用于優(yōu)化存儲設(shè)備的壽命的方法和裝置的制造方法
【專利說明】用于優(yōu)化存儲設(shè)備的壽命的方法和裝置
[0001]相關(guān)串請的交叉引用
[0002]本公開內(nèi)容要求提交于2013年6月21日的第61/838，008號美國臨時申請和提交于2014年6月16日的第14/305,383號美國申請的優(yōu)先權(quán)，這些申請通過引用結(jié)合于此。
技術(shù)領(lǐng)域
[0003]本公開內(nèi)容總體涉及固態(tài)存儲設(shè)備系統(tǒng)和方法，并且更具體地涉及優(yōu)化固態(tài)存儲設(shè)備的壽命。
【背景技術(shù)】
[0004]這里提供的【背景技術(shù)】描述是為了一般地呈現(xiàn)公開內(nèi)容的背景。當(dāng)前名義的發(fā)明人的工作在這一【背景技術(shù)】章節(jié)中描述該工作的程度上以及該描述的可以在提交時未另外限定為現(xiàn)有技術(shù)的方面既未明確地也未暗示地承認為相對于本公開內(nèi)容的現(xiàn)有技術(shù)。
[0005]典型固態(tài)存儲設(shè)備(例如NAND閃存設(shè)備)的壽命經(jīng)常基于對設(shè)備執(zhí)行多少個編程/擦除周期(P/E周期)來確定。這些設(shè)備的磨損水平往往隨著P/E周期的數(shù)目成比例地增加，這引起更大數(shù)目的讀取錯誤。然而，每個設(shè)備可以執(zhí)行的P/E周期的數(shù)目可以在設(shè)備之間變化。這樣，基于P/E周期的數(shù)目確定給定的設(shè)備的壽命的典型設(shè)備造成不準確(例如過早地標記壞設(shè)備/塊)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]在一些實施例中，優(yōu)化存儲設(shè)備的壽命。接收用于將數(shù)據(jù)存儲到存儲設(shè)備的請求。存儲設(shè)備包括多個區(qū)域。作出多個區(qū)域的第一組區(qū)域與比多個區(qū)域的第二組區(qū)域更低的錯誤測量閾值更低的錯誤測量閾值的確定?；谠摯_定選擇存儲設(shè)備的在第一組區(qū)域中的區(qū)域。將數(shù)據(jù)存儲到選擇的區(qū)域。
[0007]在一些實現(xiàn)中，多個區(qū)域的每個區(qū)域與磨損水平關(guān)聯(lián)。在一些實現(xiàn)中，響應(yīng)于將數(shù)據(jù)存儲到選擇的區(qū)域來調(diào)整與選擇的區(qū)域關(guān)聯(lián)的磨損水平。在一些實施例中，響應(yīng)于向不同組移動選擇的區(qū)域來重置與選擇的區(qū)域關(guān)聯(lián)的磨損水平。在一些實施例中，磨損水平代表擦除計數(shù)、編程-擦除(P/E)周期和在讀取操作中出現(xiàn)的錯誤位的數(shù)目中的至少一個。
[0008]在一些實施例中，讀取被存儲到選擇的區(qū)域的數(shù)據(jù)。計算代表多少個錯誤由從選擇的區(qū)域讀取數(shù)據(jù)而產(chǎn)生的錯誤數(shù)目。響應(yīng)于確定錯誤數(shù)目大于與第一組區(qū)域關(guān)聯(lián)的錯誤測量閾值，從第一組區(qū)域向第二組區(qū)域移動選擇的區(qū)域。
[0009]在一些實施例中，響應(yīng)于確定第一解碼技術(shù)未能解碼在選擇的部分中存儲的數(shù)據(jù)，作出關(guān)于第二解碼技術(shù)是否成功地解碼在選擇的部分中存儲的數(shù)據(jù)的確定。第二解碼技術(shù)可以比第一解碼技術(shù)更復(fù)雜。響應(yīng)于確定第二解碼技術(shù)成功地解碼數(shù)據(jù)，從第一組區(qū)域向第二組區(qū)域移動選擇的區(qū)域。
[0010]在一些實施例中，標識與用于存儲數(shù)據(jù)的請求關(guān)聯(lián)的大小。作出關(guān)于在第一組中的區(qū)域的大小是否至少對應(yīng)于標識的大小的確定。在一些實現(xiàn)中，錯誤測量閾值代表讀取錯誤的數(shù)目和用來解碼從區(qū)域的給定一個區(qū)域讀取的數(shù)據(jù)的解碼復(fù)雜度水平中的至少一個。
[0011]在一些實施例中，一種系統(tǒng)優(yōu)化存儲設(shè)備的壽命。該系統(tǒng)包括配置為接收用于將數(shù)據(jù)存儲到存儲設(shè)備的請求的控制電路裝置，其中存儲設(shè)備包括多個區(qū)域?？刂齐娐费b置被配置為確定多個區(qū)域的第一組區(qū)域與比多個區(qū)域的第二組區(qū)域更低的錯誤測量閾值關(guān)聯(lián)?？刂齐娐费b置被配置為基于該確定選擇存儲設(shè)備的在第一組區(qū)域中的區(qū)域。控制電路裝置被配置為將數(shù)據(jù)存儲到選擇的區(qū)域。
[0012]在一些實現(xiàn)中，多個區(qū)域中的每個區(qū)域與磨損水平關(guān)聯(lián)?？刂齐娐费b置還被配置為響應(yīng)于將數(shù)據(jù)存儲到選擇的區(qū)域來調(diào)整與選擇的區(qū)域關(guān)聯(lián)的磨損水平。在一些實現(xiàn)中，控制電路裝置還被配置為響應(yīng)于向不同組移動選擇的區(qū)域來重置與選擇的區(qū)域關(guān)聯(lián)的磨損水平。磨損水平可以代表錯誤計數(shù)、編程-擦除(P/E)周期和在讀取操作中出現(xiàn)的錯誤位數(shù)目中的至少一個。
[0013]在一些實施例中，控制電路裝置還被配置為響應(yīng)于確定第一解碼技術(shù)未能解碼在選擇的部分中存儲的數(shù)據(jù)來確定第二解碼技術(shù)是否成功地解碼在選擇的部分中存儲的數(shù)據(jù)，其中第二解碼技術(shù)比第一解碼技術(shù)更復(fù)雜。響應(yīng)于確定第二解碼技術(shù)成功地解碼數(shù)據(jù)，控制電路裝置還被配置為從第一組區(qū)域向第二組區(qū)域移動選擇的區(qū)域。
[0014]在一些實施例中，控制電路裝置還被配置為標識與用于存儲數(shù)據(jù)的請求關(guān)聯(lián)的大小?？刂齐娐费b置還被配置為確定在第一組中的區(qū)域的大小是否至少對應(yīng)于標識的大小。在一些實現(xiàn)中，錯誤測量閾值可以代表讀取錯誤的數(shù)目和用來解碼從區(qū)域的給定一個區(qū)域讀取的數(shù)據(jù)的解碼復(fù)雜度水平中的至少一個。
[0015]在一些實施例中，一種存儲設(shè)備被劃分成多個區(qū)域。錯誤特性與多個區(qū)域的每個區(qū)域關(guān)聯(lián)。多個區(qū)域的每個區(qū)域基于相應(yīng)區(qū)域的關(guān)聯(lián)錯誤特性而被分組成多個組的對應(yīng)組，其中每個組對應(yīng)于不同的錯誤測量閾值。
【附圖說明】
[0016]在附圖和以下描述中闡述一個或者多個實現(xiàn)的細節(jié)。其它特征和各種優(yōu)點將在考慮結(jié)合附圖進行的以下具體描述時更清楚，在附圖中:
[0017]圖1是根據(jù)本公開內(nèi)容的實施例的不例存儲設(shè)備系統(tǒng)的圖；
[0018]圖2是根據(jù)本公開內(nèi)容的實施例的示例存儲塊分組表的圖；以及
[0019]圖3和圖4是根據(jù)本公開內(nèi)容的實施例的用于優(yōu)化存儲設(shè)備的壽命的示例過程。
【具體實施方式】
[0020]本公開內(nèi)容總體涉及優(yōu)化存儲設(shè)備的壽命。出于示例目的，在固態(tài)存儲設(shè)備(例如閃存設(shè)備或者基于NAND的存儲設(shè)備)的上下文中描述本公開內(nèi)容。然而，應(yīng)當(dāng)理解本公開內(nèi)容適用于任何其它類型的非易失性存儲設(shè)備(例如磁存儲設(shè)備、ROM、PROM, EPROM,EEPROM、nvSRAM、FeRAM、MRAM、PRAM、CBRAM、S0N0S、RRAM、NRAM、Millipede 存儲器或者全息存儲設(shè)備)。
[0021]圖1是根據(jù)本公開內(nèi)容的實施例的示例存儲設(shè)備系統(tǒng)100的圖。系統(tǒng)100包括控制電路裝置110、固態(tài)存儲設(shè)備120、存儲塊分組表130和錯誤糾正/檢測電路裝置140。
[0022]在一些實施例中，控制電路裝置110可以從另一系統(tǒng)部件(未示出)接收數(shù)據(jù)140。例如數(shù)據(jù)140可以由應(yīng)用或者另一存儲設(shè)備(例如DRAM)提供。數(shù)據(jù)140可以包括用戶數(shù)據(jù)部分、地址部分和指示讀取或者寫入請求(例如指示是否讀取或者向地址部分寫入用戶數(shù)據(jù))的控制部分。
[0023]存儲塊分組表130可以包括存儲設(shè)備120的塊和組編號的映射。例如存儲設(shè)備120可以包括多個部分或者區(qū)域(例如塊)。每個部分或者區(qū)域可以被配置為存儲預(yù)定數(shù)目的信息位。在一些實現(xiàn)中，每個部分或者區(qū)域可以包括信息部分。信息部分可以存儲或跟蹤在給定的部分或者區(qū)域執(zhí)行的P/E周期的數(shù)目和/或在該部分或者區(qū)域中出現(xiàn)的讀取錯誤的數(shù)目。初始地，所有部分或者區(qū)域可以與可以是最低級組的第一組編號(例如組0)關(guān)聯(lián)。在一些實施例中，控制電路裝置110可以在系統(tǒng)100被重置或者接收重置信號時關(guān)聯(lián)存儲設(shè)備120的所有部分或者區(qū)域與第一組編號。為了關(guān)聯(lián)存儲設(shè)備120的所有部分或者區(qū)域與第一組編號，控制電路裝置110可以在表130中在與第一級組對應(yīng)的行中存儲與存儲設(shè)備120中的所有部分或者區(qū)域的標識符。在一些實施例中，存儲設(shè)備120的所有部分或者區(qū)域可以在存儲設(shè)備120在工廠中被生產(chǎn)之后就立即與第一組編號關(guān)聯(lián)。在存儲設(shè)備120的部分或者區(qū)域與不同組編號之間的后續(xù)關(guān)聯(lián)可以在系統(tǒng)被重置或者接收重置信號時未改變。
[0024]在一些實施例中，表130可以被劃分成多組。每個組可以與不同水平和不同錯誤測量閾值項關(guān)聯(lián)。在一些實現(xiàn)中，錯誤測量閾值可以代表從給定的部分或者區(qū)域讀取數(shù)據(jù)產(chǎn)生的讀取錯誤的數(shù)目。在一些實現(xiàn)中，錯誤測量閾值可以代表用來解碼從給定的部分或者區(qū)域讀取的數(shù)據(jù)的解碼復(fù)雜度水平(例如一個水平可以是使用硬信息的LDPC