Usb數(shù)據(jù)線的測(cè)試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種USB數(shù)據(jù)線的測(cè)試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]通用串行總線(Universal Serial Bus，USB)是一種常用的PC接口，是PC領(lǐng)域上應(yīng)用得最廣泛的一種外部總線標(biāo)準(zhǔn)，用于規(guī)范電腦與外部設(shè)備的連接和通訊。USB接口支持設(shè)備的即插即用和熱插拔功能，可以方便快速穩(wěn)定傳輸數(shù)據(jù)，支持所有型號(hào)的電腦，并支持鼠標(biāo)、鍵盤、打印機(jī)、掃描儀、攝像頭、閃存盤、MP3機(jī)、手機(jī)、數(shù)碼相機(jī)、移動(dòng)硬盤、USB網(wǎng)卡等電子產(chǎn)品，在生活中應(yīng)用廣泛。USB數(shù)據(jù)線作為連接電腦與設(shè)備間的橋梁，在使用中會(huì)經(jīng)常受到彎曲、卷繞、拉扯、插撥，數(shù)據(jù)線的各項(xiàng)參數(shù)指標(biāo)及質(zhì)量尤為重要。USB數(shù)據(jù)線是各種設(shè)備與電腦間數(shù)據(jù)傳輸?shù)挠行ПＷC。但在使用中，會(huì)受到不同使用習(xí)慣以及數(shù)據(jù)線本身的設(shè)計(jì)、生產(chǎn)材料等自身原因的影響，導(dǎo)致不能正常傳輸數(shù)據(jù)，接口損壞，外表皮破裂，斷裂等異常，給使用者的工作、生活帶來不便的影響。
[0003]因此，一種有效的USB數(shù)據(jù)線檢測(cè)方法尤為重要，這樣可在產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)提前檢測(cè)出USB數(shù)據(jù)線的可靠性，為配套產(chǎn)品提供良好合格的配件。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的在于提供一種USB數(shù)據(jù)線的測(cè)試方法，能夠有效的對(duì)USB數(shù)據(jù)線的可靠性進(jìn)行檢測(cè)。
[0005]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種USB數(shù)據(jù)線測(cè)試方法，用于對(duì)USB數(shù)據(jù)線進(jìn)行可靠性檢測(cè)，包括步驟:
[0006]對(duì)USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行外觀及尺寸測(cè)試，以得到外觀及尺寸符合要求USB數(shù)據(jù)線樣品；
[0007]將外觀及尺寸符合要求USB數(shù)據(jù)線樣品與USB母座配合測(cè)試，然后再用拉力計(jì)測(cè)量插入與拔出時(shí)的力度，取配套USB設(shè)備與USB數(shù)據(jù)線連接好，再與電腦連接，檢查所述設(shè)備能否正常充電及數(shù)據(jù)傳輸，將USB數(shù)據(jù)線插入母座的插放力小于或者等于35牛頓，將USB數(shù)據(jù)線從母座拔出的拔出力大于或者等于10牛頓，得到配合性符合要求的USB數(shù)據(jù)線樣品;
[0008]用絕緣電阻儀250V檔位測(cè)量配合性符合要求的USB數(shù)據(jù)線樣品的數(shù)據(jù)線與外殼的絕緣電阻值，之后再用耐壓儀給USB數(shù)據(jù)線樣品的芯線之間施加AC500V/50HZ的電壓持續(xù)一分鐘，觀察耐電壓過程有無擊穿、短路、閃絡(luò)現(xiàn)象，得到絕緣耐壓性能滿足要求的USB數(shù)據(jù)線樣品；
[0009]將絕緣耐壓性能滿足要求的USB數(shù)據(jù)線模擬實(shí)際使用，分別對(duì)其二端微卡處進(jìn)行3000次的彎折測(cè)試，每彎折500次，將所述數(shù)據(jù)線樣品連接電腦檢查數(shù)據(jù)通訊功能及充電功能是否正常，得到彎曲疲勞測(cè)試滿足要求的USB數(shù)據(jù)線樣品；
[0010]測(cè)量彎曲疲勞測(cè)試滿足要求的USB數(shù)據(jù)線樣品自然拉直時(shí)的長(zhǎng)度，之后將USB數(shù)據(jù)線樣品安裝固定在拉力機(jī)上，在USB數(shù)據(jù)線樣品上逐漸施加IKG拉力，并持續(xù)拉I分鐘，觀察受力過程線體有無斷裂，之后再連接電腦檢查數(shù)據(jù)通訊功能及充電功能是否正常，得到接力強(qiáng)度測(cè)試滿足要求的USB數(shù)據(jù)線樣品；
[0011]將所述接力強(qiáng)度測(cè)試滿足要求的USB數(shù)據(jù)線樣品及USB座固定在插拔機(jī)上，設(shè)置以200次/小時(shí)的頻率進(jìn)行插拔測(cè)試，共進(jìn)行10000次插拔測(cè)試，觀察插拔中途接口及線體有無異常，每1000次檢查樣品充電及數(shù)據(jù)通訊功能是否正常，并測(cè)量其拔出力度，得到插拔疲勞測(cè)試滿足要求的USB數(shù)據(jù)線樣品；以及
[0012]給插拔疲勞測(cè)試滿足要求的USB數(shù)據(jù)線樣品施加2A的電流持續(xù)工作4小時(shí)，測(cè)量工作時(shí)線表最高溫，并觀察線體是否發(fā)燙，變軟，得到滿足滿載老化測(cè)試符合要求的USB數(shù)據(jù)線樣品，進(jìn)而得到測(cè)試合格的USB數(shù)據(jù)線。
[0013]其中，對(duì)USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行外觀及尺寸測(cè)試的方法為:在常溫下，在光線明亮環(huán)境中，通過目測(cè)檢查測(cè)試樣品的表面是否臟污，標(biāo)識(shí)是否正確，線體、插頭有無破損，插頭金屬邊緣有無披峰，金屬部件有無銹蝕，插頭內(nèi)部PIN針有無變形、翹起、氧化，量測(cè)數(shù)據(jù)線的長(zhǎng)度是否滿足技術(shù)要求的參數(shù)。
[0014]其中，在進(jìn)行彎曲疲勞測(cè)試之后，還包括對(duì)USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行高低溫貯存測(cè)試，所述對(duì)USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行高低溫貯存測(cè)試的方法為:將USB數(shù)據(jù)線樣品置于高溫700C ±2的環(huán)境中，持續(xù)放置16小時(shí)，結(jié)束時(shí)，檢查USB數(shù)據(jù)線樣品高溫貯存后線體有無起泡、變形、變色、功能喪失，數(shù)據(jù)通信是否正常，再用絕緣電阻表250V檔位測(cè)量絕緣電阻值，絕緣電阻是否大于1000ΜΩ。高溫貯存無異常再將USB數(shù)據(jù)線置于低溫-40°C ±2的環(huán)境中，持續(xù)放置16小時(shí)，結(jié)束時(shí)，檢查USB數(shù)據(jù)線低溫貯存后線體有無起泡、變形、變色、功能喪失，數(shù)據(jù)通信是否正常，再用絕緣電阻表250V檔位測(cè)量絕緣電阻值，絕緣電阻是否大于1000M Ω，從而得到高低溫貯存測(cè)試合格的USB數(shù)據(jù)線樣品。
[0015]其中，所述USB數(shù)據(jù)線測(cè)試方法包括對(duì)高低溫貯存測(cè)試合格的USB數(shù)據(jù)線樣品耐濕熱性能測(cè)試，將USB數(shù)據(jù)線樣品置于溫度為40°C ±2、濕度93%±2環(huán)境下，持續(xù)48h，結(jié)束時(shí)檢查樣品濕熱后線體有無起泡、變形、變色、功能喪失，數(shù)據(jù)通信是否正常，再用絕緣電阻表250V檔位測(cè)量絕緣電阻值，所謂到線體無起泡、無變形、無變色、功能良好，數(shù)據(jù)通信正常，且絕緣電阻是否大于1000ΜΩ的耐濕熱性能測(cè)試合格的USB數(shù)據(jù)線樣品。
[0016]其中，所述USB數(shù)據(jù)線測(cè)試方法還包括對(duì)耐濕熱性能測(cè)試合格的USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行鹽霧測(cè)試，所述鹽霧測(cè)試的方法為JfUSB數(shù)據(jù)線樣品置于鹽霧箱內(nèi)，設(shè)置中性鹽霧條件，即在35±2°C的密閉環(huán)境中，溫度大于85%，PH值在6.5-7.2范圍內(nèi)，用5%±0.1%的Nacl溶液連續(xù)噴霧48小時(shí)，鹽霧后在常溫下用清水沖洗干凈并擱置2小時(shí)，檢查樣品外觀、接口金屬部分、PIN針有無腐蝕、生銹、氧化，數(shù)據(jù)通信是否正常，USB數(shù)據(jù)線樣品無腐蝕、無生銹、無氧化，數(shù)據(jù)通信正常，表明USB數(shù)據(jù)線樣品鹽霧測(cè)試測(cè)試通過。
[0017]本技術(shù)方案提供的USB數(shù)據(jù)線測(cè)試方法，通過對(duì)USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行的測(cè)試，能夠有效地模擬USB數(shù)據(jù)線在實(shí)際使用時(shí)的情況，檢測(cè)出由于長(zhǎng)期使用后的異常而造成的功能失效，能夠發(fā)現(xiàn)USB數(shù)據(jù)線的內(nèi)在缺陷、生產(chǎn)缺陷或者設(shè)計(jì)缺陷，快速的檢測(cè)出USB數(shù)據(jù)線樣品質(zhì)量的優(yōu)劣。從而為產(chǎn)品的開發(fā)提供優(yōu)質(zhì)樣品提供依據(jù)，使產(chǎn)品能在經(jīng)過長(zhǎng)期使用后，仍具有較高的品質(zhì)水準(zhǔn)，滿足客戶長(zhǎng)期使用的需求，同時(shí)也有益于提高產(chǎn)品的可靠度，使得產(chǎn)品更具有市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。
【附圖說明】
[0018]為了更清楚地說明本發(fā)明的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施方式中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施方式，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0019]圖1是本發(fā)明較佳實(shí)施方式提供的USB數(shù)據(jù)線測(cè)試方法的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0020]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施方式中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施方式中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述。
[0021]請(qǐng)參閱圖1，本發(fā)明較佳實(shí)施方式提供一種USB數(shù)據(jù)線樣品的測(cè)試方法。所述USB數(shù)據(jù)線樣品的測(cè)試方法包括步驟:
[0022]步驟S101，對(duì)USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行外觀及尺寸測(cè)試。
[0023]本步驟具體為:在常溫下，在光線明亮環(huán)境中，通過目測(cè)檢查測(cè)試樣品的表面是否臟污，標(biāo)識(shí)是否正確，線體、插頭有無破損，插頭金屬邊緣有無披峰，金屬部件有無銹蝕，插頭內(nèi)部PIN針有無變形、翹起、氧化等。之后，采用圈尺量測(cè)數(shù)據(jù)線的長(zhǎng)度是否滿足技術(shù)要求的參數(shù)。
[0024]在本步驟中，可以抽取一定數(shù)量的樣品進(jìn)行測(cè)試，如20件樣品，這樣能夠?qū)Ξa(chǎn)品的一致性進(jìn)行評(píng)測(cè)。
[0025]步驟S102，對(duì)USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行配合性測(cè)試。
[0026]本步驟中具體為:在常溫條件下，將USB數(shù)據(jù)線樣品與USB母座配合測(cè)試，二者應(yīng)配合緊湊，插撥后傳輸數(shù)據(jù)正常，插撥力度不會(huì)太緊。然后再用拉力計(jì)測(cè)量插入與拔出時(shí)的力度，所述力度進(jìn)行5次測(cè)量，取平均值。取配套USB設(shè)備與數(shù)據(jù)線連接好，再與電腦連接，檢查設(shè)備能否正常充電及數(shù)據(jù)傳輸。本步驟中，將USB數(shù)據(jù)線樣品插入母座的插放力應(yīng)小于或者等于35牛頓，將USB數(shù)據(jù)線樣品從母座拔出的拔出力應(yīng)大于或者等于10牛頓。
[0027]步驟S103，對(duì)USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行絕緣耐壓測(cè)試。
[0028]本步驟中，在常溫下，用絕緣電阻儀250V檔位測(cè)量數(shù)據(jù)線與外殼的絕緣電阻值，之后再用耐壓儀給USB數(shù)據(jù)線樣品的芯線之間施加AC500V/50HZ的電壓持續(xù)一分鐘，觀察耐電壓過程有無擊穿、短路、閃絡(luò)現(xiàn)象。
[0029]步驟S104，對(duì)USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行高低溫貯存測(cè)試。
[0030]取常溫下檢查外觀無異常樣品，將樣品置于高溫70°C ±2的環(huán)境中，持續(xù)放置16h，結(jié)束時(shí)，檢查樣口高溫貯存后線體有無起泡、變形、變色、功能喪失，數(shù)據(jù)通信是否正常，再用絕緣電阻表250V檔位測(cè)量絕緣電阻值，絕緣電阻是否大于1000ΜΩ。高溫貯存無異常再將數(shù)據(jù)線置于低溫_40°C ±2的環(huán)境中，持續(xù)放置16h，結(jié)束時(shí)，檢查樣品低溫貯存后線體有無起泡、變形、變色、功能喪失，數(shù)據(jù)通信是否正常，再用絕緣電阻表250V檔位測(cè)量絕緣電阻值，絕緣電阻是否大于1000M Ω。
[0031]在本步驟中，如經(jīng)過高低溫貯存測(cè)試后，樣品無起泡、無變形、無變色、功能良好，數(shù)據(jù)通信正常，且絕緣電阻是否大于1000ΜΩ，表明樣品的高低溫貯存測(cè)試通過。
[0032]步驟S105，對(duì)USB數(shù)據(jù)線樣品耐濕熱性能測(cè)試。
[0033]取常溫下檢查外觀無異常樣品，將樣品置于溫度為40°C ±2、濕度93%