本發(fā)明涉及芯片模組測試領域,具體涉及一種帶加熱功能的手動直針測試插座。
背景技術:
SOC(System-On-Chip)系列攝像頭芯片模組是一種新型的CMOS芯片成像集成系統(tǒng),它使用數(shù)字圖像信號處理器(ISP)和SOC的算法,定義良好的一步一步的指示、調(diào)整,使處理后的圖像或視頻,比原來的美觀,更直觀的圖像傳感器收集的原始數(shù)據(jù)。SOCS是在單一芯片上強大的處理的SOC,內(nèi)置圖像傳感器芯片級,易于集成,能降低整體系統(tǒng)成本。
目前,由于大多數(shù)的CMOS成像模組是采用加載柔性線路板,進行SMT組裝,結構上比較復雜,由于元器件較多,所實現(xiàn)功能沒有SOC成像模組直接,可靠。相應所催生的現(xiàn)有模組測試插座是適用于現(xiàn)有攝像模組的結構,進行功能測試,一般采用ICT探針進行檢測,結構復雜。現(xiàn)在測試插座治具主要加熱一個環(huán)境溫度,溫度控制不準確,浮動大,且治具體積大,操作不方便,測試效率低。
因此,設計一種帶加熱功能的手動直針測試插座,能夠大大提高加熱穩(wěn)定性和測試效率,有效控制加熱溫度范圍,同時具有體積小、操作簡單方便的特點,顯然具有積極的現(xiàn)實意義。
技術實現(xiàn)要素:
本發(fā)明的發(fā)明目的是提供一種帶加熱功能的手動直針測試插座。
為達到上述發(fā)明目的,本發(fā)明采用的技術方案是:一種帶加熱功能的手動直針測試插座,包括上蓋組件以及與上蓋組件配合的底座,所述上蓋組件包括上蓋主體、連接組件以及復數(shù)根平行內(nèi)嵌于上蓋主體內(nèi)部的加熱管,
所述底座包括底座主體和復數(shù)根探針,所述底座主體的上、下端分別設有第一容置槽和第二容置槽,所述第一容置槽和第二容置槽內(nèi)分別安裝有保持板和第一壓板,所述保持板上設有凸起的圓柱,所述圓柱上套設有加熱環(huán),所述加熱環(huán)上蓋設有浮板,所述探針一端與第一壓板固定連接,另一端依次從第一、第二容置槽以及保持板和浮板中穿出。
上述技術方案中,所述上蓋主體與底座主體一端轉(zhuǎn)動連接,另一端由卡扣卡合固定。
優(yōu)選地,所述上蓋主體與底座主體一端經(jīng)一銷軸轉(zhuǎn)動連接。
優(yōu)選地,所述卡扣與上蓋主體轉(zhuǎn)動連接,所述卡扣包括平面部和位于平面部下方的鉤部,所述上蓋主體上端面與卡扣的平面部之間設有復數(shù)個彈性元件。
優(yōu)選地,所述彈性元件為扭簧。
進一步地,所述連接組件包括保持環(huán)、基準環(huán)和第二壓板,所述基準環(huán)固定嵌設于保持環(huán)內(nèi),所述第二壓板壓設于基準環(huán)下端面上,并與基準環(huán)固定連接,所述保持環(huán)與上蓋主體下端面固定連接。
優(yōu)選地,所述保持板經(jīng)對稱設置的復數(shù)個水平銷釘與底座主體固定連接,所述保持板的邊緣設有對應水平銷釘?shù)匿N槽,所述底座主體上設有對應水平銷釘?shù)匿N孔。
進一步地,所述底座主體的下端面設有兩道平行的置線槽,所述置線槽貫通至第一容置槽中,所述加熱環(huán)上設有兩條加熱環(huán)電源線,所述所述加熱環(huán)電源線經(jīng)置線槽引出至底座主體外。
優(yōu)選地,所述置線槽中設有溫度傳感器,所述溫度傳感器優(yōu)選熱電偶。
由于上述技術方案運用,本發(fā)明與現(xiàn)有技術相比具有下列優(yōu)點:
1、本發(fā)明在測試插座內(nèi)設置加熱環(huán)和溫度傳感器,利用溫度傳感器實時監(jiān)控測試插座內(nèi)的溫度,從而確保加熱溫度能夠控制在一個恒定的范圍內(nèi),大大提高加熱穩(wěn)定性;
2、本發(fā)明的測試插座,體積小,結構簡單,操作方便,適于推廣應用。
附圖說明
圖1是本發(fā)明實施例一的結構示意圖。
圖2是本發(fā)明實施例一的分解結構示意圖,
圖3是本發(fā)明實施例一的背部結構示意圖。
其中:1、上蓋主體;2、底座主體;3、探針;4、第一容置槽;5、第二容置槽;6、第一壓板;7、保持板;8、圓柱;9、加熱環(huán);10、浮板;11、卡扣;12、平面部;13、鉤部;14、保持環(huán);15、基準環(huán);16、第二壓板;17、水平銷釘;18、置線槽;19、加熱環(huán)電源線;20、溫度傳感器;21、加熱管。
具體實施方式
下面結合附圖及實施例對本發(fā)明作進一步描述:
實施例一:
參見圖1至3所示,一種帶加熱功能的手動直針測試插座,包括上蓋組件以及與上蓋組件配合的底座,所述上蓋組件包括上蓋主體1、連接組件以及復數(shù)根平行內(nèi)嵌于上蓋主體內(nèi)部的加熱管21,
所述底座包括底座主體2和復數(shù)根探針3,所述底座主體的上、下端分別設有第一容置槽4和第二容置槽5,所述第一容置槽和第二容置槽內(nèi)分別安裝有保持板7和第一壓板6,所述保持板上設有凸起的圓柱8,所述圓柱上套設有加熱環(huán)9,所述加熱環(huán)上蓋設有浮板10,被測試的芯片置于浮板上的芯片定位孔內(nèi),所述探針一端與第一壓板固定連接,另一端依次從第一、第二容置槽以及保持板和浮板中穿出。
本實施例中,所述上蓋主體與底座主體一端轉(zhuǎn)動連接,另一端由卡扣卡合固定。
所述上蓋主體與底座主體一端經(jīng)一銷軸轉(zhuǎn)動連接。
所述卡扣11與上蓋主體轉(zhuǎn)動連接,所述卡扣包括平面部12和位于平面部下方的鉤部13,所述上蓋主體上端面與卡扣的平面部之間設有復數(shù)個彈性元件。
所述彈性元件為扭簧。
所述連接組件包括保持環(huán)14、基準環(huán)15和第二壓板16,所述基準環(huán)固定嵌設于保持環(huán)內(nèi),所述第二壓板壓設于基準環(huán)下端面上,并與基準環(huán)固定連接,所述保持環(huán)與上蓋主體下端面固定連接。
所述保持板經(jīng)對稱設置的復數(shù)個水平銷釘17與底座主體固定連接,所述保持板的邊緣設有對應水平銷釘?shù)匿N槽,所述底座主體上設有對應水平銷釘?shù)匿N孔。
所述底座主體的下端面設有兩道平行的置線槽18,所述置線槽貫通至第一容置槽中,所述加熱環(huán)上設有兩條加熱環(huán)電源線19,所述所述加熱環(huán)電源線經(jīng)置線槽引出至底座主體外。
所述置線槽中設有溫度傳感器20,所述溫度傳感器優(yōu)選熱電偶,值得一體的是,所述溫度傳感器的信息輸出端連接到加熱環(huán)電路的控制模塊的輸入端,溫度傳感器實時監(jiān)測測試插座內(nèi)的溫度,并將采集到的溫度信息傳送到加熱環(huán)電路的控制模塊中,控制模塊根據(jù)收到的測試插座內(nèi)部的溫度信息控制加熱環(huán)加熱,從而能夠?qū)y試插座內(nèi)的溫度恒定在50~125±1攝氏度。
以上僅供說明本發(fā)明之用,而非對本發(fā)明的限制,有關技術領域的技術人員,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下,所作出各種變換或變形,均屬于本發(fā)明的范疇。