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      一種探測(cè)石膏板下面介質(zhì)的電路及方法與流程

      文檔序號(hào):11825607閱讀:297來(lái)源:國(guó)知局

      本發(fā)明涉及一種探測(cè)石膏板下面介質(zhì)的電路及方法。



      背景技術(shù):

      介質(zhì)探測(cè)器,作為一種產(chǎn)品,早已經(jīng)上市很多年。其核心部件是由平行板電容器(參考美國(guó)期滿專利:US4099118)構(gòu)成的探測(cè)傳感器。當(dāng)平行板電容器之間的電介質(zhì)發(fā)生變化時(shí),平行板電容器的容值會(huì)發(fā)生變化,可以根據(jù)這個(gè)變化可以判斷介質(zhì)的存在情況?,F(xiàn)有技術(shù)方法都是采用頻率固定的探測(cè)信號(hào)施加到傳感器上。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      本發(fā)明的目的是提供一種探測(cè)石膏板下面介質(zhì)的電路及方法。

      本發(fā)明采用以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):一種探測(cè)石膏板下面介質(zhì)的電路,其包括MCU、傳感器、電位器、第一電阻、第二電阻、第一波形整形電路、第二波形整形電路、第一相位差電路、第二相位差電路、第一倒相電路、第二倒相電路、第一RC濾波電路、第二RC濾波電路、第一差分運(yùn)放電路、第二差分運(yùn)放電路、第一二階RC濾波電路、第二二階RC濾波電路、第一差分運(yùn)放電路、第二差分運(yùn)放電路、第一緩沖電路及第二緩沖電路; 所述傳感器由一組PCB銅箔構(gòu)成,即由兩片形狀相同的銅箔構(gòu)成,將兩片稱為左右極板;所述MCU提供一頻率固定的驅(qū)動(dòng)信號(hào)ClK,所述驅(qū)動(dòng)信號(hào)ClK接所述電位器的可調(diào)端;電位器的一端經(jīng)第一電阻連接至左極板形成第一RC充放電路,電位器的另一端經(jīng)第二電阻連接至右極板形成第二RC充放電路;第一RC充放電路接第一波形整形電路后輸出第一方波信號(hào);第二RC充放電路接第二波形整形電路后輸出第二方波信號(hào);第一方波信號(hào)接第一波形比較電路的一輸入,第一波形比較電路的另一輸入接驅(qū)動(dòng)信號(hào)ClK,第一波形比較電路輸出接第一相位差信號(hào);第二方波信號(hào)接第二波形比較電路的一輸入,第二波形比較電路的另二輸入接驅(qū)動(dòng)信號(hào)ClK,第二波形比較電路輸出接第二相位差信號(hào);第一相位差信號(hào)經(jīng)第一倒相電路接第一RC濾波電路再接入第一差分運(yùn)放電路的一輸入;第二相位差信號(hào)經(jīng)第二倒相電路接第二RC濾波電路再接入第二差分運(yùn)放電路的一輸入;所述MCU輸出第一PWM參考比較信號(hào)CAL_WD1、第二PWM參考比較信號(hào)CAL_WD2;CAL_WD1接第一二階RC濾波電路,濾波后的信號(hào)經(jīng)第一緩沖電路接入第一差分運(yùn)放電路的另一輸入;第一差分運(yùn)放電路的輸出經(jīng)第一差分運(yùn)放電路差分運(yùn)放輸出WD1,WD1接MCU的一采樣端;CAL_WD2第二二階RC濾波電路,濾波后的信號(hào)經(jīng)第二緩沖電路接入第二差分運(yùn)放電路的另一輸入;第二差分運(yùn)放電路的輸出經(jīng)第二差分運(yùn)放電路差分運(yùn)放輸出WD2,WD2接MCU的另一采樣端,其中第一電阻及第二電阻具有相同阻值。

      一種探測(cè)石膏板下面介質(zhì)的方法,其包括以下步驟:S01:提供一傳感器,該傳感器由一組PCB銅箔構(gòu)成,即由兩片形狀相同的銅箔構(gòu)成,將其定義為左、右極板;S02:所述驅(qū)動(dòng)信號(hào)ClK接一電位器的可調(diào)端;電位器的一端經(jīng)第一電阻連接至左極板輸出第一RC充放電信號(hào),電位器的另一端經(jīng)第二電阻連接至右極板輸出第二RC充放電信號(hào);第一電阻及第二電阻具有相同阻值;S03:提供兩個(gè)波形整形電路,用于把S02中所產(chǎn)生的兩組RC充放電信號(hào)整形成兩組方波信號(hào);S04:提供兩個(gè)波形比較電路,用于把S03步驟中輸出的兩組方波信號(hào)分別與S02中的CLK信號(hào)進(jìn)行邏輯與操作,用來(lái)實(shí)現(xiàn)兩組相位差信號(hào)的產(chǎn)生;S05:提供兩個(gè)倒相電路,用于把S04產(chǎn)生的兩組相位差信號(hào)進(jìn)行倒相操作;S06:提供兩個(gè)RC 濾波電路,對(duì)S05 產(chǎn)生的兩組信號(hào)進(jìn)行濾波和整形,使之成為直流信號(hào);S07:對(duì)S06產(chǎn)生的兩組直流信號(hào)進(jìn)行適當(dāng)倍數(shù)的放大和輸出阻抗的轉(zhuǎn)換;S08:提供兩路PWM參考比較信號(hào)CAL_WD1,CAL_WD2,兩路PWM信號(hào)的占空比由所述MCU控制;S09:提供兩路二階RC 濾波電路及兩路運(yùn)放緩沖電路;二階RC濾波電路用于將CAL_WD1,CAL_WD2的兩路PWM信號(hào)整流成直流信號(hào);兩路運(yùn)放緩沖電路用于將CAL_WD1,CAL_WD2整流后的直流信號(hào)進(jìn)行阻抗變換;S10:提供兩組差分信號(hào)放大電路,用于S09輸出的信號(hào)分別與S07輸出的信號(hào)進(jìn)行信號(hào)差運(yùn)算,然后再對(duì)差分信號(hào)進(jìn)行放大得到兩組差分放大電路;S11:用MCU 采樣S10輸出的兩組差分放大信號(hào),對(duì)兩路信號(hào)進(jìn)行分析,如果一開(kāi)始WD1>WD2, 當(dāng)檢測(cè)到WD2 < WD1時(shí),則認(rèn)為檢測(cè)到中心;如果一開(kāi)始WD2>WD1, 當(dāng)檢測(cè)到WD1 < WD2時(shí),則認(rèn)為檢測(cè)到中心。

      與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明提供探測(cè)中心的電路具有較強(qiáng)的拓展性,且電路更簡(jiǎn)潔方便于大批量生產(chǎn);本發(fā)明提供的探測(cè)方法,具有簡(jiǎn)潔,穩(wěn)定,抗干擾強(qiáng)等特點(diǎn)。

      附圖說(shuō)明

      圖1位本發(fā)明一實(shí)施例的電路原理圖。

      具體實(shí)施方式

      下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步解釋說(shuō)明。

      本發(fā)明提供一種探測(cè)石膏板下面介質(zhì)的電路,其包括MCU、傳感器、電位器、第一電阻、第二電阻、第一波形整形電路、第二波形整形電路、第一相位差電路、第二相位差電路、第一倒相電路、第二倒相電路、第一RC濾波電路、第二RC濾波電路、第一差分運(yùn)放電路、第二差分運(yùn)放電路、第一二階RC濾波電路、第二二階RC濾波電路、第一差分運(yùn)放電路、第二差分運(yùn)放電路、第一緩沖電路及第二緩沖電路; 所述傳感器由一組PCB銅箔構(gòu)成,即由兩片形狀相同的銅箔構(gòu)成,將兩片稱為左右極板;所述MCU提供一頻率固定的驅(qū)動(dòng)信號(hào)ClK,所述驅(qū)動(dòng)信號(hào)ClK接所述電位器的可調(diào)端;電位器的一端經(jīng)第一電阻連接至左極板形成第一RC充放電路,電位器的另一端經(jīng)第二電阻連接至右極板形成第二RC充放電路;第一RC充放電路接第一波形整形電路后輸出第一方波信號(hào);第二RC充放電路接第二波形整形電路后輸出第二方波信號(hào);第一方波信號(hào)接第一波形比較電路的一輸入,第一波形比較電路的另一輸入接驅(qū)動(dòng)信號(hào)ClK,第一波形比較電路輸出接第一相位差信號(hào);第二方波信號(hào)接第二波形比較電路的一輸入,第二波形比較電路的另二輸入接驅(qū)動(dòng)信號(hào)ClK,第二波形比較電路輸出接第二相位差信號(hào);第一相位差信號(hào)經(jīng)第一倒相電路接第一RC濾波電路再接入第一差分運(yùn)放電路的一輸入;第二相位差信號(hào)經(jīng)第二倒相電路接第二RC濾波電路再接入第二差分運(yùn)放電路的一輸入;所述MCU輸出第一PWM參考比較信號(hào)CAL_WD1、第二PWM參考比較信號(hào)CAL_WD2;CAL_WD1接第一二階RC濾波電路,濾波后的信號(hào)經(jīng)第一緩沖電路接入第一差分運(yùn)放電路的另一輸入;第一差分運(yùn)放電路的輸出經(jīng)第一差分運(yùn)放電路差分運(yùn)放輸出WD1,WD1接MCU的一采樣端;CAL_WD2第二二階RC濾波電路,濾波后的信號(hào)經(jīng)第二緩沖電路接入第二差分運(yùn)放電路的另一輸入;第二差分運(yùn)放電路的輸出經(jīng)第二差分運(yùn)放電路差分運(yùn)放輸出WD2,WD2接MCU的另一采樣端,其中第一電阻及第二電阻具有相同阻值。

      本發(fā)明一實(shí)施例的電路原理圖參見(jiàn)圖1。

      所述第一波形整形電路、第二波形整形電路均為一與非門(mén)。所述第一相位差電路、第二相位差電路均為一與非門(mén)電路。較佳實(shí)施例中采用高速CMOS四二輸入與非門(mén)74HC132。

      所述第一倒相電路、第二倒相電路均包括第一至第四二極管、一電阻及一電容;其中第一二極管陽(yáng)極接第一波形整形電路或第二波形整形電路輸出;第一二極管陰極分別接所述電容一端、所述電阻一端;電容另一端分別接第二二極管陽(yáng)極、第四二極管陰極;第二二極管陰極接第一RC濾波電路一端或第二RC濾波電路一端;電阻另一端接第三二極管陽(yáng)極;第三二極管陰極接接第四二極管陽(yáng)極;第四二極管陽(yáng)極接第一RC濾波電路另一端或第二RC濾波電路另一端。較佳實(shí)施例中采用1N4148二極管。

      較佳實(shí)施例中差分運(yùn)放電路采用TL064實(shí)現(xiàn)。

      在實(shí)際應(yīng)用中,還包括與所述MCU連接的外圍設(shè)備,所述外圍設(shè)備包括鍵盤(pán)、顯示裝置及電源。

      本發(fā)明涉及一種探測(cè)不同深度介質(zhì)的方法。該方法:首先,提供一傳感器,該傳感器由一組PCB銅箔構(gòu)成,即由兩片形狀完全一樣的PCB銅箔構(gòu)成左右極板。其次,提供一探測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)ClK,施加至所述左右極板上。使得左右極板與大地之間形成電磁場(chǎng);再而,提供一波形整形以及相位差產(chǎn)生電路,使得每個(gè)極板可以產(chǎn)生相對(duì)于自身驅(qū)動(dòng)信號(hào)的相位差。然后又提供一個(gè)倒相電路,實(shí)現(xiàn)波形倒置,以利于對(duì)微小的信號(hào)進(jìn)行濾波和放大。MCU通過(guò)采樣兩個(gè)極板的直流電壓信號(hào)。如果左極板信號(hào)強(qiáng)度大于右極板,則一起左移動(dòng),可以由此在顯示器上顯示出移動(dòng)方向。反之,向右移動(dòng)。理論上,當(dāng)儀器到達(dá)介質(zhì)的中心時(shí),左右極板的信號(hào)應(yīng)該相等。但是這個(gè)狀態(tài)不是非常穩(wěn)定,如果采用這個(gè)方法,將會(huì)使得中心號(hào)不穩(wěn)定。因此本發(fā)明采取判斷信號(hào)反轉(zhuǎn)時(shí)刻和判斷兩路信號(hào)差的絕對(duì)值的方法,判斷中心信號(hào)是否真來(lái)到。如果兩路信號(hào)強(qiáng)度突然增強(qiáng)到大于系統(tǒng)的閥值。此時(shí)MCU會(huì)不停的計(jì)算左右極板信號(hào)的差值的絕對(duì)值和不停的判斷移動(dòng)方向是否改變。如果某個(gè)時(shí)刻,移動(dòng)方向突然改變,則此時(shí)可以認(rèn)為找到中心,需要立即將中心信息顯示出來(lái)。如果差值的絕對(duì)值突然小于設(shè)計(jì)值,則可以大概判斷此時(shí)儀器就在中心附近,在誤差允許的范圍內(nèi),可以在顯示器上更新中心顯示信息。

      這里遇到一個(gè)問(wèn)題,當(dāng)我們采用同一靈敏度進(jìn)行不同厚度物質(zhì)探測(cè)時(shí),如果被測(cè)表面比較薄,那么此時(shí)大靈敏度會(huì)造成誤差指標(biāo)偏大,并且測(cè)試過(guò)程中,因?yàn)殪`敏度過(guò)高,系統(tǒng)的抗干擾能力會(huì)變差。此時(shí)如果想得到好的測(cè)試效果,必須盡可能降低硬件靈敏度。由以上描述可知,我們可以通過(guò)不同的PWM占空比實(shí)現(xiàn)不同的靈敏度。方法就簡(jiǎn)單,可靠,并且可以避免線性放大器的一些弊端。實(shí)際操作過(guò)程效果更好一點(diǎn)。

      具體包括以下步驟:

      S01:提供一傳感器,該傳感器由一組PCB銅箔構(gòu)成,即由兩片形狀相同的銅箔構(gòu)成,將其定義為左、右極板;

      S02:所述驅(qū)動(dòng)信號(hào)ClK接一電位器的可調(diào)端;電位器的一端經(jīng)第一電阻連接至左極板輸出第一RC充放電信號(hào),電位器的另一端經(jīng)第二電阻連接至右極板輸出第二RC充放電信號(hào);第一電阻及第二電阻具有相同阻值;

      S03:提供兩個(gè)波形整形電路,用于把S02中所產(chǎn)生的兩組RC充放電信號(hào)整形成兩組方波信號(hào);

      S04:提供兩個(gè)波形比較電路,用于把S03步驟中輸出的兩組方波信號(hào)分別與S02中的CLK信號(hào)進(jìn)行邏輯與操作,用來(lái)實(shí)現(xiàn)兩組相位差信號(hào)的產(chǎn)生;

      S05:提供兩個(gè)倒相電路,用于把S04產(chǎn)生的兩組相位差信號(hào)進(jìn)行倒相操作;

      S06:提供兩個(gè)RC 濾波電路,對(duì)S05 產(chǎn)生的兩組信號(hào)進(jìn)行濾波和整形,使之成為直流信號(hào);

      S07:對(duì)S06產(chǎn)生的兩組直流信號(hào)進(jìn)行適當(dāng)倍數(shù)的放大和輸出阻抗的轉(zhuǎn)換;

      S08:提供兩路PWM參考比較信號(hào)CAL_WD1,CAL_WD2,兩路PWM信號(hào)的占空比由所述MCU控制;

      S09:提供兩路二階RC 濾波電路及兩路運(yùn)放緩沖電路;二階RC濾波電路用于將CAL_WD1,CAL_WD2的兩路PWM信號(hào)整流成直流信號(hào);兩路運(yùn)放緩沖電路用于將CAL_WD1,CAL_WD2整流后的直流信號(hào)進(jìn)行阻抗變換;

      S10:提供兩組差分信號(hào)放大電路,用于S09輸出的信號(hào)分別與S07輸出的信號(hào)進(jìn)行信號(hào)差運(yùn)算,然后再對(duì)差分信號(hào)進(jìn)行放大得到兩組差分放大電路;

      S11:用MCU 采樣S10輸出的兩組差分放大信號(hào),對(duì)兩路信號(hào)進(jìn)行分析,如果一開(kāi)始WD1>WD2, 當(dāng)檢測(cè)到WD2 < WD1時(shí),則認(rèn)為檢測(cè)到中心;如果一開(kāi)始WD2>WD1, 當(dāng)檢測(cè)到WD1 < WD2時(shí),則認(rèn)為檢測(cè)到中心。

      當(dāng)探測(cè)厚度比較薄時(shí),需要降低探測(cè)靈敏度,以降低電路的靈敏度,實(shí)現(xiàn)更好的抗干擾性能和探測(cè)精度,此時(shí)參考信號(hào)電平需要高一點(diǎn),PWM占空比需要大一些。當(dāng)探測(cè)厚度比較厚時(shí),此時(shí)需要提高系統(tǒng)靈敏度,PWM占空比需要小一些。此時(shí)系統(tǒng)靈敏度會(huì)更好。

      以上是本發(fā)明的較佳實(shí)施例,凡依本發(fā)明技術(shù)方案所作的改變,所產(chǎn)生的功能作用未超出本發(fā)明技術(shù)方案的范圍時(shí),均屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。

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