本發(fā)明屬于模組技術領域，具體涉及一種背光模組質量檢測裝置。

背景技術：

背光模組(Back Light Unit)是液晶顯示器(LCD)光源的提供者，背光模組光源的表現便決定了顯示器的視覺感。液晶顯示器在亮度，色度方面的要求越來越苛刻，并對背光模組的整體性價比要求也越來越高，背光模組必須向低電力消耗，高亮度，及高均勻性的方向發(fā)展，以符合業(yè)界要求。

現有技術的背光模組質量檢測，破壞性手段分析過程不可逆，耗費的成本較高，對背光模組造成的傷害不可逆，浪費資源，因此，需要一種無損檢測。

技術實現要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種背光模組質量檢測裝置，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發(fā)明提供如下技術方案：一種背光模組質量檢測裝置，包括基座和超生波裝置，所述基座上面設有支撐架，所述超聲波裝置通過連接架與支撐架固定連接，所述超聲波裝置與PLC控制器電性連接，所述超聲波裝置包括超聲波脈沖發(fā)生器、核心控制芯片、超聲發(fā)射器、超聲接收器和超聲波探頭，所述超聲波脈沖發(fā)生器設置在核心控制芯片上，所述超聲波脈沖發(fā)生器與核心控制芯片電性連接，所述超聲發(fā)射器和超聲接收器分別設置在核心控制芯片的左側和右側，所述超聲發(fā)射器的輸出端與核心控制芯片的輸入端電性連接，所述超聲接收器的輸入端與核心控制芯片的輸出端電性連接，所述超聲波探頭設置在核心控制芯片的下端，所述超聲波探頭與核心控制芯片電性連接，所述超聲波裝置下面設有旋轉操作臺，所述旋轉操作臺通過旋轉軸與基座轉動連接，所述旋轉軸通過聯(lián)軸器與第一電機轉動連接，所述支撐架內部設有自動伸縮桿，所述左自動伸縮桿通過聯(lián)軸器與第二電機活動連接，所述右自動伸縮桿通過聯(lián)軸器與第三電機活動連接，所述基座一側設有PLC控制器，所述基座另一側設有成像顯示屏，所述PLC控制器與左支撐架之間設有聲光報警裝置，所述PLC控制器與聲光報警裝置電性連接。

優(yōu)選的，所述基座與支撐架通過螺母固定連接。

優(yōu)選的，所述超聲波探頭包括晶片、吸收快和配位電阻，所述晶片設置在吸收快和配位電阻之間。

優(yōu)選的，所述聲光報警裝置包括報警燈和發(fā)聲器。

優(yōu)選的，所述核心控制芯片為FPGA核心控制芯片。

本發(fā)明的技術效果和優(yōu)點：該背光模組質量檢測裝置，通過超聲波裝置對背光模組進行無損檢測，將超聲接收器所探的信號通過核心控制芯片傳到PLC控制器內，再將信號輸入到成像顯示屏上，從而做到質量檢測，若符合檢測標準，聲光報警裝置則不會自動報警，若是不合格品則聲光報警裝置則會自動報警，該發(fā)明，操作簡單，自動成像，檢測快捷方便，具有較好的市場價值。

附圖說明

圖1為本發(fā)明的結構示意圖；

圖2為本發(fā)明的超聲波探頭結構示意圖；

圖3為本發(fā)明的控制電路原理示意圖；

圖4為本發(fā)明的超聲波裝置控制電路原理示意圖。

圖中：1基座、2支撐架、3自動伸縮桿、4超聲波裝置、41超聲波脈沖發(fā)生器、42核心控制芯片、43超聲發(fā)射器、44超聲接收器、45超聲波探頭、451晶片、452吸收快、453配位電阻、5旋轉軸、6旋轉操作臺、7第一電機、8第二電機、9第三電機、10 PLC控制器、11聲光報警裝置、12成像顯示屏。

具體實施方式

下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

本發(fā)明提供了如圖1-4所示的一種背光模組質量檢測裝置，包括基座1和超生波裝置4，所述基座1上面設有支撐架2，所述超聲波裝置4通過連接架與支撐架2固定連接，所述超聲波裝置4與PLC控制器10電性連接，所述超聲波裝置4包括超聲波脈沖發(fā)生器41、核心控制芯片42、超聲發(fā)射器43、超聲接收器44和超聲波探頭45，所述超聲波脈沖發(fā)生器41設置在核心控制芯片42上，所述超聲波脈沖發(fā)生器41與核心控制芯片42電性連接，所述超聲發(fā)射器43和超聲接收器44分別設置在核心控制芯片42的左側和右側，所述超聲發(fā)射器43的輸出端與核心控制芯片42的輸入端電性連接，所述超聲接收器44的輸入端與核心控制芯片42的輸出端電性連接，所述超聲波探頭45設置在核心控制芯片42的下端，所述超聲波探頭45與核心控制芯片42電性連接，所述超聲波裝置4下面設有旋轉操作臺6，所述旋轉操作臺6通過旋轉軸5與基座1轉動連接，所述旋轉軸5通過聯(lián)軸器與第一電機7轉動連接，所述支撐架2內部設有自動伸縮桿3，所述左自動伸縮桿3通過聯(lián)軸器與第二電機8活動連接，所述右自動伸縮桿3通過聯(lián)軸器與第三電機9活動連接，所述基座1一側設有PLC控制器10，所述基座1另一側設有成像顯示屏12，所述PLC控制器10與左支撐架2之間設有聲光報警裝置11，所述PLC控制器10與聲光報警裝置11電性連接。

進一步地，所述基座1與支撐架2通過螺母固定連接。

進一步地，所述超聲波探頭45包括晶片451、吸收快452和配位電阻453，所述晶片451設置在吸收快452和配位電阻453之間。

進一步地，所述聲光報警裝置11包括報警燈和發(fā)聲器。

進一步地，所述核心控制芯片42為FPGA核心控制芯片。

該背光模組質量檢測裝置，通過超聲波裝置4對背光模組進行無損檢測，將超聲接收器44所探的信號通過核心控制芯片42傳到PLC控制器10內，再將信號輸入到成像顯示屏12上，從而做到質量檢測，若符合檢測標準，聲光報警裝置11則不會自動報警，若是不合格品則聲光報警裝置11則會自動報警，該發(fā)明，操作簡單，自動成像，檢測快捷方便，具有較好的市場價值。

最后應說明的是：以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，盡管參照前述實施例對本發(fā)明進行了詳細的說明，對于本領域的技術人員來說，其依然可以對前述各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分技術特征進行等同替換,凡在本發(fā)明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內。