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      電容式差分隔離器的失配校準(zhǔn)的制作方法

      文檔序號:11062964閱讀:725來源:國知局
      電容式差分隔離器的失配校準(zhǔn)的制造方法與工藝

      本發(fā)明一般涉及電容差分隔離器的失配校準(zhǔn)。

      要求低功耗,高速隔離通信需要在溝通渠道架構(gòu)的創(chuàng)新。作為電隔離使用電容器在可提高性能,降低外形,并減少溝通渠道的成本上起著主導(dǎo)作用。

      雖然他們應(yīng)用于差分驅(qū)動的隔離器系統(tǒng)中,電容器不是固有的差分設(shè)備。因此,為了從接收器分離發(fā)射器,和從發(fā)送器到接收器發(fā)送差分信號,電容差隔離器至少需要兩個電容器。

      當(dāng)從發(fā)射器向接收器發(fā)射差分信號時,期望電容差隔離器保持噪聲和干擾免疫。如果電容差隔離器的差分路徑之間具有阻抗失配,電容性隔離勢壘的免疫性能和信號完整性得到顯著降解。由于阻抗失配,共模干擾被轉(zhuǎn)換為意想不到的差分信號。這些意外的差分信號不能從預(yù)期的差分信號區(qū)分開,因此不能被過濾掉。因此,無論是有意和無意的差分信號都發(fā)送到接收器。

      由于阻抗失配對通信信道的性能具有顯著的負(fù)面影響,本發(fā)明人認(rèn)識到在本領(lǐng)域中需要在電容差隔離器中校準(zhǔn)阻抗失配。

      附圖說明

      圖1示出了根據(jù)本公開內(nèi)容的實施例的差分分離系統(tǒng)。

      圖2示出了根據(jù)本公開的一個實施例的電容差分隔離器系統(tǒng)。

      圖3示出了根據(jù)本公開的一個實施例的電容差分隔離器系統(tǒng)。

      圖4A-4C示出了根據(jù)本公開內(nèi)容的各種實施例的開關(guān)實現(xiàn)。

      圖5示出了根據(jù)本公開的一個實施例的測試接收器的框圖。

      圖6示出了根據(jù)本公開的一個實施例的測試接收器的電路圖。

      圖7是描繪根據(jù)本公開的實施例進行校準(zhǔn)的電容差隔離器系統(tǒng)的方法的流程圖。

      具體實施方式

      本公開的實施例可以提供一種校準(zhǔn)隔離器系統(tǒng)的方法。該方法可以包括:驅(qū)動共同的信號到隔離器系統(tǒng)的一對輸入端;測量在隔離器系統(tǒng)的輸出端的信號的差異;并改變連接在隔離器系統(tǒng)的輸出端和中心抽頭端子之間的阻抗元件的阻抗,直到在輸出端的失配最小化。

      本公開的實施例可提供一種隔離器系統(tǒng),包括具有一對輸出端和在輸出端子相連的濾波器的隔離器。該過濾器可包括一對電容器,各自連接到各輸出端和彼此,和成對的可變電阻器,每一個連接到相應(yīng)的輸出端并在節(jié)點相互連接,其中電容器連接在一起,所述電阻具有失配電阻。

      本公開的實施例可提供校準(zhǔn)系統(tǒng),包括:信號源,以在隔離器系統(tǒng)的一對輸入端驅(qū)動公共信號;失配檢測器,以基于隔離器系統(tǒng)的一對輸出端的輸出信號產(chǎn)生失配信號;以及控制器,改變連接在所述隔離器的輸出端之間的阻抗網(wǎng)絡(luò)的阻抗,直到失配信號被最小化。

      圖1示出了根據(jù)本公開內(nèi)容的實施例的差分隔離器系統(tǒng)100。系統(tǒng)100可以包括耦合到測試電路系統(tǒng)120的主電路系統(tǒng)110。主電路系統(tǒng)110可包括橋接隔離層140,并在第一電壓域的發(fā)射器150和第二電壓域的接收器160之間提供通信信道的隔離器系統(tǒng)130。測試電路系統(tǒng)120可包括測試控制器170,以控制測試發(fā)射器180和測試接收器190,并且校準(zhǔn)主電路系統(tǒng)110的隔離器系統(tǒng)130。

      在主電路系統(tǒng)110中,隔離器系統(tǒng)130可以從接收器160電隔離發(fā)射器150。因此,發(fā)送器150和接收器160可在不同的電位(例如,GND1與GND2)接地,從而防止接地回路(即,防止意外的電流在兩個電壓域之間流動)。發(fā)射器150和接收器160也可從不同的來源(例如,VDD1和VDD2)供電。

      發(fā)射器150可以經(jīng)由通過所述隔離器系統(tǒng)130提供的差分路徑發(fā)送差分輸入電壓VS,導(dǎo)致在隔離器系統(tǒng)130的輸出端和接收器160的輸入端的差分輸出電壓VL。正如所討論的,隔離器系統(tǒng)130的差分路徑之間的阻抗失配可轉(zhuǎn)換共模干擾為非預(yù)期的差分信號,這可由于兩個電壓域之間的寄生電容而存在。這些意外的差分信號可經(jīng)由隔離器系統(tǒng)130傳輸,并且不希望地和不知不覺貢獻于差分輸出電壓VL。

      測試電路系統(tǒng)120可校準(zhǔn)隔離器系統(tǒng)130以抵消隔離器系統(tǒng)130的差分路徑之間可能的阻抗失配。測試發(fā)射器180可以具有被耦合到發(fā)射器150的輸出端152,154的輸出端182,184。類似地,測試接收器190可具有被耦合到接收器160的輸入端162,164的輸入端子192,194。雖然測試發(fā)射器180在圖1中示出作為從發(fā)射器150分開的分立電路系統(tǒng),如下面討論的,這不需要在所有實施例的情況。類似地,盡管測試接收器190被示于圖1作為從接收器160分離的分立電路系統(tǒng),如下面討論,這不需要在所有實施例的情況。

      在測試電路系統(tǒng)120中,測試控制器170可控制該測試發(fā)射器180和測試接收器190,并產(chǎn)生控制信號Q以校準(zhǔn)隔離器系統(tǒng)130。在一些實施例中,測試控制器170可以位于從測試發(fā)射器180和/或測試接收器190的單獨電壓域。在這種情況下,測試控制器170可以通過相應(yīng)的隔離器195.1,195.2與測試發(fā)射器180或測試接收器190進行通信。因此,該測試發(fā)射器180可以在第一電壓域(即,至VDD1/GND1)和第二電壓域內(nèi)測試接收器190(即,到VDD2/GND2)內(nèi)聯(lián)接。測試控制器170的設(shè)備可以在第一或第二電壓域內(nèi)被耦合。

      當(dāng)發(fā)射器150被禁用(即,VS=0),測試控制器170可使能該測試發(fā)射器180和測試接收器190(例如,分別用信號EN1和EN2)。啟用后,測試發(fā)射器180可以提供通用的測試電壓VT(例如,相同的單端電壓),以隔離器系統(tǒng)130的兩種不同路徑。測試電壓VT可復(fù)制系統(tǒng)100在運行時操作可經(jīng)歷的共模瞬變??商娲?,單一的(盡管相對較高的幅度)電壓(未示出)可應(yīng)用于兩個電壓域的兩個地面(即,GND1與GND2),以復(fù)制共模干擾。如果阻抗失配存在于隔離器系統(tǒng)130的差分路徑中,測試電壓VT可在隔離器系統(tǒng)130的輸出誘導(dǎo)差分輸出電壓VL。

      測試接收器190可以檢測輸出電壓VL的失配,并且可以從中產(chǎn)生失配信號δ。作為響應(yīng),測試控制器170可產(chǎn)生控制信號Q來調(diào)節(jié)一個或兩個隔離器系統(tǒng)130的差分路徑中的阻抗,直到失配信號δ表示失配最小化。

      測試電路系統(tǒng)120可運行,以在第一時間運行發(fā)射器150之前校準(zhǔn)隔離器系統(tǒng)130,并且在寄存器中存儲校準(zhǔn)信息(在測試控制器170,例如)。此后,直至呼叫(按需或根據(jù)預(yù)定的時間表)以運行并更新校準(zhǔn)信息,測試電路系統(tǒng)120可保持休眠。更新校準(zhǔn)信息可以被期望,以解決隔離器系統(tǒng)130的部件隨著時間推移的老化和值漂移。在校準(zhǔn)之間,每當(dāng)主電路系統(tǒng)110被重新初始化或重新啟動,存儲在寄存器中的校準(zhǔn)信息可用于調(diào)整隔離器系統(tǒng)130的差分路徑的阻抗。

      在實踐中,第一和第二電壓域經(jīng)常被制造在分離的半導(dǎo)體管芯。隔離器系統(tǒng)可以設(shè)置在半導(dǎo)體管芯中的一個,或第一電壓域或第二電壓域的任一個,或者可以被分成兩部分,一個在每個管芯??商鎿Q地,該隔離器可設(shè)置在從第一和第二電壓域的管芯分開的第三半導(dǎo)體管芯。測試電路系統(tǒng)120可以應(yīng)用于任何結(jié)構(gòu)的主電路系統(tǒng)的應(yīng)用。

      在第一配置中,測試電路系統(tǒng)120可永久地連接到主電路系統(tǒng)110。在此實施例中,測試發(fā)射器180可制造在共同的半導(dǎo)體管芯作為發(fā)射器150,和測試接收器190可制造在共同的半導(dǎo)體管芯作為接收器160。測試電路系統(tǒng)120可在主電路系統(tǒng)110的操作的預(yù)定時間變得可操作,諸如該裝置的啟動時和/或以預(yù)定的間隔。但是,在主電路系統(tǒng)110的運行時間操作,測試電路系統(tǒng)120可處于休眠狀態(tài)。測試控制器170可確定隔離器系統(tǒng)的校準(zhǔn)狀態(tài),該系統(tǒng)可以保持在適當(dāng)位置,除非由新的校準(zhǔn)操作將其覆蓋。

      在第二配置中,測試電路系統(tǒng)120可以是分立的測試系統(tǒng),它從主電路系統(tǒng)110完全分開。測試電路系統(tǒng)120可以耦合到主電路系統(tǒng)110,通過校準(zhǔn)操作運行,然后分離。在這樣的情況下,隔離器系統(tǒng)130的校準(zhǔn)設(shè)置可以持續(xù)存儲在隔離器系統(tǒng)130內(nèi),例如寄存器。

      圖2示出了根據(jù)本公開的一個實施例的電容差分隔離器系統(tǒng)200。隔離器系統(tǒng)200可以是圖1所示的隔離器系統(tǒng)130的示例。隔離器系統(tǒng)200可以包括在隔離電容器C1.1,C1.2的形式的一對隔離器,其橋接隔離屏障210,和包括連接在隔離電容器C1.1,C1.2之間的一對濾波電容器C2.1,C2.2的過濾器220,和也連接在隔離電容器C1.1,C1.2的輸出端之間的一對電阻R1.1,R1.2。濾波電容器C2.1,C2.2和電阻R1.1,R1.2可以在中心抽頭端子222連接在一起。在一些實施例中,濾波電容器C2.1,C2.2可以省略,盡管系統(tǒng)中存在的寄生電容可提供和濾波電容器C2.1,C2.2的類似效果。

      如該圖2所示,每個隔離電容器C1.1,C1.2可以橋接隔離層210。因此,隔離電容器C1.1,C1.2的輸入端230.1,230.2可以接受在第一電壓域的差分輸入信號VS,并且隔離電容器C1.1,C1.2的輸出端240.1,240.2可輸出差分輸出電壓VL到正在從第一電壓域分離的第二電壓域中。該中心抽頭端子222可耦合在第二電壓域內(nèi)的一個共模電壓基準(zhǔn)(表示為圖2的接地GND2)。

      理想的是,隔離電容器C1.1,C1.2將具有相同的電容,所述濾波電容器C2.1,C2.2將具有相同的電容,以及電阻R1.1,R1.2將具有相同電阻值,使得隔離器系統(tǒng)200可以提供差分路徑250.1,250.2具有相同的阻抗。在實踐中,然而由于制造變化和其他因素的影響,電容和電阻可以不完全匹配,導(dǎo)致差分路徑250.1,250.2之間的阻抗失配。如所討論的,差分路徑250.1,250.2之間的阻抗失配可轉(zhuǎn)換共模干擾到意外差分信號。這些意外的差分信號可經(jīng)由隔離器系統(tǒng)200傳輸,并且不希望地和不知不覺向差分輸出電壓VL

      因此,隔離器系統(tǒng)200可以被實現(xiàn)為使得電阻R1.1,R1.2的電阻可以校準(zhǔn)操作期間變化。如相對于圖2所討論。如圖1所示,隔離器系統(tǒng)200可以接收控制信號Q來調(diào)整電阻R1.1,R1.2,從而調(diào)整一個或兩個差分路徑250.1,250.2的阻抗,直到阻抗之間的失配電阻被最小化。

      圖3示出了根據(jù)本公開的一個實施例的電容差隔離器系統(tǒng)300。隔離器系統(tǒng)300可以是圖1所示的隔離器系統(tǒng)130的一個示例。更具體地,隔離器系統(tǒng)300可以是如何實現(xiàn)圖2的可變電阻R1.1,R1.2的示例。

      類似于圖2中的隔離器系統(tǒng)200,隔離器系統(tǒng)300可以包括一對隔離電容器C1.1,C1.2,其橋接隔離阻障310和過濾器320,其可以由濾波電容器C2.1,C2.2連接的輸出之間的一對隔離電容器C1.1,C1.2,以及也連接在隔離電容器C1.1,C1.2的輸出端之間一對固定電阻R1.1,R1.2的終端。在一些實施例中,濾波電容器C2.1,C2.2可以省略,盡管本系統(tǒng)中的寄生電容可提供濾波電容器C2.1,C2.2的類似效果。此外,過濾器320可以包括多個使能選擇性地短路路徑,每一個具有串聯(lián)開關(guān)(S2.1...SN.1,S2.2...Sn.2)的電阻器(R2.1...Rn.1,R2.2...Rn.2),以及每個連接電阻R1.1,R1.2之一。選擇性啟用電阻R2.1...Rn.1,R2.2...Rn.2可以具有不同的電阻值;例如,它們可根據(jù)二進制加權(quán)分布而變化。固定電阻R1.1,R1.2和選擇性啟用電阻R2.1...Rn.1,R2.2...Rn.2統(tǒng)一可限定過濾器320的電阻成分。過濾電容器C2.1,C2.2,電阻R1.1,R1.2以及多個電路路徑可以在中心抽頭端子322連接在一起。

      隔離電容器C1.1,C1.2可在它們的輸入端330.1,330.2接受從第一電壓域的差分輸入電壓Vs,和在其輸出端340.1,340.2輸出在第二電壓域的差分輸出電壓VL。因此第一電壓域是從第二電壓域電隔離。該中心抽頭端子322可以被耦合在第二電壓域(圖2中示為接地GND2)內(nèi)的共模電壓基準(zhǔn)。

      在隔離器系統(tǒng)300中,通過使能橫跨電阻器R1.1,R1.2的一個或多個電阻器R2.1...Rn.1,R2.2...Rn.2,差分路徑350.1,350.2之間的阻抗失配可以在校準(zhǔn)操作過程中被最小化,以有效地降低總電阻。電阻R2.1...Rn.1,R2.2...Rn.2中的一個可通過使得相應(yīng)開關(guān)在關(guān)閉狀態(tài)而跨越相應(yīng)電阻R1.1,R1.2進行連接。

      圖4A-4C示出了根據(jù)本公開內(nèi)容的各種實施例,圖3的開關(guān)S2.1...SN.1,S2.2...Sn.2的實現(xiàn)。雖然圖4A-4C示出了單一的開關(guān)/電阻器對,該說明的實現(xiàn)可以擴展到這里所示的多電阻配置。

      在圖4所示的第一配置中,開關(guān)可被實現(xiàn)為晶體管Sn,通過各自的可熔鏈接F1,F(xiàn)2,在校準(zhǔn)操作之前,其柵極被連接到高電壓源(例如,VDD2)或低電壓源(例如,GND2)。在校準(zhǔn)過程中,如果確定該開關(guān)的關(guān)聯(lián)電阻Rn啟用,熔線F1,F(xiàn)2可以以一種方式打開,使開關(guān)Sn是導(dǎo)電的??商娲兀绻_定該交換機的關(guān)聯(lián)電阻Rn中應(yīng)禁用,另一可熔鏈路F1,F(xiàn)2可以以一種方式打開,使開關(guān)Sn是不導(dǎo)電的。

      圖4B示出了第二配置,其中所述開關(guān)還可以被實現(xiàn)為晶體管Sn。在本實施例中,然而,開關(guān)Sn可以根據(jù)被存儲在寄存器410的開關(guān)設(shè)定值進行控制。在校準(zhǔn)期間,如果確定該開關(guān)的關(guān)聯(lián)電阻Rn應(yīng)啟用,值可以被存儲在寄存器410,當(dāng)輸出到開關(guān)Sn,導(dǎo)致開關(guān)Sn是導(dǎo)電的??商娲?,如果確定該開關(guān)的關(guān)聯(lián)電阻Rn中應(yīng)禁用,值可以被存儲在寄存器410中,當(dāng)輸出到開關(guān)的Sn導(dǎo)致開關(guān)Sn是不導(dǎo)電的。寄存器410可以有其他的存儲位置,以存儲控制在過濾器220,320等開關(guān)的值(圖2,圖3)。寄存器410可以為非易失性存儲器,它允許開關(guān)的控制值被持久地存儲在隔離器系統(tǒng)內(nèi),但也允許控制值有時改變。因此,如果隔離器系統(tǒng)200,300的失配屬性在適當(dāng)?shù)臅r間改變,例如,隔離器系統(tǒng)內(nèi)的部件的老化,補償效應(yīng)可以在系統(tǒng)的過濾器220,320內(nèi)執(zhí)行(圖2,圖3)。

      在圖4C中所示的第三配置中,開關(guān)本身可以被實現(xiàn)為可熔鏈路Fn。在校準(zhǔn)過程中,如果判定為關(guān)聯(lián)的電阻Rn中應(yīng)啟用,可熔鏈路Fn可以保持關(guān)閉。替代方案中,如果確定該交換機的關(guān)聯(lián)電阻Rn中應(yīng)禁用,可熔鏈路Fn可被打開。

      為了了解如何調(diào)整隔離器系統(tǒng)的總電阻,如所示圖2和3的那些,可以盡量減少其差分路徑之間的阻抗失配,看差分輸出電壓VL和差分輸入電壓VS之間的關(guān)系是有益的。在拉普拉斯域中,假設(shè)相同電容和相同的電阻(即,C1.1=C1.2=C1,C2.1=C2.2=C2,R1.1=R1.2=R1),該關(guān)系可以被表示如:

      τxy=RxCy (2)

      等式(1)的傳遞函數(shù)的AD(S)可被分解成相關(guān)的兩個差分路徑(例如,250.1,350.1)之一的上半傳遞函數(shù)ADU(s)和相關(guān)的其它兩個差分路徑(例如,250.2,350.2)的下半傳遞函數(shù)ADB(s):

      如果隔離器系統(tǒng)在其輸入端接收通用的測試電壓VT(如由圖1中的測試發(fā)射器180提供,以復(fù)制共模干擾),而不是差分輸入電壓VS,傳遞函數(shù)ADU(s)和ADB(s)類似地可以用于關(guān)聯(lián)輸出電壓VL與公共測試電壓VT為:

      VL(s)=ADU(s)(VT(s))-ADB(s)(VT(s))=(ADU(s)-ADB(s))VT(s) (4)

      當(dāng)兩個差分路徑之間沒有阻抗失配,則傳遞函數(shù)ADU(s)和ADB(s)等同于方程(1)的傳遞函數(shù)AD(S),并可在方程(4)取消彼此(即,ADU(s)-ADB(s)=0)。在這樣的情況下,共同的測試電壓VT可不會對所述差分輸出電壓VL具有任何影響。然而,如果存在阻抗失配,所述傳遞函數(shù)ADU(s)和ADB(s)可以是不同的(即,ADU(s)-ADB(s)≠0);在這種情況下,公用測試電壓VT可在隔離器系統(tǒng)的輸出端轉(zhuǎn)化為差分電壓。例如,如果傳遞函數(shù)ADB(s)的時間常數(shù)為是τ11,并且ADU(s)是τ11+Δτ11,等式(4)可得:

      當(dāng)Δτ11=0時,即當(dāng)兩個差分路徑之間沒有阻抗失配,等式(5)的右手項為零。因此,目標(biāo)是盡量減少兩個差分路徑的時間常數(shù)之間的失配Δτ11,以盡量減少共模干擾到差動輸出電壓VL的貢獻?;谑?2),錯配Δτ11可以由對電阻R1.1,R1.2和一對隔離電容器C1.1,C1.2之間的一個或兩個失配引起。雖然圖2和3的隔離器系統(tǒng)解決調(diào)節(jié)電阻R1.1,R1.2的有效電阻以最小化差分路徑之間的阻抗失配,然而本領(lǐng)域技術(shù)人員將理解的是,該阻抗失配也可以通過調(diào)整隔離電容C1.1,C1.2的有效電容最小化。

      圖5是根據(jù)本公開內(nèi)容的實施例的測試接收器500的框圖。測試接收器500可以是圖1的測試接收器190的示例,并且可以基于在其輸入端接收的VL的差分輸出電壓生成和輸出錯配信號δ。測試接收器500可以包括放大器510以放大差分輸出電壓VL,平方器520以放大電壓,以及整流器530以調(diào)節(jié)所述平方電壓到失配信號δ。

      差分輸出電壓VL可以被饋送作為差動輸入電壓對Vi+/Vi-到放大器510。放大器510可以放大該輸入信號對Vi+/Vi-,并提供差分輸出信號對Vo+/Vo-到平方器520。在實施方式中,放大器510可提供為串聯(lián)耦合以放大的差動輸出電壓VL的一個或多個放大器。

      平方器520可以產(chǎn)生電壓Vsq,其成比例于差分輸出電壓對Vo+/Vo-的平方;即Vsq∝(Vo+-Vo-)2。整流器530可接著產(chǎn)生電壓Vrec,其可以代表電壓Vsq的包絡(luò)線。隨著差分輸出電壓VL增加,電壓Vrec的幅度可增加。換句話說,隨著隔離器系統(tǒng)的差分路徑之間的阻抗失配(例如,200,300)的增加,該電壓Vrec的大小可能增加。因此,差分路徑之間的阻抗失配可以通過最小化電壓Vrec的幅度最小化。測試接收器500可輸出電壓Vrec作為失配信號δ??捎糜谧钚』湫盘枽牡乃惴ㄔ趫D7中描繪和下面討論。

      圖6是根據(jù)本公開內(nèi)容的實施例的測試接收器600的電路圖。測試接收器600可以包括放大器610以放大差動輸出電壓VL,平方器620以放大電壓,以及整流器630以調(diào)節(jié)所述平方電壓成失配信號δ?;谠谄漭斎攵私邮盏牟罘州敵鲭妷篤L,測試接收器600因此可以生成并輸出失配信號δ。

      放大器610可以是共源晶體管基(M1/M2)的差分放大器。施加至測試接收器600的輸入端的差分輸出電壓VL可被供給作為差動輸入電壓對Vi+/Vi-到放大器610的輸入。放大器610可以放大差分輸入電壓對Vi+/Vi-,并提供差分輸出電壓對Vo+/Vo-到平方器620。放大器610可以由門信號g1和g2被啟用。晶體管M1/M2可以在電壓Vbias偏置。如所討論的,用于放大器610中的電路可以被復(fù)制和級聯(lián),并根據(jù)需要適當(dāng)?shù)胤糯蟛罘州敵鲭妷篤L。

      平方器620可以從放大器610接收差分輸出電壓對Vo+/Vo-,并產(chǎn)生正比于(Vo+-Vo-)2的電壓Vsq。平方器620可通過柵極信號G3和G4被啟用。

      整流器630可包括晶體管M3,以在其柵極接收由平方器620的電壓Vsq,和并聯(lián)連接并且連接到晶體管M3的源極的電阻Rrec和電容器Crec。晶體管M3可以工作,以在其源極提供表示電壓Vsq的包絡(luò)電壓Vrec。電壓Vsq超過其閾值電壓和電壓Vrec之和時,晶體管M3可以導(dǎo)通。電阻Rrec和電容器Crec的并聯(lián)組合可作為低通濾波器,以減緩電壓Vrec的峰值的衰減,從而理出電壓Vsq的包絡(luò)。隨著差分輸出電壓VL增加,電壓Vrec的幅度可增加。換句話說,隨著隔離器系統(tǒng)的差分路徑之間的阻抗失配(例如,200,300)增加,該電壓Vrec的大小可能增加。因此,差分路徑之間的阻抗失配可以通過最小化電壓Vrec的幅度而最小化。測試接收器500可輸出電壓Vrec作為失配信號δ??捎糜谑湫盘枽淖钚』乃惴ㄔ趫D7中描繪和下面討論。

      圖7是描繪根據(jù)本公開的實施例,用于校準(zhǔn)電容差隔離器系統(tǒng)(例如,隔離器系統(tǒng)130和300)的方法700的流程圖。方法700開始于步驟702,在那里它使能發(fā)送器和接收器(例如,圖1的測試發(fā)射器180和測試接收器190),使得所述發(fā)射器驅(qū)動穿過隔離器系統(tǒng)的公共信號。在步驟704,方法700接收來自接收器的失配信號δ。在步驟706中,該方法存儲對應(yīng)于接收的失配信號δ的隔離器系統(tǒng)的切換狀態(tài)信息。最初,這種開關(guān)的狀態(tài)信息可以對應(yīng)于所有的開關(guān)處于打開狀態(tài)(例如,在圖3中,開關(guān)S2.1...SN.1,S2.2...Sn.2被打開)。然后,在步驟708,方法700產(chǎn)生控制信號Q來關(guān)閉開開關(guān)之一。在步驟710,方法700確定所有的開關(guān)是否被關(guān)閉。如果所有的開關(guān)都沒有閉合,方法700重復(fù)步驟704-708,直到所有的開關(guān)閉合,然后再前進到步驟712。在步驟712,方法700接收的失配信號δ和,在步驟714,存儲切換對應(yīng)于接收的失配信號δ的狀態(tài)信息(即,所有的開關(guān)閉合)。方法700在步驟716結(jié)束,其中它選擇對應(yīng)于最小失配信號δ的開關(guān)狀態(tài)信息,并將其存儲到寄存器(例如,包括在測試控制器170的寄存器)。在運行期間,根據(jù)存儲在所述寄存器中的開關(guān)狀態(tài)信息,隔離器系統(tǒng)的每個開關(guān)可以被關(guān)閉或保持打開。

      方法700可以由圖1的測試控制器170來進行,例如,以產(chǎn)生和輸出控制信號Q,以減少從測試接收器190(或500,600)接收到的失配信號δ。

      方法700的討論中提出參考圖1的差異分離系統(tǒng)100和圖3的隔離器系統(tǒng)300。但應(yīng)理解,方法700不限于圖1和3的具體實施例。方法700還可以發(fā)現(xiàn)在采用其它部件,例如變壓器,用于隔離其他架構(gòu)的應(yīng)用程序。例如,在隔離變壓器的輸入輸出端子的寄生電容和由隔離變壓器驅(qū)動的接收器的輸入端可產(chǎn)生時間常數(shù)未完全匹配的差分通路。其結(jié)果是,類似于系統(tǒng)100,200和300,共模瞬變可在接收器被轉(zhuǎn)換成差分電壓。因此,如以上所討論的校準(zhǔn)失配方法700可以被應(yīng)用。

      本公開的若干實施例具體說明和/或本文中所描述。然而,可以理解,本公開的修改和變化是由上述教導(dǎo)以及所附權(quán)利要求的范圍限定,而不脫離預(yù)期本公開的精神和范圍。與上述原理一致的進一步變化是可允許。

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