本實用新型涉及一種測試設備，尤其涉及一種用于繼電器的測試設備，屬于半導體領域。

背景技術：

通常在半導體領域，一顆芯片的成本大多集中在半導體測試帶來的壓力。

在半導體測試時，會有大量的繼電器應用到FT與CP測試的接口電路板上。用于切換測試通道，調整電路等諸多功能。而繼電器的好壞，會直接影響測試的質量和測試的效率。所以，為了對測試時所需要的基本檢測，開發(fā)一款繼電器測試設備是必不可少的，用于排除所需繼電器的不良品。降低由此而導致的測試成本。

有鑒于上述的缺陷，本設計人，積極加以研究創(chuàng)新，以期創(chuàng)設一種新型結構的用于繼電器的測試設備，使其更具有產業(yè)上的利用價值。

技術實現要素：

為解決上述技術問題，本實用新型的目的是提供一種用于繼電器的測試設備。

為實現上述目的，本實用新型采用如下技術方案：

一種用于繼電器的測試設備，包括繼電器測試主板電路及MCU單元，所述繼電器測試主板電路的輸入端與電源單元的輸出端相連，所述繼電器測試主板電路的輸出端與擴展/驅動電路的輸入端相連，所述繼電器測試主板電路的輸入端與測試兼容治具的輸出端相連，所述繼電器測試主板電路的輸出端與MCU單元的輸入端相連，所述MCU單元的輸入端還與電源單元、擴展/驅動電路及測試兼容治具的輸出端相連，所述MCU單元的輸出端與上位機的輸入端相連。

更進一步的，所述的用于繼電器的測試設備，其中，所述擴展/驅動電路為 74HC373驅動電路，或為74HC238IO擴展電路。

再更進一步的，所述的用于繼電器的測試設備，其中，所述測試兼容治具為兼容PCB接口/插槽式的治具。

再更進一步的，所述的用于繼電器的測試設備，其中，所述繼電器測試主板電路與被測產品之間連接有傳輸線。

再更進一步的，所述的用于繼電器的測試設備，其中，所述傳輸線設有延時時間T，其公式如下：

其中，L：傳輸線的總長；

C：光速3×10⁸m/s；

ε：PCB介質的介電常數。

再更進一步的，所述的用于繼電器的測試設備，其中，還包括過流保護單元，所述過流保護單元與繼電器測試主板電路相連。

借由上述方案，本實用新型至少具有以下優(yōu)點：

1)對入庫繼電器進行檢測，排除不合格繼電器，避免不合格繼電器對后續(xù)產品的功能和故障排查造成直接或間接的影響，降低應用成本。

2)幫助測試人員解決了測試時，對繼電器的故障排查，減輕了測試人員的工作量，有助于縮短測試周期，降低測試成本。

上述說明僅是本實用新型技術方案的概述，為了能夠更清楚了解本實用新型的技術手段，并可依照說明書的內容予以實施，以下以本實用新型的較佳實施例并配合附圖詳細說明如后。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例的技術方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，應當理解，以下附圖僅示出了本實用新型的某些實施例，因此不應被看作是對范圍的限定，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他相關的附圖。

圖1是本實用新型的結構示意圖；

圖2是繼電器測試主板電路的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例，對本實用新型的具體實施方式作進一步詳細描述。以下實施例用于說明本實用新型，但不用來限制本實用新型的范圍。

為了使本技術領域的人員更好地理解本實用新型方案，下面將結合本實用新型實施例中附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。通常在此處附圖中描述和示出的本實用新型實施例的組件可以以各種不同的配置來布置和設計。因此，以下對在附圖中提供的本實用新型的實施例的詳細描述并非旨在限制要求保護的本實用新型的范圍，而是僅僅表示本實用新型的選定實施例。基于本實用新型的實施例，本領域技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。

實施例

如圖1所示，一種用于繼電器的測試設備，包括繼電器測試主板電路1及 MCU單元2，所述繼電器測試主板電路1的輸入端與電源單元3的輸出端相連，所述繼電器測試主板電路1的輸出端與擴展/驅動電路4的輸入端相連，所述繼電器測試主板電路1的輸入端與測試兼容治具5的輸出端相連，所述繼電器測試主板電路1的輸出端與MCU單元2的輸入端相連，所述MCU單元2的輸入端還與電源單元3、擴展/驅動電路4及測試兼容治具5的輸出端相連，所述MCU 單元2的輸出端與上位6機的輸入端相連。通過MCU單元與繼電器測試主板電路的配合能實現對繼電器的自動化的檢測，確保使用的繼電器的良率，從而降低應用成本及測試成本。

如圖2所示，本實用新型中所述繼電器測試主板電路包括繼電器芯片，所述繼電器芯片的第一引腳與DC5V相連，并且還與二極管D33的陰極相連，二極管D33的陽極與繼電器芯片的第八引腳相連，繼電器芯片的第八引腳外接第一信號接線端，所述繼電器芯片的第二引腳與二極管D32的陽極相連，二極管的D32的陰極通過電阻R41接地，繼電器芯片的第二引腳外接第二信號接線端，所述繼電器芯片的第三引腳外接第三信號接線端，所述繼電器芯片的第四引腳與二極管D34的陽極相連，所述二極管D34的陰極通過電阻R42接地，且繼電器芯片的第四引腳外接第四信號接線端，所述繼電器芯片的第五引腳與二極管 D36的陽極相連，二極管D36的陰極通過電阻R44接地，繼電器芯片的第五引腳外接第五信號接線端，所述繼電器芯片的第六引腳外接第六信號接線端，所述繼電器的第七引腳與二極管D35的陽極相連，二極管D35的陰極通過電阻43 接地，且繼電器芯片的第七引腳外接第七信號接線端。通過該裝置能檢測出繼電器的好壞，從而確保所使用繼電器的正常使用。

本實用新型中所述二極管D32、二極管D34、二極管D35、二極管D36均為發(fā)光二極管，采用發(fā)光二極管能有效的觀看到繼電器中哪一路出現問題，方便后期的維修，使之能重復利用，使之達到降低成本的目的。

本實用新型中所述擴展/驅動電路4為74HC373驅動電路，或為74HC238IO 擴展電路，采用擴展/驅動電路4能在繼電器測試主板電路出現不夠接時，可以通過擴展/驅動電路4對其IO口進行擴充，使之達到合理需求。

另外在本實用新型中所述測試兼容治具5為兼容PCB接口/插槽式的治具，由于不同的繼電器的腳位及封裝存不兼容的可能性，為了能夠兼容盡可能多廠家的繼電器，設計一兼容PCB接口/插槽式的治具，來達到兼容不同的繼電器的腳位的治具，降低其使用不同的測試裝置，從而降低使用成本。

針對上述的治具，對于采用貼片的繼電器，可以只采用插槽式的治具，通過插槽式的治具與繼電器測試主板電路相連，從而滿足測試的方便。而且還便于拆卸、易操作，最主要的是能夠控制在延時測試上的精度。

而對于PCB接口的繼電器，有接口子板，將被測繼電器安裝在接口子板上，子板具備相應轉接功能，讓被測繼電器的腳位與主板的腳位相匹配，以實現測試需求。

在上述的接線中所述繼電器測試主板電路與被測產品之間連接有傳輸線，而所述傳輸線設有延時時間T，其公式如下：

其中，L：傳輸線的總長；

C：光速3×10⁸m/s；

ε：PCB介質的介電常數。

在實際測試時，由于要對繼電器的延時進行測試，由于對繼電器測試，需要采用到傳輸線，而采用傳輸線會產生一定的延時時間T，一般延時時間延時是在納秒級別，甚至會更小，為了確保檢測到的繼電器延時準確性，需要對傳輸線的延時加以控制，才能得到準確的結果。

本實用新型的工作原理如下：

電源單元作為繼電器測試主板電路的供電裝置，在繼電器測試主板電路通過測試兼容治具的作用下將繼電器與繼電器測試主板電路相連，通過MCU單元傳輸的指令對繼電器測試轉板電路中自帶的電路對繼電器進行自動檢測，電路自檢繼電器的通斷和延時，而由繼電器測試主板電路測試出的數據發(fā)再反饋至 MCU單元，最后由MCU單元反饋回的數據發(fā)送至上位機中讓測試者能清楚的知道該繼電器的好或壞的情況。

在本實用新型中為了測試者的人身安全，添加了過流保護單元。當電流大于2A時總電源會斷開，并且配備的軟件也具有設備自檢功能，在上電后，設備會首先進行自檢，確認狀態(tài)是否正常，而后才可以操作。在測試時，設備面板上會有直觀的LED燈來顯示設備的狀態(tài)。

本實用新型至少具有以下優(yōu)點：

1)對入庫繼電器進行檢測，排除不合格繼電器，避免不合格繼電器對后續(xù)產品的功能和故障排查造成直接或間接的影響，降低應用成本。

2)幫助測試人員解決了測試時，對繼電器的故障排查，減輕了測試人員的工作量，有助于縮短測試周期，降低測試成本。

以上所述僅是本實用新型的優(yōu)選實施方式，并不用于限制本實用新型，應當指出，對于本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型技術原理的前提下，還可以做出若干改進和變型，這些改進和變型也應視為本實用新型的保護范圍。