Led自動(dòng)壽命測(cè)試裝置及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明LED自動(dòng)壽命測(cè)試裝置及方法，屬于LED測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002] LED被稱為第四代照明光源或綠色光源，具有節(jié)能、環(huán)保、體積小等特點(diǎn)，廣泛應(yīng) 用于各種指示、顯示、裝飾、背光源、普通照明和城市夜景等領(lǐng)域，因此，其使用壽命成為L(zhǎng)ED 生產(chǎn)商和使用者最為重視的要素之一。
[0003] 傳統(tǒng)LED芯片壽命測(cè)試方法為：將LED芯片簡(jiǎn)易封裝后，對(duì)其進(jìn)行加速老化，通過(guò) 測(cè)試光電性推測(cè)其壽命。由于LED芯片對(duì)溫度變化產(chǎn)生的材料熱脹冷縮形變疲勞很敏感， 加速老化過(guò)程需嚴(yán)格控制環(huán)境溫度。紅光LED芯片光強(qiáng)即時(shí)測(cè)試結(jié)果受溫度影響較大，為 避免老化前后測(cè)試結(jié)果有誤差，通常在測(cè)試前利用校正片對(duì)測(cè)試機(jī)臺(tái)進(jìn)行光電性校正。該 方法對(duì)校正片的穩(wěn)定性與測(cè)試溫度要求較高，壽命測(cè)試結(jié)果容易受各個(gè)因素的影響，且LED 芯片老化與測(cè)試過(guò)程較繁瑣。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 本發(fā)明克服了現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，提供了 LED自動(dòng)壽命測(cè)試裝置及方法，可實(shí) 現(xiàn)老化環(huán)境溫度與測(cè)試溫度的可控性，設(shè)置一體化的溫控器，實(shí)現(xiàn)環(huán)境溫度與測(cè)試溫度的 調(diào)節(jié)與監(jiān)控，確保了 LED芯片壽命測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
[0005] 為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案為：LED自動(dòng)壽命測(cè)試裝置，包 括電源供應(yīng)器、測(cè)試臺(tái)、自動(dòng)載入裝置、探測(cè)器、溫控器和數(shù)據(jù)處理模塊，所述電源供應(yīng)器與 測(cè)試臺(tái)電連接并為測(cè)試臺(tái)提供恒定的電流，所述測(cè)試臺(tái)上設(shè)置有自動(dòng)載入裝置，所述自動(dòng) 載入裝置包括載入臺(tái)與驅(qū)動(dòng)裝置，所述載入臺(tái)通過(guò)驅(qū)動(dòng)裝置在測(cè)試臺(tái)上移動(dòng)，所述測(cè)試臺(tái) 還連接有溫控器和探測(cè)器，所述溫控器內(nèi)設(shè)置有溫度傳感器，所述溫控器通過(guò)溫度傳感器 控制測(cè)試臺(tái)內(nèi)的溫度，所述探測(cè)器內(nèi)設(shè)置有光電轉(zhuǎn)換器并將測(cè)試臺(tái)產(chǎn)生的光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電 信號(hào)，所述探測(cè)器的輸出端連接有數(shù)據(jù)處理模塊，所述數(shù)據(jù)處理模塊將探測(cè)器輸出的數(shù)據(jù) 進(jìn)行處理和分析。
[0006] 所述測(cè)試臺(tái)外側(cè)設(shè)有用于遮擋外界雜散光的遮光箱。
[0007] 所述測(cè)試臺(tái)連接有用于獲取影像資料的圖像控制器。
[0008] LED自動(dòng)壽命測(cè)試方法，按照以下步驟進(jìn)行： a、 將校正片放入自動(dòng)載入裝置； b、 提供電流源，設(shè)定溫控器的控制溫度為20±2°C ; c、 自動(dòng)載入校正片，點(diǎn)亮校正片； d、 溫控器和探測(cè)器將信號(hào)輸入數(shù)據(jù)處理模塊； e、 數(shù)據(jù)處理模塊分析輸入信號(hào)并輸出曲線和數(shù)據(jù)； f、 根據(jù)輸出的數(shù)據(jù)對(duì)裝置進(jìn)行矯正； g、 當(dāng)輸出的校正片的校正值在±2%的范圍內(nèi)波動(dòng)時(shí)，裝置校正完成； h、 將校正片取出，放入待測(cè)LED芯片； i、 對(duì)待測(cè)LED芯片進(jìn)行測(cè)試并通過(guò)數(shù)據(jù)處理模塊輸出測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0009] 本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有的有益效果是： 本發(fā)明采用溫控器，將測(cè)試的環(huán)境溫度和測(cè)試溫度控制在最佳值，減少了環(huán)境對(duì)測(cè)試 結(jié)果的影響，減少了校正片的測(cè)試次數(shù)，提高了校正效率，避免了校正片使用頻率過(guò)高而導(dǎo) 致的校正片損壞；同時(shí)，采用自動(dòng)載入裝置和數(shù)據(jù)處理模塊，實(shí)現(xiàn)全程自動(dòng)測(cè)量和校正數(shù)據(jù) 計(jì)算，在確保老化前后測(cè)試條件一致的前提下，使得校正操作過(guò)程更加快速、便捷。
【附圖說(shuō)明】
[0010] 下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步的說(shuō)明。
[0011] 圖1為本發(fā)明的控制原理圖。
【具體實(shí)施方式】
[0012] 如圖1所示，本發(fā)明LED自動(dòng)壽命測(cè)試裝置，包括電源供應(yīng)器、測(cè)試臺(tái)、自動(dòng)載入裝 置、探測(cè)器、溫控器和數(shù)據(jù)處理模塊，所述電源供應(yīng)器與測(cè)試臺(tái)電連接并為測(cè)試臺(tái)提供恒定 的電流，用以點(diǎn)亮芯片，進(jìn)行光電性的量測(cè)，所述測(cè)試臺(tái)上設(shè)置有自動(dòng)載入裝置，所述自動(dòng) 載入裝置包括載入臺(tái)與驅(qū)動(dòng)裝置，所述載入臺(tái)通過(guò)驅(qū)動(dòng)裝置在測(cè)試臺(tái)上移動(dòng)，將待測(cè)校正 片或芯片運(yùn)送至收光頭下。
[0013] 所述測(cè)試臺(tái)還連接有溫控器和探測(cè)器，所述溫控器內(nèi)設(shè)置有溫度傳感器，所述溫 控器通過(guò)溫度傳感器控制測(cè)試臺(tái)內(nèi)的溫度，所述探測(cè)器內(nèi)設(shè)置有光電轉(zhuǎn)換器并將測(cè)試臺(tái)產(chǎn) 生的光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，所述探測(cè)器的輸出端連接有數(shù)據(jù)處理模塊，所述數(shù)據(jù)處理模塊 對(duì)接收到的測(cè)試電信號(hào)進(jìn)行降噪、放大等預(yù)處理，對(duì)校正片的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算分析，得出 校正值并修正測(cè)試結(jié)果。
[0014] 所述測(cè)試臺(tái)外側(cè)設(shè)有用于遮擋外界雜散光的遮光箱，所述遮光箱能避免環(huán)境中的 雜散光對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的影響，為校正與LED芯片的測(cè)試提供了有效的環(huán)境。
[0015] 所述測(cè)試臺(tái)連接有用于獲取影像資料的圖像控制器，利用圖像控制器測(cè)試人員可 隨時(shí)監(jiān)控測(cè)試情況。
[0016] LED自動(dòng)壽命測(cè)試方法，按照以下步驟進(jìn)行： a、 將校正片放入自動(dòng)載入裝置； b、 提供電流源，設(shè)定溫控器的控制溫度為20±2°C ; c、 自動(dòng)載入校正片，點(diǎn)亮校正片； d、 溫控器和探測(cè)器將信號(hào)輸入數(shù)據(jù)處理模塊； e、 數(shù)據(jù)處理模塊分析輸入信號(hào)并輸出曲線和數(shù)據(jù)； f、 根據(jù)輸出的數(shù)據(jù)對(duì)裝置進(jìn)行矯正； g、 當(dāng)輸出的校正片的校正值在±2%的范圍內(nèi)波動(dòng)時(shí)，裝置校正完成； K將校正片取出，放入待測(cè)LED芯片； i、對(duì)待測(cè)LED芯片進(jìn)行測(cè)試并通過(guò)數(shù)據(jù)處理模塊輸出測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0017] 具體校正結(jié)果，如下表所示：
【主權(quán)項(xiàng)】
LLED自動(dòng)壽命測(cè)試裝置，其特征在于：包括電源供應(yīng)器、測(cè)試臺(tái)、自動(dòng)載入裝置、探測(cè) 器、溫控器和數(shù)據(jù)處理模塊，所述電源供應(yīng)器與測(cè)試臺(tái)電連接并為測(cè)試臺(tái)提供恒定的電流， 所述測(cè)試臺(tái)上設(shè)置有自動(dòng)載入裝置，所述自動(dòng)載入裝置包括載入臺(tái)與驅(qū)動(dòng)裝置，所述載入 臺(tái)通過(guò)驅(qū)動(dòng)裝置在測(cè)試臺(tái)上移動(dòng)，所述測(cè)試臺(tái)還連接有溫控器和探測(cè)器，所述溫控器內(nèi)設(shè) 置有溫度傳感器，所述溫控器通過(guò)溫度傳感器控制測(cè)試臺(tái)內(nèi)的溫度，所述探測(cè)器內(nèi)設(shè)置有 光電轉(zhuǎn)換器并將測(cè)試臺(tái)產(chǎn)生的光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，所述探測(cè)器的輸出端連接有數(shù)據(jù)處理 模塊，所述數(shù)據(jù)處理模塊將探測(cè)器輸出的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理和分析。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1 LED自動(dòng)壽命測(cè)試裝置，其特征在于：所述測(cè)試臺(tái)外側(cè)設(shè)有用于遮 擋外界雜散光的遮光箱。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1 LED自動(dòng)壽命測(cè)試裝置，其特征在于：所述測(cè)試臺(tái)連接有用于獲取 影像資料的圖像控制器。 4. LED自動(dòng)壽命測(cè)試方法，其特征在于：按照以下步驟進(jìn)行： a、 將校正片放入自動(dòng)載入裝置； b、 提供電流源，設(shè)定溫控器的控制溫度為20±2°C ; c、 自動(dòng)載入校正片，點(diǎn)亮校正片； d、 溫控器和探測(cè)器將信號(hào)輸入數(shù)據(jù)處理模塊； e、 數(shù)據(jù)處理模塊分析輸入信號(hào)并輸出曲線和數(shù)據(jù)； f、 根據(jù)輸出的數(shù)據(jù)對(duì)裝置進(jìn)行矯正； g、當(dāng)輸出的校正片的校正值在±2%的范圍內(nèi)波動(dòng)時(shí)，裝置校正完成； K將校正片取出，放入待測(cè)LED芯片； i、對(duì)待測(cè)LED芯片進(jìn)行測(cè)試并通過(guò)數(shù)據(jù)處理模塊輸出測(cè)試數(shù)據(jù)。
【專利摘要】本發(fā)明LED自動(dòng)壽命測(cè)試裝置及方法，屬于LED測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域；解決的技術(shù)問(wèn)題是提供了LED自動(dòng)壽命測(cè)試裝置及方法，可實(shí)現(xiàn)老化環(huán)境溫度與測(cè)試溫度的可控性，設(shè)置一體化的溫控器，實(shí)現(xiàn)環(huán)境溫度與測(cè)試溫度的調(diào)節(jié)與監(jiān)控，確保了LED芯片壽命測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性；采用的技術(shù)方案為：LED自動(dòng)壽命測(cè)試裝置及方法，LED自動(dòng)壽命測(cè)試裝置包括電源供應(yīng)器、測(cè)試臺(tái)、自動(dòng)載入裝置、探測(cè)器、溫控器和數(shù)據(jù)處理模塊，電源供應(yīng)器與測(cè)試臺(tái)電連接，自動(dòng)載入裝置將待測(cè)芯片放入測(cè)試臺(tái)，測(cè)試臺(tái)還連接有溫控器和探測(cè)器，探測(cè)器的輸出端連接有數(shù)據(jù)處理模塊，LED自動(dòng)壽命測(cè)試方法包括溫控器控制溫度，校正片校正整個(gè)裝置，達(dá)到精度后放入待測(cè)芯片進(jìn)行測(cè)試。
【IPC分類】G01R31-26
【公開(kāi)號(hào)】CN104808128
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510147536
【發(fā)明人】段麗娟
【申請(qǐng)人】山西南燁立碁光電有限公司
【公開(kāi)日】2015年7月29日
【申請(qǐng)日】2015年3月31日