技術(shù)特征：

1.一種微波探測(cè)系統(tǒng)，其特征在于包括多鐵異質(zhì)結(jié)和硅基共面波導(dǎo)，所述硅基共面波導(dǎo)上設(shè)置多鐵異質(zhì)結(jié)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種微波探測(cè)系統(tǒng)，其特征在于所述多鐵異質(zhì)結(jié)為鐵磁金屬薄膜和鐵電單晶進(jìn)行層狀復(fù)合而成的多鐵異質(zhì)結(jié)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述微波探測(cè)系統(tǒng)的探測(cè)方法，其特征在于包括如下步驟：

對(duì)微波探測(cè)系統(tǒng)施加外電場(chǎng)E，并進(jìn)行電場(chǎng)控制調(diào)節(jié)標(biāo)定，建立外電場(chǎng)E與共振頻率的一一對(duì)應(yīng)關(guān)系f(E)＝γ(H₀+kE)，其中H₀為外加靜磁場(chǎng)強(qiáng)度，γ為電子旋磁比，E為外電場(chǎng)的電場(chǎng)強(qiáng)度，k為線性系數(shù)，然后對(duì)微波探測(cè)系統(tǒng)施加未知微波；

獲取微波頻率的步驟，對(duì)已施加未知微波的微波探測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行電場(chǎng)掃描，獲得出現(xiàn)微波功率吸收峰處的電場(chǎng)強(qiáng)度E₁，根據(jù)外電場(chǎng)E與共振頻率的對(duì)應(yīng)關(guān)系f(E₁)＝γ(H₀+k E₁)，獲得被探測(cè)微波的頻率f(E₁)；

獲取微波方向的步驟，對(duì)已施加未知微波的微波探測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行電場(chǎng)掃描，獲得出現(xiàn)微波功率吸收峰處的電場(chǎng)強(qiáng)度E₁，構(gòu)建外電場(chǎng)E與共振頻率的關(guān)系f(E₁)＝γ(H₀+kE)sinθ，θ為未知微波入射方向與總磁場(chǎng)H方向的夾角，即獲得微波方向；

獲取微波相位的步驟，對(duì)已施加未知微波的微波探測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行電阻測(cè)量，所述電阻測(cè)量為測(cè)量鐵磁薄膜的電阻；獲得電阻的相位變化，微波相位與電阻變化相位一致，即獲得微波相位。