)據(jù)，通過使用耦合到該掃描鏈的輸入的第二簽名生成電路，生成第二數(shù)字簽名；通過使用比較器，將該第一數(shù)字簽名與該第二數(shù)字簽名進(jìn)行比較；以及基于該第一簽名和該第二簽名，生成控制信號。在一實施例中，該方法包括將指示該數(shù)字電路的該預(yù)測試狀態(tài)的該數(shù)據(jù)存儲在與該數(shù)字電路分開的存儲器中。在一實施例中，該方法包括：當(dāng)將指示該數(shù)字電路裝置的該預(yù)測試狀態(tài)的該數(shù)據(jù)卸載時，將特定數(shù)據(jù)模式加載到該掃描鏈中；對該掃描鏈的該輸出進(jìn)行掃描，以檢測該特定數(shù)據(jù)模式；以及基于何時檢測到該特定數(shù)據(jù)模式，生成錯誤信號。

附圖說明

圖1是包括數(shù)字電路裝置的系統(tǒng)的實施例的功能框圖。

圖2示出測試數(shù)字電路裝置的方法的實施例。

具體實施方式

在以下說明中，闡述某些細(xì)節(jié)，以便提供對裝置、系統(tǒng)、方法和產(chǎn)品的各種實施例的透徹理解。然而，所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員將理解，可以在無這些細(xì)節(jié)的情況下實踐其它實施例。在其它情況下，在一些圖中沒有詳細(xì)示出或者描述與，例如，集成電路，諸如，晶體管、加法器、狀態(tài)機(jī)、存儲器、邏輯門、比較器、總線等，相關(guān)聯(lián)的眾所周知的結(jié)構(gòu)和方法，以避免不必要地使該對實施例的說明難以理解。

除非上下文另有要求，否則在本說明書和隨后權(quán)利要求通篇中，詞語“包括”將解釋為開放包括的意義，即，解釋為“包括(但不限于)”。

在此說明書通篇中提及“一個實施例”意指結(jié)合該實施例描述的特定特征、結(jié)構(gòu)或特性被包括在至少一個實施例中。因此，在此說明 書通篇的各種位置中出現(xiàn)短語“在一個實施例中”未必指代同一實施例或指代全部實施例。此外，該特定特征、結(jié)構(gòu)或特性可以在一個或多個實施例中以任何適當(dāng)?shù)姆绞浇M合以獲得其它實施例。

標(biāo)題僅為方便而提供，并且并不解釋本公開內(nèi)容的范圍或意義。

附圖中元件的大小和相對位置未必按比例繪制。例如，各種元件的形狀和角度未按比例繪制，并且這些元件中的一些元件經(jīng)放大和定位以提高附圖的易辨性。進(jìn)一步，如附圖所繪制的這些元件的特定形狀未必打算傳遞關(guān)于特定元件的實際形狀的任何信息，并且僅為在附圖中容易辨識而被選擇。

參考圖1，系統(tǒng)100包括數(shù)字電路或電路裝置102，諸如集成電路或其部分，在操作中，該數(shù)字電路或電路裝置102處理數(shù)字信號(諸如，在輸入接口104處接收的一個或多個輸入數(shù)字信號)，以在輸出接口106處產(chǎn)生一個或多個輸出信號。數(shù)字電路102還包括一個或多個掃描鏈108，以便以已知方式從數(shù)字電路102的部件(諸如，數(shù)字電路102的一個或多個觸發(fā)器110)加載和卸載數(shù)據(jù)。數(shù)字電路102可以包括，例如，cpu、現(xiàn)場可編程門陣列等。

系統(tǒng)100包括控制器130，該控制器130在操作中向數(shù)字電路102提供信號(諸如，功率、數(shù)據(jù)和控制信號)，并且從數(shù)字電路102接收信號(諸如，功率、數(shù)據(jù)和控制信號)。例如，控制器130可以包括一個或多個處理器p、一個或多個存儲器m和分立電路oc?？刂破?30可以例如是交通工具的控制器，并且數(shù)字電路102可以是數(shù)字控制模塊，該數(shù)字控制模塊在操作中控制該交通工具的一個或多個部件(諸如，自動速度控制模塊等)或者實施汽車的一個或多個功能(諸如，維持警報監(jiān)視等)。如圖示出，控制器130經(jīng)由輸出接口134將一個或多個信號輸出到數(shù)字電路102，并經(jīng)由輸入接口136從數(shù)字電路102接收一個或多個輸入信號。

系統(tǒng)100包括自動測試模式生成器(atpg)112(其如圖所示為解壓類型的)和atpg驗證器114(其如圖所示為壓縮類型的)。數(shù)字電路102具有用以從atpg112接收測試模式的接口116、和用以 將測試結(jié)果輸出到atpg114的接口118。以已知方式，可以通過經(jīng)由掃描鏈108、將來自atpg112的測試模式加載到數(shù)字電路102中(例如，加載到觸發(fā)器中)、并且將測試結(jié)果輸出到atpg驗證器114，來測試數(shù)字電路102。該數(shù)字電路裝置還包括內(nèi)建自測試電路裝置(bist)150。以已知方式，可以通過bist150來測試數(shù)字電路102。例如，可以通過經(jīng)由掃描鏈108、將來自bist150的測試模式加載到數(shù)字電路102中(例如，加載到觸發(fā)器中)、并且將測試結(jié)果輸出到bist150，來測試數(shù)字電路102。系統(tǒng)100還包括存儲器120，該存儲器120可以是隨機(jī)存取存儲器。數(shù)字電路102包括一個或多個多路選擇器122，以有助于從掃描鏈108加載和卸載數(shù)據(jù)。例如，多路選擇器122可以用于選擇是否將來自存儲器120或來自atpg112的數(shù)據(jù)加載到掃描鏈108中，而且多路選擇器122可以用于選擇是否將來自掃描鏈108的數(shù)據(jù)輸出到該存儲器或輸出到atpg驗證器114。數(shù)字電路裝置102可以以兩種操作模式——運行模式和測試模式——來操作。以已知方式，可以緊接在從操作的運行模式切換到測試模式之前，將指示數(shù)字電路裝置102的狀態(tài)的數(shù)據(jù)(例如，指示觸發(fā)器的狀態(tài)的數(shù)據(jù))存儲到存儲器120中；并且可以基于存儲在存儲器120中的指示數(shù)字電路102的狀態(tài)的數(shù)據(jù)，在從操作的測試模式切換到操作的運行模式時，再存儲數(shù)字電路裝置的該狀態(tài)。例如，參見授權(quán)給casarsa的美國專利第8996939號。這可以有助于符合安全標(biāo)準(zhǔn)，該安全標(biāo)準(zhǔn)可能需要在操作期間測試集成電路(例如，周期性地，諸如，每100ms)，同時避免在測試期間破壞該集成電路的狀態(tài)。例如，交通工具(例如，小汽車、摩托車、飛機(jī)、火箭等)可以在該交通工具進(jìn)行操作的同時周期性地進(jìn)行測試。

然而，指示數(shù)字電路102的狀態(tài)的數(shù)據(jù)可能在測試周期期間變?yōu)橛炚`的。例如，軟錯誤(例如，高能粒子可能在不產(chǎn)生硬件故障的情況下，使得系統(tǒng)100的操作訛誤(觸發(fā)器數(shù)據(jù)訛誤、存儲器單元訛誤等))、硬件錯誤、或故障(例如，晶體管故障、開路/短路、延遲故障)等，可以發(fā)生在保存/再存儲路徑中、在加載/卸載過程期間在掃 描鏈中(例如，保持錯誤)、或者在存儲器120內(nèi)部。

數(shù)字電路102包括：一個或多個第一校驗區(qū)塊crc124，其中每個第一校驗區(qū)塊crc124都耦合到掃描鏈108中的一個或多個掃描鏈的輸入；和一個或多個第二校驗區(qū)塊crc126，其中每個第二校驗區(qū)塊crc126都耦合到掃描鏈108中的一個或多個掃描鏈的輸出。如下文參考圖2所述，當(dāng)數(shù)字電路102進(jìn)入操作的測試模式、并且經(jīng)由掃描鏈108輸出指示數(shù)字電路102的狀態(tài)的數(shù)據(jù)、以便存儲在存儲器120中時，第二校驗區(qū)塊126中的一個第二校驗區(qū)塊126基于由該掃描鏈輸出的數(shù)據(jù)，生成輸出簽名。例如，該校驗區(qū)塊126可以在保存過程期間，對該數(shù)據(jù)的完整的長度和寬度實施循環(huán)冗余校驗或校驗和。當(dāng)該測試完成、并且數(shù)字電路102將來自存儲器120的指示數(shù)字電路裝置102的狀態(tài)的數(shù)據(jù)加載到掃描鏈108中時，第一校驗區(qū)塊124中的一個第一校驗區(qū)塊124基于從存儲器120加載到掃描鏈108中的數(shù)據(jù)，生成輸入簽名。例如，該校驗區(qū)塊124可以在再存儲過程期間，對該數(shù)據(jù)的完整的長度和寬度實施循環(huán)冗余校驗或校驗和。比較器128將來自該第一校驗區(qū)塊124的輸入簽名與來自該第二校驗區(qū)塊126的輸出簽名進(jìn)行比較，并且基于該比較，生成控制信號er(例如，如果該輸入簽名和該輸出簽名并不匹配，則生成錯誤信號)。該控制信號er可以提供給控制器130，該控制器130可以基于該控制信號，采取一個或多個動作，諸如，重置數(shù)字電路102、發(fā)起安全協(xié)議的一個或多個動作等。將分別位于該掃描鏈的輸入和輸出處的該第一校驗區(qū)塊和該第二校驗區(qū)塊耦合，有助于在存儲/再存儲過程中對在任何位置引入的錯誤進(jìn)行校驗。例如，可以檢測到在數(shù)據(jù)路徑中在該存儲器外部引入的錯誤。第一校驗區(qū)塊124、第二校驗區(qū)塊126和比較器128，可以包括電路裝置(諸如，緩沖器、觸發(fā)器等)，以生成、存儲和比較在測試過程期間生成的輸出簽名和輸入簽名。例如，用以存儲在保存過程期間生成的輸出簽名以與在對應(yīng)的再存儲過程期間生成的輸入簽名進(jìn)行比較的電路裝置。第一校驗區(qū)塊和第二校驗區(qū)塊124、126和比較器128的電路裝置，可以包括掃描鏈、校驗區(qū)塊和比較器，從 而可以例如以類似于本文中所述的對數(shù)字電路102進(jìn)行測試的方式，來測試第一校驗區(qū)塊和第二校驗區(qū)塊124、126和比較器128。

一些實施例可以采用額外的測試，諸如，在掃描輸出過程期間實施掃描以搜索特定數(shù)據(jù)集、以在該掃描輸出過程期間校驗該掃描鏈的觸發(fā)器之間的保持違規(guī)(例如，由于晶體管、導(dǎo)線等的老化、定時錯誤等而造成的保持違規(guī))，以校驗該掃描鏈中的固定(stuckat)故障等。例如，第一校驗區(qū)塊124可以被配置為，當(dāng)通過掃描鏈輸出數(shù)字電路裝置的狀態(tài)時，將特定數(shù)據(jù)模式加載到該掃描鏈中(例如，該模式在正常操作期間不大可能出現(xiàn)，諸如，具有在數(shù)字電路102的正常操作期間不大可能出現(xiàn)的長度的0或1的串列，諸如，該長度等于該掃描鏈的長度，等等)。第二校驗區(qū)塊126或比較器128可以被配置為，驗證：指示該數(shù)字電路裝置的狀態(tài)的數(shù)據(jù)，在預(yù)期時間處，跟隨有預(yù)期的特定數(shù)據(jù)模式。如果太早檢測到該特定模式，則已經(jīng)出現(xiàn)保持錯誤，并且可能生成錯誤信號。在一些實施例中，可以將模式的串列用于校驗該掃描鏈中的固定特定數(shù)值(諸如，1的串列、跟隨有0的串列，或反之亦然等)的觸發(fā)器。

雖然圖1的實施例將系統(tǒng)100的各種功能塊示出為單獨存在的塊，但是這些功能塊可以各種方式劃分開或組合。例如，存儲器120、atpg112、atpg驗證器114和/或控制器130的全部或部分，可以并入到數(shù)字電路102中，可以組合比較器128和第一校驗區(qū)塊124，等等。系統(tǒng)100可以包括集成電路，該集成電路包括數(shù)字電路102、存儲器120、atpg112、atpg驗證器114和控制器130中的一個或多個。為便于圖解，已示出了簡單的傳送機(jī)構(gòu)。一些實施例可以采用更復(fù)雜的傳送機(jī)構(gòu)，例如同步橋等。

系統(tǒng)100的實施例可以包括額外的部件，可能不包括全部所示出部件等及其各種組合。例如，系統(tǒng)100的一些實施例可以包括顯示器以顯示錯誤消息，一些實施例可以采用額外的掃描鏈、校驗區(qū)塊和比較器(諸如例如，在控制器130中)等及其各種組合。

圖2示出對數(shù)字電路裝置(諸如，集成電路)進(jìn)行測試的方法200 的實施例，為方便起見其將參考圖1的系統(tǒng)100描述。該方法在動作202處開始，并且進(jìn)行到動作204。在動作204處，系統(tǒng)100確定是否進(jìn)入數(shù)字電路102的操作的測試模式。例如，系統(tǒng)100可以周期性地進(jìn)行對數(shù)字電路102的測試，并且可以基于定時器或計數(shù)器確定進(jìn)入操作的測試模式。

當(dāng)確定進(jìn)入操作的測試模式時，方法200從動作204進(jìn)行到動作206。否則，方法200返回到動作204。在動作206處，系統(tǒng)100經(jīng)由掃描鏈108卸載數(shù)字電路102的狀態(tài)，以便存儲到存儲器120中，并且同時，當(dāng)數(shù)字電路102的狀態(tài)從掃描鏈108被卸載時，基于該狀態(tài)，生成第一簽名。例如，數(shù)字電路裝置102的狀態(tài)可以通過經(jīng)由掃描鏈108輸出指示狀態(tài)的數(shù)據(jù)(諸如，指示觸發(fā)器110的狀態(tài)的數(shù)據(jù))來存儲，以便存儲在存儲器120中，而同時，在卸載該數(shù)據(jù)時，基于該數(shù)據(jù)由第二校驗電路裝置crc126在數(shù)字電路102中生成第一簽名。方法200從動作206進(jìn)行到動作208。

在動作208處，方法200執(zhí)行數(shù)字電路102的測試。例如，以已知方式，通過使用掃描鏈108，可以將掃描模式加載到數(shù)字電路裝置102中，并且輸出對應(yīng)結(jié)果，并且該結(jié)果可以然后例如由atpg驗證器114、bist150和/或控制器130進(jìn)行分析。該測試的執(zhí)行可以例如由atpg112、bist150和/或控制器130控制。

方法200從動作208進(jìn)行到動作210。在動作210處，系統(tǒng)100通過取回存儲在存儲器120中的數(shù)據(jù)、并且經(jīng)由掃描鏈108將該數(shù)據(jù)加載到數(shù)字電路中，來再存儲數(shù)字電路102的狀態(tài)。當(dāng)該數(shù)據(jù)加載到掃描鏈108中時，第一校驗區(qū)塊124基于該數(shù)據(jù)，生成第二簽名。方法200從動作210進(jìn)行到動作212。

在動作212時，系統(tǒng)100確定該第一簽名和該第二簽名是否匹配。例如，比較器128可以比較該第一簽名和該第二簽名。當(dāng)在動作212處確定該第一簽名和該第二簽名匹配時，方法200從動作212進(jìn)行到動作204。當(dāng)在動作212處確定該簽名并不匹配時，方法200從動作212進(jìn)行到動作214，其中進(jìn)行錯誤處理，諸如例如，生成指示已在 再存儲過程期間檢測到錯誤的控制信號。

測試數(shù)字電路裝置的方法的實施例可以包括圖2中未顯示的額外的動作，可能不包括圖2中所示的全部動作，可按各種次序?qū)嵤﹫D2中所示的動作，并且可以在各種方面進(jìn)行修改。例如，特定掃描模式可以在動作210之后加載到該掃描鏈中，以校驗該掃描鏈中的保持錯誤或固定錯誤。

一些實施例可以采取計算機(jī)程序產(chǎn)品的形式或包括計算機(jī)程序產(chǎn)品。例如，根據(jù)一個實施例，提供一種計算機(jī)可讀介質(zhì)，包括適于實施上述方法或功能中的一個或多個的計算機(jī)程序。該介質(zhì)可以是物理存儲介質(zhì)，諸如例如，只讀存儲器(rom)芯片，或者光盤或磁盤，諸如，數(shù)字通用光盤(dvd-rom)、壓縮光盤(cd-rom)、硬盤，存儲器，網(wǎng)絡(luò)，或者將由適當(dāng)驅(qū)動或經(jīng)由適當(dāng)連接讀取的便攜式介質(zhì)產(chǎn)品，包括編碼成一個或多個條形碼或者其它相關(guān)代碼、存儲在一個或多個這種計算機(jī)可讀介質(zhì)上并且可以由適當(dāng)讀取器裝置讀取。

此外，在一些實施例中，這些方法和/或功能中的一些或全部可以其它方式實施或提供，諸如，至少部分地在固件和/或硬件中，包括但不限于，一個或多個專用集成電路(asic)、數(shù)字信號處理器、分立電路裝置、邏輯門、標(biāo)準(zhǔn)集成電路、控制器(例如，通過執(zhí)行適當(dāng)指令，并且包括微控制器和/或嵌入式控制器)、現(xiàn)場可編程門陣列(fpga)、復(fù)雜可編程邏輯裝置(cpld)等、以及采用rfid技術(shù)的裝置、及其各種組合。例如，數(shù)據(jù)在其從掃描鏈加載/卸載時的校驗可以在硬件中實施，并且對錯誤的指示的響應(yīng)可以使用軟件實施。

上述各種實施例可以組合以提供進(jìn)一步的實施例。這些實施例的各個方面可以視需要修改以采用各種專利、申請案和公開案的概念，以便提供再進(jìn)一步實施例。

通常，在隨附權(quán)利要求書中，所使用的術(shù)語不應(yīng)解釋為將這些權(quán)利要求限于在說明書和權(quán)利要求書中公開的特定實施例，而是應(yīng)解釋為包括所有可能實施例以及這些權(quán)利要求所授權(quán)的等同物的完整范圍。因此，權(quán)利要求書不限于本公開。