本實(shí)用新型涉及一種測試設(shè)備，特別是一種光通量和均勻度測試設(shè)備。

背景技術(shù)：

現(xiàn)有技術(shù)中的光通量和均勻度測試設(shè)備包括主機(jī)和與主機(jī)通過導(dǎo)線連接的掃描探頭，在對平板燈進(jìn)行測試時，不僅需要測試光通量，還需要測試光線分布的均勻度，目前的掃描探頭其感光元件直接裸露在外，在測試光線分布的均勻度時，采用的方法是手拿掃描探頭距離平板燈一定距離移動，這種測量方式存在的缺點(diǎn)是，感光元件受外界的光線變化影響較大，人手移動不能保證掃描探頭與平板燈之間的距離一致，測試的結(jié)果不夠準(zhǔn)確。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實(shí)用新型提供一種結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，精準(zhǔn)度高的多功能燈具測試箱。

本實(shí)用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：

一種多功能燈具測試箱，包括主機(jī)和通過導(dǎo)線與所述主機(jī)電連接的掃描探頭，所述掃描探頭包括上殼和上下兩端均開口的下殼，所述上殼的下端設(shè)置有螺紋連接部和傳感器，所述下殼的上端內(nèi)壁設(shè)置有與所述螺紋連接部對應(yīng)的內(nèi)螺紋。

所述下殼的內(nèi)壁為由上向下逐漸縮小的錐形。

所述主機(jī)包括微處理器和與所述微處理器的輸入端電連接的光度采集模塊，所述掃描探頭與所述光度采集模塊電連接。

本實(shí)用新型的有益效果是：本實(shí)用新型的上殼和下殼之間通過螺紋連接，傳感器位于上殼內(nèi)，在測量光通量時去掉下殼，在測量光線分布的均勻度時裝上下殼，由不透光材料制成的下殼將傳感器封閉起來，不會受環(huán)境光的影響，在移動過程中，傳感器與平板燈等待測產(chǎn)品的距離一致，結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，能夠提高測試的精準(zhǔn)度。

附圖說明

下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本實(shí)用新型進(jìn)一步說明。

圖1是主機(jī)的電路原理方框圖；

圖2是掃描探頭的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

參照圖1、圖2，一種多功能燈具測試箱，包括主機(jī)和通過導(dǎo)線與所述主機(jī)電連接的掃描探頭，所述掃描探頭包括上殼1和上下兩端均開口的下殼2，所述上殼1的下端設(shè)置有螺紋連接部3和傳感器4，所述下殼2的上端內(nèi)壁設(shè)置有與所述螺紋連接部3對應(yīng)的內(nèi)螺紋，所述下殼2的內(nèi)壁為由上向下逐漸縮小的錐形。

所述主機(jī)包括微處理器、第一路電壓電流采集模塊、光度采集模塊、溫度采集模塊、第二路電壓電流采集模塊、顯示模塊、按鍵模塊和通訊模塊（RS232），第一路電壓電流采集模塊、光度采集模塊、溫度采集模塊、第二路電壓電流采集模塊采集的電信號通過信號放大模塊放大后送入微處理器（單片機(jī)）中，第一路電壓電流采集模塊采集的電信號通過頻率整形模塊處理后送入微處理器中，在第二路電壓電流采集模塊與微處理器之間連接有AC/DC切換模塊，所述掃描探頭與所述光度采集模塊電連接。

由于上殼和下殼之間通過螺紋連接，傳感器位于上殼內(nèi)，在測量光通量時去掉下殼，在測量光線分布的均勻度時裝上下殼，由不透光材料制成的下殼將傳感器封閉起來，不會受環(huán)境光的影響，在下殼的下端面緊貼待測產(chǎn)品移動過程中，傳感器與平板燈等待測產(chǎn)品的距離一致，結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，能夠提高測試的精準(zhǔn)度。