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      介質(zhì)介電特性測試系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號:6082770閱讀:375來源:國知局
      專利名稱:介質(zhì)介電特性測試系統(tǒng)的制作方法
      技術領域
      本實用新型是有關一種介質(zhì)介電特性測試設備。
      由于微帶電路及微帶天線技術的發(fā)展,各種介質(zhì)板材料正在得到廣泛的應用,為了使設計可靠與合理,對所用介質(zhì)基板材料的介電特性進行測定是不可缺少的步驟。因而尋找一種簡捷準確的測試方法是很必要的。
      介質(zhì)介電特性的測試方法很多,較為簡便直接的是一種探針方法。如1971年,日本的Hideki.Hasegawa等人提出了一種探針測試法(Hadeki.HasegawaMiekoFurukawaandHisayokiYarai“Measurementsonhigh-frequencytransmissionCharacteristicsofmetauizationPatternsinmonalithici.c.s.”,ElectronicsandCommun.inJapan,54-B,PP-60,March,1971),該方法將探針置于微帶線上方對準微帶線邊緣。經(jīng)探針檢測出的信號通過本機振蕩,混頻及濾波后再送入放大器並顯示。從測取的信號可以推算介質(zhì)介電特性。
      本實用新型的目的在于提出一種更簡單實用的介質(zhì)介電特性測試系統(tǒng),該系統(tǒng)可以更有效和準確地進行測量。并含儀器更少,造價更低。
      本實用新型是用高頻固態(tài)信號源給末端自然開路的樣條微帶線饋電,微帶線內(nèi)形成駐波場分布,泄漏于外空間的近場在微帶線中線上方近似只有垂直于微帶線的電場分量。將裸露于空間的金屬探針垂直于微帶中線懸置,使其有效拾取信號且可盡量減少探針對內(nèi)場分布的擾動。將探針拾取的信號直接經(jīng)檢波后送入低頻放大器並顯示,平行微帶線移動探針,根據(jù)放大器顯示和標尺刻線,可確定導行波長λ,再由λg=λ0/εe]]>(1)和&epsiv;e=(&epsiv;x+1)/2+&epsiv;r-12(1+12hW)-1/2(2)]]>可推算出有效介電系數(shù)εe和相對介電系數(shù)εr。式中λg和λ0分別為導波波長和工作波長,W和h分別為微帶線寬度和介質(zhì)厚度。
      本實用新型由于使探針垂直于微帶線中線懸置,故可有效測取信號,又因減小了對微帶線內(nèi)場的擾動,使測試結(jié)果更為精確。其次由于采用了固態(tài)信號源,除使系統(tǒng)成本大大降低外,還可省去一個頻率計,便系統(tǒng)組成大大簡化。另外,探針移動支架用塑料壓制而成,不但節(jié)省金屬材料,還使制做工藝得到簡化,使成本進一步降低。
      以下結(jié)合附圖
      及實施例對本實用新型進行進一步說明。
      圖(1)為微帶線內(nèi)場和外部近場分布示意圖,圖中還給出了探針放置的位置。圖中1為探針,2為內(nèi)場電力線,3為外部近場電力線,4為微帶線,5為接地板。
      圖(2)為本實用新型系統(tǒng)原理圖。圖中6為同軸接頭,7為低頻放大顯示器,8為檢波器,9為樣條,10為信號源。
      圖(3)為探針移動架示意圖。其中11為移動軸桿,12為轉(zhuǎn)動手柄,14為千分尺。
      利用本實用新型進行了實際測量,實施中樣條材料為改性聚四氟乙稀介質(zhì)板,其尺寸為樣條全長=20cm,微帶線寬度=2.5mm,介質(zhì)厚度=10mm,介質(zhì)板寬度=18mm,饋電頻率=4.887GHz,探針直徑為0.4mm,距微帶表面垂直距離為1mm,樣條終端自然開路。沿線移動探針,用交叉讀數(shù)法共測得了9個波節(jié)位置,得導行波長的平均值為λg(平均)=40.05mm由式(1)(2)算得εe=2.35,εr=2.865該種材料的標稱相對介電系數(shù)值為2.85。
      權利要求1.一種介質(zhì)介電特性測試系統(tǒng),它由(1)帶有千分標尺的探針移動架;(2)金屬探針;(3)高頻晶體檢波器;(4)高頻信號源;(5)低頻放大顯示器;(6)同軸--微帶轉(zhuǎn)換接頭及若干連線;(7)微帶線形式的被測樣條組成,其特征在于金屬探針拾取信號一端與樣條微帶線垂直,其位置在微帶線中線附近。
      2.根據(jù)權利要求1所述的介質(zhì)介電特性測試系統(tǒng),其特征在于所述之高頻信號源為固態(tài)高頻信號源。
      3.根據(jù)權利要求1所述的介質(zhì)介電特性測試系統(tǒng),其特征在于探針移動架的支架由塑料構成。
      專利摘要本實用新型涉及到一種用于測試介質(zhì)介電特性的測試系統(tǒng),它不僅適合于附銅箔介質(zhì)板介質(zhì)特性的測試,還可用于教學中觀測微帶線內(nèi)的場分布。該系統(tǒng)用信號源饋電的方法在樣條微帶線中建立駐波場,利用控針沿線測取微帶線外部近場,從而可得導行彼波長λ
      文檔編號G01R27/26GK2034695SQ88212820
      公開日1989年3月22日 申請日期1988年3月24日 優(yōu)先權日1988年3月24日
      發(fā)明者徐剛, 林昌祿 申請人:成都電訊工程學院
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